CN111188083B - 一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法 - Google Patents

一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法,它包含以下步骤:1)将P型单晶硅片3置于铂片2和银片4之间,然后放入夹板5‑1和夹板5‑2之间,将铂丝8的一端置于铂片2和夹板5‑1之间,将铂丝9置于银片4和夹板5‑2之间,将螺栓6分别穿过夹板5‑1和夹板5‑2对应的圆孔11,再通过旋转螺母7将夹板5‑1和夹板5‑2固定,放入到容器1中;2)制备腐蚀液10;3)将步骤2)的腐蚀液10加入到步骤1)的容器1中;4)将步骤1)的铂丝8连接电源负极,铂丝9连接电源正极,通入电流;5)得到所有面均为多孔硅的样品,该方法解决了制备的多孔硅只占整个硅片表面一部分的问题。

Description

一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法
技术领域
本发明涉及一种多孔硅的制备方法,具体地说是一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法。
背景技术
所谓多孔硅,就是一种纳米硅原子簇为骨架的多孔材料。1956年,美国贝尔实验室的Uhlir最先报道了用阳极腐蚀法可在单晶硅表面生成一层多孔硅,并对它的结构、材料成分和光电性质等进行了研究。1984年,Pickering等人观察到低温(4.2K)下多孔硅在可见光波段的荧光现象。1990年,Canham发现室温下多孔硅在近红外区和可见光区发射强烈的荧光,这种现象引起了国内外学术界非常大的兴趣,使多孔硅的研究进入了一个新阶段,即多孔硅室温发光研究阶段。多孔硅的光致发光现象打破了单晶硅难以实现高效率发光的禁锢,预示着用单晶硅制备发光器件进而实现全硅光电子集成的美好前景。多年来,世界各国的研究者对多孔硅的制备方法、表面形态、发光特性以及发光机理等方面进行了广泛而深入的研究,取得了令人瞩目的进展。1996年,Hirschman等制成了一个光电子集成发光阵列,这是多孔硅光电子集成的首例,是一个重大突破,这更使人们对多孔硅发光的应用前景感到乐观,也为光电子和微电子的全硅集成带来希望。
自从多孔硅报道以来,多孔硅发光不断有新的进展。目前,人们已经发展了很多制备多孔硅样品的方法,如电化学阳极腐蚀法、水热腐蚀法、火花腐蚀法和光辐射辅助化学腐蚀法等,其中电化学阳极腐蚀法是制备多孔硅最常用的方法。电化学阳极腐蚀法包括单槽和双槽两种方法。单槽法一般是将硅片的下表面与平板电极相连,上表面的一部分与腐蚀液相接触,通电腐蚀后,只有与腐蚀液相接触的这一部分形成多孔硅。双槽法虽然实现了双面与腐蚀液相接触,但由于固定硅片的需要,还是有相当一部分硅的表面无法与腐蚀液相接触。这就造成制备的多孔硅只占整个硅片表面的一部分,还有一部分或大部分的硅表面仍为普通硅片,这部分是无用的。
发明内容
本发明的目的是提供一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法。解决了制备的多孔硅只占整个硅片表面一部分的问题。
本发明提供的一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法,包括以下步骤:
1)取铂片2、P型单晶硅片3、银片4各一片,将P型单晶硅片3置于铂片2和银片4之间,然后放入夹板5-1和夹板5-2之间,将铂丝8的一端置于铂片2和夹板5-1之间,将铂丝9置于银片4和夹板5-2之间,将螺栓6分别穿过夹板5-1和夹板5-2对应的圆孔11,再通过旋转螺母7将夹板5-1和夹板5-2固定,最后把装置放入到容器1中,使夹板5-1和夹板5-2竖直放置;
2)制备腐蚀液10,将无水乙醇和40%氢氟酸溶液按体积比为1:6~2:1进行混合,得到腐蚀液10;
3)将步骤2)的腐蚀液10加入到步骤1)的容器1中,腐蚀液10要淹没步骤1)中竖直放置的夹板5-1和夹板5-2;
4)将步骤1)的铂丝8连接电源负极,铂丝9连接电源正极,通入电流,使电流大小与硅片全部表面的面积比为2.5~150mA/cm2,通入电流的时间为10~80min;
5)将反应后的P型单晶硅片3取出并在室温下干燥,得到所有面均为多孔硅的样品,在紫外光照射下,整个样品表面发射可见光。
所述步骤1)的铂片2、P型单晶硅片3、银片4的面积比为6~8:3~5:1~2;
所述步骤1)的夹板5-1、夹板5-2、螺栓6、螺母7、容器1的材料为聚四氟乙烯;
本发明与普通电化学腐蚀法制备多孔硅不同。普通电化学腐蚀法中,单晶硅片只有一部分与腐蚀液相接触,所以只有一部分腐蚀成多孔硅,而其它部分没有变化。本发明中,利用聚四氟乙烯夹板5-1和夹板5-2将P型单晶硅片3、银片4、铂丝电极8和铂丝电极9固定后,整个装置放入腐蚀液10中,腐蚀液10将整个P型单晶硅片3淹没。在反应过程中,银片4作为阳极,银片4表面有部分反应后生成银离子,银片4表面变得粗糙,使腐蚀液10可以流入银片4与P型单晶硅片3之间的空隙。在电流、银离子和腐蚀液10的共同作用下,P型单晶硅片3的上下表面均得到腐蚀。因为铂片2、P型单晶硅片3、银片4的面积比为6~8:3~5:1~2,也就是说铂片2的面积大于P型单晶硅片3的面积,P型单晶硅片3的面积大于银片4的面积,这种结构使P型单晶硅片3不与铂片2和银片4相接触的表面也都生成了多孔硅。因此在紫外光照射下,可以实现全表面发光。
本发明的优点在于,该装置结构简单,操作方便。用该装置所制作的多孔硅全部表面都发光,使多孔部分的产率显著增加,节约了原材料,扩展了多孔硅的应用范围。
附图说明
图1为本发明的整体装置的结构示意图。
图2为夹板5-1的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明加以详细说明,但本发明并不限于此。
本发明提供的一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法,包括以下步骤:
1)取铂片2、P型单晶硅片3、银片4各一片,将P型单晶硅片3置于铂片2和银片4之间,然后放入夹板5-1和夹板5-2之间,将铂丝8的一端置于铂片2和夹板5-1之间,将铂丝9置于银片4和夹板5-2之间,将螺栓6分别穿过夹板5-1和夹板5-2对应的圆孔11,再通过旋转螺母7将夹板5-1和夹板5-2固定,最后把装置放入到容器1中,使夹板5-1和夹板5-2竖直放置;
2)制备腐蚀液10,将无水乙醇和40%氢氟酸溶液按体积比为1:6~2:1进行混合,得到腐蚀液10;
3)将步骤2)的腐蚀液10加入到步骤1)的容器1中,腐蚀液10要淹没步骤1)中竖直放置的夹板5-1和夹板5-2;
4)将步骤1)的铂丝8连接电源负极,铂丝9连接电源正极,通入电流,使电流大小与硅片全部表面的面积比为2.5~150mA/cm2,通入电流的时间为10~80min;
5)将反应后的P型单晶硅片3取出并在室温下干燥,得到所有面均为多孔硅的样品,在紫外光照射下,整个样品表面发射可见光。
其中,本发明对所有原料的来源并没有特殊的限制,为市售即可。
参见图1,电化学制备全表面发光的多孔硅的方法中,所用装置包容器1、铂片2、P型单晶硅片3、银片4、夹板5-1和夹板5-2、螺栓6、螺母7、铂丝8和铂丝9。铂丝8位于铂片2和夹板5-1之间,与铂片2形成良好的接触;铂丝9位于银片4和夹板5-2之间,与银片4形成良好的接触;
参见图2,夹板5-1和夹板5-2分别具有四个孔洞,通过调节四根螺栓6和四个螺母7将P型单晶硅片3固定于铂片2和银片4之间。
参见图1,夹板5-1和夹板5-2竖直放置,以使反应生成的气体尽快离开腐蚀液。
本发明中,铂丝9连接电源正极,铂丝9与银片4相连接,银片4作为阳极,通电后银片4的表面有部分生成银离子,银片4表面变得粗糙,使腐蚀液10可以流入银片4与P型单晶硅片3之间的空隙。在电流、银离子和腐蚀液10的共同作用下,P型单晶硅片3的上下表面均得到腐蚀。
本发明中,铂片2、P型单晶硅片3、银片4的面积比为6~8:3~5:1~2;也就是说铂片2的面积大于P型单晶硅片3的面积,P型单晶硅片3的面积大于银片4的面积,这种结构使P型单晶硅片3的四周与铂片2之间产生了电势差,因此使P型单晶硅片3不与铂片2和银片4相接触的表面也都生成了多孔硅。
实施例1
1)取铂片2、P型单晶硅片3、银片4各一片,铂片2、P型单晶硅片3和银片4的面积比为8:5:2,将P型单晶硅片3置于铂片2和银片4之间,然后放入夹板5-1和夹板5-2之间,将铂丝8的一端置于铂片2和夹板5-1之间,将铂丝9置于银片4和夹板5-2之间,将螺栓6分别穿过夹板5-1和夹板5-2对应的圆孔11,再通过旋转螺母7将夹板5-1和夹板5-2固定,最后把装置放入到容器1中,使夹板5-1和夹板5-2竖直放置;
2)制备腐蚀液10,将无水乙醇和40%氢氟酸溶液按体积比为1:6进行混合,得到腐蚀液10;
3)将步骤2)的腐蚀液10加入到步骤1)的容器1中,腐蚀液10要淹没步骤1)中竖直放置的夹板5-1和夹板5-2;
4)将步骤1)的铂丝8连接电源负极,铂丝9连接电源正极,通入电流,使电流大小与硅片全部表面的面积比为2.5mA/cm2,通入电流的时间为80min;
5)将反应后的P型单晶硅片3取出并在室温下干燥,得到所有面均为多孔硅的样品,在紫外光照射下,整个样品表面发射可见光。
实施例2
1)取铂片2、P型单晶硅片3、银片4各一片,铂片2、P型单晶硅片3和银片4的面积比为7:4:1,将P型单晶硅片3置于铂片2和银片4之间,然后放入夹板5-1和夹板5-2之间,将铂丝8的一端置于铂片2和夹板5-1之间,将铂丝9置于银片4和夹板5-2之间,将螺栓6分别穿过夹板5-1和夹板5-2对应的圆孔11,再通过旋转螺母7将夹板5-1和夹板5-2固定,最后把装置放入到容器1中,使夹板5-1和夹板5-2竖直放置;
2)制备腐蚀液10,将无水乙醇和40%氢氟酸溶液按体积比为1:3进行混合,得到腐蚀液10;
3)将步骤2)的腐蚀液10加入到步骤1)的容器1中,腐蚀液10要淹没步骤1)中竖直放置的夹板5-1和夹板5-2;
4)将步骤1)的铂丝8连接电源负极,铂丝9连接电源正极,通入电流,使电流大小与硅片全部表面的面积比为75mA/cm2,通入电流的时间为45min;
5)将反应后的P型单晶硅片3取出并在室温下干燥,得到所有面均为多孔硅的样品,在紫外光照射下,整个样品表面发射可见光。
实施例3
1)取铂片2、P型单晶硅片3、银片4各一片,铂片2、P型单晶硅片3和银片4的面积比为6:3:1,将P型单晶硅片3置于铂片2和银片4之间,然后放入夹板5-1和夹板5-2之间,将铂丝8的一端置于铂片2和夹板5-1之间,将铂丝9置于银片4和夹板5-2之间,将螺栓6分别穿过夹板5-1和夹板5-2对应的圆孔11,再通过旋转螺母7将夹板5-1和夹板5-2固定,最后把装置放入到容器1中,使夹板5-1和夹板5-2竖直放置;
2)制备腐蚀液10,将无水乙醇和40%氢氟酸溶液按体积比为2:1进行混合,得到腐蚀液10;
3)将步骤2)的腐蚀液10加入到步骤1)的容器1中,腐蚀液10要淹没步骤1)中竖直放置的夹板5-1和夹板5-2;
4)将步骤1)的铂丝8连接电源负极,铂丝9连接电源正极,通入电流,使电流大小与硅片全部表面的面积比为150mA/cm2,通入电流的时间为10min;
5)将反应后的P型单晶硅片3取出并在室温下干燥,得到所有面均为多孔硅的样品,在紫外光照射下,整个样品表面发射可见光。

Claims (2)

1.一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法,其特征在于,它包含以下步骤:
1)取铂片(2)、P型单晶硅片(3)、银片(4)各一片,将P型单晶硅片(3)置于铂片(2)和银片(4)之间,然后放入夹板一(5-1)和夹板二(5-2)之间,将铂丝一(8)的一端置于铂片(2)和夹板一(5-1)之间,将铂丝二(9)置于银片(4)和夹板二(5-2)之间,将螺栓(6)分别穿过夹板一(5-1)和夹板二(5-2)对应的圆孔(11),再通过旋转螺母(7)将夹板一(5-1)和夹板二(5-2)固定,最后把装置放入到容器(1)中,使夹板一(5-1)和夹板二(5-2)竖直放置;其中,铂片(2)、P型单晶硅片(3)、银片(4)的面积比为6~8:3~5:1~2;
2)制备腐蚀液(10),将无水乙醇和40%氢氟酸溶液按体积比为1:6~2:1进行混合,得到腐蚀液(10);
3)将步骤2)的腐蚀液(10)加入到步骤1)的容器(1)中,腐蚀液(10)要淹没步骤1)中竖直放置的夹板一(5-1)和夹板二(5-2);
4)将步骤1)的铂丝一(8)连接电源负极,铂丝二(9)连接电源正极,通入电流,使电流大小与硅片全部表面的面积比为2.5~150mA/cm2,通入电流的时间为10~80min;
5)将反应后的P型单晶硅片(3)取出并在室温下干燥,得到所有面均为多孔硅的样品,在紫外光照射下,整个样品表面发射可见光。
2.根据权利要求1所述的一种电化学制备全表面发光的多孔硅的方法,其特征在于,所述夹板一(5-1)、夹板二(5-2)、螺栓(6)、螺母(7)、容器(1)的材料为聚四氟乙烯。
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CN1974880B (zh) * 2006-11-16 2010-05-12 天津大学 电化学法制备多孔硅的双槽装置
US8906218B2 (en) * 2010-05-05 2014-12-09 Solexel, Inc. Apparatus and methods for uniformly forming porous semiconductor on a substrate
EP2427914A4 (en) * 2009-05-05 2013-06-05 Solexel Inc HIGH PRODUCTION PLANT FOR THE PRODUCTION OF POROUS SEMICONDUCTORS
CN102418138B (zh) * 2011-08-08 2014-02-05 南京航空航天大学 一种用于全面积器件转移的制备多孔硅的装置
CN104480521B (zh) * 2014-12-30 2017-04-12 深圳大学 气液循环式钢筋混凝土中钢筋加速锈蚀方法及装置
CN204727978U (zh) * 2015-06-26 2015-10-28 南开大学 一种光电化学刻蚀设备

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