CN111268767A - 一种电解槽自动酸洗控制方法、装置及存储介质 - Google Patents

一种电解槽自动酸洗控制方法、装置及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种电解槽自动酸洗控制方法,包括当电解槽上电后,累计记录电解槽的电解时间,并同时采集电解槽的电解电压;当电解槽的电解时间大于预设电解时间或电解电压大于预设电解电压时,对电解槽的电极进行酸洗操作,去除电解槽的电极结垢。本发明解决了现有技术采用人工定时判断电解槽的电极结垢情况存在安全隐患、效率低下等问题。本发明还提供了一种电解槽自动酸洗控制装置及存储介质。

Description

一种电解槽自动酸洗控制方法、装置及存储介质
技术领域
本发明涉及电解槽的结垢清洗,尤其涉及一种电解槽自动酸洗控制方法、装置及存储介质。
背景技术
目前电解槽在使用一段时间后容易结垢。电解槽结垢后容易导致电解槽的电解效率下降。一般来说,现有技术中由人工检查并定期人工去除结垢,由于涉及到电解槽,人工检查时存在重大安全隐患,同时效率低下。另外,由于电解槽内电解的水质不同,电解槽结垢的情况也不同,人工定时检测的时间也无法精准确定,导致电解槽的结垢不能够及时清除,影响电解槽的电解效率,甚至影响电解槽的使用寿命。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的之一在于提供一种电解槽自动酸洗控制方法,其能够解决现有技术中人工定时检测并清洗电解槽结垢时存在安全隐患、效率低下等问题。
本发明的目的之二在于提供一种电解槽自动酸洗控制装置,其能够解决现有技术中人工定时检测并清洗电解槽结垢时存在安全隐患、效率低下等问题。
本发明的目的之三在于提供一种存储介质,其能够解决现有技术中人工定时检测并清洗电解槽结垢时存在安全隐患、效率低下等问题。
本发明的目的之一采用如下技术方案实现:
一种电解槽自动酸洗控制方法,所述控制方法包括:
计时步骤:当电解槽上电时,开始累积记录电解槽的电解时间;
计时控制步骤:当电解槽的电解时间大于预设电解时间时,则执行酸洗步骤;
电压获取步骤:定时采集电解槽的电解电压;
电压控制步骤:当电解槽的电解电压大于预设电解电压时,执行酸洗步骤;
酸洗步骤:对电解槽的电极进行酸洗操作,进而去除电解槽的电极结垢。
进一步地,所述酸洗步骤包括:调用酸洗控制装置对电解槽的电极进行酸洗操作。
进一步地,所述计时控制步骤还包括:当电解槽的电解时间小于预设电解时间时,执行电压获取步骤。
进一步地,所述电压控制步骤还包括:当电解槽的电解电压小于预设电解电压时,执行电压获取步骤。
进一步地,所述电压控制步骤:当电解槽的电解电压小于预设电解电压,并且电解槽的电解时间大于预设电解时间时,执行酸洗步骤。
本发明的目的之二采用如下技术方案实现:
一种电解槽自动酸洗控制装置,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在处理器上运行的电解槽自动酸洗控制程序,所述电解槽自动酸洗控制程序为计算机程序,所述处理器执行所述电解槽自动酸洗控制程序时实现以下步骤:
计时步骤:当电解槽上电时,开始累积记录电解槽的电解时间;
计时控制步骤:当电解槽的电解时间大于预设电解时间时,则执行酸洗步骤;
电压获取步骤:定时采集电解槽的电解电压;
电压控制步骤:当电解槽的电解电压大于预设电解电压时,执行酸洗步骤;
酸洗步骤:对电解槽的电极进行酸洗操作,进而去除电解槽的电极结垢。
进一步地,所述酸洗步骤包括:调用酸洗控制装置对电解槽的电极进行酸洗操作。
进一步地,所述计时控制步骤还包括:当电解槽的电解时间小于预设电解时间时,执行电压获取步骤。
进一步地,所述电压控制步骤还包括:当电解槽的电解电压小于预设电解电压时,执行电压获取步骤;
当电解槽的电解电压小于预设电解电压,并且电解槽的电解时间大于预设电解时间时,执行酸洗步骤。
本发明的目的之三采用如下技术方案实现:
一种存储介质,所述存储介质为计算机可读存储介质,其上存储有电解槽自动酸洗控制程序,所述电解槽自动酸洗控制程序为计算机程序,所述电解槽自动酸洗控制程序被处理器执行时实现如本发明目的之一采用的一种电解槽自动酸洗控制方法的步骤。
相比现有技术,本发明的有益效果在于:
本发明通过对电解槽的电极结垢情况的判定不仅依据电解槽的电解时间进行,同时还将电解槽在电解过程中电解电压的变化进行,然后对电解槽的电极进行酸洗,实现电解槽的电极结垢的清洗,解决了现有技术中人工对结垢情况的判定并人工进行结垢清洗时存在安全隐患、效率低下等问题,同时,本发明考虑将电解时间和电解电压的变化考虑进去,可及时、有效地对电解槽的电极结垢情况进行判定,及时将结垢清除,大大提高电解槽的电解效率,延长电解槽的使用寿命。
附图说明
图1为本发明提供的一种电解槽自动酸洗控制方法流程图;
图2为本发明提供的一种电解槽自动酸洗控制装置模块图。
图中:11、存储器;12、处理器;13、通信总线;14、网络接口。
具体实施方式
下面,结合附图以及具体实施方式,对本发明做进一步描述,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
实施例一
本发明提供了一种电解槽自动酸洗控制方法,其不仅实现电解槽结垢的自动检测,同时还通过自动酸洗实现电解槽结垢的去除操作。具体地,本发明是通过电解时间和电解电压,两个参数来触发自动酸洗,来实现电解槽清晰的自动化,及时去除电解槽结垢,提升电解槽的电解效率、延长电解槽的使用寿命。
如图1所示,本发明提供了一优选实施例,一种电解槽自动酸洗控制方法,包括以下步骤:
步骤S100、当电解槽上电时,开始累积记录电解槽的电解时间。
步骤S200、判断电解槽的电解时间是否大于预设电解时间,若是,则执行步骤S300;若否,则执行步骤S400。
由于电解槽使用一段时间后,电解槽的电极会结垢进而影响电解效率。因此,当电解槽上电后,累计电解槽的电解时间,根据累计的电解时间判断是否达到系统的预设电解时间来判断是否需要对电极除垢。其中,预设电解时间根据经验值进行设定。当然使用的不同的地区不同的水质,此预设电解时间会有不同。
比如,电解槽在TDS(Total dissolved solids,总溶解固体)值100的自来水电解200小时,结垢情况比较明显,此时系统程序设置电解时间的阈值为150小时,即当累计的电解时间达到150小时后,系统触发酸洗,调用相应的酸洗控制装置,对电解槽的电极进行清洗,进而去除电极上的结垢,保证电解槽的电解效率,同时有助于延长电解槽的使用寿命。其中,TDS值越高,表示水中含有的溶解物越多。
也即是,当累计记录电解槽的电解时间达到并超过预设电解时间后,则说明当前电极的结垢明显,为了避免影响电解槽的电解效率以及寿命,对电极的结垢进行去除。
步骤S300、调用酸洗控制装置对电解槽内的电极进行酸洗操作。
通过触发酸洗操作,调用酸洗控制装置实现对电解槽内电极进行酸洗操作,实现对电极上的结垢去除。
另外,当累计记录电解槽的电解时间并未达到预设电解时间时,为了保证检测准确,还需要获取电解槽内的电解电压判断是否对电极进行除垢操作。
步骤S400、定时采集电解槽的电解电压。在电解槽工作时间,通过定时采集电解槽的电解电压,根据电解槽的电解电压的变化来判定是否需要对电极进行除垢操作。
步骤S500:判断电解电压是否小于预设电解电压,若是,则执行步骤S400;若否,则继续执行步骤S300。
一般来说,电解槽在电解的过程中使用恒流电源进行。在实际应用的过程中,电解水的TDS值一般都比较稳定,而在恒流电源的电解下,电解槽的电解电压在正常电解水中的变化微小,基本处于稳定状态。但是,当电解槽的电极结垢比较明显时,会影响电极的电解效率,此时,电解槽的电解电压会明显增大。
因此,在对电解槽电解的过程中,通过定时采集电解槽的电解电压,并判断其是否大于预设电解电压,进而判定电解槽的电极结垢情况。其中,预设电解电压为在电解前期对电解槽内的电解电压进行采集的。在电解槽电解的过程中,由系统定时对电解槽的电解电压进行持续采集,一旦当采集到的电解电压大于预设电解电压时,则说明电解槽的电极结垢明显,因此及时触发酸洗操作,调用相应的酸洗控制装置,对电解槽的电极进行清洗,去除电极结垢,保证电解槽的电解效率,延长电解槽的使用寿命。根据使用的设备不同的水质,此预设电解电压不同,可在电解开始的初期,对电解槽的电解电压进行采集并将其设定为预设电解电压。
因此,当检测到电解槽的电解电压大于系统中预设电解电压时,则认为电解槽的电极结垢明显,则调用酸洗控制装置实现对电解槽的电极进行酸洗操作。
进一步,所述步骤S500还包括:当判断电解电压小于预设电解电压,并且电解槽的电解时间大于预设电解时间时,执行步骤S300。
也即是说,不论电解槽的电解电压大于系统中预设的电解电压,还是累计记录的电解槽电解时间大于系统中预设时间,只要满足其中一个条件,均会触发酸洗操作,调用酸洗控制装置实现对电解槽的电极进行酸洗操作,解决了现有技术中只仅仅单凭时间来对电解槽的电极结垢情况进行判定而不能够及时去除电极结垢而影响电解槽的电解效率的问题,延长电解槽的使用寿命;同时,本发明对于电解槽的电极除垢,通过采用酸洗操作,实现结垢的去除,解决现有技术中采用人工除垢存在效率低下、以及重大安全隐患等问题。
实施例二
本发明提供了一种电解槽自动酸洗控制装置。如图2所示,本发明一实施例提供的电解槽自动酸洗控制装置的内部结构示意图。
在本实施例中,电解槽自动酸洗控制装置可以是PC(Personal Computer,个人电脑),也可以是智能手机、平板电脑、便携计算机等终端设备。该电解槽自动酸洗控制装置至少包括:处理器12、通信总线13、网络接口14以及存储器11。
其中,存储器11至少包括一种类型的可读存储介质,所述可读存储介质包括闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如,SD或DX存储器等)、磁性存储器、磁盘、光盘等。存储器11在一些实施例中可以是电解槽自动酸洗控制装置的内部存储单元,例如该电解槽自动酸洗控制装置的硬盘。存储器11在另一些实施例中也可以是电解槽自动酸洗控制装置的外部存储设备,例如电解槽自动酸洗控制装置上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart MediaCard,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,存储器11还可以既包括电解槽自动酸洗控制装置的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器11不仅可以用于存储安装于电解槽自动酸洗控制装置的应用软件及各类数据,例如电解槽自动酸洗控制程序的代码等,还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
处理器12在一些实施例中可以是一中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、控制器、微控制器、微处理器或其他数据处理芯片,用于运行存储器11中存储的程序代码或处理数据,例如执行电解槽自动酸洗控制程序等。
通信总线13用于实现这些组件之间的连接通信。
网络接口14可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口),通常用于在该电解槽自动酸洗控制装置与其他电子设备之间建立通信连接。
可选地,该电解槽自动酸洗控制装置还可以包括用户接口,用户接口可以包括显示器(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard),可选的用户接口还可以包括标准的有线接口、无线接口。可选地,在一些实施例中,显示器可以是LED显示器、液晶显示器、触控式液晶显示器以及OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)触摸器等。其中,显示器也可以适当的称为显示屏或显示单元,用于显示在电解槽自动酸洗控制装置中处理的信息以及用于显示可视化的用户界面。
图2仅示出了具有组件11-14以及电解槽自动酸洗控制程序的电解槽自动酸洗控制装置,本领域技术人员可以理解的是,图2示出的结构并不构成对电解槽自动酸洗控制装置的限定,可以包括比图示更少或者更多的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
在图2所示的电解槽自动酸洗控制装置实施例中,存储器11中存储有电解槽自动酸洗控制程序;处理器12执行存储器11中存储的电解槽自动酸洗控制程序时实现如下步骤:
步骤S100、当电解槽上电时,开始累积记录电解槽的电解时间。
步骤S200、判断电解槽的电解时间是否大于预设电解时间,若是,则执行步骤S300;若否,则执行步骤S400。
步骤S300、调用酸洗控制装置对电解槽内的电极进行酸洗操作。
步骤S400、定时采集电解槽的电解电压。
步骤S500:判断电解槽的电解电压是否大于预设电解电压,若是,则执行步骤S300;若否,则执行步骤S400。
进一步,所述步骤S500还包括:当判断电解电压小于预设电解电压,并且电解槽的电解时间大于预设电解时间时,执行步骤S300。
实施例三
本发明还提供了一种存储介质,所述存储介质为计算机可读存储介质,其上存储有电解槽自动酸洗控制程序,所述电解槽自动酸洗控制程序为计算机程序,所述电解槽自动酸洗控制程序被处理器执行时实现以下步骤:
步骤S100、当电解槽上电时,开始累积记录电解槽的电解时间。
步骤S200、判断电解槽的电解时间是否大于预设电解时间,若是,则执行步骤S300;若否,则执行步骤S400。
步骤S300、调用酸洗控制装置对电解槽内的电极进行酸洗操作。
步骤S400、定时采集电解槽的电解电压。
步骤S500:判断电解槽的电解电压是否大于预设电解电压,若是,则执行步骤S300;若否,则执行步骤S400。
进一步,所述步骤S500还包括:当判断电解电压小于预设电解电压,并且电解槽的电解时间大于预设电解时间时,执行步骤S300。
上述实施方式仅为本发明的优选实施方式,不能以此来限定本发明保护的范围,本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。

Claims (10)

1.一种电解槽自动酸洗控制方法,其特征在于,所述控制方法包括:
计时步骤:当电解槽上电时,开始累积记录电解槽的电解时间;
计时控制步骤:当电解槽的电解时间大于预设电解时间时,则执行酸洗步骤;
电压获取步骤:定时采集电解槽的电解电压;
电压控制步骤:当电解槽的电解电压大于预设电解电压时,执行酸洗步骤;
酸洗步骤:对电解槽的电极进行酸洗操作,进而去除电解槽的电极结垢。
2.根据权利要求1所述一种电解槽自动酸洗控制方法,其特征在于,所述酸洗步骤包括:调用酸洗控制装置对电解槽的电极进行酸洗操作。
3.根据权利要求1所述一种电解槽自动酸洗控制方法,其特征在于,所述计时控制步骤还包括:当电解槽的电解时间小于预设电解时间时,执行电压获取步骤。
4.根据权利要求1所述一种电解槽自动酸洗控制方法,其特征在于,所述电压控制步骤还包括:当电解槽的电解电压小于预设电解电压时,执行电压获取步骤。
5.根据权利要求4所述一种电解槽自动酸洗控制方法,其特征在于,所述电压控制步骤:当电解槽的电解电压小于预设电解电压,并且电解槽的电解时间大于预设电解时间时,执行酸洗步骤。
6.一种电解槽自动酸洗控制装置,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在处理器上运行的电解槽自动酸洗控制程序,所述电解槽自动酸洗控制程序为计算机程序,其特征在于:所述处理器执行所述电解槽自动酸洗控制程序时实现以下步骤:
计时步骤:当电解槽上电时,开始累积记录电解槽的电解时间;
计时控制步骤:当电解槽的电解时间大于预设电解时间时,则执行酸洗步骤;
电压获取步骤:定时采集电解槽的电解电压;
电压控制步骤:当电解槽的电解电压大于预设电解电压时,执行酸洗步骤;
酸洗步骤:对电解槽的电极进行酸洗操作,进而去除电解槽的电极结垢。
7.根据权利要求6所述一种电解槽自动酸洗控制装置,其特征在于,所述酸洗步骤包括:调用酸洗控制装置对电解槽的电极进行酸洗操作。
8.根据权利要求6所述一种电解槽自动酸洗控制装置,其特征在于,所述计时控制步骤还包括:当电解槽的电解时间小于预设电解时间时,执行电压获取步骤。
9.根据权利要求6所述一种电解槽自动酸洗控制装置,其特征在于,所述电压控制步骤还包括:当电解槽的电解电压小于预设电解电压时,执行电压获取步骤;
当电解槽的电解电压小于预设电解电压,并且电解槽的电解时间大于预设电解时间时,执行酸洗步骤。
10.一种存储介质,所述存储介质为计算机可读存储介质,其上存储有电解槽自动酸洗控制程序,所述电解槽自动酸洗控制程序为计算机程序,其特征在于:所述电解槽自动酸洗控制程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的一种电解槽自动酸洗控制方法的步骤。
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