CN114546146A - 触摸屏的触摸响应延时测量方法、装置、系统及交互平板 - Google Patents

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CN114546146A CN202011358596.4A CN202011358596A CN114546146A CN 114546146 A CN114546146 A CN 114546146A CN 202011358596 A CN202011358596 A CN 202011358596A CN 114546146 A CN114546146 A CN 114546146A
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Abstract

本申请实施例提供一种触摸屏的触摸响应延时测量方法、装置、系统、介质以及交互平板，所述方法包括：获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的触摸响应延时，进而可方便地获得所述触摸屏的响应延时，操作简单快捷，提高测量效率。

Description

触摸屏的触摸响应延时测量方法、装置、系统及交互平板
技术领域
本申请实施例涉及触摸屏的测试领域，特别是涉及一种触摸屏的触摸响应延时测量方法、装置、系统、介质以及交互平板。
背景技术
触摸屏越来越多应用于计算机、移动终端、智能平板等各种设备中。它是目前最简单、方便、自然的一种人机交互方式，用户只需要触摸所述触摸屏上的图符或文字，就能实现对设备的控制操作。
在触摸屏的各项性能指标中，触摸延时作为影响触摸屏的触摸响应效果以及反映用户体验的指标，成为了尤其重要的一个性能指标。其中，触摸屏的触摸实现是通过触摸采集设备采集物体靠近或接触触摸屏的坐标位置，再将触摸屏的坐标位置发送到触摸屏处理系统，通过触摸显示系统进行处理后显示触摸效果。而触摸延时指的是物体靠近或触摸屏与显示触摸效果的时间差。
传统技术中对于触摸屏的触摸延时检测方法通常采用高帧率图片计算方法，具体的，在触摸屏上用触摸笔匀速画出多条水平直线，通过高帧率拍摄设备拍摄获得每条直线内某一段时间内的大量图片；然后从大量图片中识别出现虚线的图片，并找寻距离该图片最近的未出现虚线的图片；再找寻上一张未出现虚线的图片，将鼠标放置在距离触摸笔笔头更近的线条的端点上，并记下该图片的序号；接着保持鼠标位置不动，找到笔头与鼠标位置重合的图片，记下该图片的序号；计算两张图片的序号差值；再根据已知的每两张图片之间的时间间隔，获得触摸屏的触摸延时，将多次计算的值求平均，获取更准确的触摸延时。
发明人在实现本发明的过程中，发现传统技术中至少存在以下问题：传统方式操作复杂，测量效率低。
发明内容
为克服相关技术中存在的问题，本申请提供一种触摸屏的触摸响应延时测量方法、装置、系统、介质以及交互平板，具有简化操作，提高测量效率的优点。
根据本申请实施例的第一方面，提供一种触摸屏的触摸响应延时测量方法，包括如下步骤：
获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；
获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；
根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的触摸响应延时。
根据本申请实施例的第二方面，提供一种触摸屏的触摸延时测量方法，包括如下步骤：
获取所述触摸屏响应输出预设测量点的坐标的第一延时；其中，所述第一延时根据上述所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法获得；
获取所述触摸屏从输出所述测量点的坐标到完成对所述测量点的坐标的处理的第二延时、以及获取所述触摸屏输出显示所述测量点的触摸轨迹的第三延时；
根据所述第一延时、所述第二延时和所述第三延时，获得所述触摸屏的触摸延时。
根据本申请实施例的第三方面，提供一种触摸屏的触摸响应延时测量装置，包括：
触摸时间获取模块，用于触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；
信息获取模块，用于获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
第二信息获取模块，用于从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
输出时间获取模块，用于根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；
响应延时获取模块，用于根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的触摸响应延时。
根据本申请实施例的第四方面，提供一种触摸屏的触摸响应延时测量系统，包括：触摸屏和测量设备；所述测量设备与所述触摸屏连接，所述触摸屏包括执行上述所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法。
根据本申请实施例的第五方面，提供一种交互平板，包括触摸屏；所述触摸屏包括触控层、显示层、处理器和存储器；所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如上述所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法。
根据本申请实施例的第六方面，提供一种计算机可读存储介质，其上储存有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如上述所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法。
本申请实施例通过获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时，进而可方便地获得所述触摸屏的响应延时，操作简单快捷，提高测量效率。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本发明。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例示出的触摸屏的触摸响应延时测量方法的应用环境的示意框图；
图2为本申请一个实施例示出的触摸屏的触摸响应延时测量方法的流程图；
图3为本申请一个实施例示出的获取实际触摸时间的方法的流程图；
图4为本申请一个实施例示出的获取距离和时间的方法的流程图；
图5为本申请一个实施例示出的计算测量点的输出时间的方法的流程图；
图6为本申请一个实施例示出的触摸屏的触摸延时测量方法的流程图；
图7为本申请一个实施例示出的触摸屏的触摸响应延时测量装置的示意框图；
图8为本申请一个实施例示出的触摸屏的触摸延时测量装置的示意框图；
图9为本申请一个实施例示出的交互平板的结构示意图；
图10为本申请一个实施例示出的触摸屏的触摸响应延时测量系统的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。
应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序，也不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。在此所使用的词语“如果”/“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
请参阅图1，其是本申请实施例示出的触摸屏的触摸响应延时测量方法的应用环境的示意框图。如图1所示，所述触摸屏的触摸响应延时测量方法的应用环境包括电子设备1000；所述电子设备1000可以为包括触摸屏的任何智能终端，例如，可以具体为计算机、手机、平板电脑、交互平板等；在本申请实施例中，所述电子设备1000为交互平板，尤其是具有大尺寸的触摸屏的交互平板。
所述交互平板包括触摸屏；所述触摸屏是一种感应式显示装置，按照所述触摸屏的工作原理和传输信息的介质的不同，可以把所述触摸屏分为四个种类：电阻式、电容感应式、红外线式、电磁式以及表面声波式等。具体的，所述触摸屏包括触控层1100、显示层1200和处理器1300。所述触控层1100与所述显示层1200由外至内层叠设置。发明人在实现本发明的过程中发现：所述触摸屏上执行触摸操作如通过书写笔在所述触摸屏上触摸书写时，所述触控层1100通过红外感应、电容感应、电阻感应或者声波感应等技术获得所述触摸操作对应的采样点的坐标，再将所述采样点的坐标输出到所述处理器1300；所述处理器1300根据所述采样点的坐标进行处理，然后将处理结果发送到所述显示层1200；所述显示层1200根据所述处理结果显示对应的触摸效果。由于从实际触摸到所述触摸屏采集采样点、响应输出采样点到显示输出触摸效果存在延时，因此，在实际使用过程中，用户在所述触摸屏上的触摸操作如采用书写笔书写时，笔尖划过所述触摸屏某一位置与所述触摸屏在该位置呈现出笔迹的时间将存在时间差，这个时间差的长短将直接影响所述触摸屏的性能和用户体验。因此，在研发过程中，需要对触摸屏的触摸延时时间进行检测。
所述处理器1300可以包括一个或者多个处理核心，其可以通过纯软件的方式实现本申请触摸屏的触摸响应延时测量方法，也可以采用软硬件结合的方式实现本申请触摸屏的触摸响应延时测量方法，如可以采用数字信号处理、现场可编程门阵列、可编程逻辑阵列中的至少一种硬件形式来实现；可集成中央处理器、图像处理器和调制解调器等中的一种或几种的组合。所述处理器单元可运行有用于触摸屏的触摸响应延时测量方法的应用程序，所述应用程序可以是以适应所述处理单元的形式呈现，例如可以是APP应用程序，在一些例子中，还可以是以例如系统插件、网页插件等形式呈现。另外，所述触摸屏的触摸响应延时测量方法的应用环境还可以包括独立于所述电子设备的处理装置，所述处理装置通过与所述电子设备连接后，通过纯软件的方式实现本申请触摸屏的触摸响应延时测量方法，也可以采用软硬件结合的方式实现本申请触摸屏的触摸响应延时测量方法。
实施例1
本申请实施例公开的触摸屏的触摸响应延时测量方法，应用于电子设备，下面以所述电子设备为交互平板进行说明。
下面将结合附图2至图5，对本申请实施例提供的触摸屏的触摸响应延时测量方法进行详细介绍，其中，本申请实施例的触摸屏的响应延时为：在所述触摸屏上执行触摸操作如通过书写笔在所述触摸屏上触摸书写开始，直到所述触控层通过红外感应、电容感应、电阻感应或者声波感应等技术采集触摸位置坐标，再将触摸位置坐标输出到所述处理器的时间，也即为：从执行触摸操作到所述触控层将所述采样点的坐标输出到所述处理器的时间差。
本申请实施例提供的触摸屏的触摸响应延时测量方法，包括如下步骤：
S101：获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间。
示例性的，所述测量点显示于所述触摸屏上。具体的，当接收到触摸延时测量的触发操作时，在所述触摸屏上显示所述测量点。在本申请的示例性实施例中，所述交互平板内安装有白板软件，通过检测白板软件的开启操作来触发测量触摸延时的操作，具体的，当白板软件打开后，将在所述触摸屏上显示空白的全屏画面，在所述空白的全屏画面上显示所述测量点。
进一步地，所述测量点为显示于所述触摸屏上的一个具体的坐标点，所述坐标点为刚好人眼能识别为最优，此时，所述获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间，包括：获取触摸屏上的触摸操作经过所述坐标点的实际触摸时间。所述测量点也可以为由多个点构成的测量线，此时，所述获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间，包括：获取触摸屏上的触摸操作经过所述测量线的任一位置的实际触摸时间。本申请示例性实施例中，所述测量点为由多个点构成的测量线，以避免出现执行触摸操作时，需要专门瞄准所述坐标点而增加测量难度和增加误差的问题。优选的，所述测量线平行于所述触摸屏的边框；更优的，所述测量线为位于所述触摸屏正中间的竖直线，以方便进行触摸延时测量。具体的，当白板软件打开后，将在所述触摸屏上显示空白的全屏画面，在所述空白的全屏画面上的正中间显示所述测量线。
所述触摸操作可为借助外部设备如书写笔在所述触摸屏上的触摸动作，所述触摸操作也可为通过人手直接在所述触摸屏上的触摸动作。为提高测量方法的准确性，所述触摸操作优选为借助外部设备来在所述触摸屏的触摸动作。
S102：获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间。
需要说明的是，本申请的所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息为：所述触摸屏的触控层对所述触摸操作进行采样后输出到所述触摸屏的处理器的信息，也即，触摸轨迹为由所述触摸屏通过红外感应、电容感应等技术检测到的轨迹。具体的，由于所述触摸屏的触控层为周期性性进行采样，在所述触摸屏上执行所述触摸操作如通过书写笔在所述触摸屏上触摸书写形成所述触摸轨迹时，所述触摸屏的触控层将通过周期性采样获得所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标，之后，所述触摸屏的触控层将所述多个采样点的坐标传输到所述触摸屏的处理器，此时，所述处理器将会记录接收到所述多个采样点的坐标对应的时间，进而在所述处理器内可获得所述多个采样点的坐标，以及所述触摸屏的触控层对多个采样点的坐标的输出时间。
当所述测量点也可以为由多个点构成的测量线时，所述获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息，包括：获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息，其中，所述触摸轨迹与所述测量线不重合。
S103：从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间。
由于在所述触摸屏上执行所述触摸操作如书写笔在所述触摸屏上画线时，并不能确保操作人员的画线过程是完全匀速的，因此，将所述预设距离设置为0mm-10mm，具体的，预设操作人员的画线速度为1m/s,预设触摸屏的采样周期为10ms，则在0mm-10mm即为在所述测量点两侧且最接近所述测量点的两个采样点，由于预设距离比较短，因此，在预设距离内的从采样点到测量点之间的距离可以等效为匀速，从而减少误差。优选的，所述距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标为：位于所述测量点前后的两个采样点的坐标。更优的，所述距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标为：位于所述测量点前后的相邻两个采样点的坐标。一般地，所述触摸屏每隔10ms进行一次采样，而位于所述测量点前后的相邻两个采样点的坐标，则为在所述触摸屏相邻采样周期的采样点，而在10ms的周期间隔这个极其短暂的时间内，所述触摸操作如书写笔在所述触摸屏上画线可以认为是匀速直线画线的，进而提高测量的准确性。
S104：根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间。
由前述可知，所述两个采样点到所述测量点之间的所述触摸操作可以认为是匀速的，因此，由距离和时间的正比关系，根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，即可计算出所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间。
S105：根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时。
所述根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时，包括：计算所述测量点的实际触摸时间到所述测量点的坐标的输出时间的时间差，获得所述触摸屏的响应延时。
本申请实施例通过获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时，进而可方便地获得所述触摸屏的响应延时，操作简单快捷，提高测量效率。
请参阅图3，在一个示例性实施例中，所述获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间，包括：
S1011：接收测量设备反馈的测量信息；其中，所述测量设备发射出用于获取所述测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化。
S1012：将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。
具体的，所述测量信号为经过所述测量点的波形信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信号反馈的所述测量信息发生变化。通过波形信号来检测所述触摸操作是否经过触摸点，可便捷有效地确定实际触摸时间。更优的，所述波形信号包括红外光波和声波，利用红外光波和声波的传播的高速性，进而通过红外光波和声波来获取实际触摸时间，可减少实际触摸时间的检测延时，提高检测的准确性。
所述测量设备为可以用于发射出所述测量信号的任意设备，例如，所述测量设备可以为红外对管、超声波对管等。所述测量设备可以与所述触摸屏的处理器连接，以将所述测量信息传输到所述处理器。具体的，所述测量设备与所述触摸屏的USB接口或者TYPEC接口与所述处理器连接。
在一个示例性实施例中，所述测量设备设置在所述触摸显示屏上，所述测量信号为经过所述测量点的波形信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信号被中断而使所述测量信息发生变化。具体的，所述测量设备包括信号发射器、信号接收器和信号主控设备，所述信号发射器和信号接收器分别设置在所述触摸屏上，具体的所述信号发射器和所述信号接收器的位置根据所述测量点的位置而确定，优选的，当所述测量点为位于所述触摸屏的正中央的测量线时，所述信号发射器和所述信号接收器分别设置在所述触摸屏的相对的边框两侧，且所述信号发射器发射出与所述测量线重合的所述测量信号；所述信号主控设备通过USB或TYPEC接口与所述触摸屏的处理器连接。当所述触摸操作如书写笔经过所述测量线时，所述测量信号被中断而导致所述信号接收器无法接收到所述测量信号，此时，进而所述信号接收器将反馈所述测量信息发生变化如产生中断信号给到所述信号主控设备，所述信号主控设备通知所述处理器有触摸操作经过所述测量项，所述触摸屏的处理器则根据所述信号主控设备日志，将接收到所述信号接收器的中断信号的时间确定为所述触摸点的实际触摸时间。其中，所述信号发射器和所述信号接收器为红外对管、超声对管等任何可以实现本申请的触摸屏的响应延时的方法的装置，优选的，所述信号发射器和所述信号接收器为红外对管。考虑到不同的设备的时间参考不一样，在一些例子中，将所述处理器记录接收到所述信号主控设备的通知的时间，确定为所述触摸点的实际触摸时间，进而通过所述处理器根据所述触摸点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时。
在另一个示例性实施例中，所述测量设备触摸所述触摸屏执行所述触摸操作以形成所述触摸轨迹，在所述测量设备经过所述测量点时，所述测量信息反馈的所述测量信息发生变化。具体的，所述测量设备包括书写本体、信号发射器和信号接收器，所述信号发射器和信号接收器设置在所述书写本体上，当通过所述书写本体在所述触摸屏上执行所述触摸操作如书写时，所述信号发射器发射出的所述测量信号经过所述触摸屏后，反射回所述测量信息给所述信号接收器接收。当所述测量点为位于所述触摸屏的正中央的测量线时，当所述触摸操作如书写笔经过所述测量线时，所述发射器发射出的所述测量信号经过所述测量线时，由于测量线处的像素点与所述触摸屏其他位置的像素点不同，此时，所述信号接收器接收到的反射回的所述测量信息也将发生变化，进而可以确定所述触摸点的实际触摸时间。其中，所述信号发射器和所述信号接收器为红外对管、超声对管等任何可以实现本申请的触摸屏的响应延时的方法的装置，优选的，所述信号发射器和所述信号接收器为红外对管。
通过所述测量设备发射出用于获取所述测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化，进而检测所述触摸操作是否经过触摸点，从而获得所述实际触摸时间，简便了实际触摸时间的测量操作，提高了测量精度。
请参阅图4，在一个示例性实施例中，所述根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间，包括：
S1041：根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述测量点的距离。
其中，在所述触摸屏的处理器中预存储有所述测量点的坐标，进而可以直接从所述处理器中获取所述测量点的坐标。需要说明的是，当所述测量点为坐标点时，所述根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述坐标点的距离为常规的点到点的距离计算方式；当所述测量点为测量线时，所述测量点的坐标即为直线的公式坐标，所述根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述测量点的距离为常规的点到直线的距离计算方式。
S1042：根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述测量点的坐标的输出时间。
通过根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述测量点的距离，根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间，可快捷地获得所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间。
请参阅图5，进一步地，所述根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间，包括：
S10421：获取其中一个采样点到所述测量点的距离与所述两个采样点之间的距离的比值，以及所述两个采样点的坐标的输出时间差。
S10422：根据所述两个采样点的输出时间差与所述比值的乘积，获得所述其中一个采样点到所述测量点的输出时间差。
S10423：根据所述其中一个采样点的坐标的输出时间、以及对应的所述采样点到所述测量点的输出时间差，获得所述测量点的坐标的输出时间。
其中，由于所述两个采样点为所述触摸屏周期采样获得的点，因此，所述两个采样点的采样时间有先后之分，下面以先采样获得的采样点为第一采样点，后采样获得的采样点为第二采样点，则所述测量点的坐标的输出时间为：
Time2＝t1+(t2-t1)*(x1/(x1+x2))，或者Time2＝t2-(t2-t1)*(x2/(x1+x2))
其中，Time2为所述测量点的坐标的输出时间，t1为所述第一采样点的输出时间，t2为所述第二采样点的输出时间，x1为所述第一采样点到所述测量点的距离，x2为所述第二采样点到所述测量点的距离。
通过将无法直接测量的触摸屏的响应延时转换为几何计算方式，简化了测量方式，提高了测量效率。
在一个示例性实施例中，为直观地获得所述触摸屏的响应延时，所述获得所述触摸屏的响应延时之后，还包括如下步骤：在所述触摸屏上显示所述触摸屏的触摸响应延时。需要说明的是，在进行触摸屏的触摸响应延时测量时，本申请可根据用户每次进行的触摸操作来获得对应的触摸屏的响应时间，并在所述触摸屏上显示每次触摸操作对应的所述触摸响应延时。
实施例2
本申请实施例还公开一种触摸屏的触摸延时测量方法，应用于电子设备，下面以所述电子设备为交互平板进行说明。
请参阅图6，本申请实施例提供的触摸屏的触摸延时测量方法，包括如下步骤：
S201：获取所述触摸屏的响应输出预设测量点坐标的第一延时。
S202：获取所述触摸屏从输出所述测量点的坐标到完成对所述测量点的坐标的处理的第二延时、以及获取所述触摸屏输出显示所述测量点的触摸轨迹的第三延时。
S203：根据所述第一延时、所述第二延时和所述第三延时，获得所述触摸屏的触摸延时。
所述根据所述第一延时、所述第二延时和所述第三延时，获得所述触摸屏的触摸延时，包括：累加第一延时、所述第二延时和所述第三延时，获得所述触摸屏的触摸延时。
其中，所述获取所述触摸屏的响应输出预设测量点坐标的第一延时，包括：
S2011：获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；
S2012：获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
S2013：从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
S2014：根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；
S2015：根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时。
发明人在实现本发明的过程中发现：在所述触摸屏上执行触摸操作如通过书写笔在所述触摸屏上触摸书写时，所述触控层通过红外感应、电容感应、电阻感应或者声波感应等技术获得所述触摸操作对应的采样点的坐标，再将所述采样点的坐标输出到所述处理器；所述处理器根据所述采样点的坐标进行处理，然后将处理结果发送到所述显示层；所述显示层根据所述处理结果显示对应的触摸效果。在本申请示例性实施例中，所述第一延时对应为从执行所述触摸操作到所述触控层将所述采样点的坐标输出到所述处理器的时间差。所述第二延时对应为所述触摸屏的处理器获取采样点的坐标到输出处理结果给所述显示器的时间差。所述第三延时对应为所述触摸屏的显示器接收处理结果到输出触摸轨迹的时间差。
具体在本申请实施例中，从产生所述测量点到输出所述测量点的坐标到所述处理器的时间作为第一延时。由于对于所述触控层传送的采样点的坐标，所述触摸屏的处理器对所述采样点的坐标的处理过程都一样的，因此，可以从所述处理器中获得任一采样点从所述触控层传送的时间到输出给所述显示层的时间差，从而可以获得所述触摸屏从输出所述测量点的坐标到完成对所述测量点的坐标的处理的第二延时。所述第三延时为所述触摸屏的显示器接收处理结果到输出触摸轨迹的时间具体为所述处理器调用所述显示层的显示接口，到所述显示层显示所述触摸轨迹的时间，具体的，可以通过查找所述处理器的型号规格书查找处理器调用接口的时间、以及所述显示层的型号规格书得到显示层响应显示的时间，从而获得所述第三延时。
本申请实施例通过获取所述触摸屏响应输出预设测量点的坐标的第一延时；获取所述触摸屏从输出所述测量点的坐标到完成对所述测量点的坐标的处理的第二延时、以及获取所述触摸屏输出显示所述测量点的触摸轨迹的第三延时；其中，所述第一延时为：获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间；根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时，进而可方便的获得所述触摸屏的响应延时，操作简单快捷，而且可以获得触摸中各个过程的时间延时，方便定位出现时间延时的问题。
在一个示例性实施例中，所述获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间，包括：
S20111：接收测量设备反馈的测量信息；其中，所述测量设备发射出用于获取所述测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化。
S20112：将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。
进一步地，所述测量设备设置在所述触摸显示屏上，所述测量信号为经过所述测量点的波形信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信号被中断而使所述测量信息发生变化。具体的，所述测量设备包括信号发射器、信号接收器和信号主控设备，所述信号发射器和信号接收器分别设置在所述触摸屏上，具体的所述信号发射器和所述信号接收器的位置根据所述测量点的位置而确定，优选的，当所述测量点为位于所述触摸屏的正中央的测量线时，所述信号发射器和所述信号接收器分别设置在所述触摸屏的相对的边框两侧，且所述信号发射器发射出与所述测量线重合的所述测量信号；所述信号主控设备通过USB或TYPEC接口与所述触摸屏的处理器连接。当所述触摸操作如书写笔经过所述测量线时，所述测量信号被中断而导致所述信号接收器无法接收到所述测量信号，此时，进而所述信号接收器将反馈所述测量信息发生变化如产生中断信号给到所述信号主控设备，所述信号主控设备通知所述处理器有触摸操作经过所述测量项，所述触摸屏的处理器则根据所述信号主控设备日志，将接收到所述信号接收器的中断信号的时间确定为所述触摸点的实际触摸时间。其中，所述信号发射器和所述信号接收器为红外对管、超声对管等任何可以实现本申请的触摸屏的响应延时的方法的装置，优选的，所述信号发射器和所述信号接收器为红外对管。
在一个示例性实施例中，所述根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间，包括：
S20141：根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述测量点的距离。
S20142：根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述测量点的坐标的输出时间。
进一步地，所述根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间，包括：
S201421：获取其中一个采样点到所述测量点的距离与所述两个采样点之间的距离的比值，以及所述两个采样点的坐标的输出时间差。
S201422：根据所述两个采样点的输出时间差与所述比值的乘积，获得所述其中一个采样点到所述测量点的输出时间差。
S201423：根据所述其中一个采样点的坐标的输出时间、以及对应的所述采样点到所述测量点的输出时间差，获得所述测量点的坐标的输出时间。
在一个示例性实施例中，为直观地获得所述触摸屏各个阶段的延时，所述获得所述触摸延时之后，还包括如下步骤：在所述触摸屏上显示所述第一延时、所述第二延时、所述第三延时以及所述触摸延时。需要说明的是，在进行触摸屏的触摸响应延时测量时，本申请可根据用户每次进行的触摸操作来获得对应的触摸屏的所述第一延时、所述第二延时、所述第三延时以及所述触摸延时，并在所述触摸屏上进行显示。
实施例3
下述为本申请装置实施例，可以用于执行本申请实施例1中方法的内容。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请实施例1中方法的内容。
请参阅图7，本申请实施例公开的一种触摸屏的触摸响应延时测量装置300，包括：
触摸时间获取模块301，用于触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；
第一信息获取模块302，用于获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
第二信息获取模块303，用于从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
输出时间获取模块304，用于根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；
响应延时获取模块305，用于根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时。
本申请实施例通过获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时，进而可方便地获得所述触摸屏的响应延时，操作简单快捷，提高测量效率。
在一个示例性实施例中，所述触摸时间获取模块，包括：
测量信息接收模块，用于接收测量设备反馈的测量信息；其中，所述测量设备发射出用于获取所述测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化。
时间确定模块，用于将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。
在一个示例性实施例中，所述输出时间获取模块，包括：
距离计算模块，用于根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述测量点的距离。
时间计算模块，用于根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述测量点的坐标的输出时间。
进一步地，所述时间计算模块，包括：
数据获取模块，用于获取其中一个采样点到所述测量点的距离与所述两个采样点之间的距离的比值，以及所述两个采样点的坐标的输出时间差。
第一计算模块，用于根据所述两个采样点的输出时间差与所述比值的乘积，获得所述其中一个采样点到所述测量点的输出时间差。
第二计算模块，用于根据所述其中一个采样点的坐标的输出时间、以及对应的所述采样点到所述测量点的输出时间差，获得所述测量点的坐标的输出时间。
在一个示例性实施例中，所述触摸屏的触摸响应延时测量装置300还包括显示模块；所述显示模块用于在所述触摸屏上显示所述触摸屏的触摸响应延时。需要说明的是，在进行触摸屏的触摸响应延时测量时，本申请可根据用户每次进行的触摸操作来获得对应的触摸屏的响应时间，并在所述触摸屏上显示每次触摸操作对应的所述触摸响应延时。
实施例4
下述为本申请装置实施例，可以用于执行本申请实施例2中方法的内容。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请实施例2中方法的内容。
请参阅图8，本申请实施例公开的触摸屏的触摸延时测量装置400，包括：
第一时间获取模块401，用于获取所述触摸屏响应输出预设测量点的坐标的第一延时。
第二时间获取模块402，用于获取所述触摸屏从输出所述测量点的坐标到完成对所述测量点的坐标的处理的第二延时、以及获取所述触摸屏输出显示所述测量点的触摸轨迹的第三延时；
触摸延时获取模块403，用于根据所述第一延时、所述第二延时和所述第三延时，获得所述触摸屏的触摸延时。
其中，所述第一时间获取模块401包括：
触摸时间获取模块，用于触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；
信息获取模块，用于获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
第二信息获取模块，用于从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
输出时间获取模块，用于根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；
响应延时获取模块，用于根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的触摸响应延时。
本申请实施例通过获取所述触摸屏响应输出预设测量点的坐标的第一延时；获取所述触摸屏从输出所述测量点的坐标到完成对所述测量点的坐标的处理的第二延时、以及获取所述触摸屏输出显示所述测量点的触摸轨迹的第三延时；其中，所述第一延时为：获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间；根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时，进而可方便的获得所述触摸屏的响应延时，操作简单快捷，而且可以获得触摸中各个过程的时间延时，方便定位出现时间延时的问题。
在一个示例性实施例中，所述触摸时间获取模块，包括：
测量信息接收模块，用于接收测量设备反馈的测量信息；其中，所述测量设备发射出用于获取所述测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化。
实际触摸时间确定模块，用于将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。
在一个示例性实施例中，所述输出时间获取模块304，包括：
距离计算模块，用于根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述测量点的距离。
时间计算模块，用于根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述测量点的坐标的输出时间。
进一步地，所述时间计算模块，包括：
数据获取模块，用于获取其中一个采样点到所述测量点的距离与所述两个采样点之间的距离的比值，以及所述两个采样点的坐标的输出时间差。
第一计算模块，用于根据所述两个采样点的输出时间差与所述比值的乘积，获得所述其中一个采样点到所述测量点的输出时间差。
第二计算模块，用于根据所述其中一个采样点的坐标的输出时间、以及对应的所述采样点到所述测量点的输出时间差，获得所述测量点的坐标的输出时间。
在一个示例性实施例中，所述触摸屏的触摸响应延时测量装置400还包括显示模块；所述显示模块用于在所述触摸屏上显示所述第一延时、所述第二延时、所述第三延时以及所述触摸延时。需要说明的是，在进行触摸屏的触摸响应延时测量时，本申请可根据用户每次进行的触摸操作来获得对应的触摸屏的所述第一延时、所述第二延时、所述第三延时以及所述触摸延时，并在所述触摸屏上进行显示。
实施例5
下述为本申请设备实施例，可以用于执行本申请实施例1中方法的内容。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请实施例1中方法的内容。
请参阅图9，本申请还提供一种电子设备500，所述电子设备500可以为任何包括触摸显示屏的任何智能端，例如，可以具体为计算机、手机、平板电脑、交互平板等，在本申请实施例中，所述电子设备为交互平板，尤其是具有大尺寸的触摸屏的交互平板。所述交互平板500可以包括：至少一个处理器501、至少一个存储器502，至少一个显示器503，至少一个网络接口504，用户接口505以及至少一个通信总线506。
其中，所述显示器503包括显示层和触控层，所述显示层用于显示经过处理器处理后的数据；所述触控层可以包括：电容屏，电磁屏或红外屏等，一般而言，所述触控层可以接收用户通过手指或者输入设备输入的触摸操作或书写操作。
其中，所述用户接口504主要用于为用户提供输入的接口，获取用户输入的数据。可选的，所述用户接口504还可以包括标准的有线接口、无线接口。
其中，所述网络接口503可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。
其中，所述通信总线505用于实现这些组件之间的连接通信。
其中，所述处理器501可以包括一个或者多个处理核心。处理器501利用各种接口和线路连接整个电子设备500内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器502内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器502内的数据，执行电子设备500的各种功能和处理数据。可选的，处理器501可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable Logic Array，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器501可集成中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示层所需要显示的内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器501中，单独通过一块芯片进行实现。
其中，存储器502可以包括随机存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的，该存储器502包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器502可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器502可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等；存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及到的数据等。存储器502可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器501的存储装置。如图9所示，作为一种计算机存储介质的存储器502中可以包括操作系统、网络通信模块、用户。
所述处理器501可以用于调用所述存储器502中存储的触摸屏的响应延时的应用程序，并具体执行以下操作：获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的响应延时。
其中，所述测量点为显示在所述触摸屏上由多个点构成的测量线。所述距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标为：位于所述测量点前后的相邻两个采样点的坐标。
所述处理器501调用所述存储器502执行所述获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间时，具体执行以下操作：接收测量设备反馈的测量信息；其中，所述测量设备发射出用于获取所述测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化；将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。
所述处理器501调用所述存储器502执行所述根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间时，具体执行以下操作：根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述测量点的距离；根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间。
所述处理器501调用所述存储器502执行根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间时，具体执行以下操作：获取其中一个采样点到所述测量点的距离与所述两个采样点之间的距离的比值，以及所述两个采样点的坐标的输出时间差；根据所述两个采样点的输出时间差与所述比值的乘积，获得所述其中一个采样点到所述测量点的输出时间差；根据所述其中一个采样点的坐标的输出时间、以及对应的所述采样点到所述测量点的输出时间差，获得所述测量点的坐标的输出时间。
所述处理器501调用所述存储器502控制在所述触摸屏上显示所述触摸屏的触摸响应延时。
实施例6
下述为本申请设备实施例，可以用于执行本申请实施例2中方法的内容。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请实施例2中方法的内容。
本申请实施例的电子设备为交互平板，其与实施例5中的交互平板结构相同，区别在于，所述交互平板在获得所述触摸屏的响应延时即第一延时后，还获取所述触摸屏从输出所述测量点的坐标到完成对所述测量点的坐标的处理的第二延时、以及获取所述触摸屏输出显示所述测量点的触摸轨迹的第三延时；根据所述第一延时、所述第二延时和所述第三延时，获得所述触摸屏的触摸延时。
进一步地，所述处理器501还调用所述存储器502在所述触摸屏上显示所述第一延时、所述第二延时、所述第三延时以及所述触摸延时。
实施例7
下述为本申请系统实施例，可以用于执行本申请实施例1中方法的内容。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请实施例1中方法的内容。
请参阅图10，本申请公开的触摸屏的触摸响应延时测量系统600，包括：触摸屏601和测量设备602；所述测量设备602与所述触摸屏连接，所述触摸屏包括执行实施例1对应的所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法。
其中，所述测量设备602发射出用于获取测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化，将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。进一步地，所述测量设备602为可以用于发射出所述测量信号的任意设备，例如，所述测量设备602可以为红外对管、超声波对管等。所述测量设备602可以与所述触摸屏的处理器连接，以将所述测量信息传输到所述处理器。具体的，所述测量设备602与所述触摸屏的USB接口或者TYPEC接口与所述处理器连接。
进一步地，所述测量设备602设置在所述触摸显示屏上，所述测量信号为经过所述测量点的波形信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信号被中断而使所述测量信息发生变化。具体的，所述测量设备602包括信号发射器6021、信号接收器6022和信号主控设备6023，所述信号发射器6021和信号接收器6022分别设置在所述触摸屏上，具体的所述信号发射器6021和所述信号接收器6022的位置根据所述测量点的位置而确定，优选的，当所述测量点为位于所述触摸屏的正中央的测量线时，所述信号发射器6021和所述信号接收器6022分别设置在所述触摸屏的相对的边框两侧，且所述信号发射器6021发射出与所述测量线重合的所述测量信号；所述信号主控设备6023通过USB或TYPEC接口与所述触摸屏的处理器连接。当所述触摸操作如书写笔经过所述测量线时，所述测量信号被中断而导致所述信号接收器6022无法接收到所述测量信号，此时，进而所述信号接收器6022将反馈所述测量信息发生变化如产生中断信号给到所述信号主控设备6023，所述信号主控设备6023通知所述处理器有触摸操作经过所述测量项，所述触摸屏的处理器则根据所述信号主控设备6023日志，将接收到所述信号接收器6022的中断信号的时间确定为所述触摸点的实际触摸时间。其中，所述信号发射器6021和所述信号接收器6022为红外对管、超声对管等任何可以实现本申请的触摸屏的响应延时的方法的装置，优选的，所述信号发射器6021和所述信号接收器6022为红外对管。
实施例8
下述为本申请系统实施例，可以用于执行本申请实施例2中方法的内容。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请实施例2中方法的内容。
本申请公开的触摸屏的触摸延时测量系统，包括：触摸屏和测量设备；所述测量设备与所述触摸屏连接，所述触摸屏包括执行实施例2对应的所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法。
其中，所述测量设备发射出用于获取测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化，将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。进一步地，所述测量设备为可以用于发射出所述测量信号的任意设备，例如，所述测量设备可以为红外对管、超声波对管等。所述测量设备可以与所述触摸屏的处理器连接，以将所述测量信息传输到所述处理器。具体的，所述测量设备与所述触摸屏的USB接口或者TYPEC接口与所述处理器连接。
进一步地，所述测量设备设置在所述触摸显示屏上，所述测量信号为经过所述测量点的波形信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信号被中断而使所述测量信息发生变化。具体的，所述测量设备包括信号发射器、信号接收器和信号主控设备，所述信号发射器和信号接收器分别设置在所述触摸屏上，具体的所述信号发射器和所述信号接收器的位置根据所述测量点的位置而确定，优选的，当所述测量点为位于所述触摸屏的正中央的测量线时，所述信号发射器和所述信号接收器分别设置在所述触摸屏的相对的边框两侧，且所述信号发射器发射出与所述测量线重合的所述测量信号；所述信号主控设备通过USB或TYPEC接口与所述触摸屏的处理器连接。当所述触摸操作如书写笔经过所述测量线时，所述测量信号被中断而导致所述信号接收器无法接收到所述测量信号，此时，进而所述信号接收器将反馈所述测量信息发生变化如产生中断信号给到所述信号主控设备，所述信号主控设备通知所述处理器有触摸操作经过所述测量项，所述触摸屏的处理器则根据所述信号主控设备日志，将接收到所述信号接收器的中断信号的时间确定为所述触摸点的实际触摸时间。其中，所述信号发射器和所述信号接收器为红外对管、超声对管等任何可以实现本申请的触摸屏的响应延时的方法的装置，优选的，所述信号发射器和所述信号接收器为红外对管。
实施例9
本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上储存有计算机程序，所述指令适于由处理器加载并执行上述所示实施例1和/或实施例2的方法步骤，具体执行过程可以参见实施例1和/或实施例2所示的具体说明，在此不进行赘述。所述存储介质所在设备可以是个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑等电子设备。
对于设备实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的组件可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本申请方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中选定的功能的装置。这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中选定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中选定的功能的步骤。
在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (16)

1.一种触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；
获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；
根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的触摸响应延时。
2.根据权利要求1所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，
所述根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间，包括：
根据所述两个采样点的坐标和所述测量点的坐标，计算所述两个采样点到所述测量点的距离；
根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间。
3.根据权利要求2所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，
所述根据所述两个采样点到所述测量点的距离、以及对应的所述输出时间，获得所述触摸屏对所述测量点的坐标的输出时间，包括：
获取其中一个采样点到所述测量点的距离与所述两个采样点之间的距离的比值，以及所述两个采样点的坐标的输出时间差；
根据所述两个采样点的输出时间差与所述比值的乘积，获得所述其中一个采样点到所述测量点的输出时间差；
根据所述其中一个采样点的坐标的输出时间、以及对应的所述采样点到所述测量点的输出时间差，获得所述测量点的坐标的输出时间。
4.根据权利要求1所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，
所述距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标为：位于所述测量点前后的相邻两个采样点的坐标。
5.根据权利要求1所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，
所述获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间，包括：
接收测量设备反馈的测量信息；其中，所述测量设备发射出用于获取所述测量信息的测量信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化；
将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。
6.根据权利要求5所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，
所述测量信号为经过所述测量点的波形信号，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信号被中断而使所述测量信息发生变化。
7.根据权利要求6所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，
所述波形信号包括红外光波和超声波。
8.根据权利要求1所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，
所述测量点为显示在所述触摸屏上由多个点构成的测量线；
所述获取触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间，包括：
获取触摸屏上触摸操作经过所述测量线任一位置的实际触摸时间；
所述获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息，包括：
获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息，其中，所述触摸轨迹与所述测量线不重合。
9.根据权利要求1-8中任一权利要求所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法，其特征在于，还包括以下步骤：
在所述触摸屏上显示所述触摸屏的触摸响应延时。
10.一种触摸屏的触摸延时测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
获取所述触摸屏响应输出预设测量点的坐标的第一延时；其中，所述第一延时根据权利要求1-9中任一权利要求所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法获得；
获取所述触摸屏从输出所述测量点的坐标到完成对所述测量点的坐标的处理的第二延时、以及获取所述触摸屏输出显示所述测量点的触摸轨迹的第三延时；
根据所述第一延时、所述第二延时和所述第三延时，获得所述触摸屏的触摸延时。
11.根据权利要求10所述触摸屏的触摸延时测量方法，其特征在于，还包括以下步骤：
在所述触摸屏上显示所述第一延时、所述第二延时、所述第三延时以及所述触摸延时。
12.一种触摸屏的触摸响应延时测量装置，其特征在于，包括：
触摸时间获取模块，用于触摸屏上的触摸操作经过预设测量点的实际触摸时间；
信息获取模块，用于获取所述触摸屏输出的所述触摸操作对应的触摸轨迹信息；所述触摸轨迹信息包括所述触摸轨迹上的多个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
第二信息获取模块，用于从所述触摸轨迹信息中，获取距离所述测量点在预设距离的两个采样点的坐标及其坐标的输出时间；
输出时间获取模块，用于根据所述两个采样点的坐标、对应的所述输出时间、以及所述测量点的坐标，获取所述测量点的坐标的输出时间；
响应延时获取模块，用于根据所述测量点的实际触摸时间、以及所述测量点的坐标的输出时间，获得所述触摸屏的触摸响应延时。
13.一种触摸屏的触摸响应延时测量系统，其特征在于，包括：触摸屏和测量设备；所述测量设备与所述触摸屏连接，所述触摸屏包括执行如权利要求1至9中任意一项所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法。
14.根据权利要求13所述的触摸屏的触摸响应延时测量系统，其特征在于，
所述测量点为显示在所述触摸屏上由多个点构成的测量线；
所述测量设备发射出用于获取测量信息的测量信号，所述测量信号与所述测量线重合，且在所述触摸操作经过所述测量点时，所述测量信息发生变化，将所述测量信息发生变化的时间确定为经过所述测量点的实际触摸时间。
15.一种交互平板，包括触摸屏；所述触摸屏包括触控层、显示层、处理器和存储器；其特征在于，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1至9中任意一项所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法。
16.一种计算机可读存储介质，其上储存有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至9中任意一项所述的触摸屏的触摸响应延时测量方法。
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