CN111227023A - 射频解冻装置及其控制方法及装置、解冻机、存储介质 - Google Patents

射频解冻装置及其控制方法及装置、解冻机、存储介质 Download PDF

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CN111227023A CN201811444741.3A CN201811444741A CN111227023A CN 111227023 A CN111227023 A CN 111227023A CN 201811444741 A CN201811444741 A CN 201811444741A CN 111227023 A CN111227023 A CN 111227023A
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陶瑞涛
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俞国新
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Abstract

本发明属于射频解冻技术领域，公开了一种射频解冻装置，包括：射频发生装置、控制模块、第一功率检测模块和第二功率检测模块；所述第一功率检测模块，与所述射频发生装置连接，用于检测所述射频发生装置发射射频的入射功率；所述第二功率检测模块，用于检测所述射频发生装置发射的射频经过反射后的出射功率；所述控制模块，与所述第一功率检测模块、所述第二功率检测模块和所述射频发生装置连接，用于根据所述入射功率和所述出射功率控制所述射频发生装置发射射频。本发明实施例提供的射频解冻装置更有利于判断食物的内部温度，提高解冻控制精度，改善解冻效果。

Description

射频解冻装置及其控制方法及装置、解冻机、存储介质
技术领域
本发明涉及射频解冻技术领域，特别涉及一种射频解冻装置及其控制方法及装置、解冻机、存储介质。
背景技术
现有各类用于解冻的产品，在确定解冻功率和解冻时间时，主要采用对被解冻物品的重量进行称重确定解冻功率和解冻时间或人为设定，随着解冻产品的发展，为提高解冻效率保证被解冻物品的质量，部分解冻产品装配红外测温装置，对被解冻物品的温度进行实时监控，当食物温度达到解冻状态，自动停止。解冻物品表面带有油时会随着解冻升温沾在红外测温装置透镜上，影响红外测温装置的测量精确度，且红外测温装置无法精确确定被解冻物品的内部温度，造成解冻不彻底。
发明内容
本发明旨在提供一种提高解冻效率的射频解冻装置。为了对披露的实施例的一些方面有一个基本的理解，下面给出了简单的概括。该概括部分不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围。其唯一目的是用简单的形式呈现一些概念，以此作为后面的详细说明的序言。
根据本发明实施例的第一方面，提供了一种射频解冻装置，包括：射频发生装置、控制模块、第一功率检测模块和第二功率检测模块；
所述第一功率检测模块，与所述射频发生装置连接，用于检测所述射频发生装置发射射频的入射功率；
所述第二功率检测模块，用于检测所述射频发生装置发射的射频经过反射后的出射功率；
所述控制模块，与所述第一功率检测模块、所述第二功率检测模块和所述射频发生装置连接，用于根据所述入射功率和所述出射功率控制所述射频发生装置发射射频。
在一些可选实施例中，所述射频发生装置发射射频的功率可调。
在一些可选实施例中，所述射频发生装置发射射频的频率范围为10MHz～1000MHz。可选的，所述射频发生装置发射射频的中心频率为13.56MHz，27.12MHz，40.68MHz，433.69MHz或915MHz。
根据本发明实施例的第二方面，提供一种用于任一前述射频解冻装置的控制方法，包括：
获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt；
间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt；
根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数；
根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率。
在一些可选实施例中，所述根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数，包括：
根据所述临时入射功率Pit与所述临时出射功率Prt之间的比值和所述当前入射功率Pit+Δt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的比值确定被解冻物体的解冻系数；
或者，根据所述临时出射功率Prt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的差值和所述临时入射功率Pit与所述当前入射功率Pit+Δt之间的差值确定被解冻物体的解冻系数。
在一些可选实施例中，所述根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率，包括：
当所述解冻系数大于或等于第一设定值小于第二设定值时，降低所述射频发生装置发射射频的功率；
当所述解冻系数大于或等于第二设定值时，关闭所述射频发生装置。
根据本发明实施例的第三方面，提供了用于任一前述射频解冻装置的控制装置，包括：
第一获取单元，用于获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt；
第二获取单元，用于间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt；
确定单元，用于根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数；
调节单元，用于根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率。
在一些可选实施例中，所述确定单元，用于根据所述临时入射功率Pit与所述临时出射功率Prt之间的比值和所述当前入射功率Pit+Δt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的比值确定被解冻物体的解冻系数；
或者，根据所述临时出射功率Prt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的差值和所述临时入射功率Pit与所述当前入射功率Pit+Δt之间的差值确定被解冻物体的解冻系数。
在一些可选实施例中，所述调节单元，用于当所述解冻系数大于或等于第一设定值小于第二设定值时，降低所述射频发生装置发射射频的功率；
当所述解冻系数大于或等于第二设定值时，关闭所述射频发生装置。
根据本发明实施例的第四方面，提供一种解冻机，包括：
处理器；
用于存储处理器可执行指令的存储器；
其中，所述处理器被配置为：
获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt；
间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt；
根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数；
根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率。
根据本发明实施例的第五方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时实现上述的用于射频解冻装置的控制方法。
本发明实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明实施例提供的射频解冻装置包括第一功率检测模块和第二功率检测模块，第一功率检测模块用于检测射频发生装置发射射频的入射功率，第二功率检测模块用于检测射频发生装置发射的射频经过反射后的出射功率，可以根据入射功率和出射功率调节射频发生装置发射射频的功率，更有利于判断食物的内部温度，提高解冻控制精度，改善解冻效果。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
图1是根据一示例性实施例示出的一种射频解冻装置的结构示意图；
图2是根据一示例性实施例示出的一种用于射频解冻装置的控制方法流程示意图；
图3是根据一示例性实施例示出的一种用于射频解冻装置的控制装置的结构框图。
具体实施方式
以下描述和附图充分地示出本发明的具体实施方案，以使本领域的技术人员能够实践它们。其他实施方案可以包括结构的、逻辑的、电气的、过程的以及其他的改变。实施例仅代表可能的变化。除非明确要求，否则单独的部件和功能是可选的，并且操作的顺序可以变化。一些实施方案的部分和特征可以被包括在或替换其他实施方案的部分和特征。本发明的实施方案的范围包括权利要求书的整个范围，以及权利要求书的所有可获得的等同物。在本文中，各实施方案可以被单独地或总地用术语“发明”来表示，这仅仅是为了方便，并且如果事实上公开了超过一个的发明，不是要自动地限制该应用的范围为任何单个发明或发明构思。本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用于将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法或者设备中还存在另外的相同要素。本文中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的方法、产品等而言，由于其与实施例公开的方法部分相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
射频表示可以辐射到空间的电磁频率，在本公开的实施例中，射频解冻装置在加热过程中，射频解冻装置内置的射频发生装置发射的电磁波频率范围在10MHz～1000MHz。可选的，所述射频发生装置发射射频的中心频率为13.56MHz，27.12MHz，40.68MHz，433.69MHz或915MHz。
本公开实施例提供的射频解冻装置利用低频射频具有更好的穿透性优点，更有利于判断食物的内部温度，提高解冻控制精度，改善解冻效果。
如图1所示是根据一示例性实施例示出的一种射频解冻装置的结构示意图，包括：射频发生装置1、控制模块2、第一功率检测模块3和第二功率检测模块4。
其中，第一功率检测模块3，与射频发生装置1连接，用于检测射频发生装置1发射射频的入射功率。
第二功率检测模块4，用于检测射频发生装置1发射的射频经过反射后的出射功率。
控制模块2，与第一功率检测模块3、第二功率检测模块4和射频发生装置1连接，控制模块2用于根据入射功率和出射功率控制射频发生装置1发射射频。
其中，第一功率检测模块3和第二功率检测模块4为射频功率计。
在一些可选实施例中，射频发生装置1发射射频的功率可调，避免射频发生装置1发射射频的功率过大，降低解冻效果，例如：在对肉类进行解冻时，射频的功率过大将肉类外部烤熟，降低肉类口感。
本发明实施例提供的射频解冻装置包括第一功率检测模块和第二功率检测模块，第一功率检测模块用于检测射频发生装置发射射频的入射功率，第二功率检测模块用于检测射频发生装置发射的射频经过反射后的出射功率，可以根据入射功率和出射功率调节射频发生装置发射射频的功率，更有利于判断食物的内部温度，提高解冻控制精度，改善解冻效果。
如图2是根据一示例性实施例示出的一种用于射频解冻装置的控制方法流程示意图，该方法包括：
步骤S201，获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt。
步骤S202，间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt。
步骤S203，根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数。
步骤S204，根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率。
其中，单位体积被解冻物体吸收的能量的计算公式如下：
P＝2ε0ε″πfE2
其中，P为单位体积被解冻物体吸收的能量；ε0为真空介电常数；ε″为被解冻物体的介电常数虚部；f为射频发生装置发射的射频的频率；E为电场强度。
在本发明实施例中，被解冻物体主要指代食物，射频解冻装置主要用于家庭生活中解冻日常生活中的食物。不同被解冻物体的介电常数虚部ε″都随着温度的升高而增大，在本发明实施例中，尤其在食物温度接近0度的时候增大的速度明显加快。
由上述公式可知：介电常数虚部ε″的计算公式如下：
Figure BDA0001885467580000061
其中，P为单位体积被解冻物体吸收的能量；ε0为真空介电常数；ε″为被解冻物体的介电常数虚部；f为射频发生装置发射的射频的频率；E为电场强度。
在忽略系统其他损耗时，被解冻物体吸收的能量为：
P＝Pi-Pr
其中，P为单位体积被解冻物体吸收的能量；Pi为入射功率；Pr为出射功率。同时，在射频解冻装置解冻过程中，E2等于入射功率Pi。
由此可知，介电常数虚部ε″为：
Figure BDA0001885467580000071
其中，P为单位体积被解冻物体吸收的能量；ε0为真空介电常数；ε″为被解冻物体的介电常数虚部；f为射频发生装置发射的射频的频率；Pi为入射功率；Pr为出射功率。
对于固定的射频解冻装置，2ε0πf为固定值，令
Figure BDA0001885467580000072
则对于固定的射频解冻装置，k为常数。此时，介电常数虚部ε″为：
Figure BDA0001885467580000073
其中，P为单位体积被解冻物体吸收的能量；ε0为真空介电常数；ε″为被解冻物体的介电常数虚部；f为射频发生装置发射的射频的频率；Pi为入射功率；Pr为出射功率。
在步骤S201和S202中，获取临时入射功率Pit、临时出射功率Prt、当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt，以便于在步骤S203中根据临时入射功率Pit、临时出射功率Prt、当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt。
在一些可选实施例中，射频发生装置1发射射频的功率可调，且临时入射功率Pit与当前入射功率Pit+Δt不同，在步骤S203中，根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数，包括：
根据所述临时入射功率Pit与所述临时出射功率Prt之间的比值和所述当前入射功率Pit+Δt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的比值确定被解冻物体的解冻系数。具体的，根据如下公式确定被解冻物体的解冻系数：
Figure BDA0001885467580000074
其中，K为被解冻物体的解冻系数；k为常数；Δt为设定时间；Pit为检测到的临时入射功率；Prt为检测到的临时出射功率；Pit+Δt为间隔设定时间Δt后检测到的入射功率；Prt+Δt为间隔设定时间Δt后检测到的入射功率。
在一些可选实施例中，临时入射功率Pit与当前入射功率Pit+Δt相同，步骤S203中，根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数，包括：
根据所述临时出射功率Prt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的差值和所述临时入射功率Pit与所述当前入射功率Pit+Δt之间的差值确定被解冻物体的解冻系数。
具体的，根据如下公式确定被解冻物体的解冻系数：
Figure BDA0001885467580000081
其中，K为被解冻物体的解冻系数；k为常数；Δt为设定时间；Pit为检测到的临时入射功率；且临时入射功率与当前入射功率之间的差值为零；Prt为检测到的临时出射功率；Prt+Δt为间隔设定时间Δt后检测到的入射功率。
在一些可选实施例中，步骤S204中，根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率，包括：当所述解冻系数大于或等于第一设定值小于第二设定值时，降低所述射频发生装置发射射频的功率；当所述解冻系数大于或等于第二设定值时，关闭所述射频发生装置。
其中，不同被解冻物体的介电常数虚部ε″都随着温度的升高而增大，尤其在被解冻物体温度接近0度的时候增大的速度明显加快。在解冻系数大于或等于第一设定值时，介电常数虚部ε″较大，在单位时间内，单位体积被解冻物体吸收的能量增大，即被解冻物体的介电常数虚部ε″随着温度的升高，增大的速度大于或等于第一设定值时，单位时间内，单位体积被解冻物体吸收的能量增大，为避免被解冻物体吸收的能量过多降低解冻后被解冻物体的质量，降低射频发生装置1发射射频的功率。
当解冻系数大于或等于第二设定值时，被解冻物体温度接近0度，判定此时被解冻物体解冻完成，关闭射频发生装置1。
其中，所述第一设定值为0.2～0.5。可选的，所述第一设定值为0.2、0.25、0.3、0.35、0.4、0.45或0.5。
所述第二设定值为1.5～3。可选的，所述第二设定值为1.5、2、2.5、或3。
本发明实施例提供的射频解冻装置包括第一功率检测模块和第二功率检测模块，第一功率检测模块用于检测射频发生装置发射射频的入射功率，第二功率检测模块用于检测射频发生装置发射的射频经过反射后的出射功率，可以根据入射功率和出射功率调节射频发生装置发射射频的功率，更有利于判断食物的内部温度，提高解冻控制精度，改善解冻效果。
如下是本发明实施例提供的装置实施例，如下装置用于执行前述实施例提供的方法。
如图3是根据一示例性实施例示出的一种用于射频解冻装置的控制装置的结构框图，该装置包括：第一获取单元301、第二获取单元302、确定单元303和调节单元304。
第一获取单元301，用于获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt。
第二获取单元302，用于间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt。
确定单元303，用于根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数。
调节单元304，用于根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率。
本发明实施例提供的射频解冻装置包括第一功率检测模块和第二功率检测模块，第一功率检测模块用于检测射频发生装置发射射频的入射功率，第二功率检测模块用于检测射频发生装置发射的射频经过反射后的出射功率，可以根据入射功率和出射功率调节射频发生装置发射射频的功率，更有利于判断食物的内部温度，提高解冻控制精度，改善解冻效果。
在一些可选实施例中，射频发生装置1发射射频的功率可调，且临时入射功率Pit与当前入射功率Pit+Δt不同，确定单元303，用于根据所述临时入射功率Pit与所述临时出射功率Prt之间的比值和所述当前入射功率Pit+Δt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的比值确定被解冻物体的解冻系数。
具体的，根据如下公式确定被解冻物体的解冻系数：
Figure BDA0001885467580000091
其中，K为被解冻物体的解冻系数；k为常数；Δt为设定时间；Pit为检测到的临时入射功率；Prt为检测到的临时出射功率；Pit+Δt为间隔设定时间Δt后检测到的入射功率；Prt+Δt为间隔设定时间Δt后检测到的入射功率。
在一些可选实施例中，临时入射功率Pit与当前入射功率Pit+Δt相同，确定单元303，用于根据所述临时出射功率Prt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的差值和所述临时入射功率Pit与所述当前入射功率Pit+Δt之间的差值确定被解冻物体的解冻系数。
具体的，根据如下公式确定被解冻物体的解冻系数：
Figure BDA0001885467580000101
其中，K为被解冻物体的解冻系数；k为常数；Δt为设定时间；Pit为检测到的临时入射功率；且临时入射功率与当前入射功率之间的差值为零；Prt为检测到的临时出射功率；Prt+Δt为间隔设定时间Δt后检测到的入射功率。
在一些可选实施例中，调节单元304，用于当所述解冻系数大于或等于第一设定值小于第二设定值时，降低射频发生装置1发射射频的功率，当所述解冻系数大于或等于第二设定值时，关闭射频发生装置1。
其中，不同被解冻物体的介电常数虚部都随着温度的升高而增大，尤其在被解冻物体温度接近0度的时候增大的速度明显加快。在解冻系数大于或等于第一设定值时，介电常数虚部较大，在单位时间内，单位体积被解冻物体吸收的能量增大，即被解冻物体的介电常数虚部随着温度的升高，增大的速度大于或等于第一设定值时，单位时间内，单位体积被解冻物体吸收的能量增大，为避免被解冻物体吸收的能量过多降低解冻后被解冻物体的质量，降低射频发生装置1发射射频的功率。
当解冻系数大于或等于第二设定值时，被解冻物体温度接近0度，判定此时被解冻物体解冻完成，关闭射频发生装置1。
其中，所述第一设定值为0.2～0.5。可选的，所述第一设定值为0.2、0.25、0.3、0.35、0.4、0.45或0.5。
所述第二设定值为1.5～3。可选的，所述第二设定值为1.5、2、2.5、或3。
本发明一实施例中，提供一种解冻机，包括：
处理器；
用于存储处理器可执行指令的存储器；
其中，所述处理器被配置为：
获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt；
间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt；
根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数；
根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率
本发明一实施例中，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述方法的步骤。
在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器，上述指令可由处理器执行以完成前文所述的方法。上述非临时性计算机可读存储介质可以是只读存储器(Read Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、磁带和光存储设备等。
本领域技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。所属技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
本文所披露的实施例中，应该理解到，所揭露的方法、产品(包括但不限于装置、设备等)，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
应当理解的是，附图中的流程图和框图显示了根据本发明的多个实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的流程及结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种射频解冻装置，包括：射频发生装置，其特征在于，还包括：控制模块、第一功率检测模块和第二功率检测模块；
所述第一功率检测模块，与所述射频发生装置连接，用于检测所述射频发生装置发射射频的入射功率；
所述第二功率检测模块，用于检测所述射频发生装置发射的射频经过反射后的出射功率；
所述控制模块，与所述第一功率检测模块、所述第二功率检测模块和所述射频发生装置连接，用于根据所述入射功率和所述出射功率控制所述射频发生装置发射射频。
2.如权利要求1所述的射频解冻装置，其特征在于，所述射频发生装置发射射频的功率可调。
3.一种用于如权利要求1或2所述的射频解冻装置的控制方法，其特征在于，包括：
获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt；
间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt；
根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数；
根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率。
4.如权利要求3所述的控制方法，其特征在于，所述根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数，包括：
根据所述临时入射功率Pit与所述临时出射功率Prt之间的比值和所述当前入射功率Pit+Δt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的比值确定被解冻物体的解冻系数；
或者，根据所述临时出射功率Prt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的差值和所述临时入射功率Pit与所述当前入射功率Pit+Δt之间的差值确定被解冻物体的解冻系数。
5.如权利要求3所述的控制方法，其特征在于，所述根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率，包括：
当所述解冻系数大于或等于第一设定值小于第二设定值时，降低所述射频发生装置发射射频的功率；
当所述解冻系数大于或等于第二设定值时，关闭所述射频发生装置。
6.一种用于如权利要求1或2所述的射频解冻装置的控制装置，其特征在于，包括：
第一获取单元，用于获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt；
第二获取单元，用于间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt；
确定单元，用于根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数；
调节单元，用于根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率。
7.如权利要求6所述的控制装置，其特征在于，所述确定单元，用于根据所述临时入射功率Pit与所述临时出射功率Prt之间的比值和所述当前入射功率Pit+Δt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的比值确定被解冻物体的解冻系数；
或者，根据所述临时出射功率Prt与所述当前出射功率Prt+Δt之间的差值和所述临时入射功率Pit与所述当前入射功率Pit+Δt之间的差值确定被解冻物体的解冻系数。
8.如权利要求6所述的控制装置，其特征在于，所述调节单元，用于当所述解冻系数大于或等于第一设定值小于第二设定值时，降低所述射频发生装置发射射频的功率；
当所述解冻系数大于或等于第二设定值时，关闭所述射频发生装置。
9.一种解冻机，其特征在于，包括：
处理器；
用于存储处理器可执行指令的存储器；
其中，所述处理器被配置为：
获取临时入射功率Pit和临时出射功率Prt；
间隔设定时间后，获取当前入射功率Pit+Δt和当前出射功率Prt+Δt；
根据所述临时入射功率Pit、所述临时出射功率Prt、所述当前入射功率Pit+Δt和所述当前出射功率Prt+Δt确定被解冻物体的解冻系数；
根据所述解冻系数调节所述射频发生装置发射射频的功率。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，该指令被处理器执行时实现权利要求3至5任一项所述方法的步骤。
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