CN111256951A - 用于光子晶体光纤的测试平台 - Google Patents

Abstract

本发明提供的用于光子晶体光纤的测试平台，包括模拟工作台、底座，模拟工作台包括转动测试模组，底座上安装有固定座、传动模组；光子晶体光纤依次通过固定座、传动模组，并与转动测试模组的旋转端连接；固定座用于将光子晶体光纤固定；传动模组用于形成弯折光子晶体光纤的转折点，并将光子晶体光纤导向转动测试模组的旋转端；通过固定座将光子晶体光纤固定，并驱使转动测试模组转动，从而使得光子晶体光纤扭转，从而模拟光子晶体光纤使用状态，光子晶体光纤的两端与测试设备连接形成传输通路，从而得到的真实传导效率，该测试平台结构可靠，使用方便。

Description

用于光子晶体光纤的测试平台

技术领域

本发明属于测试设备领域，具体涉及用于光子晶体光纤的测试平台。

背景技术

光子晶体光纤(Photonic Crystal Fibers)，其中的一类硫系玻璃光子晶体光纤，由于硫系玻璃光纤的色散值平坦且接近零，这使得脉冲种子光源的波长有了更广泛的选择，在光学相干断层扫描、频谱检测、非线性显微镜等领域有着不可估量的应用前景；该类硫系玻璃光子晶体光纤其导向实心核心区域被气孔包围。通过控制芯尺寸，气孔尺寸和周期性，它可以在PCF的分散设计中实现显着的灵活性，

但是光子晶体光纤的包层区气孔的排列方式能够极大地影响模式性质，在正常使用过程中光子晶体光纤常会受到弯曲、扭转的作用力，这使得光子晶体光纤使得包层区气孔产生变化，从而影响传导效率，在光子晶体光纤测试领域中，现有的测试设备常模拟光子晶体光纤受到一种作用力的影响，而在现实使用过程中，光子晶体光纤常受到多种作用力共同的影响，需要模拟光子晶体光纤在现实使用过程受力状态下，测试光子晶体光纤传导效率。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提出的用于光子晶体光纤的测试平台。

本发明提供的用于光子晶体光纤的测试平台，包括模拟工作台、底座，所述模拟工作台包括转动测试模组，所述底座上安装有固定座、传动模组；

光子晶体光纤依次通过所述固定座、传动模组，并与所述转动测试模组的旋转端连接；

所述固定座用于将光子晶体光纤固定；所述传动模组用于形成弯折光子晶体光纤的转折点，并将光子晶体光纤导向所述转动测试模组的旋转端；通过所述固定座将光子晶体光纤固定，并驱使所述转动测试模组转动，从而使得光子晶体光纤扭转，从而模拟光子晶体光纤使用状态，光子晶体光纤的两端与测试设备连接形成传输通路。

优选地，所述转动测试模组包括旋转电机、旋转臂、接头连接器；

通过所述旋转电机驱使所述旋转臂转动，进而带动安装在所述旋转臂一端的所述接头连接器转动；

所述接头连接器用于固定光子晶体光纤一端的接头，使得光子晶体光纤与测试设备连接。

优选地，所述底座包括支架，通过所述支架将所述底座连接形成一整体；

所述支架上安装有用存放光子晶体光纤的绕线轮，光子晶体光纤缠绕在所述绕线轮上，所述绕线轮设置在对应所述固定座的下方。

优选地，所述传动模组内开设有用于光子晶体光纤通过的通孔，所述传动模组靠近模拟工作台一端的内侧壁呈向外扩散的坡面；

所述传动模组内通孔的中轴线对应所述转动测试模组的旋转中心，通过所述转动测试模组的驱使光子晶体光纤转动，使得光子晶体光纤在所述内侧壁上滑动。

优选地，所述模拟工作台还包括限位模组，所述限位模组设置在对应所述传动模组的位置处，当所述转动测试模组转动时，所述限位模组绕所述转动测试模组的旋转中心转动；

所述限位模组包括转轮座、转轮，所述转轮安装在所述转轮座上；所述转轮与所述内侧壁的坡面相接触；

所述转轮上开设有限位槽，通过所述限位槽与所述内侧壁的坡面形成用于光子晶体光纤穿过的通道。

优选地，所述模拟工作台还包括支撑台、导向板，通过所述支撑台、导向板拼接形成所述模拟工作台的固定结构；

所述旋转电机安装所述支撑台上，所述导向板上设置有限制所述接头连接器转动位置的导向槽，所述接头连接器穿过所述导向槽。

优选地，所述固定座包括固定块、夹紧气缸；通过所述夹紧气缸推动光子晶体光纤，并与所述固定块将光子晶体光纤夹紧，从而将光子晶体光纤固定。

优选地，所述夹紧气缸、固定块的夹紧端由橡胶材料制成。

优选地，所述内侧壁呈喇叭型。

优选地，所述绕线轮上的存放的光子晶体光纤的一接头连接与测试设备连接，另一接头依次通过所述固定座、传动模组与所述转动测试模组连接。

相比现有技术，本发明的有益效果在于：

本发明提供的用于光子晶体光纤的测试平台，通过固定座、传动模组、转动测试模组将光子晶体光纤弯折，并通过转动测试模组转动使得光子晶体光纤产生扭转，从而使得光子晶体光纤同时产生弯折及扭转，用于模拟光子晶体光纤的现实使用过程中的受力状态，本发明使用方便，结构简单。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明在一实施例中的立体结构示意图一；

图2为本发明在一实施例中的立体结构示意图二；

图3为图2的局部放大示意图；

图4为本发明在一实施例中的爆炸示意图；

图5为图4的局部放大示意图；

图6为本发明在一实施例中的正视图；

图7为图6的局部放大示意图；

图8为本发明在一实施例中模拟工作台的爆炸示意图；

图9为本发明在一实施例中限位模组与传动模组的剖视图。

图中所示：

1、模拟工作台；11、支撑台；12、转动测试模组；121、旋转电机；122、旋转臂；123、接头连接器；13、导向板；131、导向槽；132、轴承座；14、限位模组；141、转轮座；142、转轮；1421、限位槽；2、底座；21、支架；22、绕线轮；23、固定座；231、固定块；232、夹紧气缸；24、传动模组；241、内侧壁；5、固定架。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步的详细说明，本发明的前述和其它目的、特征、方面和优点将变得更加明显，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。在附图中，为清晰起见，可对形状和尺寸进行放大，并将在所有图中使用相同的附图标记来指示相同或相似的部件。在下列描述中，诸如中心、厚度、高度、长度、前部、背部、后部、左边、右边、顶部、底部、上部、下部等用词为基于附图所示的方位或位置关系。特别地，“高度”相当于从顶部到底部的尺寸，“宽度”相当于从左边到右边的尺寸，“深度”相当于从前到后的尺寸，“闭合”指代载具方便通过而操作人员无法通过，“环形”相当于循环形状。这些相对术语是为了说明方便起见并且通常并不旨在需要具体取向。涉及附接、联接等的术语(例如，“连接”和“附接”)是指这些结构通过中间结构彼此直接或间接固定或附接的关系、以及可动或刚性附接或关系，除非以其他方式明确地说明。

下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

如图1-3所示，用于光子晶体光纤的测试平台，包括模拟工作台1、底座2，模拟工作台1包括转动测试模组12，底座2上安装有固定座23、传动模组24；

光子晶体光纤依次通过固定座23、传动模组24，并与转动测试模组12的旋转端连接；固定座23、传动模组24设置在相对应的位置处，使得位于固定座23、传动模组24之间的光子晶体光纤保持垂直竖直方向，

固定座23用于将光子晶体光纤固定；传动模组24用于形成弯折光子晶体光纤的转折点，并将光子晶体光纤导向转动测试模组12的旋转端，转动测试模组12的旋转端设置在远离传动模组24的位置处，当光子晶体光纤与转动测试模组12的旋转端连接时，使得传动模组24处的光子晶体光纤产生弯折，从而模拟光子晶体光纤使用过程中的弯折状态；在检测过程中，通过固定座23将光子晶体光纤固定，并驱使转动测试模组12转动，由于光子晶体光纤的一端受到固定座23固定，当光子晶体光纤绕转动测试模组12中线转动时，使得固定在固定座23与转动测试模组12之间的一段光子晶体光纤发生扭转，通过弯折、扭转受力模拟光子晶体光纤使用状态，光子晶体光纤的两端与测试设备连接形成传输通路，从而使得光子晶体光纤检测出的传导效率更加接近现实使用过程，得到的数据更具真实性；该测试平台包括固定架5，模拟工作台1固定在固定架5上，使得模拟工作台1与底座2固定在固定位置上。

如图6-8所示，在一优选实施例中，转动测试模组12包括旋转电机121、旋转臂122、接头连接器123；通过所述旋转电机121驱使旋转臂122转动，进而带动安装在所述旋转臂122一端的接头连接器123转动；

接头连接器123用于固定光子晶体光纤一端的接头，使得光子晶体光纤与测试设备连接，通过接头连接器123将定光子晶体光纤固定，同时与测试设备连接，提高了连接稳定性，保证在转动过程中光子晶体光纤与测试设备的连接端稳定，避免发生松动，降低传导效率，影响检测的真实性。

进一步地，如图4所示，底座2包括支架21，通过支架21将底座2连接形成一整体；

支架21上安装有用存放光子晶体光纤的绕线轮22，光子晶体光纤缠绕在绕线轮22上，绕线轮22设置在对应固定座23的下方，由于光子晶体光纤的长度较长，而检测过程中，需要光子晶体光纤段的长度较短，使得大段的光子晶体光纤存积在底座2内，而光子晶体光纤比较脆弱，在弯折一定的角度后容易发生断裂，为了避免光子晶体光纤受压后弯折断裂，将光子晶体光纤缠绕在绕线轮22。

绕线轮22上的存放的光子晶体光纤的一接头连接与测试设备连接，另一接头依次通过固定座23、传动模组24与转动测试模组12连接,使得光子晶体光纤、与测试设备连接形成传输通路，方便进行测试。

如图5、9所示，进一步地，传动模组24内开设有用于光子晶体光纤通过的通孔，传动模组24靠近模拟工作台1一端的内侧壁241呈向外扩散的坡面；同上述的原因，由于光子晶体光纤较脆弱，若弯折的角度过大容易使得光子晶体光纤断裂，为了避免发生断裂，通过设置外扩散的坡面，使得光子晶体的弯折过程中进行过渡，增加弯折面积，减低了断裂的风险，使得光子晶体检测更加稳定；

内侧壁241为光滑的环形，传动模组24内通孔的中轴线对应转动测试模组12的旋转中心，通过转动测试模组12的驱使光子晶体光纤转动，使得光子晶体光纤在内侧壁241上滑动。

在一优选实施例中，内侧壁241呈喇叭型，方便光子晶体光纤在内侧壁241上滑动；

如图5所示，同时，模拟工作台1还包括限位模组14，限位模组14设置在对应传动模组24的位置处，当转动测试模组12转动时，限位模组14绕转动测试模组12的旋转中心转动；限位模组14包括转轮座141、转轮142，转轮142安装在转轮座141上；转轮142与内侧壁241的坡面相接触；转轮142上开设有限位槽1421，通过限位槽1421与内侧壁241的坡面形成用于光子晶体光纤穿过的通道，在转动测试模组12的旋转时，限位槽1421与内侧壁241形成的通道随着光子晶体光纤滑动，使得光子晶体光纤保证在限位槽1421与内侧壁241形成的通道内，限制光子晶体光纤的位置，

由于内侧壁241的形状呈喇叭型，喇叭型的内侧壁241方便与转轮142接触，内侧壁241与转轮142相切连接，从而将光子晶体光纤限制在限位槽1421与内侧壁241形成的通道内。

如图8所示，模拟工作台1还包括支撑台11、导向板13，通过支撑台11、导向板13拼接形成模拟工作台1的固定结构；旋转电机121安装支撑台11上，导向板13上设置有限制接头连接器123转动位置的导向槽131，接头连接器123穿过导向槽131。

在一优选实施例中，导向槽131为圆弧型通槽，使得旋转电机121驱动接头连接器123在导向槽131往复运动，避免了光子晶体光纤在转动过程中发生缠绕，避免光子晶体光纤断裂。

导向板13对应转动测试模组12旋转中心的位置处，即导向槽131的圆心位置处开设有圆孔，圆孔内固定安装有轴承座132，转轮座141与轴承座132连接，方便限位模组14转动。

如图6所示，转动测试模组12还包括调节器，调节器安装在旋转臂122上，通过调节器调节接头连接器123的位置，调节转动测试模组12、固定座23之间的光子晶体光纤的松紧程度

如图2、3所示，在一优选实施例中，固定座23包括固定块231、夹紧气缸232；通过夹紧气缸232推动光子晶体光纤，并与固定块231将光子晶体光纤夹紧，从而将光子晶体光纤固定；其中，夹紧气缸232、固定块231的夹紧端由橡胶材料制成，方便将光子晶体光纤夹紧，同时避免由于夹紧力使得光子晶体光纤内的气孔发生改变，从而影响检测结果。

该测试平台主要用于对光子晶体光纤的测试，通过模拟光子晶体光纤在现实中的使用受力状态，在通过外部的检测装置，将光子晶体光纤与检测装置连通，通过检测装置对光子晶体光纤进行检测，该模拟工作平台还包括，控制器分别与旋转电机121以及夹紧气缸232电性连接，控制器发出控制指令，旋转电机121以及夹紧气缸232工作，从而实现旋转电机121驱使旋转臂122转动，夹紧气缸232将光子晶体光纤夹紧固定，从而旋转电机121以及夹紧气缸232对光子晶体光纤施加作用力，使得光子晶体光纤产生变形，进而通过检测装置对光子晶体光纤进行测试的过程。

本发明提供用于光子晶体光纤的测试平台，通过固定座、传动模组、转动测试模组将光子晶体光纤弯折，并通过转动测试模组转动使得光子晶体光纤产生扭转，从而使得光子晶体光纤同时产生弯折及扭转，用于模拟光子晶体光纤的现实使用过程中的受力状态；通过设置外扩散的坡面，使得光子晶体的弯折过程中进行过渡，增加弯折面积，减低了断裂的风险，使得光子晶体检测更加稳定；通过旋转电机驱动接头连接器在导向槽往复运动，避免了光子晶体光纤在转动过程中发生缠绕；通过接头连接器将定光子晶体光纤固定与测试设备连接，提高了连接稳定性，保证在转动过程中光子晶体光纤与测试设备的连接端稳定，避免松动，降低传导效率，本发明使用方便，结构简单。

以上，仅为本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制；凡本行业的普通技术人员均可按说明书附图所示和以上而顺畅地实施本发明；但是,凡熟悉本专业的技术人员在不脱离本发明技术方案范围内，利用以上所揭示的技术内容而做出的些许更动、修饰与演变的等同变化，均为本发明的等效实施例；同时,凡依据本发明的实质技术对以上实施例所作的任何等同变化的更动、修饰与演变等，均仍属于本发明的技术方案的保护范围之内。

Claims (10)

1.用于光子晶体光纤的测试平台，包括模拟工作台(1)、底座(2)，其特征在于：所述模拟工作台(1)包括转动测试模组(12)，所述底座(2)上安装有固定座(23)、传动模组(24)；

光子晶体光纤依次通过所述固定座(23)、传动模组(24)，并与所述转动测试模组(12)的旋转端连接；

所述固定座(23)用于将光子晶体光纤固定；所述传动模组(24)用于形成弯折光子晶体光纤的转折点，并将光子晶体光纤导向所述转动测试模组(12)的旋转端；通过所述固定座(23)将光子晶体光纤固定，并驱使所述转动测试模组(12)转动，从而使得光子晶体光纤扭转，从而模拟光子晶体光纤使用状态，光子晶体光纤的两端与测试设备连接形成传输通路。

2.如权利要求1所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述转动测试模组(12)包括旋转电机(121)、旋转臂(122)、接头连接器(123)；

通过所述旋转电机(121)驱使所述旋转臂(122)转动，进而带动安装在所述旋转臂(122)一端的所述接头连接器(123)转动；

所述接头连接器(123)用于固定光子晶体光纤一端的接头，使得光子晶体光纤与测试设备连接。

3.如权利要求1所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述底座(2)包括支架(21)，通过所述支架(21)将所述底座(2)连接形成一整体；

所述支架(21)上安装有用存放光子晶体光纤的绕线轮(22)，光子晶体光纤缠绕在所述绕线轮(22)上，所述绕线轮(22)设置在对应所述固定座(23)的下方。

4.如权利要求1所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述传动模组(24)内开设有用于光子晶体光纤通过的通孔，所述传动模组(24)靠近模拟工作台(1)一端的内侧壁(241)呈向外扩散的坡面；

所述传动模组(24)内通孔的中轴线对应所述转动测试模组(12)的旋转中心，通过所述转动测试模组(12)的驱使光子晶体光纤转动，使得光子晶体光纤在所述内侧壁(241)上滑动。

5.如权利要求4所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述模拟工作台(1)还包括限位模组(14)，所述限位模组(14)设置在对应所述传动模组(24)的位置处，当所述转动测试模组(12)转动时，所述限位模组(14)绕所述转动测试模组(12)的旋转中心转动；

所述限位模组(14)包括转轮座(141)、转轮(142)，所述转轮(142)安装在所述转轮座(141)上；所述转轮(142)与所述内侧壁(241)的坡面相接触；

所述转轮(142)上开设有限位槽(1421)，通过所述限位槽(1421)与所述内侧壁(241)的坡面形成用于光子晶体光纤穿过的通道。

6.如权利要求2所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述模拟工作台(1)还包括支撑台(11)、导向板(13)，通过所述支撑台(11)、导向板(13)拼接形成所述模拟工作台(1)的固定结构；

所述旋转电机(121)安装所述支撑台(11)上，所述导向板(13)上设置有限制所述接头连接器(123)转动位置的导向槽(131)，所述接头连接器(123)穿过所述导向槽(131)。

7.如权利要求1所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述固定座(23)包括固定块(231)、夹紧气缸(232)；通过所述夹紧气缸(232)推动光子晶体光纤，并与所述固定块(231)将光子晶体光纤夹紧，从而将光子晶体光纤固定。

8.如权利要求7所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述夹紧气缸(232)、固定块(231)的夹紧端由橡胶材料制成。

9.如权利要求4所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述内侧壁(241)呈喇叭型。

10.如权利要求3所述的用于光子晶体光纤的测试平台，其特征在于：所述绕线轮(22)上的存放的光子晶体光纤的一接头连接与测试设备连接，另一接头依次通过所述固定座(23)、传动模组(24)与所述转动测试模组(12)连接。

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