CN110970533B - 一种led倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法 - Google Patents
一种led倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110970533B CN110970533B CN201911424944.0A CN201911424944A CN110970533B CN 110970533 B CN110970533 B CN 110970533B CN 201911424944 A CN201911424944 A CN 201911424944A CN 110970533 B CN110970533 B CN 110970533B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- layer
- alingan
- type algan
- algan
- superlattice
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 claims abstract description 97
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 64
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 18
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims description 24
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 22
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 3
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 3
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 claims description 3
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 claims 3
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 14
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 4
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 abstract description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000004659 sterilization and disinfection Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/04—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction
- H01L33/06—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction within the light emitting region, e.g. quantum confinement structure or tunnel barrier
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
- H01L33/0066—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound
- H01L33/007—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound comprising nitride compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/12—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a stress relaxation structure, e.g. buffer layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/26—Materials of the light emitting region
- H01L33/30—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table
- H01L33/32—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table containing nitrogen
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
本发明公开了一种LED倒装芯片的紫光外延结构,自下而上依次包括:衬底、高温AlGaN缓冲层、N型AlGaN电子阻挡层、超晶格N型AlGaN层、超晶格AlGaN/AlInGaN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层、P型AlGaN层和接触层;其中,Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个交错层叠设置的AlInGaN量子阱层和AlInGaN量子垒层,且AlInGaN量子阱层和AlInGaN量子垒层均为Al组分渐变层。本发明还公开了一种LED倒装芯片的紫光外延结构的制备方法。本发明既能减少由材料不同带来的应力及极化电场影响,又能降低GaN材料在365~370nm波段的吸光,提高发光效率。
Description
技术领域
本发明属于倒装LED芯片技术领域,特别是涉及一种LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法。
背景技术
随着科技进步和新型能源发展,固态LED照明将成为未来世界发光的趋势,由于LED具有节能、环保、安全、寿命长、低耗、低热等优点,已经大面积地应用于交通指示灯、交通信号灯、景观装饰灯、显示屏、汽车尾灯、手机背光源等领域。目前市场上的LED等主要以蓝绿光为主,红黄光次之,紫光及紫外的LED产品比较少,主要由于紫光的LED制造难度大、光效低。随着LED应用的发展,紫光LED的市场需求越来越大,普遍应用于医疗器械、医学测量、卫生消毒、验钞点钞检验设备、防伪行业、生物统计安全性检测,涵盖医疗、卫生、金融、生物、检测、公共安全等各个方面。
目前紫光LED外延生长技术还不够成熟,一方面受制于紫光生长材料特性,另一方面是由于紫光LED能带结构的影响,导致了目前紫光LED芯片的发光效率较低,制备成本高,难度大,成品率低等。因此,如何制备高功率的紫光LED芯片成为非常迫切的需求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供一种既能减少由材料不同带来的应力及极化电场影响,又能降低GaN材料在365~370nm波段的吸光,提高发光效率的LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其自下而上依次包括:衬底、高温AlGaN缓冲层、N型AlGaN电子阻挡层、超晶格N型AlGaN层、超晶格AlGaN/AlInGaN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层、P型AlGaN层和接触层;其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1- y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层设置,最后一个所述AlInGaN量子阱层靠近所述最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层设置,且所述AlInGaN量子阱层和所述AlInGaN量子垒层均为Al组分渐变层。
优选的,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N的周期数为5~7。
优选的,所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变。
优选的,所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变。
优选的,所述超晶格N型AlGaN层的周期数为50~100。
优选的,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层的周期数为3~10。
优选的,所述超晶格N型AlGaN层为Si掺杂的超晶格N型AlGaN层,其中,Si为delta掺杂。
优选的,所述P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层为Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,其中,Mg为delta掺杂。
优选的,所述衬底由图形化蓝宝石以及在其上镀一层10nm-30nm厚的AlN构成。
同时,本发明还提供了一种LED倒装芯片的紫光外延结构的制备方法,其包括以下步骤:
(1)将图形化蓝宝石镀一层10nm-30nm厚的AlN作为衬底置于MOCVD(金属有机化合物气相外延)反应室中;
(2)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长高温AlGaN缓冲层;
(3)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长N型AlGaN电子阻挡层;
(4)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长多周期Si掺杂的超晶格N型AlGaN层,其中,所述超晶格N型AlGaN层的周期数为50~100,Si为delta掺杂;
(5)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长多周期的超晶格AlGaN/AlInGaN层,其中,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层的周期数为3~10;
(6)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟,H2载气下生长多周期的Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区,其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区的为5~7,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层设置,最后一个为AlInGaN量子阱,且所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变,所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变;
(7)在温度为900~950℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层;
(8)在温度为850~900℃、反应室压力为50~100torr、转速为1000转/分钟、H2载气下生长Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,其中,Mg为delta掺杂;
(9)在温度为950~1000℃、反应室压力为100~150torr、转速为1000转/分钟、H2载气下依次生长P型AlGaN层和接触层。
实施本发明提供的一种LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法,与现有技术相比较,其有益效果在于:
本发明通过自下而上依次设置的衬底、高温AlGaN缓冲层、N型AlGaN电子阻挡层、超晶格N型AlGaN层、超晶格AlGaN/AlInGaN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层、P型AlGaN层和接触层;其中,PSS蓝宝石+AlN衬底能有效降低材料的缺陷密度,提高晶体质量;N型AlGaN电子阻挡层和P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层均能有效阻挡电子溢出;超晶格AlGaN/AlInGaN层作为超晶格N型AlGaN层与发光有源区之间的过渡层,缓解由于AlGaN与AlInGaN之间晶格失配导致应力累积,实现了原子级多周期平坦界面;Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区中的量子阱、垒均为AlInGaN材料生长,且阱垒Al组分相对接近,能够减少由材料不同带来的应力及极化电场影响,从而提高了发光效率;另外,N层全部为AlGaN生长,对于以背面发光的倒装芯片,可大幅降低GaN材料在365~370nm波段的吸光,提升发光功率。
附图说明
图1为本发明提供的一种LED倒装芯片的紫光外延结构的结构示意图;
图中所示:
1、衬底,2、高温AlGaN缓冲层,3、N型AlGaN电子阻挡层,4、超晶格N型AlGaN层,5、超晶格AlGaN/AlInGaN层,6、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区,7、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层,8、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,9、P型AlGaN层,10、接触层。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
如图1所示,本发明的优选实施例,一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其自下而上依次包括:衬底1、高温AlGaN缓冲层2、N型AlGaN电子阻挡层3、超晶格N型AlGaN层4、超晶格AlGaN/AlInGaN层5、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层7、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层8、P型AlGaN层9和接触层10;其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层5设置,最后一个所述AlInGaN量子阱层靠近所述最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层7设置,且所述AlInGaN量子阱层和所述AlInGaN量子垒层均为Al组分渐变层。
基于上述LED倒装芯片的紫光外延结构的制备方法,其包括以下步骤:
(1)将图形化蓝宝石镀一层10nm-30nm厚的AlN作为衬底1置于MOCVD(金属有机化合物气相外延)反应室中;
(2)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长高温AlGaN缓冲层2;
(3)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长N型AlGaN电子阻挡层3;
(4)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长多周期Si掺杂的超晶格N型AlGaN层4,其中,所述超晶格N型AlGaN层4的周期数为50~100,Si为delta掺杂;
(5)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长多周期的超晶格AlGaN/AlInGaN层5,其中,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层5的周期数为3~10;
(6)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟,H2载气下生长多周期的Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6,其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6的为5~7,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层5设置,最后一个为AlInGaN量子阱,且所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变,所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变;
(7)在温度为900~950℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层;
(8)在温度为850~900℃、反应室压力为50~100torr、转速为1000转/分钟、H2载气下生长Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层8,其中,Mg为delta掺杂;
(9)在温度为950~1000℃、反应室压力为100~150torr、转速为1000转/分钟、H2载气下依次生长P型AlGaN层9和接触层10。
可见,本发明的一种LED倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法,通过自下而上依次设置的衬底1、高温AlGaN缓冲层2、N型AlGaN电子阻挡层3、超晶格N型AlGaN层4、超晶格AlGaN/AlInGaN层5、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层7、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层8、P型AlGaN层9和接触层10;其中,PSS蓝宝石+AlN衬底1能有效降低材料的缺陷密度,提高晶体质量;N型AlGaN电子阻挡层3和P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层8均能有效阻挡电子溢出;超晶格AlGaN/AlInGaN层5作为超晶格N型AlGaN层4与发光有源区6之间的过渡层,缓解由于AlGaN与AlInGaN之间晶格失配导致应力累积,实现了原子级多周期平坦界面;Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区6中的量子阱、垒均为AlInGaN材料生长,且阱垒Al组分相对接近,能够减少由材料不同带来的应力及极化电场影响,从而提高了发光效率;另外,N层全部为AlGaN生长,对于以背面发光的倒装芯片,可大幅降低GaN材料在365~370nm波段的吸光,提升发光功率。
还需要说明的是,本发明还通过优化温度、反应室压力、转速等工艺参数将外延材料的生产控制在最佳范围内。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,自下而上依次包括:衬底、高温AlGaN缓冲层、N型AlGaN电子阻挡层、超晶格N型AlGaN层、超晶格AlGaN/AlInGaN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区、最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层、P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层、P型AlGaN层和接触层;
其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层设置,最后一个所述AlInGaN量子阱层靠近所述最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层设置,且所述AlInGaN量子阱层和所述AlInGaN量子垒层均为Al组分渐变层;所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变;所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变。
2.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N的周期数为5~7。
3.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述超晶格N型AlGaN层的周期数为50~100。
4.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层的周期数为3~10。
5.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述超晶格N型AlGaN层为Si掺杂的超晶格N型AlGaN层,其中,Si为delta掺杂。
6.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层为Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,其中,Mg为delta掺杂。
7.如权利要求1所述的一种LED倒装芯片的紫光外延结构,其特征在于,所述衬底由图形化蓝宝石以及在其上镀一层10nm-30nm厚的AlN构成。
8.一种LED倒装芯片的紫光外延结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将图形化蓝宝石镀一层10nm-30nm厚的AlN作为衬底置于MOCVD(金属有机化合物气相外延)反应室中;
(2)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长高温AlGaN缓冲层;
(3)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长N型AlGaN电子阻挡层;
(4)在温度为1050~1100℃、反应室压力为150~200torr、转速为1200转/分钟、H2载气、V/III摩尔比为100~300下生长多周期Si掺杂的超晶格N型AlGaN层,其中,所述超晶格N型AlGaN层的周期数为50~100,Si为delta掺杂;
(5)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长多周期的超晶格AlGaN/AlInGaN层,其中,所述超晶格AlGaN/AlInGaN层的周期数为3~10;
(6)在温度为880~920℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟,H2载气下生长多周期的Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区,其中,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区的为5~7,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N发光有源区包括多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层,多个AlInGaN量子阱层和多个AlInGaN量子垒层交错层叠设置,使得第一个所述AlInGaN量子垒层靠近超晶格AlGaN/AlInGaN层设置,最后一个为AlInGaN量子阱,且所述AlInGaN量子阱层中Al组分渐变为5%~10%~20%~10%~5%的先递增再递减渐变,所述AlInGaN量子垒层中Al组分渐变为10%~20%的递增渐变;
(7)在温度为900~950℃、反应室压力为150~200torr、转速为500转/分钟、H2载气下生长最后一个AlX3Ga1-X3N量子垒层;
(8)在温度为850~900℃、反应室压力为50~100torr、转速为1000转/分钟、H2载气下生长Mg掺杂的P型AlGaN/AIInGaN电子阻挡层,其中,Mg为delta掺杂;
(9)在温度为950~1000℃、反应室压力为100~150torr、转速为1000转/分钟、H2载气下依次生长P型AlGaN层和接触层。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911424944.0A CN110970533B (zh) | 2019-12-30 | 2019-12-30 | 一种led倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911424944.0A CN110970533B (zh) | 2019-12-30 | 2019-12-30 | 一种led倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110970533A CN110970533A (zh) | 2020-04-07 |
CN110970533B true CN110970533B (zh) | 2021-10-08 |
Family
ID=70037874
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201911424944.0A Active CN110970533B (zh) | 2019-12-30 | 2019-12-30 | 一种led倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110970533B (zh) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016116425A1 (de) * | 2016-09-02 | 2018-03-08 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement |
CN111599902B (zh) * | 2020-06-23 | 2022-02-11 | 东南大学 | 一种具有空穴注入结构电子阻挡层的发光二极管 |
CN112331750A (zh) * | 2020-10-23 | 2021-02-05 | 华灿光电(苏州)有限公司 | 紫外发光二极管外延片及其制造方法 |
CN112563381B (zh) * | 2020-12-29 | 2022-04-05 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种低欧姆接触电阻的深紫外发光二极管及其制备方法 |
CN113257968B (zh) * | 2021-05-11 | 2022-07-01 | 东南大学 | 一种具有氮极性面n型电子阻挡层的发光二极管 |
CN114068778A (zh) * | 2022-01-18 | 2022-02-18 | 至芯半导体(杭州)有限公司 | 一种uvb芯片的外延结构、uvb芯片 |
CN115360276B (zh) * | 2022-10-19 | 2023-01-31 | 至善时代智能科技(北京)有限公司 | 一种深紫外led外延结构及其制备方法 |
CN116387425B (zh) * | 2023-05-26 | 2023-08-11 | 中诚华隆计算机技术有限公司 | 一种多量子阱led外延结构、led芯片及其制备方法 |
CN117080328B (zh) * | 2023-10-12 | 2024-01-09 | 江西兆驰半导体有限公司 | 一种紫外led外延片及其制备方法、led芯片 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1659713A (zh) * | 2002-06-04 | 2005-08-24 | 氮化物半导体株式会社 | 氮化镓(GaN)类化合物半导体装置及其制造方法 |
CN103247728A (zh) * | 2013-05-09 | 2013-08-14 | 青岛杰生电气有限公司 | 一种半导体紫外光源器件 |
CN103681985A (zh) * | 2013-11-21 | 2014-03-26 | 华灿光电(苏州)有限公司 | 一种发光二极管的外延片及其制作方法 |
CN105762241A (zh) * | 2016-04-28 | 2016-07-13 | 厦门乾照光电股份有限公司 | 一种增强注入型的发光二极管的外延结构制作方法 |
CN107230738A (zh) * | 2017-07-31 | 2017-10-03 | 河北工业大学 | 具有超晶格隧穿结的发光二极管外延结构及其制备方法 |
CN109950371A (zh) * | 2019-03-13 | 2019-06-28 | 深圳市洲明科技股份有限公司 | 紫外led外延结构及其制备方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009094427A (ja) * | 2007-10-12 | 2009-04-30 | Eudyna Devices Inc | 発光素子の製造方法 |
KR102255305B1 (ko) * | 2014-10-14 | 2021-05-24 | 삼성전자주식회사 | 수직형 반도체 발광소자 및 그 제조 방법 |
-
2019
- 2019-12-30 CN CN201911424944.0A patent/CN110970533B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1659713A (zh) * | 2002-06-04 | 2005-08-24 | 氮化物半导体株式会社 | 氮化镓(GaN)类化合物半导体装置及其制造方法 |
CN103247728A (zh) * | 2013-05-09 | 2013-08-14 | 青岛杰生电气有限公司 | 一种半导体紫外光源器件 |
CN103681985A (zh) * | 2013-11-21 | 2014-03-26 | 华灿光电(苏州)有限公司 | 一种发光二极管的外延片及其制作方法 |
CN105762241A (zh) * | 2016-04-28 | 2016-07-13 | 厦门乾照光电股份有限公司 | 一种增强注入型的发光二极管的外延结构制作方法 |
CN107230738A (zh) * | 2017-07-31 | 2017-10-03 | 河北工业大学 | 具有超晶格隧穿结的发光二极管外延结构及其制备方法 |
CN109950371A (zh) * | 2019-03-13 | 2019-06-28 | 深圳市洲明科技股份有限公司 | 紫外led外延结构及其制备方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Ultraviolet light-emitting diodes at 340 nm using quaternary AlInGaN multiple quantum wells;Adivarahan, V, et cl.;《APPLIED PHYSICS LETTERS》;20011217;第79卷(第25期);4240-4242页 * |
硅基AlInGaN/AIN/GaN HEMT外延生长与器件工艺研究;戴淑君;《中国博士学位论文全文数据库 信息科技辑》;20181115;I135-41 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110970533A (zh) | 2020-04-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110970533B (zh) | 一种led倒装芯片的紫光外延结构及其制备方法 | |
CN102368519B (zh) | 一种提高半导体二极管多量子阱发光效率的方法 | |
CN102832306B (zh) | 一种高亮度发光二极管的外延结构及其实现方法 | |
CN100495750C (zh) | 一种氮化镓基发光二极管外延片结构及其制备方法 | |
CN108365069B (zh) | 一种高亮度v型极化掺杂深紫外led制备方法 | |
CN106449915B (zh) | 一种发光二极管外延片的生长方法 | |
CN103811601B (zh) | 一种以蓝宝石衬底为基板的GaN基LED多阶缓冲层生长方法 | |
CN105449051B (zh) | 一种采用MOCVD技术在GaN衬底或GaN/Al2O3复合衬底上制备高亮度同质LED的方法 | |
CN101488548A (zh) | 一种高In组分多InGaN/GaN量子阱结构的LED | |
CN101488550A (zh) | 高In组分多InGaN/GaN量子阱结构的LED的制造方法 | |
CN104576852A (zh) | 一种GaN基LED外延结构的发光量子阱应力调控方法 | |
WO2023143307A1 (zh) | 一种微发光二极管 | |
CN108054260A (zh) | 一种发光二极管的外延片及制备方法 | |
CN104733579A (zh) | 半导体发光器件及其制备方法 | |
CN115312643B (zh) | 一种具有插入层的led外延片及其制备方法 | |
CN103346219B (zh) | 复式多量子阱发光层结构的生长方法及led外延结构 | |
CN114649450B (zh) | 一种双波长紫外发光二极管外延层结构及其制备方法 | |
KR101644156B1 (ko) | 양자우물 구조의 활성 영역을 갖는 발광 소자 | |
CN108231964A (zh) | 一种提高发光二极管内量子效率的方法 | |
CN111952418A (zh) | 一种提升发光效率的led多量子阱层生长方法 | |
CN106910802B (zh) | 一种实现短波长紫外led的外延结构 | |
CN112201732B (zh) | 一种紫外led量子阱生长方法 | |
CN109103311A (zh) | 一种降低氮化镓基led发光二极管工作电压的外延片及生长方法 | |
CN112366260B (zh) | 发光二极管外延片及其制造方法 | |
CN110797441A (zh) | 具有InGaN/GaN/AlGaN/GaN量子阱的LED外延薄膜及其制法与应用 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |