CN110970533B - 一种led倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种LED倒装芯片的紫光外延结构,自下而上依次包括:衬底、高温AlGaN缓冲层、N型AlGaN电子阻挡层、超晶格N型AlGaN层、超晶格AlGaN/AlInGaN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层、P型AlGaN层和接触层;其中,Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个交错层叠设置的AlInGaN量子阱层和AlInGaN量子垒层,且AlInGaN量子阱层和AlInGaN量子垒层均为Al组分渐变层。本发明还公开了一种LED倒装芯片的紫光外延结构的制备方法。本发明既能减少由材料不同带来的应力及极化电场影响,又能降低GaN材料在365~370nm波段的吸光,提高发光效率。

Description

一种LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法
技术领域
本发明属于倒装LED芯片技术领域,特别是涉及一种LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法。
背景技术
随着科技进步和新型能源发展,固态LED照明将成为未来世界发光的趋势,由于LED具有节能、环保、安全、寿命长、低耗、低热等优点,已经大面积地应用于交通指示灯、交通信号灯、景观装饰灯、显示屏、汽车尾灯、手机背光源等领域。目前市场上的LED等主要以蓝绿光为主,红黄光次之,紫光及紫外的LED产品比较少,主要由于紫光的LED制造难度大、光效低。随着LED应用的发展,紫光LED的市场需求越来越大,普遍应用于医疗器械、医学测量、卫生消毒、验钞点钞检验设备、防伪行业、生物统计安全性检测,涵盖医疗、卫生、金融、生物、检测、公共安全等各个方面。
目前紫光LED外延生长技术还不够成熟,一方面受制于紫光生长材料特性,另一方面是由于紫光LED能带结构的影响,导致了目前紫光LED芯片的发光效率较低,制备成本高,难度大,成品率低等。因此,如何制备高功率的紫光LED芯片成为非常迫切的需求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供一种既能减少由材料不同带来的应力及极化电场影响,又能降低GaN材料在365~370nm波段的吸光,提高发光效率的LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其自下而上依次包括:衬底、高温AlGaN缓冲层、N型AlGaN电子阻挡层、超晶格N型AlGaN层、超晶格AlGaN/AlInGaN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层、P型AlGaN层和接触层;其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1- y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层设置,最后一个所述AlInGaN量子阱层靠近所述最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层设置,且所述AlInGaN量子阱层和所述AlInGaN量子垒层均为Al组分渐变层。
优选的,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N的周期数为5~7。
优选的,所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变。
优选的,所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变。
优选的,所述超晶格N型AlGaN层的周期数为50~100。
优选的,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层的周期数为3~10。
优选的,所述超晶格N型AlGaN层为Si掺杂的超晶格N型AlGaN层,其中,Si为delta掺杂。
优选的,所述P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层为Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,其中,Mg为delta掺杂。
优选的,所述衬底由图形化蓝宝石以及在其上镀一层10nm-30nm厚的AlN构成。
同时,本发明还提供了一种LED倒装芯片的紫光外延结构的制备方法,其包括以下步骤:
(1)将图形化蓝宝石镀一层10nm-30nm厚的AlN作为衬底置于MOCVD(金属有机化合物气相外延)反应室中;
(2)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长高温AlGaN缓冲层;
(3)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长N型AlGaN电子阻挡层;
(4)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长多周期Si掺杂的超晶格N型AlGaN层,其中,所述超晶格N型AlGaN层的周期数为50~100,Si为delta掺杂;
(5)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长多周期的超晶格AlGaN/AlInGaN层,其中,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层的周期数为3~10;
(6)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟,H2载气下生长多周期的Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区,其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区的为5~7,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层设置,最后一个为AlInGaN量子阱,且所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变,所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变;
(7)在温度为900~950℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层;
(8)在温度为850~900℃、反应室压力为50~100torr、转速为1000转/分钟、H2载气下生长Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,其中,Mg为delta掺杂;
(9)在温度为950~1000℃、反应室压力为100~150torr、转速为1000转/分钟、H2载气下依次生长P型AlGaN层和接触层。
实施本发明提供的一种LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法,与现有技术相比较,其有益效果在于:
本发明通过自下而上依次设置的衬底、高温AlGaN缓冲层、N型AlGaN电子阻挡层、超晶格N型AlGaN层、超晶格AlGaN/AlInGaN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层、P型AlGaN层和接触层;其中,PSS蓝宝石+AlN衬底能有效降低材料的缺陷密度,提高晶体质量;N型AlGaN电子阻挡层和P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层均能有效阻挡电子溢出;超晶格AlGaN/AlInGaN层作为超晶格N型AlGaN层与发光有源区之间的过渡层,缓解由于AlGaN与AlInGaN之间晶格失配导致应力累积,实现了原子级多周期平坦界面;Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区中的量子阱、垒均为AlInGaN材料生长,且阱垒Al组分相对接近,能够减少由材料不同带来的应力及极化电场影响,从而提高了发光效率;另外,N层全部为AlGaN生长,对于以背面发光的倒装芯片,可大幅降低GaN材料在365~370nm波段的吸光,提升发光功率。
附图说明
图1为本发明提供的一种LED倒装芯片的紫光外延结构的结构示意图;
图中所示:
1、衬底,2、高温AlGaN缓冲层,3、N型AlGaN电子阻挡层,4、超晶格N型AlGaN层,5、超晶格AlGaN/AlInGaN层,6、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区,7、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层,8、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,9、P型AlGaN层,10、接触层。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
如图1所示,本发明的优选实施例,一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其自下而上依次包括:衬底1、高温AlGaN缓冲层2、N型AlGaN电子阻挡层3、超晶格N型AlGaN层4、超晶格AlGaN/AlInGaN层5、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层7、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层8、P型AlGaN层9和接触层10;其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层5设置,最后一个所述AlInGaN量子阱层靠近所述最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层7设置,且所述AlInGaN量子阱层和所述AlInGaN量子垒层均为Al组分渐变层。
基于上述LED倒装芯片的紫光外延结构的制备方法,其包括以下步骤:
(1)将图形化蓝宝石镀一层10nm-30nm厚的AlN作为衬底1置于MOCVD(金属有机化合物气相外延)反应室中;
(2)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长高温AlGaN缓冲层2;
(3)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长N型AlGaN电子阻挡层3;
(4)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长多周期Si掺杂的超晶格N型AlGaN层4,其中,所述超晶格N型AlGaN层4的周期数为50~100,Si为delta掺杂;
(5)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长多周期的超晶格AlGaN/AlInGaN层5,其中,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层5的周期数为3~10;
(6)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟,H2载气下生长多周期的Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6,其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6的为5~7,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层5设置,最后一个为AlInGaN量子阱,且所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变,所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变;
(7)在温度为900~950℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层;
(8)在温度为850~900℃、反应室压力为50~100torr、转速为1000转/分钟、H2载气下生长Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层8,其中,Mg为delta掺杂;
(9)在温度为950~1000℃、反应室压力为100~150torr、转速为1000转/分钟、H2载气下依次生长P型AlGaN层9和接触层10。
可见,本发明的一种LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法,通过自下而上依次设置的衬底1、高温AlGaN缓冲层2、N型AlGaN电子阻挡层3、超晶格N型AlGaN层4、超晶格AlGaN/AlInGaN层5、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层7、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层8、P型AlGaN层9和接触层10;其中,PSS蓝宝石+AlN衬底1能有效降低材料的缺陷密度,提高晶体质量;N型AlGaN电子阻挡层3和P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层8均能有效阻挡电子溢出;超晶格AlGaN/AlInGaN层5作为超晶格N型AlGaN层4与发光有源区6之间的过渡层,缓解由于AlGaN与AlInGaN之间晶格失配导致应力累积,实现了原子级多周期平坦界面;Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6中的量子阱、垒均为AlInGaN材料生长,且阱垒Al组分相对接近,能够减少由材料不同带来的应力及极化电场影响,从而提高了发光效率;另外,N层全部为AlGaN生长,对于以背面发光的倒装芯片,可大幅降低GaN材料在365~370nm波段的吸光,提升发光功率。
还需要说明的是,本发明还通过优化温度、反应室压力、转速等工艺参数将外延材料的生产控制在最佳范围内。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,自下而上依次包括:衬底、高温AlGaN缓冲层、N型AlGaN电子阻挡层、超晶格N型AlGaN层、超晶格AlGaN/AlInGaN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层、P型AlGaN层和接触层;
其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层设置,最后一个所述AlInGaN量子阱层靠近所述最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层设置,且所述AlInGaN量子阱层和所述AlInGaN量子垒层均为Al组分渐变层;所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变;所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变。
2.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N的周期数为5~7。
3.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述超晶格N型AlGaN层的周期数为50~100。
4.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层的周期数为3~10。
5.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述超晶格N型AlGaN层为Si掺杂的超晶格N型AlGaN层,其中,Si为delta掺杂。
6.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层为Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,其中,Mg为delta掺杂。
7.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述衬底由图形化蓝宝石以及在其上镀一层10nm-30nm厚的AlN构成。
8.一种LED倒装芯片的紫光外延结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将图形化蓝宝石镀一层10nm-30nm厚的AlN作为衬底置于MOCVD(金属有机化合物气相外延)反应室中;
(2)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长高温AlGaN缓冲层;
(3)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长N型AlGaN电子阻挡层;
(4)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长多周期Si掺杂的超晶格N型AlGaN层,其中,所述超晶格N型AlGaN层的周期数为50~100,Si为delta掺杂;
(5)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长多周期的超晶格AlGaN/AlInGaN层,其中,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层的周期数为3~10;
(6)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟,H2载气下生长多周期的Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区,其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区的为5~7,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层设置,最后一个为AlInGaN量子阱,且所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变,所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变;
(7)在温度为900~950℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层;
(8)在温度为850~900℃、反应室压力为50~100torr、转速为1000转/分钟、H2载气下生长Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,其中,Mg为delta掺杂;
(9)在温度为950~1000℃、反应室压力为100~150torr、转速为1000转/分钟、H2载气下依次生长P型AlGaN层和接触层。
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