CN111158533B - 检测基板和显示装置 - Google Patents

Abstract

一种检测基板和显示装置，该检测基板包括位于衬底基板上且彼此绝缘的外检测电极和内检测电极。外检测电极具有镂空部，镂空部对应内检测电极；内检测电极的正投影包括本体部和从本体部伸出且向远离本体部的方向延伸的多个凸出部；镂空部边缘的正投影包括弯曲部，弯曲部伸入该多个凸出部中的至少两个相邻凸出部之间的区域中，弯曲部的一部分相对于该相邻凸出部的顶端更靠近本体部，该相邻凸出部的顶端为相邻凸出部的远离本体部的端部。该检测基板具有较高的检测灵敏度。

Description

检测基板和显示装置

技术领域

本公开实施例涉及一种检测基板和显示装置。

背景技术

触控屏在我们身边随处可见。触控屏节省了空间便于携带，还有更好的人机交互性。在各类触控屏中，电容式触控屏具有较强的灵敏度、可实现多点触控等优点而被广泛应用。

电容式触控屏的工作原理是：在基板的表面设置导电物质作为触控电极；当触摸物(例如用户的手指)触碰触控屏时，位于触摸点处的触控电极的电容发生变化，根据该变化可以检测出触摸点在触控屏上的位置。

例如，电容式触控屏包括自电容式触控屏和互电容式触控屏。自容式触控屏的激励信号的输出和接收由自电容电极完成。互容式触控屏例如包括多个条状触控驱动电极和多个条状触控感应电极，触控驱动电极和触控感应电极的延伸方向相交，触控驱动电极发出激励信号，触控感应电极接收该信号，检测电路通过检测触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容的变化可以确定触摸位置。

发明内容

本公开实施例提供一种检测基板，其包括衬底基板和位于所述衬底基板上且彼此绝缘的外检测电极和内检测电极。所述外检测电极具有镂空部，所述镂空部对应所述内检测电极，并且所述镂空部对应所述内检测电极是指所述镂空部的边缘在所述衬底基板上的正投影所围成的区域中设置有所述内检测电极在所述衬底基板上的正投影；所述内检测电极的正投影包括本体部和从所述本体部伸出且向远离所述本体部的方向延伸的多个凸出部；所述镂空部边缘的正投影包括弯曲部，所述弯曲部伸入所述多个凸出部中的至少两个相邻凸出部之间的区域中，所述弯曲部的一部分相对于所述相邻凸出部的顶端更靠近所述本体部，所述相邻凸出部的顶端为所述相邻凸出部的远离所述本体部的端部。

例如，所述外检测电极为一体结构，并且所述外检测电极具有间隔开的多个所述镂空部；所述检测基板包括分别对应多个所述镂空部的多个所述内检测电极。

例如，所述检测基板包括彼此绝缘的多个所述外检测电极以及位于所述衬底基板上且彼此绝缘的多个内检测电极组；每个内检测电极组包括彼此间隔开的且与至少一个外检测电极的镂空部相对应的内检测电极以使所述每个内检测电极组对应所述至少一个外检测电极；同一内检测电极组中的内检测电极彼此电连接，并且不同内检测电极组中的内检测电极彼此绝缘。

例如，所述的检测基板还包括检测电路。多个所述外检测电极包括第一外检测电极，所述多个内检测电极组包括对应所述第一外检测电极的第一内检测电极组；所述检测基板包括第一检测区，所述第一检测区中设置有所述第一外检测电极、所述第一内检测电极组、以及彼此绝缘的第一外检测引线和第一内检测引线；所述第一外检测电极通过所述第一外检测引线电连接所述检测电路；所述第一内检测电极组通过所述第一内检测引线电连接所述检测电路，所述第一内检测引线包括彼此并联的多个第一子引线并且包括与所述多个第一子引线电连接的第二子引线，所述多个第一子引线将所述第一内检测电极组包括的内检测电极电连接，并且所述多个第一子引线通过所述第二子引线电连接所述检测电路。

例如，所述第二子引线电连接所述多个第一子引线的靠近所述检测电路的端部。

例如，所述第一外检测引线的延伸方向与所述第一内检测引线的第一子引线的延伸方向一致。

例如，所述第一外检测电极和所述第一内检测电极组中的内检测电极中的一种为触控感应电极且另一种为触控驱动电极。

例如，多个所述外检测电极包括第二外检测电极，所述多个内检测电极组包括对应所述第二外检测电极的第二内检测电极组；所述检测基板包括第二检测区，所述第二检测区中设置有所述第二外检测电极、所述第二内检测电极组、以及彼此绝缘的第二外检测引线和第二内检测引线；所述第二外检测电极通过所述第二外检测引线电连接所述检测电路；所述第二内检测电极组通过所述第二内检测引线电连接所述检测电路，所述第二内检测引线包括彼此并联的多个第三子引线，所述多个第三子引线将所述第二内检测电极组包括的内检测电极电连接，并且所述多个第三子引线电连接所述第一外检测电极以使所述第二内检测电极组通过所述第二内检测引线、所述第一外检测电极和所述第一外检测引线电连接所述检测电路。

例如，所述第二内检测引线还包括第四子引线，所述多个第三子引线通过所述第四子引线电连接所述第一外检测电极。

例如，所述第一外检测电极和所述第二内检测电极组中的内检测电极都为触控驱动电极和触控感应电极中的一种，并且所述第二外检测电极和所述第一内检测电极组中的内检测电极都为所述触控驱动电极和所述触控感应电极中的另一种。

例如，所述的检测基板还包括依次排列的多个信号线，所述多个信号线在所述衬底基板上的正投影与所述外检测电极在所述衬底基板上的正投影交叠；多个所述镂空部对应的内检测电极排列成多个内检测电极队，每个内检测电极队都包括至少两个内检测电极，每个内检测电极队沿所述多个信号线的排列方向延伸；所述多个内检测电极队包括沿所述多个信号线的延伸方向依次排列的第一内检测电极队和第二内检测电极队，所述多个信号线的延伸方向不同于所述多个信号线的排列方向，并且所述第二内检测电极队中的内检测电极相对于所述第一内检测电极队中的内检测电极在与所述多个信号线的排列方向上交错。

例如，每个信号线在所述衬底基板上的正投影都与所述外检测电极以及多个所述镂空部对应的内检测电极中的一部分内检测电极在所述衬底基板上的正投影交叠。

例如，每个信号线的正投影与所述外检测电极的正投影的交叠面积都等于所述每个信号线的正投影与所述内检测电极的正投影的交叠面积。

例如，所述镂空部的边缘的正投影的形状为封闭的形状。

例如，所述内检测电极的所述正投影为L形或T字形或十字形；或者，所述内检测电极的所述正投影具有4+n个凸出部，n≥1。

例如，所述外检测电极和所述内检测电极并排设置在所述衬底基板上。

例如，所述外检测电极和所述内检测电极中的一种为触控驱动电极且另一种为触控感应电极。

本公开实施例还提供一种检测基板，其包括衬底基板和位于所述衬底基板上的多个检测单元和多个依次排列的信号线。每个检测单元包括外检测电极和内检测电极，所述外检测电极具有镂空部，所述镂空部对应所述内检测电极，并且所述镂空部对应所述内检测电极是指所述镂空部的边缘在所述衬底基板上的正投影所围成的区域中设置有所述内检测电极在所述衬底基板上的正投影；所述多个信号线在所述衬底基板上的正投影与所述多个检测单元在所述衬底基板上的正投影交叠；所述多个检测单元包括沿所述多个信号线的延伸方向依次排列的第一检测单元队和第二检测单元队，所述第一检测单元队和所述第二检测单元队都包括至少两个检测单元且都沿所述多个信号线的排列方向延伸，所述多个信号线的排列方向不同于所述多个信号线的延伸方向；所述第二检测单元队中的内检测电极相对于所述第一检测单元队中的内检测电极在所述多个信号线的排列方向上交错。

例如，所述第一检测单元队中的外检测电极和所述第二检测单元队中的外检测电极直接连接。

本公开实施例还提供一种显示装置，其包括以上任一项所述的检测基板。

在本公开一些实施例中，由于外检测电极的内边缘的正投影的弯曲部伸入内检测电极的正投影包括的相邻凸出部之间的区域中，因此本公开实施例中的内检测电极的周长更大，从而内检测电极和外检测电极之间具有较大的有效互容值，这可以提高检测基板的检测灵敏度。

在本公开另一些实施例中，第一检测单元队中的内检测电极和第二检测单元队中的内检测电极在信号线的排列方向上交错，这有利于避免出现一部分信号线只与外检测电极交叠而不与内检测电极交叠，即有利于实现每个信号线在与外检测电极交叠的同时还与内检测电极交叠，从而有利于减小横纹 mura。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本发明的一些实施例，而非对本发明的限制。

图1A为本公开实施例提供的检测基板中的外检测电极和内检测电极的俯视示意图；

图1B为图1A中的内检测电极的俯视示意图；

图1C为图1A中的外检测电极的俯视示意图；

图2A为本公开实施例提供的检测基板中的内检测电极的正投影为L形的示意图；

图2B为本公开实施例提供的检测基板中的内检测电极的正投影为T形的示意图；

图2C为本公开实施例提供的检测基板中的内检测电极的正投影具有 4+n(例如，n＝4)个凸出部的示意图；

图3A为本公开实施例提供的检测基板中外检测电极具有多个镂空部的俯视示意图；

图3B为本公开实施例提供的检测基板中外检测电极、内检测电极和信号线的位置关系示意图；

图4A为本公开实施例提供的检测基板中多个外检测电极和多个内检测电极组的俯视示意图一；

图4B为本公开实施例提供的检测基板中多个外检测电极和多个内检测电极组的俯视示意图二；

图5为本公开实施例提供的检测基板中的外检测电极和内检测电极形成多个信号通道的示意图；

图6为本公开实施例提供的检测基板中的黑矩阵和多个子像素的俯视示意图；

图7为如图1C所示的外检测电极的尺寸示意图；

图8为本公开实施例提供的检测基板的俯视示意图；

图9为本公开实施例提供的显示装置的示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

本公开实施例提供一种检测基板和包括该检测基板的显示装置。

在一些实施例中，该检测基板包括衬底基板和位于衬底基板上且彼此绝缘的外检测电极和内检测电极；外检测电极具有镂空部，镂空部对应内检测电极，并且镂空部对应内检测电极是指镂空部的边缘在衬底基板上的正投影所围成的区域中设置有内检测电极在衬底基板上的正投影；内检测电极的正投影包括本体部和从本体部伸出且向远离本体部的方向延伸的多个凸出部；镂空部边缘的正投影包括弯曲部，该弯曲部伸入该多个凸出部中的至少一部分相邻凸出部之间的区域中，该弯曲部的一部分相对于该相邻凸出部的顶端更靠近本体部，该相邻凸出部的顶端为该相邻凸出部的远离本体部的端部。本公开这些实施例中的外检测电极和内检测电极之间形成的互电容更强，从而该检测基板的检测灵敏度更高。

例如，根据检测外检测电极和内检测电极之间的互电容的变化情况，可以确定出触摸检测基板的触摸点的位置或者确定出该触摸点处的手指的指纹。也就是说，本公开实施例可以用于实现触控定位或者指纹识别。本公开实施例中检测基板的用途包括但不限于触控定位和指纹识别。

如图1A至图1C所示，本公开实施提供的一种检测基板，其包括衬底基板1、以及位于衬底基板1上的外检测电极2和内检测电极3；外检测电极2具有镂空部21，镂空部21对应内检测电极3，即镂空部21的边缘2A 在衬底基板1上的正投影围成的区域中设置有内检测电极3在衬底基板1上的正投影，并且外检测电极2和内检测电极3彼此绝缘。例如，如图1A所示，外检测电极2和内检测电极3通过间隙隔开，在该间隙中填充有绝缘材料以使外检测电极2和内检测电极3彼此电绝缘。

例如，如图1A和图1B所示，内检测电极3在衬底基板1上的正投影包括本体部30(如虚线区域所示)和多个凸出部32，该多个凸出部32从本体部30伸出且向远离本体部30的方向凸出，并且该多个凸出部32与本体部30直接连接，即内检测电极3为一体化结构。

如图1A至图1C所示，外检测电极2包括外边缘2B和内边缘2A，内边缘2A比外边缘2B更靠近内检测电极3，该内边缘2A为镂空部21的边缘；该镂空部21的边缘2A在衬底基板1上的正投影包括多个弯曲部22，每个弯曲部22伸入相邻凸出部32之间的区域中，并且该弯曲部22的一部分(即弯曲部22的伸入到所述区域中的部分)比该相邻凸出部32的顶端(参见凸出部32A的顶端3201和凸出部32B的顶端3202)更靠近本体部30，该相邻凸出部32的顶端为该相邻凸出部32的远离本体部30的端部。

例如，如图1A所示，镂空部的边缘2A的正投影的形状与内检测电极3 的轮廓形状大致一致，且镂空部的边缘2A与内检测电极3的轮廓大致平行，这样有利于使弯曲部22伸入内检测电极3的相邻凸出部32之间的区域中且有利于简化结构。例如，在镂空部的边缘2A与内检测电极的轮廓形状一致且大致平行的情况下，镂空部的边缘2A的中心与内检测电极3的中心大致重合。

例如，外检测电极2和内检测电极3在工作时被施加不同的电信号。例如，以检测基板用于实现触控定位功能为例，外检测电极2和内检测电极3 中的一种为触控驱动电极且另一种为触控感应电极。这样，在外检测电极2 和内检测电极3工作时，外检测电极2和内检测电极3之间形成互电容。

在本公开实施例中，由于外检测电极2的内边缘2A的正投影的弯曲部 22伸入内检测电极3的正投影包括的相邻凸出部32之间的区域中，因此，与正方形等正投影不包括允许弯曲部22伸入的区域的电极形状相比，一方面，在面积相同的情况下，本公开实施例中的内检测电极3的周长更大；另一方面，本公开实施例中的外检测电极2的尺寸也可以设置得较大，从而内检测电极3和外检测电极2之间具有较大的有效互容值，这样可以提高检测基板的检测灵敏度。

例如，如图1A和图1B所示，内检测电极3在衬底基板1上的正投影的形状为十字形，内检测电极3的正投影具有四个凸出部32，在这种情况下，可以使任意相邻的凸出部32之间的区域中都设置有弯曲部22。

在至少另一个实施例中，内检测电极3的正投影的形状为L形，如图2A所示，该L形内检测电极3的正投影包括从本体部30伸出的两个凸出部 32，在这种情况下，弯曲部22(图2A中未示出)伸入这两个凸出部32之间的区域中。

在至少另一个实施例中，内检测电极3的正投影的形状为T字形，如图 2B所示，该T形内检测电极3的正投影包括从本体部30伸出的三个凸出部 32，在这种情况下，弯曲部22(图2B中未示出)可以仅伸入部分凸出部32 之间的区域(参见图2B中左侧凸出部和上侧凸出部之间的区域，以及右侧凸出部和上侧凸出部之间的区域)中。

对于如图1B所示的十字形内检测电极3，如果在1个凸出部32中设置一个如图2C所示的凹槽33，则该内检测电极3增加1个凸出部32；如果在 2个凸出部32中设置如图2C所示的凹槽33，则该内检测电极3增加2个凸出部32；以此类推。鉴于此，在至少另一个实施例中，每个内检测电极3 的正投影具有4+n个凸出部32，n≥1；并且，任意相邻的凸出部32之间的区域中都设置有一个弯曲部22(图2C中未示出)。

需要说明的是，第一，相邻凸出部32之间的区域是指分别属于该相邻凸出部32的相邻的边缘之间的区域。相邻凸出部32之间的区域可以是仅由该相邻的凸出部32围成的非封闭的开口，如图1B、图2A至图2C中的标记31所示；或者，相邻凸出部32之间的区域可以是由该相邻的凸出部32 以及本体部30围成的非封闭的开口，如图2C中的标记33所示。

第二，可以是内检测电极3的正投影包括的多个凸出部32中的所有相邻凸出部之间的区域中都设置有弯曲部22；或者也可以仅是该多个凸出部 32中的一部分相邻的凸出部之间的区域中设置有弯曲部22。

第三，内检测电极3和外检测电极2例如位于同一层(即通过同一的导电薄膜形成)，这样可以简化制作工艺。然而，在其它实施例中，内检测电极3和外检测电极2可以位于不同层(即通过不同的导电薄膜形成)中。

第四，内检测电极3和外检测电极2可以并排位于衬底基板1上，这样可以使内检测电极3和外检测电极2之间具有较大的有效互容值，且简化检测基板的结构。在其它实施例中，在垂直于衬底基板1的方向上，也可以是内检测电极3和外检测电极2中的一种位于内检测电极3和外检测电极2中的另一种与衬底基板1之间。

第五，上述关于内检测电极3的正投影的形状的实施例仅用于举例说明，本公开实施例中内检测电极3的正投影的形状包括但不限于所列举的这些凹多边形，也可以为其它类型的凹多边形或者类似于凹多边形的形状。

第六，本公开实施例中提及的“大致”是指在误差允许范围内。

在本公开至少一个实施例中，例如，如图1A所示，外检测电极2中只设置有一个镂空部21，该镂空部21为封闭的镂空部，即镂空部21的边缘 2A的形状是封闭的。在外检测电极2中只设置有一个封闭的镂空部21的情况下，例如，外检测电极2的外边缘2B的形状与镂空部边缘2A的正投影的形状可以大致相同，外检测电极2的外边缘2B和内边缘2A大致平行，并且镂空部的边缘2A的中心与内检测电极3的中心大致重合，从而外检测电极2为内边缘2A和外边缘2B大致平行的环状结构。例如，该环状结构的宽度处处相等。例如，在内检测电极的正投影为如图1B和图2A至图2C 所示的形状的情况下，该环状的外检测电极也相应地为十字形环、L形环、 T形环和具有4+n个凸出部的环状结构。通过这样设置，在检测基板包括多个如图1A所示的外检测电极2的情况下，这些外检测电极2可以比较紧凑地排布在一起。需要说明的是，本公开实施例中外检测电极的正投影的形状包括但不限于所列举的这些形状。

例如，如图3A和图3B所示，外检测电极2在衬底基板1上的正投影为一体化结构，并且外检测电极2具有间隔开的多个镂空部21。检测基板包括多个内检测电极3，外检测电极2的该多个镂空部21分别对应该多个内检测电极3，例如每个镂空部21都对应一个内检测电极3，且不同的镂空部21 对应不同的内检测电极3。在外检测电极2和该多个内检测电极3工作时，例如，外检测电极2和该多个内检测电极3中的一种为触控驱动电极且另一种为触控感应电极。需要说明的是，在外检测电极2中设置有多个镂空部21 的情况下，外检测电极2的外边缘2B的形状与镂空部21边缘的正投影的形状不同。

例如，外检测电极2中的该多个镂空部21都为封闭的镂空部。在其它实施例中，可以使位于外检测电极2中的边缘处的镂空部是非封闭的且使位于外检测电极2的边缘内侧的镂空部是封闭的。

例如，如图3B所示，本公开的至少一个实施例提供的检测基板还包括依次排列的多个信号线4(图3B中仅示出2个信号线4进行举例说明)，该多个信号线4在衬底基板1上的正投影与外检测电极2在衬底基板1上的正投影交叠；外检测电极2的镂空部中的内检测电极3排列成多个内检测电极队(图3B示出了8个内检测电极队进行举例说明)，每个内检测电极队都包括至少两个内检测电极3，每个内检测电极队沿该多个信号线4的排列方向(参见图3B中的竖直方向)延伸；该多个内检测电极队包括沿该多个信号线4的延伸方向(参见图3B中的水平方向)依次排列的第一内检测电极队 3A和第二内检测电极队3B，该多个信号线4的延伸方向不同于该多个信号线4的排列方向，并且第二内检测电极队3B中的内检测电极3相对于第一内检测电极队3A中的内检测电极3在与该多个信号线4的排列方向上交错。例如，第二内检测电极队3B中的内检测电极与第一内检测电极队3A中的内检测电极一一对应，且分别属于不同内检测电极队且彼此对应的内检测电极3的中心之间的连线与信号线4的延伸方向不一致，即该分别属于不同内检测电极队且彼此对应的内检测电极3的排列方向与信号线4的延伸方向不一致，这样可以实现交错设置。

在本公开实施例中，由于第二内检测电极队3B中的内检测电极3相对于第一内检测电极队3A中的内检测电极3在信号线4的排列方向上交错，因此该多个信号线中的每个信号线4在衬底基板1上的正投影都与外检测电极2以及内检测电极3在衬底基板1上的正投影交叠，从而可以避免或缓解外检测电极2/内检测电极3与该多个信号线4之间的寄生电容不同导致的横纹mura(mura是指显示器亮度不均匀而造成各种痕迹的现象)。

例如，在每个信号线4的正投影都与外检测电极2以及内检测电极3的正投影交叠的基础上，检测基板包括的上述多个信号线4的正投影与外检测电极2的正投影的交叠面积相等。或者，上述多个信号线4的正投影与内检测电极3的正投影的交叠面积相等。或者，上述多个信号线4的正投影与外检测电极2的正投影的交叠面积相等，并且上述多个信号线4的正投影与内检测电极3的正投影的交叠面积相等。这样进一步有利于避免或缓解横纹mura。例如，每个信号线4的正投影与外检测电极2的正投影的交叠面积大致等于该信号线4的正投影与内检测电极3的正投影的交叠面积，这样在避免或缓解横纹mura的同时，还进一步有利于提高外检测电极与内检测电极之间的有效互容值以提高检测灵敏度。

例如，信号线4可以为检测基板中的用于提供栅扫描信号的栅线或者为用于提供数据信号的数据线。或者信号线4为检测基板中的其它类型信号线。

例如，如图4A和图4B所示，本公开一些实施例提供的检测基板包括彼此绝缘的多个内检测电极组TG，其中，图4A中示出了TG-1至TG-4这四个内检测电极组，图4B中示出了TG-1至TG-6这六个内检测电极组。每个内检测电极组TG包括间隔开的内检测电极3，同一内检测电极组TG中的内检测电极3彼此电连接，并且不同内检测电极组TG中的内检测电极3彼此绝缘。该检测基板还包括彼此绝缘的多个外检测电极2，其中，图4A 中示出了2-1至2-4这四个外检测电极，图4B中示出了2-1至2-6这六个外检测电极。每个内检测电极组TG对应至少一个外检测电极2，并且每个内检测电极组TG的延伸方向与其对应的外检测电极2的延伸方向相交。每个内检测电极组TG对应至少一个外检测电极2是指每个内检测电极组TG包括的间隔开的内检测电极3对应该至少一个外检测电极2的镂空部。需要说明的是，图4A和图4B都以每个内检测电极组TG对应多个外检测电极2 为例进行说明。在其它实施例中，至少部分内检测电极组TG中的每个可以只对应一个外检测电极。

在本公开实施例中，由于内检测电极组TG对应外检测电极2，因此，触摸点在衬底基板上的正投影与内检测电极组和外检测电极都交叠，从而检测基板包括的检测电路可以通过外检测电极2确定触摸点的横坐标和纵坐标中的一个且通过内检测电极组TG确定横坐标和纵坐标中的另一个，由此确定触摸点的位置。

例如，如图4A和图4B所示，本公开实施例提供的检测基板还包括多个外检测引线(图4A中示出了X21-X24这四个外检测引线，图4B中示出了X1-X26这六个外检测引线)以及多个内检测引线(图4A中示出了 X31-X34这四个内检测引线，图4B中示出了X31-X36这六个内检测引线)。检测基板包括的多个外检测电极2分别通过该多个外检测引线电连接检测电路，并且检测基板包括的多个内检测电极组TG分别通过该多个内检测引线电连接检测电路。需要说明的是，图4A和图4B中的黑色圆点表示电连接。例如，外检测电极2-1电连接外检测引线X21，外检测电极2-2电连接外检测引线X22，……，以此类推；内检测电极组TG1电连接内检测引线X31，内检测电极组TG2电连接内检测引线X32，……，以此类推。

如图4A和图4B所示，该检测基板包括第一检测区，第一检测区中设置有第一外检测电极(以2-1为例)、第一内检测电极组(以TG-1为例)、以及彼此绝缘的第一外检测引线(以X21为例)和第一内检测引线(以X31 为例)。第一外检测电极2-1通过第一外检测引线X21电连接检测电路。第一内检测电极组TG-1通过第一内检测引线X31电连接检测电路。第一内检测引线X31包括将第一内检测电极组TG-1包括的内检测电极3电连接多个第一子引线X311，该多个第一子引线X311彼此并联以减小第一内检测引线 X21的电阻，该第一内检测引线X31还包括与该多个第一子引线X311电连接的第二子引线X312，并且该多个第一子引线X311通过第二子引线X312 电连接检测电路。需要说明的是，图中仅以第一内检测引线包括四个第一子引线为例进行说明，在其他实施例中，第一子引线还可以为其它数量。

在本公开实施例中，第一外检测电极2-1通过第一外检测引线X21这一个引线电连接检测电路，第一内检测电极组TG-1通过第一内检测引线X31 电连接检测电路，并且第一内检测引线X31中的多个第一子引线X311通过第二子引线X312这一个引线电连接检测电路，这种布线方式有利于实现使第一外检测引线X21和第一内检测引线X31不经过检测基板两侧的边框区而是从第一检测区直接进入检测电路所在的边框区中，从而有利于实现两侧窄边框设计。另一方面，这种布线方式可以使第一外检测引线X21和第一内检测引线X31在检测电路所在的边框区中只具有两个信号输出端，从而有利于窄化检测电路所在的边框区。

例如，如图4A和图4B所示，第二子引线X312电连接该多个第一子引线X311的靠近检测电路的端部，以将该多个第一子引线X311并联。例如，第二子引线X312位于该多个第一子引线X311的该端部与检测电路之间的区域中，因此第二子引线X312的长度较小，这有利于实现窄边框设计。

例如，如图4A和图4B所示，第一外检测引线X21的延伸方向与第一内检测引线X31的第一子引线X311的延伸方向一致。这有利于简化布线。

例如，如图4A和图4B所示，相邻的第一子引线X311电连接的内检测电极3在第一子引线X311的延伸方向上交错设置。也就是说，该相邻的第一子引线X311中的一个电连接的一部分内检测电极3构成上述第一内检测电极队，该相邻的第一子引线X311中的另一个电连接的一部分内检测电极 3构成上述第二内检测电极队。如上所述，通过采用这种交错设置，有利于避免或缓解横纹mura。

例如，如图4B所示，检测基板中的多个外检测电极2还包括第二外检测电极(以2-5为例)，检测基板中的多个内检测电极组TG还包括位于第二外检测电极2-5的镂空部中的第二内检测电极组(以TG-3为例)。检测基板在包括上述第一检测区的基础上还包括第二检测区，第二检测区中设置有第二外检测电极2-5、第二内检测电极组TG-3、以及彼此绝缘的第二外检测引线(以X25为例)和第二内检测引线(以X33为例)。第二外检测电极2-5 通过第二外检测引线X25电连接检测电路。例如，第二外检测引线X25电连接第二外检测电极2-5的靠近检测电路的端部，这样可以减小第二外检测引线X25。第二内检测电极组TG-3通过第二内检测引线X33电连接检测电路。第二内检测引线X33包括将第二内检测电极组TG-3包括的内检测电极 3电连接的多个第三子引线X333，该多个第三子引线X333彼此并联以减小第三内检测引线X33的电阻。例如，为了简化布线，该多个第三子引线X333 电连接第一外检测电极2-1以电连接检测电路，在这种情况下，第二内检测电极组TG-3通过第二内检测引线X33、与该第二内检测引线X33电连接的第一外检测电极2-1、以及与该第一外检测电极2-1电连接的第一外检测引线X21电连接检测电路。需要说明的是，图中仅以第二内检测引线包括七个第三子引线为例进行说明，在其他实施例中，第三子引线还可以为其它数量。

例如，如图4B所示，第二内检测引线X33还包括第四子引线X334，第二内检测引线X33包括的多个第三子引线X333通过第四子引线X334电连接第一外检测电极2-1，以简化布线。

例如，如图4B所示，相邻的第三子引线X333电连接的内检测电极3 在第三子引线X333的延伸方向上交错设置。也就是说，该相邻的第三子引线X333中的一个电连接的一部分内检测电极3构成上述第一内检测电极队，该相邻的第三子引线X333中的另一个电连接的一部分内检测电极3构成上述第二内检测电极队。如上所述，通过采用这种交错设置，有利于避免或缓解横纹mura。

例如，在图4A和图4B所示实施例中，在第一检测区中，多个第一外检测电极(参见2-1至2-4)都沿第一方向延伸且沿第二方向(其不同于第一方向，例如垂直于第一方向)依次排列；该多个第一外检测电极分别电连接的第一外检测引线(参见X21至X24)都沿第二方向延伸；多个第一内检测电极组(参见图4A中的TG-1至TG-4、图4B中的TG-1和TG-2)沿第一方向依次排列且沿第二方向延伸；该多个第一内检测电极组分别电连接的第一内检测引线(参见图4A中的X31至X34、图4B中的X31和X32)都沿第一方向依次排列且沿第二方向延伸。

例如，在图4B所示实施例中，在第二检测区中，多个第二外检测电极 (参见2-5和2-6)沿第一方向依次排列且都沿第二方向延伸；多个第二内检测电极(参见TG-3至TG-6)都沿第一方向延伸且沿第二方向依次排列；该多个第二内检测电极组分别电连接的第二内检测引线(参见X33至X36) 都沿第一方向延伸且沿第二方向依次排列。

需要说明的是，本公开实施例中的检测电极和检测引线的布置方式包括但不限于图4A和图4B所示情形。在其他实施例中，在检测基板包括第一检测区和第二检测区的情况下，第一检测区和第二检测区中的外检测电极的数量可以相等或者不相等，并且每个检测区中的外检测电极的数量可以为一个或者多个。

例如，本公开实施例中检测基板的外检测电极和内检测电极的工作原理如下：如图5所示，该检测基板中的上述多个外检测电极和上述多个内检测电极形成多个第一信号通道CH1和与该多个第一信号通道CH1交叉的多个第二信号通道CH2(图5以CH1-1至CH1-4这四个第一信号通道和CH2-1 至CH2-4这四个第二信号通道为例进行说明)，每个第一信号通道CH1沿第一方向延伸且通过信号线电连接检测电路，每个第二信号通道CH2沿不同于第一方向的第二方向延伸且通过信号线电连接检测电路。例如，第一信号通道CH1和第二信号通道CH2中的一种为触控驱动电极形成的信号通道且另一种为触控感应电极形成的信号通道，检测电路根据该多个第一信号通道 CH1和该多个第二信号通道CH2之间的互电容的变化量可以确定出触摸点的位置。在此基础上，可以根据指纹检测的要求设置每个第一信号通道和每个第二信号通道的交叠区域(以下称为“检测分区”，且图5中4个第一信号通道与4个第二信号通道通过交叉形成16的检测分区)的面积，以实现指纹检测。

在一些实施例中，通过向外检测电极和内检测电极施加频率不同的检测信号，可以实现自互容一体技术，在该自互容一体技术中，外检测电极本身作为第一自电容电极，内检测电极本身作为第二自电容电极，外检测电极以及其镂空部对应的内检测电极之间形成互电容，并且检测电路通过对外检测引线和内检测引线输出的信号进行处理可以得到互电容信号的变化情况以及自电容信号的变化情况，从而根据这两种电容的变化情况可以更准确地进行检测，例如检测触摸点的位置或检测指纹。

例如，在图4A所示实施例的第一检测区中，四个外检测电极2-1至2-4 都沿第一方向延伸从而形成四个第一信号通道，四个内检测电极组TG-1至 TG-4都沿第二方向延伸从而形成四个第二信号通道。在这种情况下，例如，在图4A所示实施例中，第一外检测电极2-1为触控驱动电极，且第一内检测电极组TG-1中的内检测电极3为触控感应电极；或者，在第一检测区中，第一外检测电极2-1为触控感应电极，且第一内检测电极组TG-1中的内检测电极3为触控驱动电极。

例如，在图4B所示实施例中，通过第一检测区中的四个外检测电极2-1 至2-4和第二检测区中的四个内检测电极组TG-3至TG-6形成四个第一信号通道，并且通过第一检测区中的两个内检测电极组TG-1、TG-2以及第二检测区中的两个外检测电极2-5、2-6形成四个第二信号通道。在这种情况下，例如，第一外检测电极2-1和第二内检测电极组TG-3中的内检测电极3都为触控驱动电极，且第二外检测电极2-5和第一内检测电极组TG-1中的内检测电极3都为触控感应电极；或者，第一外检测电极2-1和第二内检测电极组TG-3中的内检测电极3都为触控感应电极，且第二外检测电极2-5和第一内检测电极组TG-1中的内检测电极3都为触控驱动电极。

在图4B所示实施例中，第一检测区中的外检测电极2-1电连接第二检测区中的内检测电极组TG-3，从而沿第一方向依次排列的外检测电极2-1 与内检测电极组TG-3形成沿第一方向延伸的第一信号通道；第一检测区中的外检测电极2-2电连接第二检测区中的内检测电极组TG-4，从而沿第一方向依次排列的外检测电极2-2与内检测电极组TG-4形成沿第一方向延伸的另一第一信号通道；......；以此类推。另外，第一检测区中的两个内检测电极组TG-1、TG-2都沿第二方向延伸从而形成两个第二信号通道，并且第二检测区中的两个外检测电极2-5、2-6都沿第二方向延伸从而形成另两个第二信号通道。

例如，外检测电极2和内检测电极3的材料为透明导电材料，例如氧化铟锡(ITO)、氧化铟锌(IZO)等透明导电材料。例如，外检测引线和内检测引线的材料为金属材料以减小引线的电阻，在这种情况下，例如，外检测引线和内检测引线分别通过过孔(如图4A和图4B中的黑色圆点所示)电连接相应的外检测电极和内检测电极。

需要说明的是，图4A和图4B都以检测基板包括四个第一信号通道和四个第二信号通道为例进行说明，然而，本公开实施例的检测基板包括的第一信号通道和第二信号通道的数量包括但不限于图4A和图4B所示实施例所示情形。

以检测手指触摸点的位置为例，由于手指的触摸面积约为5mm*5mm，为保证检测精度，例如，检测分区的面积约为5mm*5mm。鉴于此，例如，图4A和图4B中的每个外检测电极2的宽度w1的范围为4mm至6mm，例如为4.5mm至5.5mm；并且，图4A和图4B中的内检测电极组TG的宽度 w2的范围为4mm至6mm，例如为4.5mm至5.5mm。

例如，如图6所示，本公开至少一个实施例提供的检测基板包括黑矩阵 04以及用于成像的多个子像素03。黑矩阵04是不透光的并且为网格状结构，该多个子像素03位于该网格状结构的开口中。例如该多个子像素03包括红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B。

为了避免影响显示，例如，外检测电极2的外边缘和内边缘以及内检测电极3的边缘在衬底基板上的正投影都位于黑矩阵04所在区域内。

以如图4A和图4B所示实施例中的第一检测区为例，第一检测区中的每个检测分区包括四个内检测电极队和围绕该四个内检测电极队的外检测电极2，每个内检测电极队包括沿第二方向依次排列的4个内检测电极)也就是说，每个检测分区由4*4个如图1A所示的外检测电极2和内检测电极 3构成。在满足检测分区的面积约为5mm*5mm且外检测电极2和内检测电极3的边缘都位于黑矩阵04所在区域内的前提下，例如，十字形外检测电极2的尺寸可以采用如图7所示的实施例。例如，如图7所示，外检测电极的正投影外边缘(图7中未标出)和内边缘2A大致平行且都为十字形，并且外边缘和内边缘的中心大致重合；外边缘2B的形状包括四个外边缘凸出部；每个外边缘凸出部包括两个侧边232、233和位于这两个侧边之间的端边231，这两个侧边232、233的长度大致相等，端边231的长度大致是每个侧边的长度的两倍；并且分别属于相邻外边缘凸出部的相邻侧边大致垂直。例如，在检测基板包括用于成像的多个子像素的情况下，以p表示单个子像素的长度，相对的外边缘凸出部的端边之间的距离大致为16p，侧边232、 233的长度大致为4p，端边231的长度大致为8p，内边缘2A的大致平行于端边231的边的长度大致为6p，内边缘2A的大致平行于侧边232/233的边的长度大致为3p，且内边缘与外边缘之间在对应于端边231处的距离大致为 2p。通过端边231的长度大致是每个侧边的长度的两倍，有利于实现每个信号线与外检测电极的交叠面积大致等于其与内检测电极的交叠面积，从而有利于进一步提高有效互容值，以进一步提高检测灵敏度。需要说明的是，图 7所示实施例中的尺寸仅用于举例说明，本公开实施例包括但不限于图7所示情形。

本公开实施例还提供一种检测基板，如图8所示，该检测基板包括衬底基板1和位于衬底基板1上的多个检测单元和多个依次排列的信号线4。每个检测单元如图1A所示，即每个检测单元包括如图1B所示的内检测电极3 和如图1C所示的外检测电极2，外检测电极2具有镂空部，该镂空部对应内该检测电极3，即该镂空部的边缘在衬底基板1上的正投影围成的区域中设置有内检测电极3在衬底基板1上的正投影。该多个信号线4在衬底基板 1上的正投影与该多个检测单元在衬底基板1上的正投影交叠。该多个检测单元被划分为多个检测单元队90(图8以4个检测单元队为例进行说明)，该多个检测单元队包括沿该多个信号线4的延伸方向(参见图8中的水平方向)依次排列的第一检测单元队91和第二检测单元队92，第一检测单元队 91和第二检测单元队92都包括至少两个检测单元且都沿该多个信号线4的排列方向(参见图8中的竖直方向)延伸，该多个信号线4的排列方向不同于该多个信号线4的延伸方向；第二检测单元队92中的内检测电极3相对于第一检测单元队91中的内检测电极3在该多个信号线4的排列方向上交错。

在本公开这些实施例中，第一检测单元队91中的内检测电极3和第二检测单元队92中的内检测电极3在信号线的排列方向上交错，即分别属于不同检测单元队的相邻内检测电极3的排列方向与信号线的延伸方向不一致，这有利于避免出现一部分信号线4只与外检测电极2交叠而不与内检测电极3交叠，即有利于实现每个信号线4在与外检测电极2交叠的同时还与内检测电极3交叠，从而有利于减小横纹mura。

例如，在每个信号线4的正投影都与外检测电极2以及部分内检测电极 3的正投影交叠的基础上，检测基板包括的上述多个信号线4的正投影与外检测电极2的正投影的交叠面积相等。或者，上述多个信号线4的正投影与内检测电极3的正投影的交叠面积相等。或者，上述多个信号线4的正投影与外检测电极2的正投影的交叠面积相等，并且上述多个信号线4的正投影与内检测电极3的正投影的交叠面积相等。这些方式都进一步有利于避免或缓解横纹mura。例如，每个信号线4的正投影与外检测电极2的正投影的交叠面积大致等于该信号线4的正投影与内检测电极3的正投影的交叠面积，这样在避免或缓解横纹mura的同时，还进一步有利于提高外检测电极与内检测电极之间的有效互容值以提高检测灵敏度。

例如，信号线4可以为检测基板中的用于提供栅扫描信号的栅线或者为用于提供数据信号的数据线。或者，信号线4为检测基板中的其它类型信号线。

例如，根据检测外检测电极和内检测电极之间的互电容的变化情况，可以确定出触摸检测基板的触摸点的位置或者确定出该触摸点处的手指的指纹。也就是说，本公开实施例可以用于实现触控定位或者指纹识别。本公开实施例中检测基板的用途包括但不限于触控定位和指纹识别。

例如，同一检测单元队90中的内检测电极通过延伸方向与该检测单元队的延伸方向一致的导线彼此电连接，以减少用于内检测电极的信号传输的信号传输线的数量。需要说明的是，该导线例如为图4A中的第一子引线 X311或者为图4B中的第三子引线X333，因此关于该导线的设置方式可参照以上相关描述，重复之处不再赘述。

需要说明的是，第一检测单元队91中的内检测电极和第二检测单元队 92中的内检测电极可以彼此电连接，或者可以彼此绝缘。例如，在第一检测单元队91中的内检测电极和第二检测单元队92中的内检测电极彼此电连接的情况下，用于电连接第一检测单元队91中的内检测电极的导线与用于电连接第二检测单元队92中的内检测电极的导线可以彼此并联，以减小导线的电阻。例如，第一检测单元队91和第二检测单元队92可以相邻，如图8所示；或者，第一检测单元队91和第二检测单元队92可以不相邻。

在本公开的一些实施例中，至少部分相邻的检测单元的外检测电极2可以被施加不同的电信号，在这种情况下，相邻检测单元的外检测电极彼此绝缘，如图8所示。在这种情况下，例如，为了有利于相邻检测单元的外检测电极之间的紧凑排布，外检测电极的外边缘的轮廓形状为十字形(如图8所示)，或者外检测电极的外边缘的轮廓形状与图2A至图2C中任一个所示的内检测电极的边缘的形状一致。

在本公开一些实施例中，至少部分相邻的检测单元的外检测电极可以被施加相同的电信号，在这种情况下，例如，相邻检测单元的外检测电极直接连接，以减少用于外检测电极的信号传输的信号传输线的数量。例如，第一检测单元队91和第二检测单元队92为相邻的检测单元队，并且第一检测单元队91中的外检测电极与第二检测单元队92中的外检测电极直接连接。例如，通过使多个检测单元队的外检测电极直接连接可以形成如图3A和图3B 所示的具有多个镂空部且具有一体化结构的外检测电极。

例如，在检测基板包括用于成像的多个子像素的情况下，以p表示单个子像素的长度，外检测电极的尺寸可以采用如图7所示的实施例。例如，如图7所示，外检测电极的外边缘包括多个外边缘凸出部，相对的外边缘凸出部的端边231之间的距离大致为16p，侧边232、233的长度大致为4p，端边231的长度大致为8p，外检测电极的内边缘2A的大致平行于端边231的边的长度大致为6p，内边缘2A的大致平行于侧边232/233的边的长度大致为3p。在这种情况下，十字形内检测电极3的周长大致为12p*4＝48p，与同样面积的正方形电极相比，该十字形内检测电极3的周长更大。

另一方面，在如图8所示实施例中的外检测电极2采用上述尺寸设计的情况下，在信号线4(以位于上方的信号线4为例)的延伸方向上，与该信号线4交叠的外检测电极2占据的子像素的总长度为(2p+2p+8p)*2＝24p，与该信号线4交叠的内检测电极3占据的子像素的总长度为12p+12p＝24p。由此可见，通过使外检测电极2的端边231的长度大致等于侧边232/233的长度的两倍，可以使每个信号线与外检测电极的交叠面积大致等于其与内检测电极的交叠面积，这进一步有利于提高有效互容值，从而进一步提高检测灵敏度。

需要说明的是，图7所示实施例中的尺寸仅用于举例说明，本公开实施例包括但不限于图7所示情形。

如图8所示实施例中的外检测电极、内检测电极和信号线的设置方式可参照图1A至图7所示实施例中相同结构的设置方式，重复之处不再赘述。

在一些实施例中，通过向外检测电极和内检测电极施加频率不同的检测信号，可以实现自互容一体技术，在该自互容一体技术中，外检测电极本身作为第一自电容电极，内检测电极本身作为第二自电容电极，外检测电极以及其镂空部对应的内检测电极之间形成互电容，并且检测基板包括的检测电路通过对外检测引线和内检测引线输出的信号进行处理可以得到互电容信号的变化情况以及自电容信号的变化情况，从而根据这两种电容的变化情况可以更准确地进行检测，例如检测触摸点的位置或者检测指纹等。

本公开实施例还提供一种显示装置，其包括以上任一项实施例提供的检测基板。

例如，该显示装置可以为：显示面板、液晶面板、电子纸、OLED(有机发光二极管)面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

例如，如图9所示，该显示装置包括显示面板，该显示面板包括阵列基板100、对置基板200和液晶层300，对置基板200与阵列基板100相对设置且通过密封胶350连接，液晶层300位于对置基板200和阵列基板100之间。阵列基板100包括衬底基板100A和位于其上的像素电极层110、公共电极层130以及将像素电极层110和公共电极层130隔开的绝缘层120，像素电极层110包括的像素电极与公共电极层130包括的公共电极之间形成用于控制液晶层300中的液晶分子偏转程度的电场，以实现显示功能。例如，该对置基板200包括如图6所示的黑矩阵04。需要说明的是，图9仅示意性地示出了像素电极层和公共电极层，但并不限定像素电极层和公共电极层的具体结构。

例如，本公开实施例提供的显示装置为内嵌式显示装置，即以上任一实施例提供的检测基板中的内检测电极和外检测电极位于显示面板的内侧。例如，阵列基板100为以上任一实施例提供的检测基板。例如，公共电极层130 包括检测基板中的内检测电极和外检测电极。也就是说，检测基板中的内检测电极和外检测电极复用为公共电极层130包括的公共电极，这样可以提高显示装置的集成度，有利于显示装置的轻薄化。

在其他实施例中，检测基板中的内检测电极和外检测电极可以位于显示面板的外侧。

本公开实施例提供的检测基板和显示装置的实施例中相同部件的实施方式可以互相参照。在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

以上所述仅是本发明的示范性实施方式，而非用于限制本发明的保护范围，本发明的保护范围由所附的权利要求确定。

Claims (20)

1.一种检测基板，包括衬底基板和位于所述衬底基板上且彼此绝缘的外检测电极和内检测电极，其中，

所述外检测电极具有镂空部，所述镂空部对应所述内检测电极，并且所述镂空部对应所述内检测电极是指所述镂空部的边缘在所述衬底基板上的正投影所围成的区域中设置有所述内检测电极在所述衬底基板上的正投影；

所述内检测电极的正投影包括本体部和从所述本体部伸出且向远离所述本体部的方向延伸的多个凸出部；

所述镂空部边缘的正投影包括弯曲部，所述弯曲部伸入所述多个凸出部中的至少两个相邻凸出部之间的区域中，所述弯曲部的一部分相对于所述相邻凸出部的顶端更靠近所述本体部，所述相邻凸出部的顶端为所述相邻凸出部的远离所述本体部的端部。

2.根据权利要求1所述的检测基板，其中，

所述外检测电极为一体结构，并且所述外检测电极具有间隔开的多个所述镂空部；

所述检测基板包括分别对应多个所述镂空部的多个所述内检测电极。

3.根据权利要求2所述的检测基板，其中，

所述检测基板包括彼此绝缘的多个所述外检测电极以及位于所述衬底基板上且彼此绝缘的多个内检测电极组；

每个内检测电极组包括彼此间隔开的且与至少一个外检测电极的镂空部相对应的内检测电极以使所述每个内检测电极组对应所述至少一个外检测电极；

同一内检测电极组中的内检测电极彼此电连接，并且不同内检测电极组中的内检测电极彼此绝缘。

4.根据权利要求3所述的检测基板，还包括检测电路，其中，

多个所述外检测电极包括第一外检测电极，所述多个内检测电极组包括对应所述第一外检测电极的第一内检测电极组；

所述检测基板包括第一检测区，所述第一检测区中设置有所述第一外检测电极、所述第一内检测电极组、以及彼此绝缘的第一外检测引线和第一内检测引线；

所述第一外检测电极通过所述第一外检测引线电连接所述检测电路；

所述第一内检测电极组通过所述第一内检测引线电连接所述检测电路，所述第一内检测引线包括彼此并联的多个第一子引线并且包括与所述多个第一子引线电连接的第二子引线，所述多个第一子引线将所述第一内检测电极组包括的内检测电极电连接，并且所述多个第一子引线通过所述第二子引线电连接所述检测电路。

5.根据权利要求4所述的检测基板，其中，所述第二子引线电连接所述多个第一子引线的靠近所述检测电路的端部。

6.根据权利要求4所述的检测基板，其中，所述第一外检测引线的延伸方向与所述第一内检测引线的第一子引线的延伸方向一致。

7.根据权利要求4所述的检测基板，其中，所述第一外检测电极和所述第一内检测电极组中的内检测电极中的一种为触控感应电极且另一种为触控驱动电极。

8.根据权利要求4所述的检测基板，其中，

多个所述外检测电极包括第二外检测电极，所述多个内检测电极组包括对应所述第二外检测电极的第二内检测电极组；

所述检测基板包括第二检测区，所述第二检测区中设置有所述第二外检测电极、所述第二内检测电极组、以及彼此绝缘的第二外检测引线和第二内检测引线；

所述第二外检测电极通过所述第二外检测引线电连接所述检测电路；

所述第二内检测电极组通过所述第二内检测引线电连接所述检测电路，所述第二内检测引线包括彼此并联的多个第三子引线，所述多个第三子引线将所述第二内检测电极组包括的内检测电极电连接，并且所述多个第三子引线电连接所述第一外检测电极以使所述第二内检测电极组通过所述第二内检测引线、所述第一外检测电极和所述第一外检测引线电连接所述检测电路。

9.根据权利要求8所述的检测基板，其中，所述第二内检测引线还包括第四子引线，所述多个第三子引线通过所述第四子引线电连接所述第一外检测电极。

10.根据权利要求8所述的检测基板，其中，所述第一外检测电极和所述第二内检测电极组中的内检测电极都为触控驱动电极和触控感应电极中的一种，并且所述第二外检测电极和所述第一内检测电极组中的内检测电极都为所述触控驱动电极和所述触控感应电极中的另一种。

11.根据权利要求2所述的检测基板，还包括依次排列的多个信号线，其中，

所述多个信号线在所述衬底基板上的正投影与所述外检测电极在所述衬底基板上的正投影交叠；

多个所述镂空部对应的内检测电极排列成多个内检测电极队，每个内检测电极队都包括至少两个内检测电极，每个内检测电极队沿所述多个信号线的排列方向延伸；

所述多个内检测电极队包括沿所述多个信号线的延伸方向依次排列的第一内检测电极队和第二内检测电极队，所述多个信号线的延伸方向不同于所述多个信号线的排列方向，并且所述第二内检测电极队中的内检测电极相对于所述第一内检测电极队中的内检测电极在与所述多个信号线的排列方向上交错。

12.根据权利要求11所述的检测基板，其中，每个信号线在所述衬底基板上的正投影都与所述外检测电极以及多个所述镂空部对应的内检测电极中的一部分内检测电极在所述衬底基板上的正投影交叠。

13.根据权利要求12所述的检测基板，其中，每个信号线的正投影与所述外检测电极的正投影的交叠面积都等于所述每个信号线的正投影与所述内检测电极的正投影的交叠面积。

14.根据权利要求1-13中任一项所述的检测基板，其中，所述镂空部的边缘的正投影的形状为封闭的形状。

15.根据权利要求1-13中任一项所述的检测基板，其中，

所述内检测电极的所述正投影为L形或T字形或十字形；或者，

所述内检测电极的所述正投影具有4+n个凸出部，n≥1。

16.根据权利要求1-13中任一项所述的检测基板，其中，所述外检测电极和所述内检测电极并排设置在所述衬底基板上。

17.根据权利要求1-3和11-13中任一项所述的检测基板，其中，

所述外检测电极和所述内检测电极中的一种为触控驱动电极且另一种为触控感应电极。

18.一种检测基板，包括衬底基板和位于所述衬底基板上的多个检测单元和多个依次排列的信号线，其中，

每个检测单元包括外检测电极和内检测电极，所述外检测电极具有镂空部，所述镂空部对应所述内检测电极，并且所述镂空部对应所述内检测电极是指所述镂空部的边缘在所述衬底基板上的正投影所围成的区域中设置有所述内检测电极在所述衬底基板上的正投影；

所述内检测电极的正投影包括本体部和从所述本体部伸出且向远离所述本体部的方向延伸的多个凸出部；

所述镂空部边缘的正投影包括弯曲部，所述弯曲部伸入所述多个凸出部中的至少两个相邻凸出部之间的区域中，所述弯曲部的一部分相对于所述相邻凸出部的顶端更靠近所述本体部，所述相邻凸出部的顶端为所述相邻凸出部的远离所述本体部的端部；

所述多个信号线在所述衬底基板上的正投影与所述多个检测单元在所述衬底基板上的正投影交叠；

所述多个检测单元包括沿所述多个信号线的延伸方向依次排列的第一检测单元队和第二检测单元队，所述第一检测单元队和所述第二检测单元队都包括至少两个检测单元且都沿所述多个信号线的排列方向延伸，所述多个信号线的排列方向不同于所述多个信号线的延伸方向；

所述第二检测单元队中的内检测电极相对于所述第一检测单元队中的内检测电极在所述多个信号线的排列方向上交错。

19.根据权利要求18所述的检测基板，其中，所述第一检测单元队中的外检测电极和所述第二检测单元队中的外检测电极直接连接。

20.一种显示装置，包括权利要求1-17中任一项所述的检测基板或者包括如权利要求18或19中任一项所述的检测基板。