CN111123071A - 一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置 - Google Patents

一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN111123071A
CN111123071A CN201911319784.3A CN201911319784A CN111123071A CN 111123071 A CN111123071 A CN 111123071A CN 201911319784 A CN201911319784 A CN 201911319784A CN 111123071 A CN111123071 A CN 111123071A
Authority
CN
China
Prior art keywords
point laser
fixedly arranged
chip
linear motor
shielding box
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201911319784.3A
Other languages
English (en)
Inventor
李海滨
杜磊
安焘
徐九八
张策
王仕卫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Smart Cloud Measurement Information Technology Co ltd
Jiangxi Smart Cloud Security Testing Center Co Ltd
Original Assignee
Beijing Smart Cloud Measurement Information Technology Co ltd
Jiangxi Smart Cloud Security Testing Center Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Smart Cloud Measurement Information Technology Co ltd, Jiangxi Smart Cloud Security Testing Center Co Ltd filed Critical Beijing Smart Cloud Measurement Information Technology Co ltd
Priority to CN201911319784.3A priority Critical patent/CN111123071A/zh
Publication of CN111123071A publication Critical patent/CN111123071A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2862—Chambers or ovens; Tanks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明公开了一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，具体涉及芯片安全检测技术领域，包括屏蔽箱，所述屏蔽箱的内侧壁固定设有第一直线电机，所述第一直线电机的一侧设有测试组件，所述屏蔽箱沿横向的两侧内侧壁均固定安装有安装架，且安装架上固定设有基座，所述第一直线电机靠近屏蔽箱内底壁的一端固定设有移动台；所述测试组件包括固定安装在第一直线电机上的单点激光主机，所述单点激光主机的顶部固定设有显微镜，所述显微镜的顶端固定设有激光源，且显微镜内置CCD相机和冷光源。本发明中，该测试装置的集成性较高，测试待测芯片时操作简单，保证芯片安全操作的顺利进行。

Description

一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置
技术领域
本发明实施例涉及芯片安全检测技术领域，具体涉及一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置。
背景技术
随着我国经济的发展，信息产业得到了长足的进步，集成电路时重要的组成环节，集成电路设计的安全与否，直接决定了信息产业的是否安全，而假劣的集成电路芯片呈现越来越泛滥的趋势，危害着各行各业，给信息产业带来极大的经济损失，进而对于芯片安全检测技术的伸入研究有利于排除大量假冒的集成电路芯片，保证信息产业的健康发展；
单点激光攻击注入测试是芯片安全检测的项目之一，在被测样品芯片的特定位置注入能量、持续时间等参数可调的精准激光束，可以导致芯片出现特定错误，利用该错误可以有目的的修改程序流程，篡改存储器读写内容，甚至获取密钥等敏感信息，这样，就可知被测样品芯片存在的安全漏洞，促进被测样品芯片安全质量的改进。
现有技术存在以下不足：现有的单点激光攻击注入测试设备的结构的集成性较差，不易测试时的操作，影响实际芯片检测效率的提高。
发明内容
为此，本发明实施例提供一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，通过设置的屏蔽箱，测试组件置于屏蔽箱内部，整体结构的集成性较高，待测芯片置于载物台上，利用移动台驱动、显微镜观察使得载物台上的待测芯片的位置可根据测试的需求进行调节，激光源产生激光束作用至待测芯片上，通过服务器可观察得知该待测芯片在特定参数下产生的错误参数，利用该错误可以有目的的修改程序流程，篡改存储器读写内容，甚至获取密钥等敏感信息，这样，就可知被测样品芯片存在的安全漏洞，促进被测样品芯片安全质量的改进，该测试装置的集成性较高，测试待测芯片时操作简单，保证芯片安全操作的顺利进行，以解决现有的单点激光攻击注入测试设备的结构的集成性较差，不易测试时的操作，影响实际芯片检测效率的提高的问题。
为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，包括屏蔽箱，所述屏蔽箱的内侧壁固定设有第一直线电机，所述第一直线电机的一侧设有测试组件，所述屏蔽箱沿横向的两侧内侧壁均固定安装有安装架，且安装架上固定设有基座，所述第一直线电机靠近屏蔽箱内底壁的一端固定设有移动台；
所述测试组件包括固定安装在第一直线电机上的单点激光主机，所述单点激光主机的顶部固定设有显微镜，所述显微镜的顶端固定设有激光源，且显微镜内置CCD相机和冷光源，所述基座的数量设置有四个，其中三个所述基座上置有服务器、滤波器以及示波器，所述单点激光主机通过导线与滤波器相连接，所述滤波器通过导线与示波器相连接，所述激光源通过导线与单点激光主机相连，所述CCD相机、滤波器均通过导线与服务器相连；
所述移动台包括横向移动组件和径向移动组件，所述横向移动组件包括螺栓固定安装在第一直线电机上的安装脚，所述安装脚的一端焊接有第一基板，所述第一基板的上表面固定设有第二直线电机，所述径向移动组件包括嵌装在第二直线电机上的滑座，所述滑座的上表面焊接有第二基板，所述第二基板的顶端固定设有两个固定座，两个所述固定座之间固定设有丝杆，且丝杆的端部固定连接有电机，所述丝杆上套设有丝母，所述丝母上表面固定设有两个承接台，两个所述承接台之间设有第一调节螺栓，且两个承接台之间设有单点激光辅机，所述单点激光辅机与单点激光主机通过导线相连，且单点激光辅机通过导线与示波器相连。
进一步地，所述丝母的底端焊接有底板，所述底板与靠近丝母的一个承接台之间固定设有连接弹簧。
进一步地，位于所述屏蔽箱同一侧的两个所述基座之间固定安装有导杆。
进一步地，所述安装架的外侧壁固定设有安装槽，且安装槽的外侧壁上开设有若干个呈相互平行的嵌槽。
进一步地，所述单点激光辅机靠近第一直线电机的一侧外侧壁固定设有载物台，测试芯片置于载物台上。
进一步地，所述屏蔽箱的底部外表面靠近四个拐角处均固定安装有滑轮。
进一步地，所述屏蔽箱的底部外表面分别靠近四个滑轮处均设有第二调节螺栓，所述第二调节螺栓的底端固定设有支撑腿，且第二调节螺栓与屏蔽箱的连接处固定设有螺母。
进一步地，所述屏蔽箱的内部固定设有电磁密封衬垫。
本发明实施例具有如下优点：
1、通过设置的屏蔽箱，测试组件置于屏蔽箱内部，整体结构的集成性较高，待测芯片置于载物台上，利用移动台驱动、显微镜观察使得载物台上的待测芯片的位置可根据测试的需求进行调节，激光源产生激光束作用至待测芯片上，通过服务器可观察得知该待测芯片在特定参数下产生的错误参数，利用该错误可以有目的的修改程序流程，篡改存储器读写内容，甚至获取密钥等敏感信息，这样，就可知被测样品芯片存在的安全漏洞，促进被测样品芯片安全质量的改进，该测试装置的集成性较高，测试待测芯片时操作简单，保证芯片安全操作的顺利进行；
2、通过设置的涡第二调节螺栓和滑轮，屏蔽箱可通过滑轮进行位置移动，同时，拧动屏蔽箱底端的第二调节螺栓使其与螺母产生转动时，第二调节螺栓底端的支撑腿位置伸长，向上顶起整个屏蔽箱，使得滑轮处于悬空状态，整个屏蔽箱便不会产生位置移动，整个结构灵活性较高，方便芯片安全测试装置的位置移动。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
图1为本发明提供的炼油罐的主视图；
图2为本发明提供的系统框图；
图3为本发明提供的测试组件的局部结构示意图；
图4为本发明提供的横向移动组件的立体图；
图5为本发明提供的径向移动组件的侧视图；
图6为本发明提供的安装架的立体图；
图7为本发明提供的图1中A部的结构放大图；
图中：1、屏蔽箱；2、第一直线电机；3、单点激光主机；4、显微镜；5、服务器；6、滤波器；7、示波器；8、激光源；9、单点激光辅机；10、载物台；11、移动台；1101、第一基板；1102、第二直线电机；1103、安装脚；1104、滑座；1105、第二基板；1106、固定座；1107、电机；1108、丝杆；1109、丝母；1110、底板；1111、连接弹簧；1112、承接台；1113、第一调节螺栓；12、CCD相机；13、冷光源；14、安装架；15、基座；16、导杆；17、安装槽；18、嵌槽；19、电磁密封衬垫；20、滑轮；21、螺母；22、支撑腿；23、第二调节螺栓。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
参照说明书附图1-6，该实施例的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，包括屏蔽箱1，所述屏蔽箱1的内侧壁固定设有第一直线电机2，所述第一直线电机2的一侧设有测试组件，所述屏蔽箱1沿横向的两侧内侧壁均固定安装有安装架14，且安装架14上固定设有基座15，所述第一直线电机2靠近屏蔽箱1内底壁的一端固定设有移动台11；
所述测试组件包括固定安装在第一直线电机2上的单点激光主机3，所述单点激光主机3的顶部固定设有显微镜4，所述显微镜4的顶端固定设有激光源8，且显微镜4内置CCD相机12和冷光源13，所述基座15的数量设置有四个，其中三个所述基座15上置有服务器5、滤波器6以及示波器7，所述单点激光主机3通过导线与滤波器6相连接，所述滤波器6通过导线与示波器7相连接，所述激光源8通过导线与单点激光主机3相连，所述CCD相机12、滤波器6均通过导线与服务器5相连；
所述移动台11包括横向移动组件和径向移动组件，所述横向移动组件包括螺栓固定安装在第一直线电机2上的安装脚1103，所述安装脚1103的一端焊接有第一基板1101，所述第一基板1101的上表面固定设有第二直线电机1102，所述径向移动组件包括嵌装在第二直线电机1102上的滑座1104，所述滑座1104的上表面焊接有第二基板1105，所述第二基板1105的顶端固定设有两个固定座1106，两个所述固定座1106之间固定设有丝杆1108，且丝杆1108的端部固定连接有电机1107，所述丝杆1108上套设有丝母1109，所述丝母1109上表面固定设有两个承接台1112，两个所述承接台1112之间设有第一调节螺栓1113，且两个承接台1112之间设有单点激光辅机9，所述单点激光辅机9与单点激光主机3通过导线相连，且单点激光辅机9通过导线与示波器7相连。
进一步地，所述丝母1109的底端焊接有底板1110，所述底板1110与靠近丝母1109的一个承接台1112之间固定设有连接弹簧1111，保证丝母1109整体结构的稳定性。
进一步地，位于所述屏蔽箱1同一侧的两个所述基座15之间固定安装有导杆16，方便布线。
进一步地，所述安装架14的外侧壁固定设有安装槽17，且安装槽17的外侧壁上开设有若干个呈相互平行的嵌槽18，用于安装基座15。
进一步地，所述单点激光辅机9靠近第一直线电机2的一侧外侧壁固定设有载物台10，测试芯片置于载物台10上。
实施场景具体为：本发明使用时，整个测试组件放置于屏蔽箱1的内部，屏蔽箱1两侧内侧壁上通过安装架14安装的基座15用来放置服务器5、滤波器6及示波器7，将待测芯片置于载物台10上，通过第二直线电机1102的驱动往单点激光主机3的底端靠近，直至到达单点激光主机3的底部时，单点激光主机3与显微镜4固定安装在第一直线电机2并且可实现垂直的位置移动，与服务器5连接可自动进行激光束距离的调节，此时，使用者通过显微镜4观察此时待测芯片的精确位置，随后，电机1107驱动丝杆1108转动，丝母1109带动其上的单点激光辅机9及载物台10的位置调整至与单点激光主机3的中轴线重合的位置下，此时，激光源8产生激光束作用至待测芯片上，由服务器5设置激光束的能量、持续时间等参数，显微镜4内置CCD相机12将待测芯片上的光学影像转化为数字信号并上传至服务器5上，单点激光主机3将待测芯片上频谱信息传输至滤波器6中分析以及示波器7中将电信号转换成看得见的图像传输至服务器5上供使用者分析待测新芯片上电现象的变化过程，通过服务器5可观察得知该待测芯片在特定参数下产生的错误参数，利用该错误可以有目的的修改程序流程，篡改存储器读写内容，甚至获取密钥等敏感信息，这样，就可知被测样品芯片存在的安全漏洞，促进被测样品芯片安全质量的改进，该测试装置的集成性较高，测试待测芯片时操作简单，保证芯片安全操作的顺利进行。
参照说明书附图1、7，该实施例的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，所述屏蔽箱1的底部外表面靠近四个拐角处均固定安装有滑轮20。
进一步地，所述屏蔽箱1的底部外表面分别靠近四个滑轮20处均设有第二调节螺栓23，所述第二调节螺栓23的底端固定设有支撑腿22，且第二调节螺栓23与屏蔽箱1的连接处固定设有螺母21。
进一步地，所述屏蔽箱1的内部固定设有电磁密封衬垫19，使得屏蔽箱1内部的芯片安全测试设备不受其他设置的电磁干扰，保证待测芯片测试结果的准确性。
实施场景具体为：屏蔽箱1整体通过滑轮20可进行位置的移动，当需要将屏蔽箱1固定在一个位置不动时，只需拧动屏蔽箱1底端的第二调节螺栓23使其与螺母21产生转动时，第二调节螺栓23底端的支撑腿22位置伸长，向上顶起整个屏蔽箱1，使得滑轮20处于悬空状态，此时，整个屏蔽箱1便不会产生位置移动了，若想使得屏蔽箱1再次移动只要按照上述操作方法相反操作即可，整个结构灵活性较高，方便芯片安全测试装置的位置移动。
工作原理：
参照说明书附图1-6，使用者通过显微镜4观察此时待测芯片的精确位置，随后，电机1107驱动丝杆1108转动，丝母1109带动其上的单点激光辅机9及载物台10的位置调整至与单点激光主机3的中轴线重合的位置下，此时，激光源8产生激光束作用至待测芯片上，由服务器5设置激光束的能量、持续时间等参数，显微镜4内置CCD相机12将待测芯片上的光学影像转化为数字信号并上传至服务器5上，单点激光主机3将待测芯片上频谱信息传输至滤波器6中分析以及示波器7中将电信号转换成看得见的图像传输至服务器5上供使用者分析待测新芯片上电现象的变化过程，通过服务器5可观察得知该待测芯片在特定参数下产生的错误参数，利用该错误可以有目的的修改程序流程，篡改存储器读写内容，甚至获取密钥等敏感信息，这样，就可知被测样品芯片存在的安全漏洞，促进被测样品芯片安全质量的改进，该测试装置的集成性较高，测试待测芯片时操作简单，保证芯片安全操作的顺利进行。
参照说明书附图1、7，当需要将屏蔽箱1固定在一个位置不动时，只需拧动屏蔽箱1底端的第二调节螺栓23使其与螺母21产生转动时，第二调节螺栓23底端的支撑腿22位置伸长，向上顶起整个屏蔽箱1，使得滑轮20处于悬空状态，此时，整个屏蔽箱1便不会产生位置移动了，若想使得屏蔽箱1再次移动只要按照上述操作方法相反操作即可，整个结构灵活性较高，方便芯片安全测试装置的位置移动。
虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。

Claims (8)

1.一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，包括屏蔽箱(1)，其特征在于：所述屏蔽箱(1)的内侧壁固定设有第一直线电机(2)，所述第一直线电机(2)的一侧设有测试组件，所述屏蔽箱(1)沿横向的两侧内侧壁均固定安装有安装架(14)，且安装架(14)上固定设有基座(15)，所述第一直线电机(2)靠近屏蔽箱(1)内底壁的一端固定设有移动台(11)；
所述测试组件包括固定安装在第一直线电机(2)上的单点激光主机(3)，所述单点激光主机(3)的顶部固定设有显微镜(4)，所述显微镜(4)的顶端固定设有激光源(8)，且显微镜(4)内置CCD相机(12)和冷光源(13)，所述基座(15)的数量设置有四个，其中三个所述基座(15)上置有服务器(5)、滤波器(6)以及示波器(7)，所述单点激光主机(3)通过导线与滤波器(6)相连接，所述滤波器(6)通过导线与示波器(7)相连接，所述激光源(8)通过导线与单点激光主机(3)相连，所述CCD相机(12)、滤波器(6)均通过导线与服务器(5)相连；
所述移动台(11)包括横向移动组件和径向移动组件，所述横向移动组件包括螺栓固定安装在第一直线电机(2)上的安装脚(1103)，所述安装脚(1103)的一端焊接有第一基板(1101)，所述第一基板(1101)的上表面固定设有第二直线电机(1102)，所述径向移动组件包括嵌装在第二直线电机(1102)上的滑座(1104)，所述滑座(1104)的上表面焊接有第二基板(1105)，所述第二基板(1105)的顶端固定设有两个固定座(1106)，两个所述固定座(1106)之间固定设有丝杆(1108)，且丝杆(1108)的端部固定连接有电机(1107)，所述丝杆(1108)上套设有丝母(1109)，所述丝母(1109)上表面固定设有两个承接台(1112)，两个所述承接台(1112)之间设有第一调节螺栓(1113)，且两个承接台(1112)之间设有单点激光辅机(9)，所述单点激光辅机(9)与单点激光主机(3)通过导线相连，且单点激光辅机(9)通过导线与示波器(7)相连。
2.根据权利要求1所述的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，其特征在于：所述丝母(1109)的底端焊接有底板(1110)，所述底板(1110)与靠近丝母(1109)的一个承接台(1112)之间固定设有连接弹簧(1111)。
3.根据权利要求1所述的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，其特征在于：位于所述屏蔽箱(1)同一侧的两个所述基座(15)之间固定安装有导杆(16)。
4.根据权利要求1所述的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，其特征在于：所述安装架(14)的外侧壁固定设有安装槽(17)，且安装槽(17)的外侧壁上开设有若干个呈相互平行的嵌槽(18)。
5.根据权利要求1所述的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，其特征在于：所述单点激光辅机(9)靠近第一直线电机(2)的一侧外侧壁固定设有载物台(10)，测试芯片置于载物台(10)上。
6.根据权利要求1所述的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，其特征在于：所述屏蔽箱(1)的底部外表面靠近四个拐角处均固定安装有滑轮(20)。
7.根据权利要求6所述的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，其特征在于：所述屏蔽箱(1)的底部外表面分别靠近四个滑轮(20)处均设有第二调节螺栓(23)，所述第二调节螺栓(23)的底端固定设有支撑腿(22)，且第二调节螺栓(23)与屏蔽箱(1)的连接处固定设有螺母(21)。
8.根据权利要求1所述的一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置，其特征在于：所述屏蔽箱(1)的内部固定设有电磁密封衬垫(19)。
CN201911319784.3A 2019-12-19 2019-12-19 一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置 Pending CN111123071A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911319784.3A CN111123071A (zh) 2019-12-19 2019-12-19 一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911319784.3A CN111123071A (zh) 2019-12-19 2019-12-19 一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN111123071A true CN111123071A (zh) 2020-05-08

Family

ID=70500287

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911319784.3A Pending CN111123071A (zh) 2019-12-19 2019-12-19 一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111123071A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114200181A (zh) * 2021-12-21 2022-03-18 苏州威客多信息技术有限公司 一种带密封结构的屏蔽箱翻转门

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105095750A (zh) * 2014-05-15 2015-11-25 国民技术股份有限公司 对智能卡芯片所受攻击的分析方法及装置
CN106603157A (zh) * 2016-12-20 2017-04-26 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种物理多点光攻击设备
CN107643481A (zh) * 2017-10-31 2018-01-30 天津大学 一种低成本电磁故障注入实验平台及实验方法
EP3321839A1 (en) * 2016-11-15 2018-05-16 Huawei Technologies Co., Ltd. Method and detection circuit for detecting security chip operating state
CN108173645A (zh) * 2017-12-27 2018-06-15 中国科学院国家空间科学中心 一种密码芯片的安全检测方法及其装置
CN208818802U (zh) * 2018-09-13 2019-05-03 上海聚跃检测技术有限公司 一种具有环境模拟的点针检测装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105095750A (zh) * 2014-05-15 2015-11-25 国民技术股份有限公司 对智能卡芯片所受攻击的分析方法及装置
EP3321839A1 (en) * 2016-11-15 2018-05-16 Huawei Technologies Co., Ltd. Method and detection circuit for detecting security chip operating state
CN106603157A (zh) * 2016-12-20 2017-04-26 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种物理多点光攻击设备
CN107643481A (zh) * 2017-10-31 2018-01-30 天津大学 一种低成本电磁故障注入实验平台及实验方法
CN108173645A (zh) * 2017-12-27 2018-06-15 中国科学院国家空间科学中心 一种密码芯片的安全检测方法及其装置
CN208818802U (zh) * 2018-09-13 2019-05-03 上海聚跃检测技术有限公司 一种具有环境模拟的点针检测装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
曹宇: "一种基于光攻击技术的金融IC卡芯片安全检测系统及实现", 《中国优秀博硕士学位论文全文数据库（硕士）信息科技辑》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114200181A (zh) * 2021-12-21 2022-03-18 苏州威客多信息技术有限公司 一种带密封结构的屏蔽箱翻转门

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN208765665U (zh) 基于3d视觉的手机中框检测设备
CN108917597A (zh) 基于3d视觉的手机中框检测设备
CN203054176U (zh) 光探测器to-can自动耦合测试系统
CN104639937B (zh) 摄像头的自动测试设备
CN108152864A (zh) 样本试管类型的识别设备及样本试管类型的检测方法
CN103487744A (zh) 一种动态emmi系统及其实现方法和应用方法
CN1243307C (zh) 通过jtag对单板进行测试的方法以及设备
CN111123071A (zh) 一种芯片安全检测用单点激光攻击注入测试装置
CN107702897A (zh) 高低温环境下平板显示器的光学特性自动测量机台
CN103575996B (zh) 天线检测装置
CN204408547U (zh) 摄像头的自动测试设备
CN210155031U (zh) 光照角度自适应调节的近红外水果品质无损检测装置
CN207779672U (zh) 一种高低温环境下平板显示器的光学特性自动测量机台
CN212160007U (zh) 一种自动化芯片测试装置
CN210442278U (zh) 一种芯片表面检测装置
CN210863561U (zh) 一种bga焊球阵列的光纤检测仪
CN209471178U (zh) 一种基于运动控制和机器视觉的自动化平面阻抗测量装置
CN209117344U (zh) 一种rv减速器力矩与噪音精密测量装置
CN205608105U (zh) 一种基于图像定位的pcb板级emi测试装置
CN201615857U (zh) 带读数显微镜的疲劳试验机
CN210570546U (zh) 一种光学全检手机前壳平面度装置
CN105445190B (zh) 测试支架、扫描仪横梁及艺术品鉴定方法
CN209471190U (zh) Bms板测试治具
CN211681734U (zh) 一种计量芯片加工用夹持机械手
CN209280759U (zh) 一种集成电路测试定位装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: 1904, 19th floor, Juneng building, Bailu Science Park, Yingtan hi tech Industrial Development Zone, Jiangxi Province

Applicant after: Jiangxi smart cloud testing safety testing center Co.,Ltd.

Applicant after: Beijing Smart Cloud Measurement Information Technology Co.,Ltd.

Address before: 404f, 4th floor, Juneng building, 3 Juneng Road, high tech Industrial Development Zone, Yingtan City, Jiangxi Province

Applicant before: Jiangxi smart Cloud Security Testing Center Co.,Ltd.

Applicant before: Beijing Smart Cloud Measurement Information Technology Co.,Ltd.

RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20200508