CN111259616A - 一种集成电路布局数据的处理方法 - Google Patents

一种集成电路布局数据的处理方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种集成电路布局数据的处理方法，具体凹坑以下步骤：S1、分类算法的设计，S2、集成电路数据的分类处理，S3、集成电路布局的设计，S4、集成电路数据设计规则安全性评估，S5、集成电路制程处理，本发明涉及集成电路布局数据处理技术领域。该集成电路布局数据的处理方法，可实现通过在数据处理系统内建立智能分类单元，来根据用户所需数据种类的数量进行设计，很好的达到了通过工作人员根据所需种类的数据分类程序，来对制程数据进行定向识别分类布局的目的，很好的避免了在处理时出现系统卡顿或等待时间较长的情况发生，保证了集成电路布局数据的处理，从而大大方便了工作人员的集成电路制程布局工作。

Description

一种集成电路布局数据的处理方法
技术领域
本发明涉及集成电路布局数据处理技术领域，具体为一种集成电路布局数据的处理方法。
背景技术
半导体IC的设计包括将用于描述将要从半导体系统导出针对芯片的行为模型转换为用于描述所需组件之间的连接的特定结构模型的操作，参照设计半导体IC的工艺，可以生成包括在半导体IC中的库，并且使用生成的库来实施半导体IC时，可以减少设计和实施半导体IC涉及的时间和成本，半导体制程主要是将半导体材料制作成电子组件，并利用沉积、蚀刻、微影等技术，将电子组件的体积及重量予以缩减，而其中，微影制程技术是以光罩的图案遮蔽入射光以及光绕射形成图像，再利用投影系统将图像投射在半导体材料表面的光阻层来加以曝光，通常来说，光罩是以透明平板为基底，且在此透明平板上形成不透明的线路来定义所需的图案。
目前在对集成电路数据进行处理时，大多通过单一的分类算法分类处理，然后将各类数据与刻蚀执行部件进行匹配制程布局，然而，这样的数据处理方法只能用于一些小数据制程，而对于一些较大数据的制程布局，需要花费工作人员大量的时间进行处理，同时由于数据量较大，在处理时易出现系统卡顿或等待时间较长的问题，从而严重影响集成电路布局数据的处理，不能实现通过在数据处理系统内建立智能分类单元，来根据用户所需数据种类的数量进行设计，无法达到通过工作人员根据所需种类的数据分类程序，来对制程数据进行定向识别分类布局的目的，从而给工作人员的集成电路制程布局工作带来极大的不便。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种集成电路布局数据的处理方法，解决了现有的数据处理方法只能用于一些小数据制程，而对于一些较大数据的制程布局，需要花费工作人员大量的时间进行处理，同时由于数据量较大，在处理时易出现系统卡顿或等待时间较长的问题，从而严重影响集成电路布局数据的处理，不能实现通过在数据处理系统内建立智能分类单元，来根据用户所需数据种类的数量进行设计，无法达到通过工作人员根据所需种类的数据分类程序，来对制程数据进行定向识别分类布局目的的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种集成电路布局数据的处理方法，具体凹坑以下步骤：
S1、分类算法的设计：首先工作人员可筒外设交互终端控制数据诶性逻辑图绘制模块编辑绘制出分类逻辑构架图，并将绘制的构架图传送至目标数据分类处理单元，通过目标数分类处理单元内的数据类型编辑模块将与逻辑构架图相匹配的数据分类类型编辑到系统内，然后通过数据类型标识名生成模块生成每种类型数据的前缀表示名，之后通过分类数据匹配模块将前缀标识名与相应类型的分类数据进行匹配处理，即可完成分类算法的设计；
S2、集成电路数据的分类处理：中央处理模块通过分类算法导出模块将步骤S1设计的分类算法导出至布局数据分类单元内，同时工作人员通过外设交互终端控制布局数据导入模块将集成电路布局数据导入布局数据分类单元内，然后中央处理模块控制布局数据分类单元内的分类算法提取模块提取分类算法，之后通过分类标识名识别模块将分类算法内的多个前缀标识名进行识别提取，然后通过数据标识名识别模块提取出集成电路数据内相对应的标识名数据，再通过数据提取归类模块将识别出的数据提取到对应标识名的内部进行归类存储，从而完成集成电路数据的分类处理；
S3、集成电路布局的设计：之后通过中央处理模块控制电路布局规则设计模块进行集成电路布局的设计，设计出来的数据传送至设计规则安全检测单元内进行安全评估处理；
S4、集成电路数据设计规则安全性评估：中央处理模块控制设计规则安全检测单元内的晶体数据评估模块、数据类型评估模块、刻蚀时间评估模块以及数据存储量评估模块分别对设计的规程数据的所需晶体数量、数据类型数量、所需刻蚀时间以及数据所需的存储大小进行评估，若不满足其中任一个评估标准，则判定设计规则具有安全问题，需要重新进行设计；
S5、集成电路制程处理：若设计规则满足步骤S4中各标准，则中央处理模块控制制程逻辑执行模块向制程算法数据库内提取所需制程算法，然后执行集成电路制程操作。
优选的，所述步骤S1中外设交互终端与中央处理模块实现双向电性连接，且中央处理模块分别与数据类型逻辑图绘制模块和目标数据分类处理单元实现双向电性连接。
优选的，所述步骤S1中目标数据分类处理单元包括数据类型编辑模块、数据类型标识名生成模块和分类数据匹配模块，所述数据类型编辑模块的输出端与数据类型标识名生成模块的输入端电性连接，且数据类型标识名生成模块的输出端与分类数据匹配模块的输入端电性连接。
优选的，所述步骤S2中中央处理模块分别与分类算法导出模块、布局数据分类单元和布局数据导入模块实现双向电性连接。
优选的，所述步骤S2中布局数据分类单元包括分类算法提取模块、分类标识名识别模块、数据标识名识别模块和数据提取归类模块，所述分类算法提取模块的输出端与分类标识名识别模块的输入端电性连接，且分类标识名识别模块的输出端与数据标识名识别模块的输入端电性连接，所述数据标识名识别模块的输出端与数据提取归类模块的输入端电性连接。
优选的，所述步骤S3中中央处理模块分别与电路布局规则设计模块和设计规则安全检测单元实现双向电性连接。
优选的，所述步骤S4中设计规则安全检测单元包括晶体数据评估模块、数据类型评估模块、刻蚀时间评估模块和数据存储量评估模块。
优选的，所述步骤S5中中央处理模块与制程逻辑执行模块实现双向电性连接，且制程逻辑执行模块与制程算法数据库实现双向电性连接。
(三)有益效果
本发明提供了一种集成电路布局数据的处理方法。与现有技术相比具备以下有益效果：该集成电路布局数据的处理方法，具体凹坑以下步骤：S1、分类算法的设计：首先工作人员可筒外设交互终端控制数据诶性逻辑图绘制模块编辑绘制出分类逻辑构架图，并将绘制的构架图传送至目标数据分类处理单元，通过目标数分类处理单元内的数据类型编辑模块将与逻辑构架图相匹配的数据分类类型编辑到系统内，S2、集成电路数据的分类处理：中央处理模块通过分类算法导出模块将步骤S1设计的分类算法导出至布局数据分类单元内，同时工作人员通过外设交互终端控制布局数据导入模块将集成电路布局数据导入布局数据分类单元内，S3、集成电路布局的设计：之后通过中央处理模块控制电路布局规则设计模块进行集成电路布局的设计，设计出来的数据传送至设计规则安全检测单元内进行安全评估处理，S4、集成电路数据设计规则安全性评估：中央处理模块控制设计规则安全检测单元内的晶体数据评估模块、数据类型评估模块、刻蚀时间评估模块以及数据存储量评估模块分别对设计的规程数据的所需晶体数量、数据类型数量、所需刻蚀时间以及数据所需的存储大小进行评估，S5、集成电路制程处理：若设计规则满足步骤S4中各标准，则中央处理模块控制制程逻辑执行模块向制程算法数据库内提取所需制程算法，然后执行集成电路制程操作，可实现通过在数据处理系统内建立智能分类单元，来根据用户所需数据种类的数量进行设计，很好的达到了通过工作人员根据所需种类的数据分类程序，来对制程数据进行定向识别分类布局的目的，不仅能用于一些小数据制程，对于一些较大数据的制程布局也适用，无需花费工作人员大量的时间进行大制程数据处理，很好的避免了在处理时出现系统卡顿或等待时间较长的情况发生，保证了集成电路布局数据的处理，从而大大方便了工作人员的集成电路制程布局工作。
附图说明
图1为本发明处理系统的结构原理框图；
图2为本发明布局数据分类单元的结构原理框图；
图3为本发明设计规则安全检测单元的结构原理框图；
图4为本发明处理方法的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4，本发明实施例提供一种技术方案：一种集成电路布局数据的处理方法，具体凹坑以下步骤：
S1、分类算法的设计：首先工作人员可筒外设交互终端控制数据诶性逻辑图绘制模块编辑绘制出分类逻辑构架图，并将绘制的构架图传送至目标数据分类处理单元，通过目标数分类处理单元内的数据类型编辑模块将与逻辑构架图相匹配的数据分类类型编辑到系统内，然后通过数据类型标识名生成模块生成每种类型数据的前缀表示名，之后通过分类数据匹配模块将前缀标识名与相应类型的分类数据进行匹配处理，即可完成分类算法的设计，外设交互终端与中央处理模块实现双向电性连接，且中央处理模块分别与数据类型逻辑图绘制模块和目标数据分类处理单元实现双向电性连接，目标数据分类处理单元包括数据类型编辑模块、数据类型标识名生成模块和分类数据匹配模块，数据类型编辑模块的输出端与数据类型标识名生成模块的输入端电性连接，且数据类型标识名生成模块的输出端与分类数据匹配模块的输入端电性连接；
S2、集成电路数据的分类处理：中央处理模块通过分类算法导出模块将步骤S1设计的分类算法导出至布局数据分类单元内，同时工作人员通过外设交互终端控制布局数据导入模块将集成电路布局数据导入布局数据分类单元内，然后中央处理模块控制布局数据分类单元内的分类算法提取模块提取分类算法，之后通过分类标识名识别模块将分类算法内的多个前缀标识名进行识别提取，然后通过数据标识名识别模块提取出集成电路数据内相对应的标识名数据，再通过数据提取归类模块将识别出的数据提取到对应标识名的内部进行归类存储，从而完成集成电路数据的分类处理，中央处理模块分别与分类算法导出模块、布局数据分类单元和布局数据导入模块实现双向电性连接，布局数据分类单元包括分类算法提取模块、分类标识名识别模块、数据标识名识别模块和数据提取归类模块，分类算法提取模块的输出端与分类标识名识别模块的输入端电性连接，且分类标识名识别模块的输出端与数据标识名识别模块的输入端电性连接，数据标识名识别模块的输出端与数据提取归类模块的输入端电性连接；
S3、集成电路布局的设计：之后通过中央处理模块控制电路布局规则设计模块进行集成电路布局的设计，设计出来的数据传送至设计规则安全检测单元内进行安全评估处理，中央处理模块分别与电路布局规则设计模块和设计规则安全检测单元实现双向电性连接；
S4、集成电路数据设计规则安全性评估：中央处理模块控制设计规则安全检测单元内的晶体数据评估模块、数据类型评估模块、刻蚀时间评估模块以及数据存储量评估模块分别对设计的规程数据的所需晶体数量、数据类型数量、所需刻蚀时间以及数据所需的存储大小进行评估，若不满足其中任一个评估标准，则判定设计规则具有安全问题，需要重新进行设计，设计规则安全检测单元包括晶体数据评估模块、数据类型评估模块、刻蚀时间评估模块和数据存储量评估模块；
S5、集成电路制程处理：若设计规则满足步骤S4中各标准，则中央处理模块控制制程逻辑执行模块向制程算法数据库内提取所需制程算法，然后执行集成电路制程操作，中央处理模块与制程逻辑执行模块实现双向电性连接，且制程逻辑执行模块与制程算法数据库实现双向电性连接。
综上，本发明可实现通过在数据处理系统内建立智能分类单元，来根据用户所需数据种类的数量进行设计，很好的达到了通过工作人员根据所需种类的数据分类程序，来对制程数据进行定向识别分类布局的目的，不仅能用于一些小数据制程，对于一些较大数据的制程布局也适用，无需花费工作人员大量的时间进行大制程数据处理，很好的避免了在处理时出现系统卡顿或等待时间较长的情况发生，保证了集成电路布局数据的处理，从而大大方便了工作人员的集成电路制程布局工作。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：具体凹坑以下步骤：
S1、分类算法的设计：首先工作人员可筒外设交互终端控制数据诶性逻辑图绘制模块编辑绘制出分类逻辑构架图，并将绘制的构架图传送至目标数据分类处理单元，通过目标数分类处理单元内的数据类型编辑模块将与逻辑构架图相匹配的数据分类类型编辑到系统内，然后通过数据类型标识名生成模块生成每种类型数据的前缀表示名，之后通过分类数据匹配模块将前缀标识名与相应类型的分类数据进行匹配处理，即可完成分类算法的设计；
S2、集成电路数据的分类处理：中央处理模块通过分类算法导出模块将步骤S1设计的分类算法导出至布局数据分类单元内，同时工作人员通过外设交互终端控制布局数据导入模块将集成电路布局数据导入布局数据分类单元内，然后中央处理模块控制布局数据分类单元内的分类算法提取模块提取分类算法，之后通过分类标识名识别模块将分类算法内的多个前缀标识名进行识别提取，然后通过数据标识名识别模块提取出集成电路数据内相对应的标识名数据，再通过数据提取归类模块将识别出的数据提取到对应标识名的内部进行归类存储，从而完成集成电路数据的分类处理；
S3、集成电路布局的设计：之后通过中央处理模块控制电路布局规则设计模块进行集成电路布局的设计，设计出来的数据传送至设计规则安全检测单元内进行安全评估处理；
S4、集成电路数据设计规则安全性评估：中央处理模块控制设计规则安全检测单元内的晶体数据评估模块、数据类型评估模块、刻蚀时间评估模块以及数据存储量评估模块分别对设计的规程数据的所需晶体数量、数据类型数量、所需刻蚀时间以及数据所需的存储大小进行评估，若不满足其中任一个评估标准，则判定设计规则具有安全问题，需要重新进行设计；
S5、集成电路制程处理：若设计规则满足步骤S4中各标准，则中央处理模块控制制程逻辑执行模块向制程算法数据库内提取所需制程算法，然后执行集成电路制程操作。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述步骤S1中外设交互终端与中央处理模块实现双向电性连接，且中央处理模块分别与数据类型逻辑图绘制模块和目标数据分类处理单元实现双向电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述步骤S1中目标数据分类处理单元包括数据类型编辑模块、数据类型标识名生成模块和分类数据匹配模块，所述数据类型编辑模块的输出端与数据类型标识名生成模块的输入端电性连接，且数据类型标识名生成模块的输出端与分类数据匹配模块的输入端电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述步骤S2中中央处理模块分别与分类算法导出模块、布局数据分类单元和布局数据导入模块实现双向电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述步骤S2中布局数据分类单元包括分类算法提取模块、分类标识名识别模块、数据标识名识别模块和数据提取归类模块，所述分类算法提取模块的输出端与分类标识名识别模块的输入端电性连接，且分类标识名识别模块的输出端与数据标识名识别模块的输入端电性连接，所述数据标识名识别模块的输出端与数据提取归类模块的输入端电性连接。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述步骤S3中中央处理模块分别与电路布局规则设计模块和设计规则安全检测单元实现双向电性连接。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述步骤S4中设计规则安全检测单元包括晶体数据评估模块、数据类型评估模块、刻蚀时间评估模块和数据存储量评估模块。
8.根据权利要求1所述的一种集成电路布局数据的处理方法，其特征在于：所述步骤S5中中央处理模块与制程逻辑执行模块实现双向电性连接，且制程逻辑执行模块与制程算法数据库实现双向电性连接。
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