CN111128657A - 一种法拉第真空移动装置 - Google Patents
一种法拉第真空移动装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111128657A CN111128657A CN201811309624.6A CN201811309624A CN111128657A CN 111128657 A CN111128657 A CN 111128657A CN 201811309624 A CN201811309624 A CN 201811309624A CN 111128657 A CN111128657 A CN 111128657A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- faraday
- vacuum
- base
- linear
- stroke
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims 5
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 abstract description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/244—Detectors; Associated components or circuits therefor
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
本发明公开了一种法拉第真空移动装置。该装置主要包括:法拉第真空腔体(1),法拉第底座(2),移动组件(3)。整个装置主要由三部分构成,如图1所示:法拉第真空腔体(1),为法拉第提供真空环境。法拉第底座(2)为整个移动装置提供支撑。移动组件(3)为法拉第提供动力,并反馈实时位置。其中直线电机为法拉第提供动力,直线导轨及滑块提供较高精度的移动及支撑,限位挡块防止滑块超过行程脱落,光栅尺及编码器实时反馈准确的位置信息,限位开关磁铁提供限位,防止直线电机超过预设行程。本发明涉及离子注入装置,隶属于半导体制造领域。
Description
技术领域
本发明涉及一种半导体器件制造控制系统,尤其涉及离子注入机法拉第真空移动装置,该装置是低能大束流离子注入装备中的光路检测关键装置之一。
背景技术
随着半导体工艺的发展,且随着特质线宽的缩小,工艺复杂程度的提高,束流的均匀性和稳定性对于离子注入系统愈发重要,已成为器件成败与否的重要关键。控制束流的均匀性和稳定性,需要有一个束流测量的装置,实时对于束流状态进行分析与检测,确保注入工艺的质量与稳定。其中精确测量的法拉第装置非常重要,而提高测量精度的一个很重要的前提就是需要一个运动稳定,直线度高,精确定位的移动装置。
发明内容
1.本发明公开了一种法拉第真空移动装置。该装置主要包括:法拉第真空腔体(1),法拉第底座(2),限位挡块(4),直线导轨及滑块(5),光栅尺及编码器(6),直线电机(7),限位开关磁铁(8)。
2.法拉第真空移动装置分为三部分,法拉第真空腔体(1),为法拉第提供真空环境。法拉第底座(2)为整个移动装置提供支撑。移动组件(3)为法拉第提供动力,并反馈实时位置。
3.法拉第真空移动装置依靠直线电机(7)为法拉第提供动力,定子固定在底座(2),动子与法拉第支持手臂相连。
4.法拉第真空移动装置,借助直线导轨及滑块(5)提供较高精度的移动及支撑,限位挡块(4)能够放置滑块超出行程脱落。
5.拉第真空移动装置,使用光栅尺及编码器(6)实时反馈准确位置信息,限位开关磁铁(8)提供限位,能够防止直线电机超过预设行程。本发明具有如下显著优点:
1.功能明确,针对性强。
2.性能稳定,测量精度高,可达1μm。
3.回零准确,重复性好。
4.行程大,最长可达460mm。
附图说明
图1是本发明的整体结构示意图。
图2是本发明的移动组件示意图。
1-法拉第真空腔体,2-法拉第底座,3-移动组件,4-限位挡块,5-直线导轨及滑块,6-光栅尺及编码器,7-直线电机,8-限位开关磁铁。
具体实施方式
下面结合附图1到附图2对本发明作进一步的介绍,但不作为对本发明的限定.
本发明公开了一种法拉第真空移动装置。该装置主要包括:法拉第真空腔体(1),法拉第底座(2),限位挡块(4),直线导轨及滑块(5),光栅尺及编码器(6),直线电机(7),限位开关磁铁(8)。
具体实施步骤如下:
整个装置分为三部分,法拉第真空腔体(1),为法拉第提供真空环境。法拉第底座(2)为整个移动装置提供支撑。移动组件(3)为法拉第提供动力,并反馈实时位置。。
直线电机(7)通过转接件与法拉第支持手臂连接,直线电机定子固定在法拉第底座(2)上,动子与法拉第手臂相连。法拉第手臂相连同时也与两个滑块相连,两个滑块提供了支撑的同时,也保证了运动的直线度。
光栅尺及编码器(6)在法拉第支持手臂运动时能够实时反馈准确的位置信息,当其移动到最右侧,限位开关磁铁(8)会被激活,触发回零信号,该位置为行程的起点。若直线电机继续移动,滑块会撞到右侧限位挡块(4)而停止运动,达到机械限位的效果。当电机向左移动,达到编码器设定的行程后,即可停止移动,若由于某些原因没有停止,左侧限位挡块(4)也可阻止滑块超出机械行程。
以上所述仅为本发明的实施例,并非用于限定本发明的保护范围,而是用于说明本发明。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.本发明公开了一种法拉第真空移动装置。该装置主要包括:法拉第真空腔体,法拉第底座,移动组件,限位挡块,直线导轨及滑块,光栅尺及编码器,直线电机,限位开关磁铁。特征在于:该装置通过直线电机驱动,由导轨及滑块支撑限位,借助光栅尺及编码器反馈位置信息来测量离子束。
2.根据权利要求1的法拉第真空移动装置,其特征是整个装置分为三部分,法拉第真空腔体,为法拉第提供真空环境。法拉第底座为整个移动装置提供支撑。移动组件为法拉第提供动力,并反馈实时位置。
3.根据权利要求1的法拉第真空移动装置,其特征是直线电机为法拉第提供动力,定子固定在底座,动子与法拉第支持手臂相连。
4.根据权利要求1的法拉第真空移动装置,其特征是直线导轨及滑块提供较高精度的移动及支撑,限位挡块能够防止滑块超出行程脱落。
5.根据权利要求1的法拉第真空移动装置,其特征是光栅尺及编码器实时反馈准确的位置信息,限位开关磁铁提供限位及回零,防止直线电机超过预设行程。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811309624.6A CN111128657A (zh) | 2018-10-31 | 2018-10-31 | 一种法拉第真空移动装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811309624.6A CN111128657A (zh) | 2018-10-31 | 2018-10-31 | 一种法拉第真空移动装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111128657A true CN111128657A (zh) | 2020-05-08 |
Family
ID=70494519
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201811309624.6A Pending CN111128657A (zh) | 2018-10-31 | 2018-10-31 | 一种法拉第真空移动装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111128657A (zh) |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1054501A1 (en) * | 1999-05-18 | 2000-11-22 | Nippon Thompson Co., Ltd. | Slider unit with built-in moving-coil linear motor |
US6300755B1 (en) * | 1999-05-26 | 2001-10-09 | Regents Of The University Of California | Enhanced modified faraday cup for determination of power density distribution of electron beams |
JP2004135385A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Yaskawa Electric Corp | リニアモータ界磁部およびそれを用いたリニアモータ装置 |
WO2005013313A1 (en) * | 2003-08-01 | 2005-02-10 | Secretary, Department Of Atomic Energy | Device for measuring and quantitative profiling of charged particle beams |
CN2779602Y (zh) * | 2005-03-31 | 2006-05-10 | 北京中科信电子装备有限公司 | 一种具有平行束测量作用的法拉第装置 |
US20080073579A1 (en) * | 2006-05-23 | 2008-03-27 | Nissin Ion Equipment Co., Ltd. | Ion beam measuring method and ion implanting apparatus |
CN102566499A (zh) * | 2010-12-24 | 2012-07-11 | 北大方正集团有限公司 | 直线往复移动设备及其定位控制方法 |
CN203908493U (zh) * | 2014-01-24 | 2014-10-29 | 嘉兴华嶺机电设备有限公司 | 一种高效光栅尺检测平台 |
CN105470085A (zh) * | 2015-12-04 | 2016-04-06 | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 | 一种高真空内移动测束法拉第驱动装置 |
CN106283430A (zh) * | 2015-06-03 | 2017-01-04 | 天津宝盈电脑机械有限公司 | 导轨限位调节外延装置 |
CN206441692U (zh) * | 2016-12-09 | 2017-08-25 | 上海凯世通半导体股份有限公司 | 束流检测装置 |
KR20200012336A (ko) * | 2018-07-27 | 2020-02-05 | 김종필 | 반도체 산업용 초정밀 가공플레이트 스테이지 |
-
2018
- 2018-10-31 CN CN201811309624.6A patent/CN111128657A/zh active Pending
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1054501A1 (en) * | 1999-05-18 | 2000-11-22 | Nippon Thompson Co., Ltd. | Slider unit with built-in moving-coil linear motor |
US6300755B1 (en) * | 1999-05-26 | 2001-10-09 | Regents Of The University Of California | Enhanced modified faraday cup for determination of power density distribution of electron beams |
JP2004135385A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Yaskawa Electric Corp | リニアモータ界磁部およびそれを用いたリニアモータ装置 |
WO2005013313A1 (en) * | 2003-08-01 | 2005-02-10 | Secretary, Department Of Atomic Energy | Device for measuring and quantitative profiling of charged particle beams |
CN2779602Y (zh) * | 2005-03-31 | 2006-05-10 | 北京中科信电子装备有限公司 | 一种具有平行束测量作用的法拉第装置 |
US20080073579A1 (en) * | 2006-05-23 | 2008-03-27 | Nissin Ion Equipment Co., Ltd. | Ion beam measuring method and ion implanting apparatus |
CN102566499A (zh) * | 2010-12-24 | 2012-07-11 | 北大方正集团有限公司 | 直线往复移动设备及其定位控制方法 |
CN203908493U (zh) * | 2014-01-24 | 2014-10-29 | 嘉兴华嶺机电设备有限公司 | 一种高效光栅尺检测平台 |
CN106283430A (zh) * | 2015-06-03 | 2017-01-04 | 天津宝盈电脑机械有限公司 | 导轨限位调节外延装置 |
CN105470085A (zh) * | 2015-12-04 | 2016-04-06 | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 | 一种高真空内移动测束法拉第驱动装置 |
CN206441692U (zh) * | 2016-12-09 | 2017-08-25 | 上海凯世通半导体股份有限公司 | 束流检测装置 |
KR20200012336A (ko) * | 2018-07-27 | 2020-02-05 | 김종필 | 반도체 산업용 초정밀 가공플레이트 스테이지 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101780947B1 (ko) | 자석강 조립 장치 | |
CN202267466U (zh) | 一种位移传感器性能检测设备 | |
CN102566499A (zh) | 直线往复移动设备及其定位控制方法 | |
US7415758B2 (en) | Device to press the shaft of a rotor into a stator housing | |
CN110834145B (zh) | 用于高功率激光切割头实现全闭环调焦的控制系统 | |
CN102200698B (zh) | 一种光刻机硅片台线缆台 | |
CN103171914A (zh) | 一种可自动调宽的电路板送板固定轨道 | |
CN111128657A (zh) | 一种法拉第真空移动装置 | |
CN216161693U (zh) | 一种晶圆智能量测载台 | |
CN110646450A (zh) | 光阑装置 | |
WO2012101608A1 (en) | Machine for machining components made of wood or the like | |
CN110190324A (zh) | 电芯入壳装置及电池组装系统 | |
CN107263361B (zh) | 一种定位台 | |
CN109038995A (zh) | 直线电机及其控制方法 | |
CN201217153Y (zh) | 一种无间隙直线导轨 | |
CN103624557A (zh) | 一种可重复定位二维离线调整工作台 | |
CN109520423B (zh) | 激光检测装置 | |
CN112816507A (zh) | 一种多样品环境切换的高精度互换系统及方法 | |
CN106965038B (zh) | 一种高精度位置触发设定装置 | |
CN103438994A (zh) | 紫外光辐射照度自动测量装置 | |
CN210128688U (zh) | 激光检测装置 | |
CN221006221U (zh) | 一种大理石直线电机检测平台 | |
CN202622474U (zh) | 一种机床行程微调控制装置 | |
CN103900482B (zh) | 注塑机合模推力座直线位移精确测量装置及其安装方法 | |
CN211162409U (zh) | 一种用于玻璃激光打标设备中的场镜升降机构 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |