CN111209182A - 集成电路上电测试方法、装置、存储介质及电子设备 - Google Patents

Abstract

本公开涉及一种集成电路上电测试方法、集成电路上电测试装置、存储介质及电子设备。本公开实施例提供的集成电路上电测试方法包括：获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形；利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例；使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试。本公开实施例提供的集成电路上电测试方法可以形成多种上电测试用例，进而可以对集成电路的各种上电情形进行模拟。

Description

集成电路上电测试方法、装置、存储介质及电子设备

技术领域

本公开涉及集成电路技术领域，具体涉及一种集成电路上电测试方法、集成电路上电测试装置、存储介质及电子设备。

背景技术

在集成电路的生产加工过程的不同阶段通常需要进行多次功能测试，以便在产品出厂前及时发现问题，提高集成电路产品的良品率。现有的集成电路测试仪器一般只能对指定功能进行测试，而集成电路在进行功能测试前的上电过程是由另外的上电设备进行控制的。一旦集成电路在上电过程出现问题，会对后续的功能测试产生影响，而由于测试语言的不同，后续功能测试的分析难以获知上电过程的故障原因。因此，如何对集成电路的上电过程以及后续的功能测试过程进行统一是目前亟待解决的问题。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种集成电路上电测试方法、集成电路上电测试装置、计算机可读存储介质及电子设备，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制而导致的功能测试仪器难以对上电过程故障进行测试分析的技术问题。

根据本公开的一个方面，提供一种集成电路上电测试方法，其特殊之处在于，包括：包括：

获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形；

利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例；

使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试。

在本公开的一种示例性实施方式中，获取待测试集成电路的上电测试参数，包括：

获取待测试集成电路的目标电压和上电时间。

在本公开的一种示例性实施方式中，获取待测试集成电路的上电测试参数，还包括：

获取待测试集成电路的电压阶跃数量。

在本公开的一种示例性实施方式中，获取待测试集成电路的电压阶跃数量，包括：

获取电压阶跃最大值和电压阶跃最小值；

随机选取所述电压阶跃最大值与所述电压阶跃最小值之间的数值作为所述电压阶跃数量。

在本公开的一种示例性实施方式中，利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例，包括：

利用所述目标电压和所述电压阶跃数量计算得到单次电压阶跃高度；

利用所述上电时间和所述电压阶跃数量计算得到单次电压阶跃时间；

利用所述单次电压阶跃高度和所述单次电压阶跃时间为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例。

在本公开的一种示例性实施方式中，获取多种上电测试波形，包括：

获取多种初始波形以及多种噪声波形；

利用所述初始波形和所述噪声波形叠加得到所述多种上电测试波形。

在本公开的一种示例性实施方式中，所述初始波形和所述噪声波形均为阶跃电压波形。

在本公开的一种示例性实施方式中，获取多种初始波形以及多种噪声波形，包括：

从预设的测试波形库中随机选取多种初始波形和多种噪声波形。

在本公开的一种示例性实施方式中，使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试，包括：

对所述多种上电测试用例进行有序排列以形成一测试序列；

按照所述测试序列依次使用各个所述上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试；

若当前上电测试用例的测试结果为测试失败，则继续使用所述测试序列中的下一上电测试用例进行上电测试。

在本公开的一种示例性实施方式中，使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试，包括：

对所述多种上电测试用例进行有序排列以形成一测试序列；

按照所述测试序列依次使用各个所述上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试；

若当前上电测试用例的测试结果为测试失败，则停止对所述测试序列中的剩余上电测试用例进行上电测试。

根据本公开的一个方面，提供一种集成电路上电测试装置，其特殊之处在于，包括：

获取模块，被配置为获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形；

赋值模块，被配置为利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例；

测试模块，被配置为依次使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试。

根据本公开的一个方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特殊之处在于，所述计算机程序被处理器执行时实现以上任一所述的集成电路上电测试方法。

根据本公开的一个方面，提供一种电子设备，其特殊之处在于，包括处理器和存储器；其中，存储器用于存储所述处理器的可执行指令，所述处理器被配置为经由执行所述可执行指令来执行以上任一所述的集成电路上电测试方法。

在本公开示例性实施方式提供的集成电路上电测试方法中，通过将上电测试参数以及上电测试波形进行结合可以形成多种上电测试用例，进而可以对集成电路的各种上电情形进行模拟。另外，通过对各种上电测试用例进行固化形成可由功能测试仪器运行的程序代码，可以由单一的功能测试仪器对上电测试过程以及后续的功能测试过程进行统一控制，提高了测试结果的可解读性。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示意性示出本公开示例性实施方式中集成电路上电测试方法的步骤流程图。

图2为本公开示例性实施方式中上电测试波形的波形示意图。

图3为本公开示例性实施方式中上电测试波形的阶跃电压拟合示意图。

图4示意性示出本公开示例性实施方式中集成电路上电测试方法的部分步骤流程图。

图5为本公开示例性实施方式中上电测试波形的叠加示意图。

图6示意性示出本公开示例性实施方式中集成电路上电测试方法的部分步骤流程图。

图7示意性示出本公开示例性实施方式中集成电路上电测试方法的部分步骤流程图。

图8为本公开示例性实施方式中集成电路上电测试方法在一应用场景下的上电测试流程图。

图9示意性示出本公开示例性实施方式中集成电路上电测试装置的组成框图。

图10示意性示出本公开示例性实施方式中一种程序产品的示意图。

图11示意性示出本公开示例性实施方式中一种电子设备的模块示意图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。

此外，附图仅为本公开的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。

在本公开的示例性实施方式中，首先提供一种集成电路上电测试方法，该方法可以应用于对集成电路的上电过程进行测试，以便对集成电路的上电性能进行评估，同时可以避免上电过程故障对后续的功能测试过程产生影响。本示例性实施方式中的集成电路可以是各种类型的存储器，例如动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)或者静态随机存取存储器(Static Random-Access Memory，SRAM)，另外也可以是其他任意的功能芯片，本示例性实施方式对此不做特殊限定。

如图1所示，本示例性实施方式中提供的集成电路上电测试方法主要可以包括以下步骤：

步骤S110.获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形。

本步骤首先可以根据测试需要获取待测试集成电路的上电测试参数，该上电测试参数可以是由测试人员依据测试需要以及待测试集成电路的自身特点而即时设定的，另外也可以是从预设的参数数据库中随机选取得到的，本示例性实施方式对此不做特殊限定。与此同时，本步骤还将获取多种上电测试波形，与上电测试参数相似地，本步骤中的上电测试波形可以是由测试人员依据测试需要以及待测试集成电路的自身特点而即时设定的，另外也可以是从预设的上电测试波形库中随机选取得到的，本示例性实施方式对此亦不做特殊限定。上电测试波形可以具有多种不同的波形形状，如图2所示，波形一、波形二和波形三的中段部分斜率较小，为慢速波形，说明其上电速度较慢。波形六、波形七和波形八的中段部分斜率较大，为快速波形，说明其上电速度较快。另外，波形三和波形四的中段部分存在不规则凸起，说明含有噪声。

步骤S120.利用上电测试参数为多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例。

步骤S110中获取得到的上电测试波形是仅包含电压变化形状的波形图，本步骤将利用上电测试参数为各个上电测试波形进行参数赋值，以形成多种可供使用的上电测试用例。例如，可以利用上电测试参数对上电测试波形中的初始电压、终止电压以及中间电压变化状态等参数信息进行赋值。本步骤中形成的每一个上电测试用例均可以固化形成特定的程序代码，以供功能测试仪器进行调取运行。

步骤S130.使用多种上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试。

由步骤S120得到多种上电测试用例后，本步骤将使用这些上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试。在实际的测试过程中，可以使用全部的上电测试用例逐个进行上电测试，以对各种上电情形进行模拟测试。另外，也可以从步骤S120中得到的多种上电测试用例中指定或者随机选取一种或者多种上电测试用例进行上电测试，以便快速完成上电测试过程。

在本示例性实施方式提供的集成电路上电测试方法中，通过将上电测试参数以及上电测试波形进行结合可以形成多种上电测试用例，进而可以对集成电路的各种上电情形进行模拟。另外，通过对各种上电测试用例进行固化形成可由功能测试仪器运行的程序代码，可以由单一的功能测试仪器对上电测试过程以及后续的功能测试过程进行统一控制，提高了测试结果的可解读性。

在以上示例性实施方式的基础上，步骤S110中的获取待测试集成电路的上电测试参数，可以包括获取待测试集成电路的目标电压和上电时间，另外还可以包括获取待测试集成电路的电压阶跃数量。其中，目标电压是待测试集成电路在一次上电测试过程中将达到的终止电压，例如目标电压为1.2V，那么整个上电过程将表现为从0V上升至1.2V。上电时间是一次上电测试过程的持续时间，例如上电时间为10ms。如图3所示，本示例性实施方式中的上电测试波形是由阶跃电压拟合得到的。在相同的目标电压和上电时间下，电压阶跃数量越多时，上电测试波形的拟合效果越好。

获取待测试集成电路的电压阶跃数量，可以进一步包括：首先，获取电压阶跃最大值和电压阶跃最小值；然后，随机选取电压阶跃最大值与电压阶跃最小值之间的数值作为电压阶跃数量。例如，本示例性实施方式可以将电压阶跃最大值设定为50，而将电压阶跃最小值设定为10，那么电压阶跃数量可以随机选取10至50之间的任意数值。电压阶跃数量的选择可以丰富上电测试用例的多样性，提高上电测试效果。

如图4所示，在以上示例性实施方式的基础上，步骤S120.利用上电测试参数为多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例，可以进一步包括以下步骤：

步骤S410.利用目标电压和电压阶跃数量计算得到单次电压阶跃高度。

单次电压阶跃高度是在上电过程中一次电压阶跃上的电压变化值，例如目标电压为1.2V，电压阶跃数量为4，那么单次电压阶跃高度即可计算为0.3V。

步骤S420.利用上电时间和电压阶跃数量计算得到单次电压阶跃时间。

单次电压阶跃时间是在上电过程中一次电压阶跃的持续时间，例如上电时间为10ms，电压阶跃数量为4，那么单次电压阶跃高度即可计算为2.5ms。

步骤S430.利用单次电压阶跃高度和单次电压阶跃时间为多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例。

利用步骤S410计算得到的单次电压阶跃高度以及步骤S420计算得到的单次电压阶跃时间，本步骤可以为多种上电测试波形进行参数赋值即可得到多种上电测试用例。

在本公开的一种示例性实施方式中，步骤S110中的获取多种上电测试波形，可以包括：首先，获取多种初始波形以及多种噪声波形；然后，利用初始波形和噪声波形叠加得到多种上电测试波形。其中，初始波形和噪声波形均可以是阶跃电压波形。而且，本示例性实施方式可以预设一包含各种波形的测试波形库，在需要获取初始波形或者噪声波形时，可以从该测试波形库中随机进行选取。如图5所示，初始波形是一阶跃上升的波形，而噪声波形是一电压阶跃随机分布的波形，二者进行叠加后即可得到一带有噪声的上电测试波形。

如图6所示，在本公开的一种示例性实施方式中，步骤S130.使用多种上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试，可以进一步包括以下步骤：

步骤S610.对多种上电测试用例进行有序排列以形成一测试序列。

本步骤首先对步骤S120中得到的多种上电测试用例按照一定的顺序进行排列，形成一个测试序列。

步骤S620.按照测试序列依次使用各个上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试。

按照步骤S620中形成的测试序列，本步骤将依次使用各个上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试。

步骤S630.若当前上电测试用例的测试结果为测试失败，则继续使用测试序列中的下一上电测试用例进行上电测试。

每一个上电测试用例测试结束后，会对测试结果做出判断，如果测试成功，那么便会继续使用测试序列中的下一上电测试用例进行上电测试。而如果测试失败，本步骤也同样会继续使用测试序列中的下一上电测试用例进行上电测试。在对测试序列中的全部的上电测试用例完成测试后，会对测试失败的上电测试用例进行集中分析处理。

如图7所示，在本公开的另一示例性实施方式中，步骤S130.使用多种上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试，可以包括以下步骤：

步骤S710.对多种上电测试用例进行有序排列以形成一测试序列。

本步骤首先对步骤S120中得到的多种上电测试用例按照一定的顺序进行排列，形成一个测试序列。

步骤S720.按照测试序列依次使用各个上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试。

按照步骤S720中形成的测试序列，本步骤将依次使用各个上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试。

步骤S730.若当前上电测试用例的测试结果为测试失败，则停止对测试序列中的剩余上电测试用例进行上电测试。

每一个上电测试用例测试结束后，会对测试结果做出判断，如果测试成功，那么便会继续使用测试序列中的下一上电测试用例进行上电测试。而如果测试失败，本步骤则会终止测试过程，亦即停止对测试序列中的剩余上电测试用例进行上电测试。当对测试失败的上电测试用例进行分析处理后，可以根据分析结果对测试序列中的剩余上电测试用例进行筛选，然后再利用筛选后的上电测试用例继续进行上电测试。

如图8所示即为本公开示例性实施方式中提供的集成电路上电测试方法在一种应用场景下的测试流程。序号1-N代表测试序列中的N种对应于不同上电测试波形的上电测试用例，利用该流程即可完成对多种上电测试用例的上电测试。

需要说明的是，虽然以上示例性实施方式以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或者必须执行全部的步骤才能实现期望的结果。附加地或者备选地，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。

在本公开的示例性实施方式中，还提供一种集成电路上电测试装置。如图9所示，上电测试装置900主要可以包括：获取模块910、赋值模块920和测试模块930。其中，获取模块910被配置为获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形。赋值模块920被配置为利用上电测试参数为多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例。测试模块930被配置为依次使用多种上电测试用例对待测试集成电路进行上电测试。

上述集成电路上电测试装置的具体细节已经在对应的集成电路上电测试方法中进行了详细的描述，因此此处不再赘述。

应当注意，尽管在上文详细描述中提及了用于动作执行的设备的若干模块或者单元，但是这种划分并非强制性的。实际上，根据本公开的实施方式，上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之，上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。

在本公开的示例性实施方式中，还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现本公开的上述的集成电路上电测试方法。在一些可能的实施方式中，本公开的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码；该程序产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM、U盘或者移动硬盘等)中或网络上；当所述程序产品在一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、终端装置或者网络设备等)上运行时，所述程序代码用于使所述计算设备执行本公开中上述各示例性实施例中的方法步骤。

参见图10所示，根据本公开的实施方式的用于实现上述方法的程序产品1000，其可以采用便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码，并可以在计算设备(例如个人计算机、服务器、终端装置或者网络设备等)上运行。然而，本公开的程序产品不限于此。在本示例性实施例中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

所述程序产品可以采用一个或者多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。

可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线或半导体的系统、装置或器件、或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件或者上述的任意合适的组合。

可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任意可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、RF等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本公开操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如C语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户计算设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络(包括局域网(LAN)或广域网(WAN)等)连接到用户计算设备；或者，可以连接到外部计算设备，例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接。

在本公开的示例性实施方式中，还提供一种电子设备，所述电子设备包括至少一个处理器以及至少一个用于存储所述处理器的可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为经由执行所述可执行指令来执行本公开中上述各示例性实施例中的方法步骤。

下面结合图11对本示例性实施方式中的电子设备1100进行描述。电子设备1100仅仅为一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。

参见图11所示，电子设备1100以通用计算设备的形式表现。电子设备1100的组件可以包括但不限于：至少一个处理单元1110、至少一个存储单元1120、连接不同系统组件(包括处理单元1110和存储单元1120)的总线1130、显示单元1140。

其中，存储单元1120存储有程序代码，所述程序代码可以被处理单元1110执行，使得处理单元1110执行本公开中上述各示例性实施例中的方法步骤。

存储单元1120可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元1121(RAM)和/或高速缓存存储单元1122，还可以进一步包括只读存储单元1123(ROM)。

存储单元1120还可以包括具有一组(至少一个)程序模块1125的程序/实用工具1124，这样的程序模块包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其他程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

总线1130可以为表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用各种总线结构中的任意总线结构的局域总线。

电子设备1100也可以与一个或多个外部设备1200(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信，还可以与一个或者多个使得用户可以与该电子设备1100交互的设备通信，和/或与使得该电子设备1100能与一个或多个其他计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口1150进行。并且，电子设备1100还可以通过网络适配器1160与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)、广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图11所示，网络适配器1160可以通过总线1130与电子设备1100的其他模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备1100使用其他硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

本领域技术人员能够理解，本公开的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此，本公开的各个方面可以具体实现为以下形式，即：完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等)，或硬件和软件结合的实施方式，这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。

上述所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中，如有可能，各实施例中所讨论的特征是可互换的。在上面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组件、材料等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本公开的各方面。

Claims (13)

1.一种集成电路上电测试方法，其特征在于，包括：

获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形；

利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例；

使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试。

2.根据权利要求1所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，获取待测试集成电路的上电测试参数，包括：

获取待测试集成电路的目标电压和上电时间。

3.根据权利要求2所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，获取待测试集成电路的上电测试参数，还包括：

获取待测试集成电路的电压阶跃数量。

4.根据权利要求3所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，获取待测试集成电路的电压阶跃数量，包括：

获取电压阶跃最大值和电压阶跃最小值；

随机选取所述电压阶跃最大值与所述电压阶跃最小值之间的数值作为所述电压阶跃数量。

5.根据权利要求3所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例，包括：

利用所述目标电压和所述电压阶跃数量计算得到单次电压阶跃高度；

利用所述上电时间和所述电压阶跃数量计算得到单次电压阶跃时间；

利用所述单次电压阶跃高度和所述单次电压阶跃时间为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例。

6.根据权利要求1所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，获取多种上电测试波形，包括：

获取多种初始波形以及多种噪声波形；

利用所述初始波形和所述噪声波形叠加得到所述多种上电测试波形。

7.根据权利要求6所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，所述初始波形和所述噪声波形均为阶跃电压波形。

8.根据权利要求6所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，获取多种初始波形以及多种噪声波形，包括：

从预设的测试波形库中随机选取多种初始波形和多种噪声波形。

9.根据权利要求1-8中任意一项所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试，包括：

对所述多种上电测试用例进行有序排列以形成一测试序列；

按照所述测试序列依次使用各个所述上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试；

若当前上电测试用例的测试结果为测试失败，则继续使用所述测试序列中的下一上电测试用例进行上电测试。

10.根据权利要求1-8中任意一项所述的集成电路上电测试方法，其特征在于，使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试，包括：

对所述多种上电测试用例进行有序排列以形成一测试序列；

按照所述测试序列依次使用各个所述上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试；

若当前上电测试用例的测试结果为测试失败，则停止对所述测试序列中的剩余上电测试用例进行上电测试。

11.一种集成电路上电测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，被配置为获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形；

赋值模块，被配置为利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例；

测试模块，被配置为依次使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试。

12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-10中任意一项所述的集成电路上电测试方法。

13.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器被配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求1-10中任意一项所述的集成电路上电测试方法。

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