CN111180361A - 一种塑封器件湿法开封方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种塑封器件湿法开封方法,它包括:使用细砂纸或磨具对塑封器件封装体表面进行打磨,破坏表面油膜;使用有机溶剂对封装体进行清洗,去除封装体表面附着的残渣;烘烤塑封器件使封装体表面残留的有机溶剂挥发;在封装体表面均匀喷涂铝粉,通过烘烤坚膜后形成铝膜;使用激光刻蚀在封装体开封位置刻蚀,去除封装体表面铝膜,形成腐蚀窗口;将塑封器件放入发烟硝酸中进行腐蚀;观察腐蚀窗口出现的凹槽深度,待内部芯片暴露后取出塑封器件清洗并烘干;解决了用浓酸腐蚀塑封器件封装体,由于浓酸腐蚀是各向均匀腐蚀,无法定向腐蚀,在开封过程中,工艺偏差经常导致腐蚀过度,造成塑封体内部结构破坏,影响开封效果等技术问题。
Description
技术领域
本发明属于塑封器件开封技术,尤其涉及一种塑封器件湿法开封方法。
背景技术
塑封器件湿法开封是利用浓酸腐蚀塑封器件封装体,将封装体内部芯片结构暴露的开封方法,但由于浓酸腐蚀是各向均匀腐蚀,无法定向腐蚀,在开封过程中,工艺偏差经常导致腐蚀过度,造成塑封体内部结构破坏,影响开封效果。
发明内容:
本发明要解决的技术问题:提供一种塑封器件湿法开封方法,以解决现有技术中用浓酸腐蚀塑封器件封装体,将封装体内部芯片结构暴露的开封方法,由于浓酸腐蚀是各向均匀腐蚀,无法定向腐蚀,在开封过程中,工艺偏差经常导致腐蚀过度,造成塑封体内部结构破坏,影响开封效果等技术问题。
本发明技术方案:
一种塑封器件湿法开封方法,它包括:
步骤1、使用细砂纸或磨具对塑封器件封装体表面进行打磨,破坏表面油膜;
步骤2、使用有机溶剂对封装体进行清洗,去除封装体表面附着的残渣;
步骤3、烘烤塑封器件使封装体表面残留的有机溶剂挥发;
步骤4、在封装体表面均匀喷涂铝粉,通过烘烤坚膜后形成铝膜;
步骤5、使用激光刻蚀在封装体开封位置刻蚀,去除封装体表面铝膜,形成腐蚀窗口;
步骤6、将塑封器件放入发烟硝酸中进行腐蚀;
步骤7、观察腐蚀窗口出现的凹槽深度,待内部芯片暴露后取出塑封器件清洗并烘干。
步骤2所述有机溶剂为丙酮。
步骤4所述喷涂铝粉的厚度为3至5微米。
铝粉为高纯度铝,纯度在99%以上。
本发明的有益效果:
本发明采用在塑封器件封装体表面喷涂铝膜的方式,并在开封位置刻蚀腐蚀窗口,利用金属铝遇浓酸形成致密氧化膜的特性,实现针对腐蚀窗口的定向腐蚀,提高了湿法开封工艺的容错度,有利于保证封装体开封后的完整性。解决了现有技术中用浓酸腐蚀塑封器件封装体,将封装体内部芯片结构暴露的开封方法,由于浓酸腐蚀是各向均匀腐蚀,无法定向腐蚀,在开封过程中,工艺偏差经常导致腐蚀过度,造成塑封体内部结构破坏,影响开封效果等技术问题。
具体实施方式
塑封器件封装体表面一般较为光滑,部分塑封器件封装体表面还具有一层油膜,不利于铝粉喷涂,影响坚膜后铝膜的致密程度,因此,在喷涂作业前应采用物理方法使封装体表面粗糙,增大封装体表面与铝膜接触面积。
在处理过的封装体表面喷涂铝粉,铝粉应采用高纯度铝(一般要求达到99%以上),铝粉喷涂厚度3-5微米,喷涂厚度过薄会导致保护效果下降,喷涂厚度过厚,后续坚膜过程中会出现较大的膜内应力,导致铝膜附着力下降或剥落。
使用激光刻蚀设备在封装体开封位置进行刻蚀,根据封装体内部芯片位置确定腐蚀窗口位置及大小,刻蚀效果要求完全去除腐蚀窗口处铝膜,若封装体较厚,可适当刻蚀部分封装体材料,减少酸腐蚀时间。
将刻蚀出腐蚀窗口的塑封器件放入加热的发烟硝酸中,铝膜掩模部分由于铝膜保护不会与发烟硝酸反应,腐蚀窗口区域无铝膜掩模保护,与发烟硝酸发生反应,观察腐蚀窗口反应进度,当芯片完全暴露后,取出塑封器件清洗后烘干。
一种塑封器件湿法开封方法,它包括:
第一步,使用细砂纸或其他磨具对塑封器件封装体表面进行打磨,破坏其表面油膜,使封装体表面粗糙;第二步,使用丙酮等有机溶剂对封装体进行清洗,去除封装体表面附着的残渣;第三步,高温烘烤塑封器件,使封装体表面残留的有机溶剂挥发;第四步,在封装体表面均匀喷涂铝粉,高温烘烤坚膜后形成铝膜;第五步,使用激光刻蚀在封装体开封位置刻蚀,去除封装体表面铝膜,形成腐蚀窗口,若封装体较厚,可适当刻蚀掉部分封装体,减少腐蚀时间;第六步,将塑封器件放入加热的发烟硝酸中,观察腐蚀窗口出现的凹槽深度③,待内部芯片暴露,取出塑封器件清洗并烘干。
Claims (4)
1.一种塑封器件湿法开封方法,它包括:
步骤1、使用细砂纸或磨具对塑封器件封装体表面进行打磨,破坏表面油膜;
步骤2、使用有机溶剂对封装体进行清洗,去除封装体表面附着的残渣;
步骤3、烘烤塑封器件使封装体表面残留的有机溶剂挥发;
步骤4、在封装体表面均匀喷涂铝粉,通过烘烤坚膜后形成铝膜;
步骤5、使用激光刻蚀在封装体开封位置刻蚀,去除封装体表面铝膜,形成腐蚀窗口;
步骤6、将塑封器件放入发烟硝酸中进行腐蚀;
步骤7、观察腐蚀窗口出现的凹槽深度,待内部芯片暴露后取出塑封器件清洗并烘干。
2.根据权利要求1所述的一种塑封器件湿法开封方法,其特征在于:步骤2所述有机溶剂为丙酮。
3.根据权利要求1所述的一种塑封器件湿法开封方法,其特征在于:步骤4所述喷涂铝粉的厚度为3至5微米。
4.根据权利要求1所述的一种塑封器件湿法开封方法,其特征在于:铝粉为高纯度铝,纯度在99%以上。
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