CN211293290U - 微波探测模块 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一微波探测模块，其中所述微波探测模块包括一参考地和一辐射源，所述辐射源被间隔地保持于所述参考地的一侧，并在所述辐射源和所述参考地之间形成一辐射缝隙，所述参考地的一第一侧面与所述辐射源的一第三侧面之间存在一第一预设水平距离，所述参考地的一第二侧面与所述辐射源的一第四侧面之间存在一第二预设水平距离，所述微波探测模块产生的一探测微波能够形成狭长的一探测面，以使得所述微波探测模块适用于探测狭长的目标区域内的用户的活动状况。

Description

微波探测模块

技术领域

本实用新型涉及微波探测领域，特别涉及一微波探测模块。

背景技术

近年来，微波探测模块被应用于智能电气设备，所述微波探测模块被激励地产生具有初始极化方向的探测微波，所述探测微波以探测面覆盖一目标区域的方式探测所述目标区域内的用户的活动状况，使得智能电气设备能够根据用户的活动状态调整工作状态和工作模式，以提供用户智能化和人性化的服务。具体地，参数图1至图2C，现有技术的所述微波探测模块100包括一参考地10P和一辐射源20P，其中所述辐射源20P被间隔地保持于所述参考地10P的一侧，并在所述参考地10P和所述辐射源20P之间形成一辐射缝隙30P。所述辐射源20P具有一馈电点201P，所述馈电点201P允许被接入微波激励电信号。现有的所述辐射源20P的四个侧面边缘和所述参考地10P对应的四个侧面边缘之间均存在较远的距离，当一微波激励信号自所述馈电点201P接入所述辐射源20P时，所述辐射源20P和所述参考地10P相互作用，所述微波探测模块100P向外辐射所述探测微波，所述探测微波于所述目标区域内形成的一探测面101P，所述探测面101P的长度接近于所述探测面101P的宽度，如图2A。

但是，现有的所述微波探测模块100P在实际的使用过程中存在不少问题，尤其是当所述微波探测模块100P被应用于狭窄空间时，所述微波探测模块100的抗干扰性能降低，难以准确探测狭窄空间内的用户的活动状态。

举例来说，参照图2B，当所述微波探测模块100P被应用于探测狭长的过道内的用户的活动状态，以在后续根据探测结果控制安装于所述过道内的所述灯具的工作状态。所述微波探测模块100P朝向所述过道内发射具有圆形的所述探测面101P的所述探测微波，一旦所述探测面101P的长度或是宽度大于所述过道的宽度，所述探测面101P超出所述过道的宽度的部分会覆盖邻近的非目标区域，如隔壁房间，覆盖至隔壁房间内的所述探测微波被位于隔壁房间内的用户反射，而形成所述反射微波。当所述微波探测模块100P接收所述探测微波和所述反射微波后，根据隔壁房间内的用户的活动状态控制所述过道内的所述灯具的工作状况，导致所述过道内的所述灯具无法根据所述过道内的用户的活动状况及时地调整工作状态，难以满足用户的使用需求。

在现有的所述微波探测模块100P中，为了避免现有的所述微波探测模块100P在狭窄空间内使用时受到邻近的非目标区域内的用户的干扰，只能同时减小所述微波探测模块100P产生的所述探测微波形成的所述探测面101P的长度和宽度，以使得所述探测面101P的长度和宽度同时小于或是等于所述过道的宽度，参照图2C。尽管通过这样的方式，提高了所述微波探测模块100P的抗干扰性能，但是所述微波探测模块100P的探测范围被减小，所述探测微波于所述目标区域内的覆盖面积被减小，只有在用户进入所述探测微波覆盖的区域内，所述微波探测模块100P才能获取用户的活动状态，造成了所述微波探测模块100P难以及时地获取用户的活动状态，进而无法及时地控制所述灯具的工作状况，造成所述灯具的工作状况的调节滞后，灵敏度降低，影响用户的使用体验。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述微波探测模块适用于探测狭长的目标区域内的用户的活动状况。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述微波探测模块不易受到非目标区域内的用户的干扰，具有良好的抗干扰性能。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述微波探测模块产生的一探测微波形成狭长的一探测面，以使得所述微波探测模块被适用于探测狭长的一目标区域内的目标物体的活动状况。

本实用新型的一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述微波探测模块具有一辐射源和一参考地，其中所述辐射源和所述参考地被间隔地设置，其中所述辐射源具有一馈电点，其中所述馈电点偏离于所述辐射源的物理中心点，其中以所述辐射源的物理中心点与所述馈电点的连线方向为所述辐射源的长度，如此以在所述辐射源于所述馈电点被馈电时，所述辐射源的在长度方向的两侧面的电流密度分布反向，则所述辐射源的在宽度方向的两侧面中，任一侧面的两端能够相互耦合而于所述辐射源的物理中心点与所述馈电点的连线的径向方向辐射所述探测微波。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述微波探测模块的所述辐射源与所述参考地相互耦合的能量占比被减弱，所述辐射源自身耦合的能量占比增强，以在所述辐射源和所述参考地相互作用后，所述微波探测模块于所述辐射源的物理中心点与所述馈电点的连线的径向方向的辐射能量被增强而能够于所述辐射源的长度方向压缩所述探测面以窄化所述探测面，从而形成狭长的所述探测面。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中在所述辐射源的宽度方向，所述参考地的侧面接近于所述辐射源的侧面，即所述参考地的在所述辐射源的宽度方向的面积被减小，以使得所述辐射源与所述参考地相互耦合的能量占比被减弱，同时所述辐射源自身耦合的能量占比被增强。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中在所述辐射源的宽度方向，所述微波探测模块的所述参考地的侧面和所述辐射源的侧面之间的距离被保持于一预定范围内时，所述微波探测模块产生的所述探测微波探测模块形成狭长的所述探测面。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中在所述辐射源的宽度方向，所述微波探测模块的所述参考地的两侧宽度与所述辐射源的两个侧面保持对齐，在所述参考地和所述辐射源相互作用后，所述微波探测模块产生的所述探测微波能够形成狭长的所述探测面。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中在所述辐射源的宽度方向，所述微波探测模块的所述参考地的边缘完全对齐，在所述参考地和所述辐射源相互作用后，所述微波探测模块产生的所述探测微波能够形成狭长的所述探测面。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述辐射源在宽度方向的两侧面被内凹地设置，则所述辐射源的在宽度方向的两侧面中，任一侧面的两端的电流密度分布增强，有利于在所述辐射源的长度方向进一步压缩所述探测面而达到窄化所述探测面的效果。

本发明的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述辐射源在宽度方向的两侧面被内凹地设置，如此以有利于减小所述辐射源在长度方向的尺寸，同时保障所述辐射源的周长，从而在减小所述辐射源的尺寸的同时保障所述微型化微波探测装置的辐射增益。

本发明的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述辐射源在宽度方向的两侧面被内凹地设置，如此以有利于减小所述辐射源在长度方向的尺寸，并有利于在所述辐射源的长度方向降低对所述参考地的尺寸要求而允许以减小所述参考地在所述辐射源的长度方向的尺寸的方式减小所述微波探测模块的尺寸。

本发明的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述辐射源在宽度方向的两侧面被内凹地设置，其中基于对所述辐射源的在宽度方向的该侧边的内凹尺寸的设计，相应所述辐射源的在宽度方向的该侧边的电流密度分布允许被调整，同时所述辐射源的内凹的部分所对应的参考地能够与所述辐射源的该侧边耦合，即所述辐射源与所述参考地之间的耦合能量占比及所述辐射源的电流密度分布和电场分布允许基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹尺寸的设计被调整，从而有利于在所述辐射源的宽度方向调整所述微波探测模块的电场辐射强度和角度。

本发明的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述辐射源在宽度方向的两侧面被内凹地设置，如此以在所述辐射源的宽度方向，当所述参考地的侧面接近于所述辐射源的该侧面时，如当所述参考地的侧面接近至对齐于所述辐射源的该侧面时，所述辐射源于所述参考地之间的耦合能量占比进一步被降低，对应所述辐射源自身耦合的能量占比被进一步提高，从而有利于在所述辐射源的长度方向进一步窄化所述探测面，从而于所述辐射源的宽度方向形成狭长的所述探测面。

本发明的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述辐射源在宽度方向的两侧面被内凹地设置，其中基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹形状和尺寸的设计，相应所述辐射源的沿长度方向的该侧边的电流密度分布被调整，同时所述辐射源的内凹的部分所对应的参考地能够与所述辐射源的该侧边耦合，即所述辐射源与所述参考地之间的耦合能量占比及所述辐射源的电流密度分布和电场分布允许基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹形状和尺寸的设计被调整，相应所述微波探测模块的探测波束允许基于对所述辐射源的沿长度方向的该侧边的内凹形状和尺寸的设计被设计而适应于不同的探测区域的面积和形状，从而有利于提高所述微波探测模块的适用性。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述辐射源被接地，则所述微波探测模块的阻抗被降低，以使得所述微波探测模块的品质因数(即Q值)被提高，从而有利于提高所述微波探测模块的抗干扰性能。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述辐射源于所述辐射源的物理中心点被接地，以降低所述微波探测模块的阻抗的同时，有利于维持所述辐射源于所述馈电点被馈电时的电流密度分布，从而有利于保障所述微波探测模块的辐射增益。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中所述微波探测模块的所述参考地的尺寸相较于现有的所述微波探测模块的所述参考地的尺寸被减小，有利于减小所述微波探测模块的整体体积，实现所述微波探测模块微型化，以在后续减小所述微波探测模块的安装空间。

本实用新型的另一个目的在于提供一微波探测模块，其中通过减小所述微波探测模块的所述参考地的方式有利于节省所述微波探测模块的物料成本，进而降低所述微波探测模块的制造成本。

依本实用新型的一个方面，本实用新型进一步提供一微波探测模块，其包括：

一参考地，所述参考地具有一第一极化面、一第一侧面、相对于所述第一极化面的一第二极化面以及相对于所述第一侧面的一第二侧面；和

一辐射源，其中所述辐射源具有一馈电点，所述馈电点偏离于所述辐射源的物理中心点，所述辐射源具有一第三极化面、相对于所述第三极化面的一第四极化面、一第三侧面以及相对于所述第三侧面的一第四侧面，其中所述第三极化面为所述辐射源在所述辐射源的物理中心点至所述馈电点的连线方向的侧面，所述第四极化面为所述辐射源在所述辐射源的馈电点至物理中心点的连线方向的侧面，所述辐射源以所述第三极化面、所述第四极化面、所述第三侧面以及所述第四侧面分别对应于所述参考地的所述第一极化面、所述第二极化面、所述第一侧面以及所述第二侧面的方式被间隔地保持于所述参考地的一侧，并在所述辐射源和所述参考地之间形成一辐射缝隙，所述参考地的所述第一侧面与所述辐射源的所述第三侧面之间存在一第一预设水平距离，所述参考地的所述第二侧面与所述辐射源的所述第四侧面之间存在一第二预设水平距离，所述微波探测模块产生的一探测微波能够形成狭长的一探测面。

根据本实用新型的一个实施例，所述参考地的所述第一侧面与所述辐射源的所述第三侧面之间的第一预设水平距离参数为K，其中所述参数K的数值范围为：0≤K≤λ/32。

根据本实用新型的一个实施例，其中所述参考地的所述第二侧面与所述辐射源的所述第四侧面之间的所述第二预设水平距离参数为L，其中所述参数L的数值范围为：0≤L≤λ/32。

根据本实用新型的一个实施例，所述微波探测模块的所述参考地的所述第一极化面和所述辐射源的所述第三极化面之间存在一第三预设水平距离，所述预设水平距离参数为M，所述参数M的范围为：M≥λ/32。

根据本实用新型的一个实施例，所述参考地的所述第二极化面和所述辐射源的所述第四极化面之间存在一第四预设水平距离，定义所述预定水平距离参数为N，其中所述参数N的范围为：N≥λ/32。

根据本实用新型的一个实施例，所述参考地的所述第一极化面和所述第二极化面的长度尺寸参数为A，所述参数A的数值范围为：A≥λ/8。

根据本实用新型的一个实施例，所述参考地的所述第一侧面和所述第二侧面的长度尺寸参数为B，所述参数B的数值范围为：B≥λ/8。

根据本实用新型的一个实施例，所述辐射源的所述第三极化面和所述第四极化面的长度尺寸参数为C，所述参数C的数值范围为：C≥λ/8。

根据本实用新型的一个实施例，所述辐射源的所述第一侧面和所述第二侧面的长度尺寸参数为D，所述参数D的范围为：D≥λ/8。

根据本实用新型的一个实施例，其中所述辐射源进一步具有一接地点，其中所述辐射源于所述接地点被接地。

根据本实用新型的一个实施例，其中所述接地点位于所述辐射源的物理中心点。

根据本实用新型的一个实施例，其中所述辐射源于所述接地点经以金属化过孔工艺形成的一金属化孔被接地。

根据本实用新型的一个实施例，其中所述辐射源的所述第三侧面和所述第四侧面分别与所述参考地的所述第一侧面和所述第二侧面保持对齐，即所述参数K和所述参数L的数值满足K＝0且L＝0。

根据本实用新型的一个实施例，其中所述辐射源的所述第三侧面和所述第四侧面被内凹地设置，相应所述参考地的所述第一侧面中与所述辐射源的所述第三侧面相对应的部分，以及所述第二侧面中与所述辐射源的所述第四侧面相对应的部分也被内凹地设置。

根据本实用新型的一个实施例，其中所述辐射源的所述第三侧面和所述第四侧面为内凹曲面，所述参考地的所述第一侧面和所述第二侧面的与所述辐射源的所述第三侧面和所述第四侧面相对应的部分也为内凹曲面。

依本实用新型的另一个方面，本实用新型进一步提供一微波探测模块的探测方法，所述探测方法包括如下步骤：

(a)朝向一目标区域内产生一探测微波；和

(b)形成狭长的一探测面于所述目标区域。

根据本实用新型的一个实施例，所述探测方法进一步包括步骤：减小所述辐射源和所述参考地相互耦合的能量占比，同时增大所述辐射源自身耦合的能量占比。

根据本实用新型的一个实施例，所述探测方法进一步包括步骤：保持一参考地的所述第一侧面与一辐射源的一第三侧面之间的一预设距离大于等于0且小于等于λ/32。

根据本实用新型的一个实施例，所述探测方法进一步包括步骤：保持所述参考地的所述第二侧面与所述辐射源的所述第四侧面之间的所述预设距离大于等于0且小于等于λ/32。

根据本实用新型的一个实施例，所述探测方法进一步包括步骤：保持所述探测微波的所述探测面的宽度接近于所述目标区域的宽度。

附图说明

图1是现有的一微波探测模块的立体图示意图。

图2A是现有的所述微波探测模块产生的一探测微波形成的一探测面的形状示意图。

图2B是现有的所述微波探测模块的一应用图示意图。

图2C是现有的另一微波探测模块的一应用图示意图。

图3是根据本实用新型的一较佳实施例的一微波探测模块的立体图示意图。

图4是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述微波探测模块的剖视图示意图。

图5是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述微波探测模块的俯视图示意图。

图6是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述微波探测模块产生的一探测微波形成所述探测面的形状示意图。

图7是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述微波探测模块的应用图示意图。

图8是根据本实用新型的另一较佳实施例的一微波探测模块的立体图示意图。

图9是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述微波探测模块的俯视图示意图。

图10是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述微波探测模块产生的所述探测微波形成的所述探测面的示意图。

图11是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述微波探测模块的应用图示意图。

图12是根据本实用新型的另一较佳实施例的一微波探测模块的立体图示意图。

图13是根据本实用新型的另一较佳实施例的一微波探测模块的立体图示意图。

具体实施方式

以下描述用于揭露本实用新型以使本领域技术人员能够实现本实用新型。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本实用新型的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本实用新型的精神和范围的其他技术方案。

本领域技术人员应理解的是，在本实用新型的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本实用新型的限制。

可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。

参照说明书附图3至图7，根据本实用新型的一较佳实施例的一微波探测模块100将在接下来的描述中被阐述，其中所述微波探测模块100被适用于探测一目标区域200内的用户的活动状态。进一步地，所述微波探测模块100产生的一探测微波能够于所述目标区域200内形成狭长的探测面101，进而所述微波探测模块100能够被适用于狭长的所述目标区域200，狭长的所述目标区域200的长度大于所述目标区域200的宽度。优选地，本实用新型的所述微波探测模块100特别适用于长度尺寸远远大于宽度尺寸的狭长的所述目标区域200，并且当所述微波探测模块100被应用于狭长的所述目标区域200内时，所述微波探测模块100不易受到非目标区域内的用户的干扰，进而所述微波探测模块100具有良好的抗干扰性能。

进一步地，所述微波探测模块100能够被应用于一电气设备，并根据所述微波探测模块100的探测结果控制所述电气设备的工作状态，使得所述电气设备能够提供用户智能化的服务。值得一体的是，所述电气设备的具体实施方式不受限制，例如但不限于，所述电气设备可以被实施为灯具、空调、音响、窗帘、笔记本等电子设备中的一种或是多种的组合。

具体来说，参照图3至图5、图8、图9以及图12，所述微波探测模块100包括一参考地10和一辐射源20，其中所述辐射源20被邻近地保持于所述参考地10的一侧，并在参考地10和所述辐射源20之间形成一辐射缝隙30。所述辐射源20具有一馈电点201，所述馈电点201偏离所述辐射源20的物理中心，所述辐射源20于所述馈电点201被电连接于一振荡电路，所述参考地10被电性连接于所述振荡电路的地电位。所述振荡电路允许被供电而产生一微波激励信号，并当所述微波激励信号自所述馈电点201被接入所述辐射源20时，所述辐射源20自身发生耦合，所述辐射源20的电流密度分布差异形成电势差和辐射电场，同时，所述辐射源20与所述参考地10相互耦合。所述辐射源20和所述参考地10相互作用，所述微波探测模块100能够产生初始的极化方向而在所述辐射源20处向外辐射能量，进而所述微波探测模块100向所述目标区域200发射所述探测微波，所述探测微波被所述目标区域内的用户反射后形成一反射回波，并在后续根据所述探测微波和所述反射回波的差异获取所述目标区域200内的用户的活动状态。

在本实用新型所述的微波探测模块100的这个具体的实施例中，所述微波探测模块100的所述参考地10的侧面边缘与所述辐射源20的侧面边缘之间存在预设距离，且在所述参考地10和所述辐射源20相互作用后，所述微波探测模块100向外辐射能够形成狭长的所述探测面101的所述探测微波探测模块。

具体来说，参照图3至图5、图8、图9以及图12，所述参考地10具有一第一极化面110、相对于所述第一极化面110的一第二极化面120、连接所述第一极化面110和所述第二极化面120的一第一侧面130以及相对于所述第一侧面130的一第二侧面140。所述辐射源20具有一第三极化面210、相对于所述第三极化面210的一第四极化面220、连接于所述第三极化面210和所述第四极化面220的一第三侧面230以及相对于所述第三侧面230的一第四侧面240。所述辐射源20以所述第三极化面210、所述第四极化面220、所述第三侧面230以及所述第四侧面240被分别对应于所述参考地10的所述第一极化面110、所述第二极化面120、所述第一侧面130以及所述第二侧面140的方式被间隔地保持于所述参考地10的一侧。

进一步地，以所述辐射源20的物理中心点与所述馈电点201的连线方向定义为所述辐射源20的长度方向，其中所述第三极化面210和所述第四极化面220为所述辐射源20在长度方向的两侧面，所述第三侧面230和所述第四侧面240为所述辐射源20在宽度方向的两侧面。更具体地，所述第三极化面210为所述辐射源20在所述辐射源20的物理中心点至所述馈电点201的连线方向(即所述辐射源20的初始极化方向)的侧面，相应地，所述第四极化面220为所述辐射源20在所述辐射源20的馈电点201至物理中心点的连线方向(即所述辐射源20的极化方向)的侧面。也就是说，所述第三极化面210和所述第四极化面220为对应所述辐射源20的两宽边的两侧面，所述第三侧面230和所述第四侧面240为对应所述辐射源20的两长边的两侧面。

对应地，定义所述参考地10的长度方向与所述辐射源20的长度方向同向，其中所述第一极化面110和所述第二极化面220为所述参考地10在长度方向的两侧面，所述第一侧面130和所述第二侧面140为所述参考地10在宽度方向的两侧面。更具体地，所述第一极化面110为所述参考地10在所述辐射源20的初始极化方向的侧面，相应地，所述第二极化面120为所述参考地10在所述辐射源20的极化方向的两侧面。也就是说，所述第一极化面110和所述第二极化面120为对应所述参考地10的两宽边的两侧面，所述第一侧面130和所述第二侧面140为对应所述参考地10的两长边的两侧面。

值得一提的是，在所述辐射源20于所述馈电点201被馈电时，所述辐射源20的所述第三极化面210和所述第四极化面220的电流密度分布反向，则所述辐射源20的在宽度方向的两侧面中，即所述第三侧面230和所述第四侧面240中，任一侧面的两端能够相互耦合而于所述辐射源20的物理中心点与所述馈电点201的连线的径向方向辐射所述探测微波。也就是说，当所述微波探测模块的所述辐射源20与所述参考地10相互耦合的能量占比被减弱，相应所述辐射源20自身耦合的能量占比增强时，所述微波探测模块100于所述辐射源20的物理中心点与所述馈电点201的连线的径向方向的辐射能量能够被增强而允许于所述辐射源20的长度方向窄化所述探测面101，从而形成狭长的所述探测面101。

可以理解的是，对所述辐射源20的长度和宽度的定义仅作为对长度和宽度的方向限制，而不构成长度尺寸大于宽度尺寸的限制，即对所述辐射源20的长度和宽度的定义不构成相应长度尺寸大于宽度尺寸的限制。

进一步地，所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间存在一第一预设水平距离，所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间存在一第二预设水平距离。当所述微波激励信号自所述辐射源20的所述馈电点201被接入所述辐射源20时，所述辐射源20和所述参考地10之间相互耦合的能量占比减小，所述辐射源20自身耦合的能量占比增强，进而在所述辐射源20和所述参考地10相互作用后，所述微波探测模块100朝向所述目标区域200辐射的探测微波能够形成狭长的所述探测面，以利于所述微波探测模块100被适用于探测狭长的所述目标区域200，并具有良好的抗干扰性。

更进一步地，参照图4和图9，定义所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间的所述第一预设水平距离参数为K，其中所述参数K的数值范围为：0≤K≤λ/32，其中λ为所述微波探测模块100所发射的探测微波的波长参数。

更进一步地，参照图4和图9，所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间的第二预设水平距离参数为L，所述参数L的数值范围为：0≤L≤λ/32。

参照图3至图6，在本实用新型所述的微波探测模块100的一个较佳的实施例中，所述微波探测模块100的所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240分别与所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140保持对齐。此时，所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240之间的所述预设距离为零。所述辐射源20与所述参考地10之间相互耦合的能量占比最小，所述辐射源20几乎不与所述参考地10之间发生相互耦合，所述辐射源20自身耦合的能量占比最强。在所述辐射源20和所述参考地10相互作用后，所述微波探测模块100产生的所述探测微波能够形成狭长的所述探测面101A。狭长的所述探测面101A的长度远远大于所述探测面101A的宽度。

举例来说，参照图7，所述微波探测模块100被应用于一智能灯具，所述智能灯具被安装于一狭窄过道200A的上方，所述微波探测模块100朝向所述狭窄过道200A内辐射所述探测微波，以探测所述狭窄过道200A内的用户的活动状态，以在后续，所述智能灯具根据所述微波探测模块100的探测结果调节工作状态或是工作模式，以更智能化和人性化地为用户提供照明。进一步地，所述微波探测模块100朝向所述狭窄过道200A内的产生的所述探测微波以狭长的所述探测面101A覆盖所述狭窄过道200A的方式探测所述狭窄过道200A内的用户的活动状态。更进一步地，所述探测微波的所述探测面101A的宽度接近于所述狭窄过道200A的宽度，所述微波探测模块100能够更大面积地覆盖于所述狭窄过道200A。并且，狭长的所述探测面101A在长度方向上不会超过所述狭窄过道200A，即所述微波探测模块100产生的所述探测微波不会覆盖所述狭窄过道200A周边的非目标区域。这样，处于所述非目标区域内的用户的活动状况不会干扰所述微波探测模块100的探测结果。因此，所述微波探测模块100在获得最大的探测范围的同时，所述微波探测模块100具有良好的抗干扰性能。以在后续，所述智能灯具能够提供用户更智能化和人性化的服务。

参照图8至图10，在本实用新型所述的微波探测模块100的一个较佳的实施例中，所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间的所述第一预设水平距离大于0小于等于λ/32，且所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间的第二预设水平距离大于0小于等于λ/32，即所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140分别接近于所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240。所述辐射源20与所述参考地10之间相互耦合的能量占比被减小，所述辐射源20自身耦合的能量占比最强。在所述辐射源20和所述参考地10相互作用后，所述微波探测模块100产生的所述探测微波能够形成狭长的所述探测面101B。狭长的所述探测面101B的长度远远大于所述探测面101B的宽度。进一步地，所述探测面101B的宽度大于所述探测面101A的宽度，所述探测面101B的长度小于所述探测面101A的长度，使得所述微波探测模块100能够适用于不同宽度的狭长的所述目标区域200。

举例来说，参照图11，所述微波探测模块100被应用于所述智能灯具，并朝向所述狭窄过道200B内辐射所述探测微波，所述微波探测模块100朝向所述狭窄过道200B内的产生的所述探测微波以狭长的所述探测面101B覆盖所述狭窄过道200B的方式探测所述狭窄过道200B内的用户的活动状态，所述狭窄过道200B的宽度大于所述狭窄过道200A的宽度，被应用于所述狭窄过道200B的所述微波探测模块100形成的所述探测面101B的宽度大于被应用于所述狭窄过道200A的所述微波探测模块100形成的所述探测面101A的宽度，并且被应用于所述狭窄过道200B的所述微波探测模块100形成的所述探测面101B的宽度与所述狭窄过道200B的宽度保持一致或是接近。所述微波探测模块100能够最大面积地覆盖于所述狭窄过道200B。并且，狭长的所述探测面101B在长度方向上不会超过所述狭窄过道200B，即所述微波探测模块100产生的所述探测微波不会覆盖所述狭窄过道200A周边的非目标区域，所述非目标区域内的用户的活动状况不会干扰所述微波探测模块100的探测结果。

换句话说，通过改变所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面140之间存在的所述预设距离和改变所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间存在的所述预设距离，改变了所述辐射源20和所述参考地10之间相互耦合的能量占比和所述辐射源20自身耦合的能量占比，进而在所述微波激励信号自所述馈电点201被接入所述辐射源20时，所述微波探测模块100向外辐射的所述探测微波的波束被改变，并能形成狭长的所述探测面101。值得一提的是，所述微波探测模块100的具体应用仅仅作为示例，不能成为对本实用新型所述微波探测模块100的内容和范围的限制。另外，说明书附图中示出的所述微波探测模块100的所述参考地10、所述辐射源20以及所述探测面101的具体尺寸和比例也仅仅作为示意，不能成为对本实用新型所述微波探测模块100的内容和范围的限制。

值得一提的是，在以上描述中，对所述参数K和所述参数L的数值范围限定应分别理解为当所述辐射源20的所述第三侧面230在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10时所述所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间的水平距离的限制，和当所述辐射源20的所述第四侧面240在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10时所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间的水平距离的限制，而不构成当所述辐射源20的所述第三侧面230在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10之外和当所述辐射源20的所述第四侧面240在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10之外时的限制。

也就是说，当所述辐射源20的所述第三侧面230在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10时，所述所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间在所述辐射源20的宽度方向的距离K满足：0≤K≤λ/32；当所述辐射源20的所述第四侧面240在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10时，所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间在所述辐射源20的宽度方向的距离L满足：0≤L≤λ/32。而当所述辐射源20的所述第三侧面230在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10之外时，所述辐射源20的所述第三侧面230的两端同样能够相互耦合而对应提高所述辐射源20自身耦合的能量占比，同样地，当所述辐射源20的所述第四侧面240在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10之外时，所述辐射源20的所述第四侧面240的两端同样能够相互耦合而对应提高所述辐射源20的自身耦合的能量占比。

因此，在本实用新型的一些实施例中，所述辐射源20的所述第三侧面230在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10之外，所述所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间在所述辐射源20的宽度方向的距离K满足：0≤K≤λ/16。

在本实用新型的一些实施例中，所述辐射源20的所述第四侧面240在垂直于所述参考地10方向的投影位于所述参考地10之外，所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间在所述辐射源20的宽度方向的距离L满足：0≤L≤λ/16。

在本实用新型的一个具体的实施例中，所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间的所述第一预设水平距离等于所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间的第二预设水平距离。在本实用新型的的另一个具体的实施例中，所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间的所述第一预设水平距离不等于所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间的第二预设水平距离，即所述第一预设水平距离大于所述第二预设水平距离或第一预设水平距离小于所述第二预设水平距离。所述微波探测模块100的具体实施方式仅仅作为示例，不能成为对本实用新型所述微波探测模块100和其探测方法的内容和范围的限制。

进一步参考本实用新型的说明书附图之图12所示，在本实用新型所述的微波探测模块100的一个较佳的实施例中，所述微波探测模块100的所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240分别与所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140保持对齐，且所述辐射源20在宽度方向的两侧面被内凹地设置，即所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240被内凹地设置，相应地所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140中，与所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240相对应的部分也被内凹地设置，如此以在维持所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240分别与所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140保持对齐的同时，增强了所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240的两端的电流密度分布，从而进一步提高了所述辐射源20自身耦合的能量占比，进而能够相较于附图5所示意的所述微波探测模块的较佳实施例，在所述辐射源20的长度方向进一步窄化所述探测面101。

具体地，在本实用新型的这个较佳实施例中，所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240为内凹曲面，所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140的与所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240相对应的部分也为内凹曲面，如此以维持所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240分别与所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140保持对齐。

特别地，参考本实用新型的说明书附图之图3至图5、图8、图9、图12及图13所示，在本实用新型的这些实施例中，所述辐射源20进一步具有一接地点202，其中所述辐射源20于所述接地点202被电性连接于所述振荡电路的地电位，以降低所述微波探测模块100的阻抗，从而以提高所述微波探测模块100的品质因数(即Q值)的方式提高所述微波探测模块的抗干扰性能。

具体地，在本实用新型的这些实施例中，所述辐射源20于其物理中心点被接地，即所述接地点202位于所述辐射源20的物理中心点，如此以在降低所述微波探测模块100的阻抗的同时，有利于维持所述辐射源20于所述馈电点201被馈电时的电流密度分布，从而有利于保障所述微波探测模块100的辐射增益。

值得一提的是，所述辐射源20于所述接地点202被以金属化过孔工艺形成的一金属化孔203与所述参考地10电性相连而形成所述辐射源20于其物理中心点被接地的状态，有利于简化所述辐射源20的接地线路结构和提高所述辐射源20的接地线路结构的一致性和稳定性。

相较于现有的所述微波探测模块，本实用新型所述的微波探测模块100的所述参考地10的尺寸被减小了。具体地，所述参考地10的所述第一极化面110和所述第二极化面120的长度被减小了，以使得所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140分别接近或是贴合所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240，且所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140分别与所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240之间存在所述预设距离。在所述振荡电路产生的所述微波激励信号自所述馈电点201被接入所述辐射源20时，所述辐射源20与所述参考地10相互耦合的能量占比减弱，所述辐射源20自身耦合的能量占比增强。进一步地，通过所述参考地10和所述辐射源20相互作用产生的所述探测微波的波束被改变，进而能够形成狭长的所述探测面101。也就是说，本实用新型所述的微波探测模块100的所述参考地10的尺寸相较于现有的所述微波探测模块的所述参考地尺寸被减小，有利于减小所述微波探测模块100的体积，实现所述微波探测模块100微型化，以在后续节省所述微波探测模块100的安装空间。并且，通过减小所述微波探测模块100的所述参考地10的方式有利于节省所述微波探测模块100的物料成本，进而降低所述微波探测模块100的制造成本。

进一步地，所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一极化面11和所述辐射源20的所述第三极化面21之间存在一第三预设水平距离，定义所述第三预设水平距离参数为M，所述参数M的范围为：M≥λ/32。

所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第二极化面12和所述辐射源20的所述第四极化面22之间存在一第四预设水平距离，定义所述第四预设水平距离参数为N，其中所述参数N的范围为：N≥λ/32。

值得一提的是，所述参数M和所述参数N应当满足M≥λ/32或N≥λ/32，以保障所述微波探测模块100的辐射增益，其中可选地，所述参数M≥λ/32且所述参数N≤λ/32，如此以有利于在所述辐射源20的极化方向通过减小所述参考地10的所述第一极化面11和所述辐射源20的所述第三极化面21之间的所述第三预设水平距离的方式，减小所述参考地10的尺寸而减小所述微波探测模块100的尺寸，同时藉由所述辐射源20和所述参考地10在所述辐射源20的初始极化方向的所述第三预设水平距离满足M≥λ/32的结构基础，保障所述辐射源20在所述馈电点201被馈电时能够产生初始的极化方向而与所述参考地10相互作用地辐射探测微波，从而保障所述微波探测模块100的辐射增益。也就是说，在本实用新型的一些实施例中，所述参数M或所述参数N的取值允许为0，本实用新型对此不做限制。

优选地，定义所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一极化面11和所述第二极化面12的长度尺寸参数为A，所述参数A的数值范围为：A≥λ/8，所述参考地10的所述第一侧面13和所述第二侧面14的长度尺寸参数为B，所述参数B的数值范围为：B≥λ/8。

优选地，所述微波探测模块100的所述辐射源20的所述第三极化面21和所述第四极化面22的长度尺寸参数为C，所述参数C的数值范围为：C≥λ/8，所述辐射源20的所述第一侧面130和所述第二侧面140的长度尺寸参数为D，所述参数D的范围为：D≥λ/8。

值得一提的是，尽管所述微波探测模块100的整体尺寸被减小，且所述微波探测模块100向外辐射的所述探测微波形成的所述探测面101的形状被改变，但是所述微波探测模块100产生的所述探测微波的辐射距离和强度基本保持不变，保障了所述微波探测模块100的灵敏度和探测准确性。

在本实用新型的所述微波探测模块100其他的实施例中，对应于说明书附图之图13所示，通过在所述辐射源20的宽度方向增大所述辐射源20的尺寸的方式使得所述微波探测模块100产生的所述探测微波能够形成狭长的所述探测面。具体来说，所述辐射源20的所述第三极化面210和所述第四极化面220的长度被增长，并使得所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240分别接近或是对齐于所述参考地10的所述第一侧面130和第二侧面240，且所述参考地10的所述第一侧面130和所述第二侧面140分别与所述辐射源20的所述第三侧面230和所述第四侧面240之间存在所述预设距离。在所述振荡电路产生的所述微波激励信号自所述馈电点201被接入所述辐射源20时，所述辐射源20与所述参考地10相互耦合的能量占比减弱，所述辐射源20自身耦合的能量占比增强。进一步地，通过所述参考地10和所述辐射源20相互作用产生的所述探测微波的波束被改变，进而能够形成狭长的所述探测面101。

根据本实用新型的另一个方面，本实用新型进一步提供所述微波探测模块100的探测方法，其中所述探测方法包括如下步骤：

(a)所述微波探测模块100朝向所述目标区域200内产生所述探测微波；和

(b)形成狭长的所述探测面101于所述目标区域200。

具体来说，狭长的所述探测面101的长度远远大于所述探测面101的宽度，以使得所述微波探测模块100被适用于探测狭长的所述目标区域200。

具体来说，在上述方法中，所述辐射源20与所述参考地10之间相互耦合的能量占比被减小，所述辐射源20自身耦合的能量占比被增强。在所述辐射源20和所述参考地10相互作用后，所述微波探测模块100产生的所述探测微波能够形成狭长的所述探测面101B。

在本实用新型所述微波探测模块100的探测方法的这个具体的实施例中，所述探测方法进一步包括步骤：保持所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第一侧面130与所述辐射源20的所述第三侧面230之间的所述第一预设水平距离大于等于0且小于等于λ/32。并且，所述探测方法进一步包括步骤：保持所述微波探测模块100的所述参考地10的所述第二侧面140与所述辐射源20的所述第四侧面240之间的第二预设水平距离大于等于0且小于等于λ/32。

进一步地，在所述步骤(b)中，进一步包括步骤：保持所述探测微波的所述探测面101的宽度接近或是等于狭长的所述目标区域200的宽度。例如但不限于，所述探测微波的所述探测面101A的宽度与所述狭窄过道200A的宽度保持一致，所述微波探测模块100能够更大面积地覆盖于所述狭窄过道200A。并且，狭长的所述探测面101A在长度方向上不会超过所述狭窄过道200A，即所述微波探测模块100产生的所述探测微波不会覆盖所述狭窄过道200A周边的非目标区域。这样，处于所述非目标区域内的用户的活动状况不会干扰所述微波探测模块100的探测结果。因此，所述微波探测模块100在获得最大的探测范围的同时，所述微波探测模块100具有良好的抗干扰性能。

本领域的技术人员可以理解的是，以上实施例仅为举例，其中不同实施例的特征可以相互组合，以得到根据本实用新型揭露的内容很容易想到但是在附图中没有明确指出的实施方式。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本实用新型的实施例只作为举例而并不限制本实用新型。本实用新型的目的已经完整并有效地实现。本实用新型的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本实用新型的实施方式可以有任何变形或修改。

Claims (14)

1.一微波探测模块，其特征在于，包括：

一参考地，所述参考地具有一第一极化面、一第一侧面、相对于所述第一极化面的一第二极化面以及相对于所述第一侧面的一第二侧面；和

一辐射源，其中所述辐射源具有一馈电点，所述馈电点偏离于所述辐射源的物理中心点，所述辐射源具有一第三极化面、相对于所述第三极化面的一第四极化面、一第三侧面以及相对于所述第三侧面的一第四侧面，其中所述第三极化面为所述辐射源在所述辐射源的物理中心点至所述馈电点的连线方向的侧面，所述第四极化面为所述辐射源在所述辐射源的馈电点至物理中心点的连线方向的侧面，所述辐射源以所述第三极化面、所述第四极化面、所述第三侧面以及所述第四侧面分别对应于所述参考地的所述第一极化面、所述第二极化面、所述第一侧面以及所述第二侧面的方式被间隔地保持于所述参考地的一侧，并在所述辐射源和所述参考地之间形成一辐射缝隙，所述参考地的所述第一侧面与所述辐射源的所述第三侧面之间存在一第一预设水平距离，所述参考地的所述第二侧面与所述辐射源的所述第四侧面之间存在一第二预设水平距离，所述微波探测模块产生的一探测微波能够形成狭长的一探测面。

2.根据权利要求1所述的微波探测模块，其中所述参考地的所述第一侧面与所述辐射源的所述第三侧面之间的第一预设水平距离参数为K，其中所述参数K的数值范围为：0≤K≤1/32λ，其中λ为所述微波探测模块100所发射的探测微波的波长参数。

3.根据权利要求2所述的微波探测模块，其中所述参考地的所述第二侧面与所述辐射源的所述第四侧面之间的所述第二预设水平距离参数为L，其中所述参数L的数值范围为：0≤L≤1/32λ。

4.根据权利要求3所述的微波探测模块，其中所述微波探测模块的所述参考地的所述第一极化面和所述辐射源的所述第三极化面之间存在一第三预设水平距离，所述第三预设水平距离参数为M，其中所述参考地的所述第二极化面和所述辐射源的所述第四极化面之间存在一第四预设水平距离，定义所述第四预设水平距离为一参数N，其中所述参数M和所述参数N的范围满足为：M≥1/32λ或N≥1/32λ。

5.根据权利要求4所述的微波探测模块，其中所述参考地的所述第一极化面和所述第二极化面的长度尺寸参数为A，所述参数A的数值范围为：A≥λ/8。

6.根据权利要求5所述的微波探测模块，其中所述参考地的所述第一侧面和所述第二侧面的长度尺寸参数为B，所述参数B的数值范围为：B≥λ/8。

7.根据权利要求6所述的微波探测模块，其中所述辐射源的所述第三极化面和所述第四极化面的长度尺寸参数C，所述参数C的数值范围为：C≥λ/8。

8.根据权利要求7所述的微波探测模块，其中所述辐射源的所述第一侧面和所述第二侧面的长度尺寸参数为D，所述参数D的范围为：D≥λ/8。

9.根据权利要求1至8中任一所述的微波探测模块，其中所述辐射源进一步具有一接地点，其中所述辐射源于所述接地点被接地。

10.根据权利要求9所述的微波探测模块，其中所述接地点位于所述辐射源的物理中心点。

11.根据权利要求10所述的微波探测模块，其中所述辐射源于所述接地点经以金属化过孔工艺形成的一金属化孔被接地。

12.根据权利要求9中任一所述的微波探测模块，其中所述辐射源的所述第三侧面和所述第四侧面分别与所述参考地的所述第一侧面和所述第二侧面保持对齐，即所述参数K和所述参数L的数值满足K＝0且L＝0。

13.根据权利要求12所述的微波探测模块，其中所述辐射源的所述第三侧面和所述第四侧面被内凹地设置，相应所述参考地的所述第一侧面中与所述辐射源的所述第三侧面相对应的部分，以及所述第二侧面中与所述辐射源的所述第四侧面相对应的部分也被内凹地设置。

14.根据权利要求13所述的微波探测模块，其中所述辐射源的所述第三侧面和所述第四侧面为内凹曲面，所述参考地的所述第一侧面和所述第二侧面的与所述辐射源的所述第三侧面和所述第四侧面相对应的部分也为内凹曲面。

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