CN111025039B - 触摸显示屏的精准度的测试方法、装置、设备以及介质 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种触摸显示屏的精准度的测试方法、装置、设备以及介质，该方法包括：接收在所述触控层上的触摸操作；获得所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标；计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置；在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量。本申请实施例无需人眼瞄准测试点，减少了人为误差，提高了测量的精度，可适用于产线等需要长时间测试的场合，可直观获得触摸位置与触摸响应位置的偏移量。

Description

触摸显示屏的精准度的测试方法、装置、设备以及介质

技术领域

本申请实施例涉及触控层测试技术领域，特别是涉及一种触摸显示屏的精准度的测试方法、装置、设备以及介质。

背景技术

触摸显示屏越来越多应用于计算机、移动终端、智能平板等各种设备中。它是目前最简单、方便、自然的一种人机交互方式，用户只需要触摸所述触摸显示屏上的图符或文字，就能实现对设备的控制操作。

在触摸显示屏的各项性能指标中，精准度作为影响触摸显示屏的触摸响应效果以及反映用户体验的指标，成为了尤其重要的一个性能指标。所谓触摸显示屏的精准度指的是触摸所述触摸显示屏时的实际触摸位置和实际响应位置之间的偏移距离，两者之间的偏移距离越小，则表示触摸显示屏的精准度越高，反之，两者之间的偏移距离越大，则表示触摸显示屏的精准度越低。传统技术中，对触控层的精准度的测试方法为：先在触控层上标定多个测试点，然后通过人眼瞄准，点击各个测试点的中心位置，获得触摸响应点的坐标，最后计算触摸响应点的坐标与标定的测试点的坐标的差值来评估触控层的精准度。

发明人在实现本发明的过程中，发现现有技术中存在如下问题：通过人眼瞄准点击测试点的方式存在较大的人为误差，精度较低，不适用于产线等需要长时间测试的场合，而且直接计算触摸响应点坐标与标定的测试点的坐标的差值的方式，不能直观反应两者之间的偏移程度。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本申请提供了一种触摸显示屏的精准度的测试方法、装置、设备以及介质，其具有无需人眼瞄准测试点，可减少人为误差，提高测量的精度，可以适用于产线等需要长时间测试的场合，可以直观地获得触摸位置与触摸响应位置的偏移量。

根据本申请实施例的第一方面，提供一种触摸显示屏的精准度的测试方法，应用于触摸显示屏，所述触摸显示屏包括触控层和显示层，该方法包括如下步骤：

接收在所述触控层上的触摸操作；

获得所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标；

计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置；

在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量；其中，所述多个圆形的半径以预设步长递增，且所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定；

其中，所述触摸操作通过触摸工具触摸所述触控层的任一位置触发，且通过所述触摸工具停留在触摸位置上，并根据所述显示层上绘制的多个圆形，获得所述触摸位置和触摸响应位置之间的偏移量；所述触摸工具与所述触控层接触的一端的尺寸较小，以使所述触摸位置在所述触控层上为一个物理接触点；或者，

所述触摸操作通过绘图工具触摸所述触控层的任一位置触发，并通过所述绘图工具在所述触摸位置上绘出触摸印记，以根据所述触摸印记与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量，所述绘图工具在所述触控层上绘出的印记为小圆点，以使所述触摸印记指示的所述触摸位置为所述触控层上一个物理接触点。

根据本申请实施例的第二方面，提供一种触摸显示屏的精准度的测试装置，应用于触摸显示屏，所述触摸显示屏包括触控层和显示层，所述装置包括：

触摸操作接收模块，用于接收在所述触控层上的触摸操作；

位置坐标获取模块，用于获得所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标；

触摸响应位置计算模块，用于计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置；

图形绘制模块，用于在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量；其中，所述多个圆形的半径以预设步长递增，且所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定；

其中，所述触摸操作通过触摸工具触摸所述触控层的任一位置触发，且通过所述触摸工具停留在触摸位置上，并根据所述显示层上绘制的多个圆形，获得所述触摸位置和触摸响应位置之间的偏移量；所述触摸工具与所述触控层接触的一端的尺寸较小，以使所述触摸位置在所述触控层上为一个物理接触点；或者，

所述触摸操作通过绘图工具触摸所述触控层的任一位置触发，并通过所述绘图工具在所述触摸位置上绘出触摸印记，以根据所述触摸印记与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量，所述绘图工具在所述触控层上绘出的印记为小圆点，以使所述触摸印记指示的所述触摸位置为所述触控层上一个物理接触点。

根据本申请实施例的第三方面，提供一种电子设备，包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述任意一项所述的触摸显示屏的精准度的测试方法。

根据本申请实施例的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任意一项所述的触摸显示屏的精准度的测试方法。

本申请实施例根据所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置，进而在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量，进而无需人眼瞄准测试点，即可获得实际在所述触控层上的触摸位置与所述显示层响应位置即触摸响应位置之间的偏移量，减少了人为测试误差，提高了测量的精度，可以适用于产线等需要长时间测试的场合。进一步地，通过比较所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系的方式，可以直观地获得触摸位置与触摸响应位置的偏移量。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本发明。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例示出的触摸显示屏的精准度的测试方法的应用环境的示意框图；

图2为本申请实施例示出的触摸显示屏的精准度的测试方法的流程图；

图3为本申请实施例示出的触摸图标、触摸响应点与各个圆形的位置关系示意图；

图4为本申请实施例示出的获取预设的长度单位对应的像素点的方法的流程图；

图5为本申请实施例示出的触摸显示屏的精准度的测试装置的结构示意框图；

图6为本申请实施例示出的图形绘制模块的结构示意框图；

图7为本申请实施例示出的电子设备的结构示意框图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。

应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序，也不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。在此所使用的词语“如果”/“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

请参阅图1，其是本申请实施例示出的触摸显示屏的精准度的测试方法的应用环境的示意框图。如图1所示，所述触摸显示屏的精准度的测试方法的应用环境包括电子设备1000；所述电子设备1000可以为包括触摸显示屏的任何智能终端，例如，可以具体为计算机、手机、平板电脑、交互式智能平板等；在本申请实施例中，所述电子设备1000为交互式智能平板，尤其是具有大尺寸的触摸显示屏的交互式智能平板。

所述电子设备1000包括触摸显示屏；所述触摸显示屏是一种感应式液晶显示装置，在本领域技术中，有时又称为触摸屏、触控屏和触控面板。当触摸了所述触摸显示屏的图形按钮后，所述触摸显示屏的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连接装置，实现对智能处理系统的控制，然后随着智能处理系统内置的软件来实现不同的功能应用如反馈对应的音视频数据，可用以取代机械式的按钮面板，并借由液晶显示画面制造出生动的影音效果。按照触摸显示屏的工作原理和传输信息的介质，可以把所述触摸显示屏分为四个种类：电阻式、电容感应式、红外线式以及表面声波式等。

所述触摸显示屏包括触控层1100、显示层1200和处理单元(图中未显示)。所述触控层1100与所述显示层1200由外至内层叠设置；所述触控层1100用于通过红外感应、电容感应、电阻感应或者声波感应等技术接收用户的触摸操作；所述显示层1200用于根据用户的触摸操作反馈对应的显示数据。由于所述触控层1100的触摸检测技术存在偏差，以及在所述触控层1100与所述显示层1200安装匹配过程中，由于安装方向偏差、位置偏差或者生产工艺技术、使用环境因素等限制，因此，在实际使用过程中，用户在所述触控层1100上的触摸操作如触摸所述触控层1100的实际位置与所述显示层1200获得的触摸操作如触摸响应位置之间存在位置偏移，进而影响触摸显示屏的精准度。因此，在研发过程中，需要对触摸显示屏的这一触摸精准度进行检测。所述处理单元可以包括一个或者多个处理核心，其可以通过纯软件的方式实现本申请触摸显示屏的精准度的测试方法，也可以采用软硬件结合的方式实现本申请触摸显示屏的精准度的测试方法，如可以采用数字信号处理、现场可编程门阵列、可编程逻辑阵列中的至少一种硬件形式来实现；可集成中央处理器、图像处理器和调制解调器等中的一种或几种的组合。所述处理器单元可运行有用于触摸显示屏的精准度的测试方法的应用程序，所述应用程序可以是以适应所述处理单元的形式呈现，例如可以是APP应用程序，在一些例子中，还可以是以例如系统插件、网页插件等形式呈现。

实施例1

本申请实施例公开了一种触摸显示屏的精准度的测试方法，该方法应用在电子设备，在本申请实施例中所述电子设备为交互式智能平板。

下面将结合附图2和图3，对本申请实施例提供的一种触摸显示屏的精准度的测试方法进行详细介绍。

请参阅图2和图3，图2为本申请实施例公开的触摸显示屏的精准度的测试方法的流程图；图3为本申请实施例示出的触摸图标、触摸响应点与各个圆形的位置关系示意图。所述触摸显示屏的精准度的测试方法，应用于触摸显示屏，所述触摸显示屏包括触控层和显示层，且所述触控层与所述显示层由外至内层叠设置。所述方法包括如下步骤：

步骤S101：接收在所述触控层上的触摸操作。

步骤S102：获得所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标。

所述触摸位置用于反映在所述触控层上，所述触摸操作与所述触控层实际接触的物理位置，在本申请实施例中，所述触摸操作与所述触控层实际接触的物理位置通常为一个物理接触点。

在本申请一个示例性实施例中，自主开发设计了一个测试软件，打开测试软件时，将在所述显示层上显示一个空白的全屏画面，此时，所述触摸操作通过触摸工具触摸所述触控层的任一位置触发，且通过所述触摸工具停留在触摸位置上，并根据所述显示层上绘制的多个圆形，获得所述触摸位置和触摸响应位置之间的偏移量，进而方便快捷地计算触摸显示屏的精准度。其中，所述触摸工具可以为触摸笔或者书写笔等任何工具。优选的，为提高测量的精准度，所述触摸工具与所述触控层接触的一端的尺寸比较小，以使所述触摸位置在所述触控层上相当于一个较小的物理接触点，进而避免触摸位置过大而影响偏移量的计算精度。

在本申请的另一个示例性实施例中，自主开发设计了一个测试软件，打开测试软件时，将在所述显示层上显示一个空白的全屏画面，此时，所述触摸操作通过绘图工具触摸所述触控层的任一位置触发，并通过绘图工具在所述触摸位置上绘出触摸印记，以根据所述触摸印记与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量。其中，所述绘图工具可以为沾有颜料的触摸笔或者可以书写的笔等任何可在触控层上画出印记的工具。优选的，为提高测量的精准度，所述绘图工具在所述触控层上绘出的印记为比较小的圆点，也即，以使所述触摸印记指示的所述触摸位置为所述触控层上一个较小的物理接触点，进而避免触摸印记过大而影响偏移量的计算精度。

在接收到所述触控层上的触摸操作后，所述触控层可以通过触控框并利用红外感应、电容感应、电阻感应或者声波感应等技术识别捕获到所述触摸操作对应的触摸位置相对于所述触控层的位置坐标，此时，由于触摸感应时存在偏差，所述触摸位置与所述触摸位置相对于所述触控层的位置坐标一般不重合。

步骤S103：计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置。

所述触摸响应位置为在所述显示层上，响应所述触摸操作时依据的坐标。在所述触控层与所述显示层安装匹配过程中，由于安装方向偏差、位置偏差或者生产工艺技术、使用环境因素等限制，所述触摸位置相对于所述触控层的位置坐标与所述显示层上的触摸响应位置的位置坐标也不重合。

步骤S104：在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量；其中，所述多个圆形的半径以预设步长递增，且所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定。

在本申请实施例中，所述预设的单位长度为1厘米，1毫米等以毫米、厘米等丈量空间距离的基本单位长度作为标准来设置，且测试人员可以根据测量的精准度需求，在测试软件上预先设置所述预设的单位长度。所述预设步长可以为以预设的单位长度的倍数确定，如所述预设步长为1厘米，1毫米，2厘米，2毫米等，测试人员可以根据测量的精准度需求，在测试软件上预先设置预设步长。

在本申请实施例中，可以根据预设的单位长度以及预设步长，人工计算所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，进而读取所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量，也可以通过图像识别方法，拍摄所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，然后识别出所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量，也即，本申请对于如何获得所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量并不加以限制。

本申请实施例根据所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置，进而在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量，进而无需人眼瞄准测试点，即可获得实际在所述触控层上的触摸位置与所述显示层响应位置即触摸响应位置之间的偏移量，减少了人为测试误差，提高了测量的精度，可以适用于产线等需要长时间测试的场合。进一步地，通过比较所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系的方式，可以直观地获得触摸位置与触摸响应位置的偏移量。

在本申请一个示例性实施例中，步骤103中计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置的步骤，包括：将所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，按照所述触控层与所述显示层的坐标映射关系进行映射转换，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置。通过所述触控层与所述显示层的坐标映射关系，可便捷地获得所述显示层上的触摸响应位置，以方便后续快捷地绘制多个圆形。

请参阅图4，在本申请的一个示例性实施例中，步骤S104中所述多个圆形的最小半径的长度根据预设的单位长度确定的步骤，包括：

步骤S1041：获取预设的单位长度。

步骤S1042：获取所述显示层的像素密度；其中，所述显示层的像素密度为每英寸长度对应的像素点数。

所述像素密度(Pixels Per Inch，PPI)表示的是显示层每英寸长度所对应的像素点数，例如330ppi表示屏幕每英寸长度下有330个像素点，也即330个像素点排列的长度为1英寸。所述像素密度的数值越高，则每英寸所表示的像素点数越多，画面的细节就会越丰富，显示效果就越清晰，拟真度就会越高。在分辨率相同时，屏幕尺寸越大，像素密度越小；尺寸越小，像素密度越大。

步骤S1043：根据所述预设的单位长度与英寸长度的换算关系，获得所述预设的单位长度在所述显示层中对应的像素点数。

在显示层上绘制多个圆形来获得所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量，需要考虑绘制的圆形的标准单位长度。具体的，在分辨率相同时，屏幕尺寸不同，则像素密度也不同，对于一个尺寸的屏幕，若其像素密度为300，则在这个屏幕上300个像素点排列的长度是1英寸，那只要以300个像素点为半径画圆，就可以画出一个标准的刻度尺；但在另一个不同尺寸的屏幕上，其像素密度为400，则在这个屏幕上400个像素点排列的长度才是1英寸，则若仍以400个像素点为半径画圆，则画出的并不是标准的单位长度，因此，本申请依据不同显示层的像素密度来画出对应预设的单位长度的圆形，进而可适用于不同尺寸大小屏幕的精准度测量，提高测量的精度。

由于英寸长度也是长度单位，因此，可以将英寸长度与所述预设的单位长度直接换算，进而获得所述预设的单位长度在所述显示层中对应的像素点数，例如，请参阅图3，若所述显示层的像素密度为330,即330个像素点数排列的长度为1英寸，而所述预设的长度单位为1毫米，则根据1英寸(in)＝25.4毫米(mm)的换算关系，可以获得13个像素点数排列的长度为1毫米，进而可以以13个像素点数排列的长度作为所述多个圆形中的最小半径的长度。

步骤S1044：在所述显示屏上，以所述像素点数排列的长度作为所述多个圆形的最小半径的长度。

本申请实施例根据所述预设的单位长度与英寸长度的换算关系，确定所述多个圆形的最小半径的长度，进而适应于不同尺寸不同精度的测量要求，而且可以根据最小半径的长度以及预设步长，使得在两个不同屏幕上的触摸位置和触摸响应位置，也可以直观方便地读取在预设的长度单位下两者之间的偏移量。

请参阅图3，进一步地，在所述显示屏上显示所述触摸响应位置，且在所述显示屏上的所述多个圆形上分别对应绘制单位长度刻度，所述多个圆形上分别对应绘制有单位长度刻度，从而测试人员可以通过单位长度刻度直接读取所述触摸位置和触摸响应位置之间的偏移量，大大方便了精准度的测量。

实施例2

下述为本申请装置实施例，可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请方法实施例。

请参阅图5，其示出了本申请实施例提供的触摸显示屏的精准度的测试装置的结构示意图。所述触摸显示屏的精准度的测试装置200应用于触摸显示屏，所述触摸显示屏包括触控层和显示层，且所述触控层与所述显示层由外至内层叠设置。所述触摸显示屏的精准度的测试装置可以通过软件、硬件或者两者的结合实现触摸显示屏的一部分或者全部分内容。具体的，所述触摸显示屏的精准度的测试装置200包括：

触摸操作接收模块201，用于接收在所述触控层上的触摸操作；

位置坐标获取模块202，用于获得所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标；

触摸响应位置计算模块203，用于计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置；

图形绘制模块204，用于在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量；其中，所述多个圆形的半径以预设步长递增，且所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定。

本申请实施例根据所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置，进而在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量，进而无需人眼瞄准测试点，即可获得实际在所述触控层上的触摸位置与所述显示层响应位置即触摸响应位置之间的偏移量，减少了人为测试误差，提高了测量的精度，可以适用于产线等需要长时间测试的场合。进一步地，通过比较所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系的方式，可以直观地获得触摸位置与触摸响应位置的偏移量。

在本申请一个示例性实施例中，自主开发设计了一个测试软件，打开测试软件时，将在所述显示层上显示一个空白的全屏画面，此时，所述触摸操作通过触摸工具触摸所述触控层的任一位置触发，且通过所述触摸工具停留在触摸位置上，并根据所述显示层上绘制的多个圆形，获得所述触摸位置和触摸响应位置的偏移量，进而方便快捷地计算触摸显示屏的精准度。其中，所述触摸工具可以为触摸笔或者书写笔等任何工具。优选的，为提高测量的精准度，所述触摸工具与所述触控层接触的一端的尺寸比较小，以使所述触摸位置在所述触控层上相当于一个较小的物理接触点，进而避免触摸位置过大而影响偏移量的计算精度。

在本申请的另一个示例性实施例中，自主开发设计了一个测试软件，打开测试软件时，将在所述显示层上显示一个空白的全屏画面，此时，所述触摸操作通过绘图工具触摸所述触控层的任一位置触发，并通过绘图工具在所述触摸位置上绘出触摸印记，以根据所述触摸印记与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量。其中，所述绘图工具可以为沾有颜料的触摸笔或者可以书写的笔等任何可在触控层上画出印记的工具。优选的，为提高测量的精准度，所述绘图工具在所述触控层上绘出的印记为比较小的圆点，也即，以使所述触摸印记指示的所述触摸位置为所述触控层上一个较小的物理接触点，进而避免触摸印记过大而影响偏移量的计算精度。

在本申请的一个示例性实施例中，所述触摸响应位置计算模块203包括用于：将所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，按照所述触控层与所述显示层的坐标映射关系进行映射转换，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置。通过所述触控层与所述显示层的坐标映射关系，可便捷地获得所述显示层上的触摸响应位置，以方便后续快捷地绘制多个圆形。

请参阅图6，在本申请的一个示例性实施例中，所述图形绘制模块204包括：

单位长度获取模块2041，用于获取预设的单位长度。

像素密度获取模块2042，用于获取所述显示层的像素密度；其中，所述显示层的像素密度为每英寸长度对应的像素点数。

换算模块2043，用于根据所述预设的单位长度与英寸长度的换算关系，获得所述预设的单位长度在所述显示层中对应的像素点数。

长度确定模块2044，用于在所述显示屏上，以所述像素点数排列的长度作为所述多个圆形的最小半径的长度。

本申请实施例根据所述预设的单位长度与英寸长度的换算关系，确定所述多个圆形的最小半径的长度，进而适应于不同尺寸不同精度的测量要求，而且可以根据最小半径的长度以及预设步长，使得在两个不同屏幕上的触摸位置和触摸响应位置，也可以直观方便地读取在预设的长度单位下两者之间的偏移量。

进一步地，在所述显示屏上显示所述触摸响应位置，且在所述显示屏上的所述多个圆形上分别对应绘制单位长度刻度，从而测试人员可以通过单位长度刻度直接读取所述触摸位置和触摸响应位置之间的偏移量，大大方便了精准度的测量。

实施例3

下述为本申请设备实施例，可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请设备实施例中未披露的细节，请参照本申请方法实施例。

请参阅图7，本申请还提供一种电子设备300，所述电子设备300可以为任何包括触摸显示屏的任何智能端，例如，可以具体为计算机、手机、平板电脑、交互式智能平板等，在本申请实施例中，所述电子设备为交互式智能平板，尤其是具有大尺寸的触摸显示屏的交互式智能平板。所述电子设备300可以包括：至少一个处理器301、至少一个存储器302，至少一个网络接口303，用户接口304以及至少一个通信总线305，且，所述电子设备300包括触摸显示屏，所述触摸显示屏包括触控层和显示层，且所述触控层与所述显示层由外至内层叠设置。

其中，所述用户接口304主要用于为用户提供输入的接口，获取用户输入的数据，其可以包括显示端和摄像端；所述显示端包括显示层和触控层，所述显示层用于显示经过处理器处理后的数据；所述触控层可以包括：电容屏，电磁屏或红外屏等，一般而言，该触控层可以接收用户通过手指或者输入设备输入的触摸操作或书写操作。可选的，所述用户接口304还可以包括标准的有线接口、无线接口。

其中，所述网络接口303可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。

其中，所述通信总线305用于实现这些组件之间的连接通信。

其中，所述处理器301可以包括一个或者多个处理核心。处理器301利用各种接口和线路连接整个电子设备300内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器302内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器302内的数据，执行电子设备300的各种功能和处理数据。可选的，处理器301可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable Logic Array，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器301可集成中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示层所需要显示的内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器301中，单独通过一块芯片进行实现。

其中，存储器302可以包括随机存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的，该存储器302包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器302可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器302可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等；存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及到的数据等。存储器302可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器301的存储装置。如图7所示，作为一种计算机存储介质的存储器302中可以包括操作系统、网络通信模块、用户。

所述处理器301可以用于调用存储器63中存储的数据同步显示方法的应用程序，并具体执行以下操作：接收在所述触控层上的触摸操作；获得所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标；计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置；在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量；其中，所述多个圆形的半径以预设步长递增，且所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定。

本申请实施例根据所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置，进而在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量，进而无需人眼瞄准测试点，即可获得实际在所述触控层上的触摸位置与所述显示层响应位置即触摸响应位置之间的偏移量，减少了人为测试误差，提高了测量的精度，可以适用于产线等需要长时间测试的场合。进一步地，通过比较所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系的方式，可以直观地获得触摸位置与触摸响应位置的偏移量。

在本申请一个示例性实施例中，在所述处理器301上还运行有一个测试软件，打开测试软件时，将在所述显示层上显示一个空白的全屏画面，此时，所述触摸操作通过触摸工具触摸所述触控层的任一位置触发，且通过所述触摸工具停留在触摸位置上，并根据所述显示层上绘制的多个圆形，获得所述触摸位置和触摸响应位置的偏移量，进而方便快捷地计算触摸显示屏的精准度。其中，所述触摸工具可以为触摸笔或者书写笔等任何工具。优选的，为提高测量的精准度，所述触摸工具与所述触控层接触的一端的尺寸比较小，以使所述触摸位置在所述触控层上相当于一个较小的物理接触点，进而避免触摸位置过大而影响偏移量的计算精度。

在本申请的另一个示例性实施例中，在所述处理器301上还运行有一个测试软件，打开测试软件时，将在所述显示层上显示一个空白的全屏画面，此时，所述触摸操作通过绘图工具触摸所述触控层的任一位置触发，并通过绘图工具在所述触摸位置上绘出触摸印记，以根据所述触摸印记与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置的偏移量。其中，所述绘图工具可以为沾有颜料的触摸笔或者可以书写的笔等任何可在触控层上画出印记的工具。优选的，为提高测量的精准度，所述绘图工具在所述触控层上绘出的印记为比较小的圆点，也即，以使所述触摸印记指示的所述触摸位置为所述触控层上一个较小的物理接触点，进而避免触摸印记过大而影响偏移量的计算精度。

在本申请一个示例性实施例中，所述处理器301执行计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置的操作时，还包括执行以下操作：将所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，按照所述触控层与所述显示层的坐标映射关系进行映射转换，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置。通过所述触控层与所述显示层的坐标映射关系，可便捷地获得所述显示层上的触摸响应位置，以方便后续快捷地绘制多个圆形。

在本申请的一个示例性实施例中，所述处理器301执行计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置的操作时，包括执行：将所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，按照所述触控层与所述显示层的坐标映射关系进行映射转换，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置。通过所述触控层与所述显示层的坐标映射关系，可便捷地获得所述显示层上的触摸响应位置，以方便后续快捷地绘制多个圆形。

在本申请的一个示例性实施例中，所述处理器301执行所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定的操作时，包括执行：获取预设的单位长度；获取所述显示层的像素密度；其中，所述显示层的像素密度为每英寸长度对应的像素点数；根据所述预设的单位长度与英寸长度的换算关系，获得所述预设的单位长度在所述显示层中对应的像素点数；在所述显示屏上，以所述像素点数排列的长度作为所述多个圆形的最小半径的长度。

本申请实施例根据所述预设的单位长度与英寸长度的换算关系，确定所述多个圆形的最小半径的长度，进而适应于不同尺寸不同精度的测量要求，而且可以根据最小半径的长度以及预设步长，使得在两个不同屏幕上的触摸位置和触摸响应位置，也可以直观方便地读取在预设的长度单位下两者之间的偏移量。

进一步地，所述处理器301还包括执行：在所述显示屏上显示所述触摸响应位置，且在所述显示屏上的所述多个圆形上分别对应绘制单位长度刻度，从而测试人员可以通过单位长度刻度直接读取所述触摸位置和触摸响应位置之间的偏移量，大大方便了精准度的测量。

实施例4

本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上储存有计算机程序，所述指令适于由处理器加载并执行上述所示实施例的方法步骤，具体执行过程可以参见实施例1所示的具体说明，在此不进行赘述。所述存储介质所在设备可以是个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑等电子设备。

对于设备实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的组件可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本申请方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中选定的功能的装置。这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中选定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中选定的功能的步骤。

在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。

计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (8)

1.一种触摸显示屏的精准度的测试方法，应用于触摸显示屏，所述触摸显示屏包括触控层和显示层，其特征在于，该方法包括如下步骤：

接收在所述触控层上的触摸操作；

获得所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标；

计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置；

在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量；其中，所述多个圆形的半径以预设步长递增，且所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定；

其中，所述触摸操作通过触摸工具触摸所述触控层的任一位置触发，且通过所述触摸工具停留在触摸位置上，并根据所述显示层上绘制的多个圆形，获得所述触摸位置和触摸响应位置之间的偏移量；所述触摸工具与所述触控层接触的一端的尺寸较小，以使所述触摸位置在所述触控层上为一个物理接触点；或者，

所述触摸操作通过绘图工具触摸所述触控层的任一位置触发，并通过所述绘图工具在所述触摸位置上绘出触摸印记，以根据所述触摸印记与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量，所述绘图工具在所述触控层上绘出的印记为小圆点，以使所述触摸印记指示的所述触摸位置为所述触控层上一个物理接触点。

2.根据权利要求1所述的触摸显示屏的精准度的测试方法，其特征在于，所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定的步骤，包括：

获取预设的单位长度；

获取所述显示层的像素密度；其中，所述显示层的像素密度为每英寸长度对应的像素点数；

根据所述预设的单位长度与英寸长度的换算关系，获得所述预设的单位长度在所述显示层中对应的像素点数；

在所述显示屏上，以所述像素点数排列的长度作为所述多个圆形中的最小半径的长度。

3.根据权利要求2所述的触摸显示屏的精准度的测试方法，其特征在于，在所述显示屏上显示所述触摸响应位置，且在所述显示屏上的所述多个圆形上分别对应绘制单位长度刻度。

4.根据权利要求1所述的触摸显示屏的精准度的测试方法，其特征在于，计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置的步骤，包括：

将所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标，按照所述触控层与所述显示层的坐标映射关系进行映射转换，获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置。

5.一种触摸显示屏的精准度的测试装置，应用于触摸显示屏，所述触摸显示屏包括触控层和显示层，其特征在于，所述装置包括：

触摸操作接收模块，用于接收在所述触控层上的触摸操作；

位置坐标获取模块，用于获得所述触摸操作对应的触摸位置在所述触控层的位置坐标；

触摸响应位置计算模块，用于计算获得所述位置坐标在所述显示层的触摸响应位置；

图形绘制模块，用于在所述显示层上，以所述触摸响应位置的中心像素点为圆心，绘制并显示多个圆形，以根据所述触摸位置与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量；其中，所述多个圆形的半径以预设步长递增，且所述多个圆形中的最小半径的长度根据预设的单位长度确定；

其中，所述触摸操作通过触摸工具触摸所述触控层的任一位置触发，且通过所述触摸工具停留在触摸位置上，并根据所述显示层上绘制的多个圆形，获得所述触摸位置和触摸响应位置之间的偏移量；所述触摸工具与所述触控层接触的一端的尺寸较小，以使所述触摸位置在所述触控层上为一个物理接触点；或者，

所述触摸操作通过绘图工具触摸所述触控层的任一位置触发，并通过所述绘图工具在所述触摸位置上绘出触摸印记，以根据所述触摸印记与所述多个圆形之间的位置关系，获得所述触摸位置与所述触摸响应位置之间的偏移量，所述绘图工具在所述触控层上绘出的印记为小圆点，以使所述触摸印记指示的所述触摸位置为所述触控层上一个物理接触点。

6.根据权利要求5所述的触摸显示屏的精准度的测试装置，其特征在于，所述图形绘制模块包括：

单位长度获取模块，用于获取预设的单位长度；

像素密度获取模块，用于获取所述显示层的像素密度；其中，所述显示层的像素密度为每英寸长度对应的像素点数；

换算模块，用于根据所述预设的单位长度与英寸长度的换算关系，获得所述预设的单位长度在所述显示层中对应的像素点数；

长度确定模块，用于在所述显示屏上，以所述像素点数排列的长度作为所述多个圆形的最小半径的长度。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1至4中任意一项所述的触摸显示屏的精准度的测试方法。

8.一种计算机可读存储介质，其上储存有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4中任意一项所述的触摸显示屏的精准度的测试方法。

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