CN111129755A - 波束修整方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一波束修整方法，其中所述波束修整方法包括如下步骤：(a)改变一天线的一辐射源的边缘和一参考地的边缘的相对距离；和(b)改变所述天线产生的一探测波束的一探测面的形状，进而有利于提高所述天线的适用性和抗干扰性能。

Description

波束修整方法

技术领域

本发明涉及微波探测领域，特别涉及一微波探测波束修整方法。

背景技术

随着人们生活水平的提高，消费者对智能化电气设备的需求也越来越强烈。而微波探测技术则是众多智能电气设备实现智能控制的基础，并且直接影响着智能电气设备的智能化程度。以智能灯具为例，该智能灯具包括一天线、一灯具和一控制器，所述天线和所述灯具分别被可通信地连接于所述控制器，所述天线向一目标空间内发射一探测波束，所述探测波束被所述目标空间内的用户反射后，形成一反射微波，所述控制器根据所述反射微波和所述探测波束的差异得到用户的活动状况，进而根据用户的活动状况控制所述灯具的工作状态。

具体来说，参考附图1A至图1C，现有的所述天线100P包括一参考地10P和一辐射源20P，其中所述辐射源20P被邻近地保持于所述参考地10P的一侧，并在所述参考地10P和所述辐射源20P之间形成一辐射缝隙30P。所述辐射源20P具有一馈电点201P，所述馈电点201P能够被接入微波激励电信号。更具体地，所述辐射源20P具有一第一侧面211P、相对于所述第一侧面211P的一第二侧面212P、一第三侧面213P以及相对于所述第三侧面213P的一第四侧面214P，其中所述第一侧面211P、所述第三侧面213P、所述第二侧面212P以及所述第四侧面214P首尾相连，所述馈电点201P靠近所述第一侧面211P，即，所述馈电点201P偏离所述辐射源20P的物理中心。并且，所述辐射源20P为一矩形结构，且所述辐射源20P的所述第一侧面211P、所述第二侧面212P、所述第三侧面213P以及所述第四侧面214P和所述参考地10P的各侧面之间均存在预定距离。参照图1B和图1C，当微波激励电信号自所述馈电点201P被接入所述辐射源20P后，所述辐射源20P的电流密度呈现出中间稀疏，两侧密集的状态，即所述辐射源20P的四个直角位置的电流密度较为集中，靠近所述辐射源20P的中线位置的电流密度较为稀疏。所述辐射源20P的电流密度分布差异形成电势差和辐射电场，所述天线100P被激励地产生具有初始极化方向的所述探测波束，所述探测波束以一探测面101P覆盖所述目标空间的方式探测所述目标空间内的用户的运动状况。

然而，现有的所述天线100P在实际探测过程中，产生的所述探测波束的所述探测面101P的形状单一，常见的所述天线100P产生的所述探测波束的所述探测面101P如图1D所示，所述探测波束的所述探测面101P的长度接近于所述探测面101P的宽度。然而，所述天线100P所探测的所述目标区域的形状不尽相同，这使得所述天线100P难以适用于不同的使用场合。

举例来说，参照图2，若现有的所述天线100P产生的所述探测波束的一探测面101P为圆形，当所述天线100P被应用于一狭窄空间，例如所述天线100P被用于探测过道内的用户的活动状态，以在后续根据探测结果控制安装于所述过道内的所述灯具的工作状态。所述天线100P朝向所述过道内发射具有圆形的所述探测面101P的所述探测波束，一旦所述探测面101P的直径大于所述过道的宽度，所述探测面101P超出所述过道的宽度的部分会覆盖邻近区域，如隔壁房间，覆盖至隔壁房间内的所述探测波束被位于隔壁房间内的用户反射，而形成所述反射微波。当所述天线100P接收所述探测波束和所述反射微波后，根据隔壁房间内的用户的活动状态控制所述过道内的所述灯具的工作状况，导致所述过道内的所述灯具无法根据所述过道内的实际用户的活动状况及时地调整工作状态。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述波束修整方法能够改变一天线产生的一探测波束的一探测面的形状，以有利于提高所述天线的适用性。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述波束修整方法能够改变所述天线产生的所述探测波束的所述探测面的形状，以有利于提高所述天线的抗干扰性能。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过改变所述天线的一辐射源的边缘和一参考地的边缘的相对位置的差异的方式改变所述天线产生的所述探测波束的所述探测面的形状，如此使得本发明的所述波束修整方法更可靠和稳定。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述波束修整方法在改变所述探测波束的所述探测面的同时，所述天线的探测面积和探测强度保持不变，有利于保障所述天线的灵敏性。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过所述波束修整方法能够改变所述辐射源的电流密度分布和电流密度分布差异进而改变所述辐射源的辐射电场的强度分布，使得所述天线向外辐射的所述探测波束被改变，所述探测波束形成于的所述探测面的形状随之发生变化。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过改变所述天线的所述辐射源的形状的方式改变所述辐射源的电流密度分布，进而改变所述探测波束的所述探测面的形状。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过改变所述天线的所述辐射源的侧面边长的方式可以改变所述辐射源的电流密度分布，进而改变所述探测波长的所述探测面的形成。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过改变所述辐射源的电流密度分布的方式，所述辐射源与所述参考地相互耦合的能量占比能够被改变，相应所述辐射源自身耦合的能量占比被改变，则所述天线向外辐射的所述探测波束被改变，所述探测波束形成于的所述探测面的形状随之发生变化。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述波束修整方法能够通过对所述辐射源与所述参考地之间相对尺寸的调整，形成所述辐射源与所述参考地相互耦合的能量占比的变化，如此有利于小型化所述天线，如通过减小所述参考地相对所述辐射源的尺寸的方式小型化所述天线。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述波束修整方法能够使得所述天线产生所述探测波束形成狭长的所述探测面，以使得所述天线适用于于狭长空间，并提高了所述天线的抗干扰性能。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过保持所述辐射源的两个侧面与所述参考地的侧面对齐的方式能够产生具有狭长的所述探测面的所述探测波束，以在所述天线被应用于狭窄空间时，具有良好的抗干扰性能。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过减小所述参考地的宽度的方式使得所述参考地的侧面与所述辐射源的侧面对齐，有利于减小所述天线的整体尺寸。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过将所述辐射源的沿长度方向的侧边弯曲的方式，如内凹地设置所述辐射源的该侧边，如此以有利于减小所述辐射源在长度方向的尺寸，同时保障所述辐射源的周长，从而在减小所述辐射源的尺寸的同时保障所述微型化微波探测装置的辐射增益。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述辐射源的沿长度方向的侧边被弯曲地设置，如被内凹地设置，如此以有利于进一步减小所述辐射源在长度方向的尺寸，并有利于在所述辐射源的长度方向降低对所述参考地的尺寸要求而允许以减小所述参考地在所述辐射源的长度方向的尺寸的方式减小所述天线的尺寸。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述辐射源的沿长度方向的侧边被内凹地设置，则所述辐射源的内凹的部分所对应的参考地能够与所述辐射源的该侧边耦合而在所述辐射源的宽度方向降低了对所述参考地的尺寸要求，如此以有利于在所述辐射源的宽度方向减小所述参考地和所述参考地基板的尺寸，如在所述辐射源的宽度方向保持所述辐射源的宽度尺寸与所述参考地的宽度尺寸一致，从而有利于减小所述天线的尺寸。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述辐射源的沿长度方向的侧边被内凹地设置，其中基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹尺寸的设计，相应所述辐射源的沿长度方向的该侧边的电流密度分布允许被调整，同时所述辐射源的内凹的部分所对应的参考地能够与所述辐射源的该侧边耦合，即所述辐射源与所述参考地之间的耦合能量占比及所述辐射源的电流密度分布和电场分布允许基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹尺寸的设计被调整，从而有利于在所述辐射源的宽度方向调整所述天线的电场辐射强度和角度。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中所述辐射源的沿长度方向的侧边被内凹地设置，其中基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹形状和尺寸的设计，相应所述辐射源的沿长度方向的该侧边的电流密度分布被调整，同时所述辐射源的内凹的部分所对应的参考地能够与所述辐射源的该侧边耦合，即所述辐射源与所述参考地之间的耦合能量占比及所述辐射源的电流密度分布和电场分布允许基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹形状和尺寸的设计被调整，相应所述天线的探测波束允许基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹形状和尺寸的设计被设计而适应于不同的探测区域的面积和形状，从而有利于提高所述天线的适用性。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中藉由所述波束修整方法能够节省所述参考地的材料，进而降低所述天线的制造成本。

本发明的另一个目的在于提供一波束修整方法，其中通过增大所述辐射源的宽度的方式使得所述辐射源的侧面与所述参考地的侧面对齐。

依本发明的一个方面，本发明进一步提供一波束修整方法，所述波束修整方法包括如下步骤：

(a)改变一天线的一辐射源的边缘和一参考地的边缘的相对距离；和

(b)改变所述天线产生的一探测波束的一探测面的形状。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述天线的所述辐射源与所述参考地相互耦合的能量占比，同时改变所述辐射源自身耦合的能量占比。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源的电流密度分布，同时改变了所述辐射源的电流密度分布差异、电势差以及辐射电场的强度。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源的形状。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源的一第一侧面的形状和/或一第二侧面的形状。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源的一第一侧面的边长和/或一第二侧面的边长。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：增大所述辐射源的一第一侧面和所述第二侧面之间的距离。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：减小所述参考地的一第三侧面的至少一部分和一第四侧面的至少一部分之间的相对距离。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：产生具有狭长的探测面的所述探测波束。

根据本发明的一个实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：保持所述参考地的边缘与所述辐射源的边缘对齐。

附图说明

图1A是现有的一天线的立体图示意图。

图1B和图1C是现有的所述天线的所述辐射源的辐射强度变化的示意图，其示出了所述天线的一辐射源的电流密度分布状况。

图1D是现有的所述天线产生的一探测波束的一探测面的示意图。

图2是现有的一天线的一应用图示意图，其示出了所述天线产生的所述探测波束的所述探测面宽度大于过道宽度，处于过道外的用户的运动状况干扰所述天线的探测结果。

图3A是根据本发明的一较佳实施例的一天线的立体图示意图。

图3B是根据本发明的上述较佳实施例的所述天线产生的一探测波束的一探测面的示意图。

图4是根据本发明的另一较佳实施例的所述天线的立体图示意图。

图5A和图5B是根据本发明的上述较佳实施例的所述天线的所述辐射源的辐射强度变化的示意图。图6是根据本发明的另一较佳实施例的所述天线的立体图示意图。

图7是根据本发明的另一较佳实施例的所述天线的立体图示意图。

图8是根据本发明的另一较佳实施例的所述天线的立体图示意图。

图9是根据本发明的另一较佳实施例的所述天线的立体图示意图。

图10A是根据本发明的另一较佳实施例的所述天线的立体图示意图。

图10B是根据本发明的上述较佳实施例的所述天线产生的所述探测波束的所述探测面的示意图。

图11是根据本发明的上述较佳实施例的所述天线的应用图示意图。

具体实施方式

以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本发明的精神和范围的其他技术方案。

本领域技术人员应理解的是，在本发明的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本发明的限制。

可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。

参照图3A至图11，根据本发明的一较佳实施例的一波束修整方法将在接下来的描述中被阐述，其中藉由所述波束修整方法能够改变一天线100产生的一探测波束的一探测面101的形状，使得所述天线100能够适用于不同的使用场合。并且，所述天线100具有良好的抗干扰性能，能准确地探测一目标区域内的用户的活动状态，进而提高了所述天线100的适用性和灵活性。所述探测波束的所述探测面101为垂直于所述探测波束的辐射方向的截面。

进一步地，所述天线100能够被应用于一电气设备，并根据所述天线100的探测结果控制所述电气设备的工作状态，使得所述电气设备能够提供用户智能化的服务。值得一体的是，所述电气设备的具体实施方式不受限制，例如但不限于，所述电气设备可以被实施为灯具、空调、音响、窗帘、笔记本等电子设备中的一种或是多种的组合。

具体来说，参照图3A、图4至图10A，所述天线100包括一参考地10和一辐射源20，其中所述辐射源20被邻近地保持于所述参考地10的一侧，并在参考地10和所述辐射源20之间形成一辐射间隙。所述辐射源20具有一馈电点201，所述馈电点201被电连接于一振荡电路。所述振荡电路能够产生一微波激励信号，并当所述微波激励信号自所述馈电点201被接入所述辐射源20后，所述辐射源20自身发生耦合，所述辐射源20的电流密度分布差异形成电势差和辐射电场，同时，所述辐射源20与所述参考地10相互耦合。所述辐射源和所述参考地相互作用，所述天线100能够产生初始的极化方向而在所述辐射源20处向外辐射能量，进而所述天线100向所述目标区域发射所述探测波束，所述探测波束被所述目标空间内的用户反射后形成一反射回波，并在后续根据所述探测波束和所述反射回波的差异获取所述目标区域内的用户的活动状态。

在本发明所述的波束修整方法的这个具体的实施例中，通过改变所述天线100的所述辐射源20的边缘与所述参考地10的边缘的相对距离的方式改变所述辐射源与所述参考地相互耦合的能量占比，同时改变所述辐射源20自身耦合的能量占比。例如但不限于减小所述辐射源与所述参考地10相互耦合的能量占比，进而增强所述辐射源20自身耦合的能量占比，或是增大所述辐射源20与所述参考地10相互耦合的能量占比，进而减小所述辐射源20自身耦合的能量占比。。进一步地，所述辐射源20和所述参考地10相互作用产生的所述探测波束的波束被改变，进而所述探测波束的波束形成的所述探测面101的形状发生改变，以使得所述探测波束的所述探测面101能够适应于所述天线100的使用场合。

具体来说，参照图3A、图4至10A，所述辐射源20具有一第一极化面21、相对于所述第一极化面21的一第二极化面22、一第一侧面23和相对于所述第一侧面23的一第二侧面24，其中所述第一极化面21、所述第一侧面23、所述第二极化面22以及所述第二侧面24首尾相连，所述馈电点201靠近所述第一极化面21。所述参考地10具有一第三极化面11、相对于所述第三极化面11的一第四极化面12、一第三侧面13和相对于所述第三侧面13的一第四侧面14，其中所述第三极化面11、所述第三侧面13、所述第四极化面12以及所述第四侧面14首尾连接。

所述辐射源20P以所述第一极化面21、所述第二极化面22、所述第一侧面23以及所述第二侧面24分别对应于所述参考地10的所述第三极化面11、所述第四极化面12、所述第三侧面13以及所述第四侧面14的方式被保持于所述参考地10的一侧。所述辐射源20的所述第一极化面21和所述第二极化面22分别与所述参考地10的所述第三极化面11和所述第四极化面12之间存在预设距离。以在后续，所述天线100能够产生具有初始极化方向的所述探测波束。

进一步地，改变所述天线100的所述辐射源20的所述第一侧面21与所述参考地10的所述第三侧面13的相对距离和/或改变所述辐射源20的所述第二侧面21与所述参考地10的所述第四侧面14的相对距离，进而改变了所述辐射源20与所述参考地10之间相互耦合的能量占比以及所述辐射源20自身耦合的能量占比，以使得所述天线100发射的所述探测波束的所述探测面101的形状发生改变。

值得一提的是，藉由所述波束修整方法改变所述天线100产生的所述探测波束的所述探测面101的形状后，所述探测波束的辐射距离和强度基本保持不变，有利于保障所述天线100的灵敏度和探测准确性。

在本发明所述的波束修整方法的一些具体的实施例中，通过改变所述辐射源20的电流密度分布的方式改变所述辐射源20的辐射电场的强度，使得所述辐射源20在各个方向辐射的能量发生变化，进而改变所述天线100产生的所述探测波束的辐射方向和辐射强度，所述探测波束形成的所述探测面101的形状随之发生改变。

具体来说，参照图3A和图4至图8，通过改变所述天线100的所述辐射源20的形状的方式改变所述辐射源20的电流密度分布，所述辐射源20的电流分布密度差异随之发生变化，进而形成的电势差和辐射电场被改变。

参照图3A和图8，优选地，增大所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二极面22之间的角度。优选地，增大所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第一极面21之间的角度。优选地，增大所述辐射源20的所述第二侧面24和所述第一极面21之间的角度。优选地，增大所述辐射源20的所述第二侧面24和所述第二极面22之间的角度。通过上述方式改变了所述辐射源20的至少一侧面边长的长度，进而改变了所述辐射源20的形状。在所述振荡电路产生的所述微波激励信号自所述馈电点201被接入所述辐射源20后，所述辐射源20的电流密度、电流密度差异以及电势差被改变，所述辐射源20在各个方向向外辐射的能量也随之发生变化。同时，所述辐射源20与所述参考地10相互耦合以及所述辐射源20自身耦合的能量占比被改变，所述辐射源20和所述参考地10相互作用产生的所述探测波束的波束被改变，进而所述探测波束的所述探测面101被改变。

比如说，参照图3A，切除所述辐射源20的两个直角，使得所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24分别由两个相互连接的平面构成，并且所述辐射源20的所述第一侧面23与所述第二极面21之间形成一钝角，所述辐射源20的所述第二侧面24与所述第一极面22之间形成一钝角，使得原本集中于所述辐射源20的直角位置的电流密度降低。通过这样的方式，使得所述辐射源20各个位置的电流密度差异降低，所述辐射源20的电势差减小，所述辐射源20的辐射电场减小。在这个过程中，改变了所述辐射源20与所述参考地10之间相互耦合的能量占比以及所述辐射源20自身耦合的能量占比，进而所述辐射源20和所述参考地10相互作用产生的所述探测波束的形状发生改变。在本发明的这个具体的实施例中，所述辐射源20被实施为呈六边形。本领域技术人员应该理解的是，在本发明其他的示例中，所述辐射源20也可以被实施为五边形、七边形、八边形或是其他形状。

可选地，所述辐射源20的所述第一侧面23为向外凸起的曲面。参照图6，可选地，所述辐射源20的所述第二侧面24为向外凸起的曲面。

参照图6和图7，优选地，减小所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第一极面21之间的角度。优选地，减小所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二极面22之间的角度。优选地，减小所述辐射源20的所述第二侧面24和所述第一极面21之间的角度。优选地，减小所述辐射源20的所述第二侧面24和所述第二极面22之间的角度。通过上述方式改变所述辐射源20的形状，进而改变所述辐射源20的电流密度分布。

比如说，参照图7，所述辐射源20的所述第三侧面23由两个相互连接的平面构成，且所述第三侧面23呈开口向外的“V”形，所述第三侧面23与所述第一极面21之间形成一锐角，所述第三侧面23与所述第二极面22之间形成一锐角，使得原本集中于所述辐射源20的直角位置的电流密度增大。通过这样的方式，使得所述辐射源20各个位置的电流密度差异增大，所述辐射源20的电势差增大，所述辐射源20的辐射电场增大。在这个过程中，改变了所述辐射源20与所述参考地10之间相互耦合的能量占比以及所述辐射源20自身耦合的能量占比，进而所述辐射源20和所述参考地10相互作用产生的所述探测波束的形状发生改变。

参照图6，在本发明的另一示例中，所述辐射源20的所述第四侧面24由两个相互连接的平面构成，且所述第四侧面24呈开口向外的“V”形。在本发明的一示例中，所述辐射源20的所述第四侧面24为向内凹陷的曲面。在本发明的一示例中，所述辐射源20的所述第三侧面23向内凹陷的曲面，参照图5。

如图4至图5B所示，举例来说，所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24均被实施为向内凹的曲面。所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24的边长增长后，分布于所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24的电流密度降低，所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24分别与所述参考地10之间的耦合路径增长，所述辐射源20与所述参考地10相互耦合的能量占比增强，所述辐射源20自身耦合的能量占比降低。进一步地，所述辐射源20的电流密度差异减小，，所述辐射源20的电势差和电场强度减弱。

参照图9，在本发明的所述波束修整方法的另一个具体的实施例中，通过增大所述天线100的所述辐射源20的所述第一侧面23与所述第二侧面24的距离，减小所述辐射源20的所述第一侧面23与所述参考地10的所述第三侧面13之间的距离，同时减小所述辐射源20的所述第二侧面24与所述参考地的所述第四侧面14之间的距离。在所述振荡电路产生的所述微波激励信号自所述馈电点201被接入所述辐射源20后，尽管所述辐射源20的电流密度仍然呈现出中间稀疏，两侧密集的状态，但是所述辐射源20的电流密度的分布位置相对于所述参考地10发生变化，所述辐射源20与所述参考地10之间的耦合也随之发生变化。具体地，当所述辐射源20的尺寸增大后，所述辐射源20对应于所述参考地10的同一位置的电流密度减小。

进一步地，所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24之间的距离增大后，所述辐射源20与所述参考地10相互耦合的能量占比减小，所述辐射源20自身耦合的能量增强。这样，通过所述参考地10和所述辐射源20相互作用产生的所述探测波束的所述探测面101的形状发生变化。

更进一步地，参照图9，当所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24之间的距离增大至所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24分别与所述参考地10的所述第三侧面13和所述第四侧面14相互对齐，所述辐射源20与所述参考地10之间相互耦合的能量占比微弱，所述辐射源20的自身耦合的能量占比增强。此时，在所述辐射源20和所述参考地10相互作用，所述天线100能够产生初始的极化方向而在所述辐射源20处向外辐射能量，并产生具有狭长的所述探测面101的所述探测波束，即所述探测波束的所述探测面101的长度远大于所述探测面101的宽度。所述天线100藉由狭长的所述探测面101探测所述目标区域内的用户的运动状况，以使得所述天线100适用于狭窄的所述目标区域内使用。

参照图10A至图11，根据本发明的一个具体的实施例，减小所述天线100的所述参考地10的所述第三侧面13的至少一部分和所述第四侧面14至少一部分之间的距离，进而减小所述参考地10的所述第三侧面13的至少一部分与所述辐射源20的所述第一侧面23的距离，同时减小所述从参考地10的所述第四侧面14的至少一部分和所述辐射源20的所述第二侧面24之间的距离。在所述振荡电路产生的所述微波激励信号自所述馈电点201被接入所述辐射源20后，所述天线100的所述辐射源20的电流密度分布保持不变，仍然呈中间稀疏，两侧密集的方式分布，即靠近所述第一极化面21和所述第二极化面22的电流密度大，远离所述第一极化面21和所述第二极化面22的电流密度小。

所述参考地10的所述第三侧面13和所述第四侧面14之间的距离减小后，所述辐射源与所述参考地相互耦合的能量占比减弱，所述辐射源20自身耦合的能量占比增强。进一步地，通过所述参考地10和所述辐射源20相互作用产生的所述探测波束的波束被改变，进而所述探测波束的所述探测面101的形状发生变化。

更进一步地，当所述参考地10的所述第三侧面13和所述第四侧面14之间的距离减小至所述参考地10的所述第三侧面13和所述第四侧面14与所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24相互对齐，所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24基本不与所述参考地10发生相互耦合，所述辐射源20与所述参考地相互耦合的能量占比微弱，所述辐射源20自身耦合的能量占比增强。此时，在所述辐射源20和所述参考地10相互作用，所述天线100能够产生初始的极化方向而在所述辐射源20处向外辐射能量，并产生具有狭长的所述探测面101的所述探测波束。所述天线100藉由狭长的所述探测面101探测所述目标区域内的用户的运动状况，以使得所述天线100适用于狭窄的所述目标区域内使用。

举例来说，参照图11，所述天线100被应用于探测一过道内的用户的活动状态。通过所述波束修整方法，使得所述天线100朝向所述过道内发射的所述探测波束具有狭长的所述探测面101，且狭长的所述探测面101的宽度接近或是等于所述过道的宽度。通过这样的方式，避免了所述天线100产生的所述探测波束覆盖非目标区域，即处于非目标区域内的用户的运动状况不会干扰所述天线100的探测结果，而且，无需缩小所述天线100的探测范围。因此，藉由所述波束修整方法在保障所述天线100的探测范围的同时，提高了所述天线100的抗干扰性能和探测准确度，以在后续，所述天线100能够探测结果准确地控制所述灯具的工作状态，进而提供用户更智能化的服务。

值得注意的是，本领域技术人员应该理解的是，所述天线100的应用场合仅仅作为示意，不能成为对本发明所述波束修整方法和所述天线100的内容和范围的限制。

值得一提的是，减小所述参考地10的尺寸，使得所述参考地10的所述第三侧面13和所述第四侧面14分别与所述辐射源20的所述第一侧面13和所述第二侧面14相互对齐，不仅提高了所述天线100的抗干扰性能和适用性，而且有利于小型化所述天线100，进一步地，有利于减小所述电气设备中用于安装所述天线100的空间。

在本发明所述的波束修整方法的另一个具体的示例中，在改变所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24之间的距离的同时，改变所述参考地10的所述第三侧面13和所述第四侧面14之间的距离。通过这样的方式增强所述辐射源20自身耦合的能量占比，所述辐射源20在各个方向向外辐射的能量发生改变，进而改变所述探测波束的所述探测面101的形状，以提高所述天线100的适用性。

值得一提的是，说明书附图中所示意出的所述辐射源20的具体形状仅仅作为示例，所述辐射源20和所述参考地10的具体尺寸、所述辐射源20的边缘和所述参考地10的边缘的具体尺寸也仅仅作为示意，不能成为对本发明所述波束修整方法和所述天线100的内容和范围的限制。

综上所述，根据本发明所述的波束修整方法包括如下步骤：

(a)改变一天线100的一辐射源20的边缘和一参考地10的边缘的相对距离；和

(b)改变所述天线100产生的一探测波束的一探测面101的形状。

具体来说，在上述方法中，减小所述辐射源20与所述参考地10相互耦合的能量占比，同时增强所述辐射源20自身耦合的能量占比。

根据本发明的一些较佳的实施例，在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源20的电流密度分布，同时改变了所述辐射源20的电势差和辐射电场的强度。

进一步地，改变所述辐射源20的形状，以使得所述辐射源20的电流密度分布、电流密度差异、电势差以及辐射电场被改变。优选地，改变所述辐射源20任一侧面的边长。优选地，改变所述辐射源20的所述第一侧面23与所述第一极面21和/或所述第二极面22之间的角度。优选地，改变所述辐射源20的所述第二侧面23与所述第一极面21和/或所述第二极面22之间的角度。优选地，改变所述辐射源20的所述第一侧面23的形状。优选地，改变所述辐射源20的所述第二侧面24的形状。

优选地，改变所述辐射源20的一第一侧面23和所述参考地10的一第三侧面13的相对距离和/或改变所述辐射源20的一第二侧面24和所述参考地10的一第四侧面14的相对距离。

具体来说，增大所述辐射源20的所述第一侧面23和一第二侧面24之间的相对距离。通过这样的方式，减小所述辐射源20的所述第一侧面23的至少一部分与所述参考地10的所述第三侧面13之间的距离，同时减小所述辐射源20的所述第二侧面24的至少一部分与所述参考地10的所述第四侧面14之间的距离。进一步地，当所述辐射源20的尺寸增大后，所述辐射源20对应于所述参考地10的同一位置电流密度减小。

在本发明所述的波束修整方法的一个具体的示例中，在上述方法中，进一步包括步骤：保持所述辐射源20的电流密度的分布位置相对于所述参考地10不变。

具体来说，减小所述参考地10的一第三侧面13的至少一部分和一第四侧面14的至少一部分之间的相对距离。通过这样的方式，减小所述参考地10的所述第三侧面13的至少一部分与所述辐射源20的所述第一侧面23之间的距离，同时减小所述从参考地10的所述第四侧面14的至少一部分和所述辐射源20的所述第二侧面24之间的距离。

可选地，在上述方法中，进一步包括步骤：增大所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24之间的距离的同时，减小所述参考地10的所述第三侧面13和所述第四侧面14之间的距离。

优选地，在上述方法中，进一步包括步骤：产生具有狭长的所述探测面101的所述探测波束。

具体来说，在上述方法中，进一步包括步骤：保持所述参考地10的所述第三侧面13和所述第四侧面14分别与所述辐射源20的所述第一侧面23和所述第二侧面24相互对齐，即所述参考地10的边缘与所述辐射源20的边缘对齐。

本领域的技术人员可以理解的是，以上实施例仅为举例，其中不同实施例的特征可以相互组合，以得到根据本发明揭露的内容很容易想到但是在附图中没有明确指出的实施方式。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本发明的实施例只作为举例而并不限制本发明。本发明的目的已经完整并有效地实现。本发明的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本发明的实施方式可以有任何变形或修改。

Claims (11)

1.一波束修整方法，其特征在于，所述波束修整方法包括如下步骤：

(a)改变一天线的一辐射源的边缘和一参考地的边缘的相对距离；和

(b)改变所述天线产生的一探测微波的一探测面的形状。

2.根据权利要求1所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述天线的所述辐射源与所述参考地相互耦合的能量占比，同时改变所述辐射源自身耦合的能量占比。

3.根据权利要求2所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源的电流密度，同时改变了所述辐射源的电流密度分布差异、电势差以及辐射电场的强度。

4.根据权利要求3所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源的形状。

5.根据权利要求4所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源的一第一侧面的形状和/或一第二侧面的形状。

6.根据权利要求5所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：改变所述辐射源的任一侧面的边长。

7.根据权利要求6所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：增大所述辐射源的一第一侧面和所述第二侧面之间的距离。

8.根据权利要求2所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：减小所述参考地的一第三侧面的至少一部分和一第四侧面的至少一部分之间的相对距离。

9.根据权利要求7所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：减小所述参考地的一第三侧面的至少一部分和一第四侧面的至少一部分之间的相对距离。

10.根据权利要求7或8所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：产生具有狭长的所述探测面的所述探测微波。

11.根据权利要求10所述的波束修整方法，其中在上述方法中，进一步包括步骤：保持所述参考地的边缘与所述辐射源的边缘对齐。

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