CN111174732A - 一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法和装置，所述方法包括以下步骤：调节基座上的移动平台，以使得识别物能够在成像元件上进行成像；读取当前所述识别物在成像元件上的成像坐标信息，当识别物在成像元件上的像点位于成像元件的中心原点时，停止调节移动平台；通过悬线控制识别物沿垂直方向移动一个预设单位距离；读取移动后的识别物在成像元件上的成像坐标信息，并通过比较当前成像坐标信息与成像元件的中心原点的偏移量，计算得到工业测量相机的光轴偏离铅垂线的角度信息。本发明通过沿垂直方向移动识别物和读取识别物像点位置，实现了快速判断工业测量相机光轴偏转方向，为工业测量相机快速装调提供了技术支持。

Description

一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法和装置

技术领域

本发明涉及相机检测领域，特别涉及一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法和装置。

背景技术

工业测量相机是一种为了满足某种特定环境下进行某些特殊参数测量的专用测量设备，其主要由光学镜头、成像元件和处理电路等系统组成。

在实际应用过程中，往往需要工业测量相机安装在固定基座上进行使用，这一过程要求光学镜头的光轴垂直于水平面。为了调节相机的光轴垂直于水平面，在对安装基准面进行精确加工的基础上，还需要根据安装过程中的具体偏离情况对基准面进行研磨以保证安装精度，如何判定安装过程中相机光轴的偏离方向是其中重要一项，而现有技术中还未有一种很好的检测方法。

发明内容

本发明旨在克服现有技术中工作测量相机在固定基座上进行使用时，无法对相机光轴的偏离方向进行实时测量校正的缺陷，提供一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法和装置，以实现对工业测量相机的光轴垂直度的快速判断。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一方面，本发明提供了一种检测工业测量相机光轴垂直度的装置，所述装置包括检测架、定滑轮、识别物、悬线、基座、移动平台和工业测量相机；

所述移动平台设置于基座上，并可在所述基座上移动；

所述检测架包括固定部和延伸部，所述固定部的一端与所述移动平台相固定，另一端与所述延伸部相连接，所述延伸部与固定部非连接的一端自由延伸，所述定滑轮设置于所述延伸部的下方；

所述识别物通过所述悬线绕设于所述定滑轮上；

所述工业测量相机设置于所述基座上，所述工业测量相机包括光学透镜组、镜筒、成像元件和处理器；所述光学透镜组、成像元件设置于所述镜筒内，所述成像元件位于所述光学透镜组的下方；所述处理器用于读取所述识别物透过光学透镜组在成像元件上的成像坐标信息。

在一些实施例中，所述识别物为LED灯珠或反光材料。

在一些实施例中，所述移动平台为二维移动平台；所述二维移动平台可在所述基座上表面自由移动。

在一些实施例中，所述检测架的形状为L型，所述延伸部与所述固定部相互垂直。

另一方面，发明人还提供了一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法，所述方法应用于前文所述的装置，所述方法包括以下步骤：

调节基座上的移动平台，以使得识别物能够在成像元件上进行成像；

读取当前所述识别物在成像元件上的成像坐标信息，当识别物在成像元件上的像点位于成像元件的中心原点时，停止调节移动平台；

通过悬线控制识别物沿垂直方向移动一个预设单位距离；

读取移动后的识别物在成像元件上的成像坐标信息，并通过比较当前成像坐标信息与成像元件的中心原点的偏移量，计算得到工业测量相机的光轴偏离铅垂线的角度信息。

本发明的有益效果在于：通过沿垂直方向移动识别物和读取识别物像点位置，实现了快速判断工业测量相机光轴偏转方向，为工业测量相机快速装调提供了技术支持。

附图说明

图1为本发明一实施例涉及的检测工业测量相机光轴垂直度的装置的示意图；

图2为本发明一实施例涉及的检测工业测量相机光轴垂直度的光学原理图；

图3为本发明一实施例涉及的检测工业测量相机光轴垂直度的方法流程图。

附图标记说明：

1、检测架；2、定滑轮；3、识别物；4、悬线；5、光学透镜组；6、镜筒；7、成像元件；8、基座；9、移动平台；10、工业测量相机。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，而不构成对本发明的限制。

请参阅图1，本发明提供了一种检测工业测量相机光轴垂直度的装置，所述装置包括检测架1、定滑轮2、识别物3、悬线4、基座8、移动平台9和工业测量相机10；

所述移动平台9设置于基座8上，并可在所述基座8上移动。所述移动平台为二维移动平台；所述二维移动平台可在所述基座上表面自由移动。

所述检测架1包括固定部和延伸部，所述固定部的一端与所述移动平台相固定，另一端与所述延伸部相连接，所述延伸部与固定部非连接的一端自由延伸，所述定滑轮设置于所述延伸部的下方。

所述识别物3通过所述悬线4绕设于所述定滑轮2上；

所述工业测量相机10设置于所述基座5上，所述工业测量相机10包括光学透镜组5、镜筒6、成像元件7和处理器；所述光学透镜组5、成像元件7设置于所述镜筒内，所述成像元件7位于所述光学透镜组的下方；所述处理器用于读取所述识别物3透过光学透镜组5在成像元件7上的成像坐标信息。

在本实施方式中，所述识别物为能够被所述工业测量相机10识别出的物体，具体形状大小可以根据实际需要进行设定，优选的识别物的形状为圆形。根据标定环境，如果环境光线较暗时，可以采用发光体，如LED灯珠等；或采用反光材料，通过外部照明提高亮度。

如图3所示，本发明还提供了一种检测工业测量相机10光轴垂直度的方法，所述方法包括以下步骤：

首先进入步骤S301调节基座上的移动平台，以使得识别物能够在成像元件上进行成像；

而后进入步骤S302读取当前所述识别物在成像元件上的成像坐标信息，当识别物的在成像元件上的像点位于成像元件的中心原点时，停止调节移动平台；

而后进入步骤S303通过悬线控制识别物沿垂直方向移动一个预设单位距离；

而后进入步骤S304读取移动后的识别物在成像元件上的成像坐标信息，并通过比较当前成像坐标信息与成像元件的中心原点的偏移量，计算得到工业测量相机10的光轴偏离铅垂线的角度信息。

在实际检测过程中，首先，通过调节移动平台9使识别物3在水平面内移动，同时，通过工业测量相机10读取识别物3在成像元件7上的像点坐标位置，当识别物3在成像元件7上的像点位于成像元件的中心原点时，停止调节移动平台9；然后，通过悬线4和定滑轮2使识别物3在垂直水平面方向向下移动一定距离；最后读取识别物3在成像元件7上的像点坐标位置，通过新的像点坐标位置判断出工业测量相机10光轴偏离铅垂线的方向。

本发明的具体原理如图2所示，通过调节移动平台9使识别物3在成像元件7上的像点位置为a，即oxy坐标的原点o(0，0)，此时，识别物3在水平面内移动到位置A，位置A位于工业测量相机10的光轴上。通过悬线4和定滑轮2使识别物3在垂直水平面方向向下移动一定距离到达位置B。如果工业测量相机10的光轴垂直于水平面，那么当识别物3处于位置B时，识别物3仍然位于工业测量相机10的光轴上，识别物3在成像元件7上的像点位置b仍然为oxy坐标的原点o(0，0)。如果工业测量相机10的光轴与铅垂线之间存在一定的偏角，那么当识别物3处于位置B时，由于识别物3偏离了工业测量相机10的光轴，识别物3在成像元件7上的像点位置b将偏离oxy坐标的原点o(0，0)，根据位置b的坐标参数就可以判断出工业测量相机10的光轴的偏转方向。当偏转方向确定后，检测人员可以对工业测量相机10进行整体调节，以使得光轴指向铅锤线方向。

本发明公开一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法和装置，所述方法包括以下步骤：调节基座上的移动平台，以使得识别物能够在成像元件上进行成像；读取当前所述识别物在成像元件上的成像坐标信息，当识别物在成像元件上的像点位于成像元件的中心原点时，停止调节移动平台；通过悬线控制识别物沿垂直方向移动一个预设单位距离；读取移动后的识别物在成像元件上的成像坐标信息，并通过比较当前成像坐标信息与成像元件的中心原点的偏移量，计算得到工业测量相机的光轴偏离铅垂线的角度信息。本发明通过沿垂直方向移动识别物和读取识别物像点位置，实现了快速判断工业测量相机光轴偏转方向，为工业测量相机快速装调提供了技术支持。

所述本发明的具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限定。任何根据本发明的技术构思所作出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本发明权利要求的保护范围内。

Claims (5)

1.一种检测工业测量相机光轴垂直度的装置，其特征在于，所述装置包括检测架、定滑轮、识别物、悬线、基座、移动平台和工业测量相机；

所述移动平台设置于基座上，并可在所述基座上移动；

所述检测架包括固定部和延伸部，所述固定部的一端与所述移动平台相固定，另一端与所述延伸部相连接，所述延伸部与固定部非连接的一端自由延伸，所述定滑轮设置于所述延伸部的下方；

所述识别物通过所述悬线绕设于所述定滑轮上；

所述工业测量相机设置于所述基座上，所述工业测量相机包括光学透镜组、镜筒、成像元件和处理器；所述光学透镜组、成像元件设置于所述镜筒内，所述成像元件位于所述光学透镜组的下方；所述处理器用于读取所述识别物透过光学透镜组在成像元件上的成像坐标信息。

2.如权利要求1所述的检测工业测量相机光轴垂直度的装置，其特征在于，所述识别物为LED灯珠或反光材料。

3.如权利要求1所述的检测工业测量相机光轴垂直度的装置，其特征在于，所述移动平台为二维移动平台；所述二维移动平台可在所述基座上表面自由移动。

4.如权利要求1所述的检测工业测量相机光轴垂直度的装置，其特征在于，所述检测架的形状为L型，所述延伸部与所述固定部相互垂直。

5.一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求1至4任一项所述的装置，所述方法包括以下步骤：

调节基座上的移动平台，以使得识别物能够在成像元件上进行成像；

读取当前所述识别物在成像元件上的成像坐标信息，当识别物在成像元件上的像点位于成像元件的中心原点时，停止调节移动平台；

通过悬线控制识别物沿垂直方向移动一个预设单位距离；

读取移动后的识别物在成像元件上的成像坐标信息，并通过比较当前成像坐标信息与成像元件的中心原点的偏移量，计算得到工业测量相机的光轴偏离铅垂线的角度信息。

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