CN110927550A - 一种igbt模块扫频测试台 - Google Patents

一种igbt模块扫频测试台 Download PDF

Info

Publication number
CN110927550A
CN110927550A CN201911198887.9A CN201911198887A CN110927550A CN 110927550 A CN110927550 A CN 110927550A CN 201911198887 A CN201911198887 A CN 201911198887A CN 110927550 A CN110927550 A CN 110927550A
Authority
CN
China
Prior art keywords
frequency sweep
igbt module
sweep test
module
platform
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201911198887.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110927550B (zh
Inventor
袁昊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhuzhou Changhe Electric Locomotive Technology Co Ltd
Original Assignee
Zhuzhou Changhe Electric Locomotive Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhuzhou Changhe Electric Locomotive Technology Co Ltd filed Critical Zhuzhou Changhe Electric Locomotive Technology Co Ltd
Priority to CN201911198887.9A priority Critical patent/CN110927550B/zh
Publication of CN110927550A publication Critical patent/CN110927550A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110927550B publication Critical patent/CN110927550B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601Apparatus or methods therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明公开了一种IGBT模块扫频测试台,包括支撑台、扫频测试组、IGBT模块定位台、安装台和升降驱动件,升降驱动件安装在支撑台的顶部、且升降驱动件的底部为输出端,扫频测试组安装在支撑台上并与升降驱动件的输出端连接,安装台安装在支撑台上,IGBT模块定位台设置在安装台上、且位于扫频测试组下方,IGBT模块定位在IGBT模块定位台上,升降驱动件驱动扫频测试组下降与IGBT模块对接进行扫频测试。该测试台具有安全性高、成本低廉、可降低测试难度、能提高测试准确性和测试效率的优点。

Description

一种IGBT模块扫频测试台
技术领域
本发明主要涉及IGBT扫频测试技术,尤其涉及一种IGBT模块扫频测试台。
背景技术
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor),绝缘栅双极型晶体管,是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件,兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。GTR饱和压降低,载流密度大,但驱动电流较大;MOSFET驱动功率很小,开关速度快,但导通压降大,载流密度小。IGBT综合了以上两种器件的优点,驱动功率小而饱和压降低。
在之前IGBT模块生产过程中,没有设计扫频测试这一工艺,故而造成了较高的产品不合格率,为了提高产品合格率等性能,目前逐渐有了扫频测试这一工艺过程,但是,在样件试验阶段没有成型的试验台,均是采用手工接线及连接方式进行试验,一方面降低了测试效率;另一方面提高了人力成本,并且测试难度高。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种安全性高、成本低廉、可降低测试难度、能提高测试准确性和测试效率的IGBT模块扫频测试台。
为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:
一种IGBT模块扫频测试台,包括支撑台、扫频测试组、IGBT模块定位台、安装台和升降驱动件,所述升降驱动件安装在支撑台的顶部、且升降驱动件的底部为输出端,扫频测试组安装在支撑台上并与升降驱动件的输出端连接,所述安装台安装在支撑台上,所述IGBT模块定位台设置在安装台上、且位于扫频测试组下方,所述IGBT模块定位在IGBT模块定位台上,所述升降驱动件驱动扫频测试组下降与IGBT模块对接进行扫频测试。
作为上述技术方案的进一步改进:
所述支撑台上设有第一支撑座,所述第一支撑座上设有平移导轨,所述安装台滑装在平移导轨上。
所述第一支撑座的两端安装有限位台,所述安装台移动至一端时与相应端的限位台接触限位。
所述第一支撑座的两端还安装有定位气缸,所述安装台的两端设有定位孔,所述安装台移动至一端时,相应端的所述定位气缸的伸缩杆伸出与定位孔配合定位。
所述IGBT模块定位台设有多个,各IGBT模块定位台均滑装在平移导轨上。
所述支撑台上还设有第二支撑座,所述升降驱动件安装在第二支撑座上。
所述扫频测试组包括电容模块、电流模块、测试柱和升降台,所述电容模块固装在支撑台上,所述升降台与升降驱动件的输出端连接,所述电流模块设置在升降台上并与电容模块连接,所述测试柱设置在升降台上并与电流模块连接。
所述升降台上设有导向柱,所述导向柱穿设于第二支撑座上。
所述电容模块包括电容和电容母排,所述电流模块包括交流排和直流排,所述电容和电容母排形成连接,所述交流排和直流排均与电容母排形成连接,所述测试柱安装在交流排和直流排上。
所述支撑台底部设有万向轮。
所述支撑台上设有把手。
与现有技术相比,本发明的优点在于:
本发明的IGBT模块扫频测试台,包括支撑台、扫频测试组、IGBT模块定位台、安装台和升降驱动件,升降驱动件安装在支撑台的顶部、且升降驱动件的底部为输出端,扫频测试组安装在支撑台上并与升降驱动件的输出端连接,安装台安装在支撑台上,IGBT模块定位台设置在安装台上、且位于扫频测试组下方,IGBT模块定位在IGBT模块定位台上,升降驱动件驱动扫频测试组下降与IGBT模块对接进行扫频测试。使用时,升降驱动件位于初始位置,将IGBT模块定位在IGBT模块定位台上,然后启动升降驱动件,驱使扫频测试组下降与IGBT模块对接,然后利用扫频测试组对IGBT模块进行扫频以检验其是否合格。较传统的手工接线而言,该测试台形成了一种针对IGBT模块的专用测试台,不再需要现场手工接线,一方面提高了安全性,另一方向降低了测试成本;而且,通过测试台实现了IGBT模块的自动测试,防止了人工误接现象,降低了测试难度,大大提高了测试的准确性和测试效率。
附图说明
图1是本发明IGBT模块扫频测试台的立体结构示意图。
图2是本发明IGBT模块扫频测试台的主视结构示意图。
图3是本发明IGBT模块扫频测试台的侧视结构示意图。
图4是本发明IGBT模块扫频测试台的俯视结构示意图。
图中各标号表示:
1、支撑台;11、第一支撑座;111、平移导轨;112、限位台;113、定位气缸;12、第二支撑座;2、扫频测试组;21、电容模块;211、电容;212、电容母排;22、电流模块;221、交流排;222、直流排;23、测试柱;24、升降台;241、导向柱;3、IGBT模块定位台;4、安装台;41、定位孔;5、升降驱动件;6、万向轮;7、把手。
具体实施方式
以下将结合说明书附图和具体实施例对本发明做进一步详细说明。
图1至图4示出了本发明IGBT模块扫频测试台的一种实施例,包括支撑台1、扫频测试组2、IGBT模块定位台3、安装台4和升降驱动件5,升降驱动件5安装在支撑台1的顶部、且升降驱动件5的底部为输出端,扫频测试组2安装在支撑台1上并与升降驱动件5的输出端连接,安装台4安装在支撑台1上,IGBT模块定位台3设置在安装台4上、且位于扫频测试组2下方,IGBT模块定位在IGBT模块定位台3上,升降驱动件5驱动扫频测试组2下降与IGBT模块对接进行扫频测试。使用时,升降驱动件5位于初始位置,将IGBT模块定位在IGBT模块定位台3上,然后启动升降驱动件5,驱使扫频测试组2下降与IGBT模块对接,然后利用扫频测试组2对IGBT模块进行扫频以检验其是否合格。较传统的手工接线而言,该测试台形成了一种针对IGBT模块的专用测试台,不再需要现场手工接线,一方面提高了安全性,另一方向降低了测试成本;而且,通过测试台实现了IGBT模块的自动测试,防止了人工误接现象,降低了测试难度,大大提高了测试的准确性和测试效率。
本实施例中,支撑台1上设有第一支撑座11,第一支撑座11上设有平移导轨111,安装台4滑装在平移导轨111上。该第一支撑座11对安装台4形成支撑,平移导轨111的设置,使得安装台4能沿平移导轨111作平移运动,便于IGBT模块的安装和拆卸。
本实施例中,第一支撑座11的两端安装有限位台112,安装台4移动至一端时与相应端的限位台112接触限位。该限位台112能防止安装台4脱出第一支撑座11,对其起到限位的效果。
本实施例中,第一支撑座11的两端还安装有定位气缸113,安装台4的两端设有定位孔41,安装台4移动至一端时,相应端的定位气缸113的伸缩杆伸出与定位孔41配合定位。该结构中,当安装台4移动至一端时,相应端的定位气缸113的伸缩杆伸出与定位孔41配合定位,防止其再发生误动,保证后续测试的精准对接。
本实施例中,IGBT模块定位台3设有多个,各IGBT模块定位台3均滑装在平移导轨111上。这样设置可以实现多个IGBT模块的有序测试,即在进行一个IGBT模块测试时,另外的IGBT模块定位台3上可同时进行IGBT模块的安装,提高了测试效率。
本实施例中,支撑台1上还设有第二支撑座12,升降驱动件5安装在第二支撑座12上。该第二支撑座12对升降驱动件5形成支撑。
本实施例中,扫频测试组2包括电容模块21、电流模块22、测试柱23和升降台24,电容模块21固装在支撑台1上,升降台24与升降驱动件5的输出端连接,电流模块22设置在升降台24上并与电容模块21连接,测试柱23设置在升降台24上并与电流模块22连接。该结构中,通过电容模块21、电流模块22、测试柱23和升降台24的配合实现扫频测试,其结构简单可靠,测试柱23设置为铜柱。
本实施例中,升降台24上设有导向柱241,导向柱241穿设于第二支撑座12上。该导向柱241一方面保证了升降台24升降运动的顺畅性和稳定性;另一方面进一步提高了扫频测试组2与下方IGBT模块对接的精准性。
本实施例中,电容模块21包括电容211和电容母排212,电流模块22包括交流排221和直流排222,电容211和电容母排212形成连接,交流排221和直流排222均与电容母排212形成连接,测试柱23安装在交流排221和直流排222上。该结构中,通过电容母排212交流排221和直流排222的配合实现扫频测试,其结构简单可靠。
本实施例中,支撑台1底部设有万向轮6。通过设置万向轮6使得支撑台1可以移动,便于转场测试。
本实施例中,支撑台1上设有把手7。该把手7进一步提高了支撑台1移动的方便性。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上,然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围的情况下,都可利用上述揭示的技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰,或修改为等同变化的等效实施例。因此,凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰,均应落在本发明技术方案保护的范围内。

Claims (11)

1.一种IGBT模块扫频测试台,其特征在于:包括支撑台(1)、扫频测试组(2)、IGBT模块定位台(3)、安装台(4)和升降驱动件(5),所述升降驱动件(5)安装在支撑台(1)的顶部、且升降驱动件(5)的底部为输出端,扫频测试组(2)安装在支撑台(1)上并与升降驱动件(5)的输出端连接,所述安装台(4)安装在支撑台(1)上,所述IGBT模块定位台(3)设置在安装台(4)上、且位于扫频测试组(2)下方,所述IGBT模块定位在IGBT模块定位台(3)上,所述升降驱动件(5)驱动扫频测试组(2)下降与IGBT模块对接进行扫频测试。
2.根据权利要求1所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述支撑台(1)上设有第一支撑座(11),所述第一支撑座(11)上设有平移导轨(111),所述安装台(4)滑装在平移导轨(111)上。
3.根据权利要求2所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述第一支撑座(11)的两端安装有限位台(112),所述安装台(4)移动至一端时与相应端的限位台(112)接触限位。
4.根据权利要求3所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述第一支撑座(11)的两端还安装有定位气缸(113),所述安装台(4)的两端设有定位孔(41),所述安装台(4)移动至一端时,相应端的所述定位气缸(113)的伸缩杆伸出与定位孔(41)配合定位。
5.根据权利要求4所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述IGBT模块定位台(3)设有多个,各IGBT模块定位台(3)均滑装在平移导轨(111)上。
6.根据权利要求5所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述支撑台(1)上还设有第二支撑座(12),所述升降驱动件(5)安装在第二支撑座(12)上。
7.根据权利要求6所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述扫频测试组(2)包括电容模块(21)、电流模块(22)、测试柱(23)和升降台(24),所述电容模块(21)固装在支撑台(1)上,所述升降台(24)与升降驱动件(5)的输出端连接,所述电流模块(22)设置在升降台(24)上并与电容模块(21)连接,所述测试柱(23)设置在升降台(24)上并与电流模块(22)连接。
8.根据权利要求7所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述升降台(24)上设有导向柱(241),所述导向柱(241)穿设于第二支撑座(12)上。
9.根据权利要求8所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述电容模块(21)包括电容(211)和电容母排(212),所述电流模块(22)包括交流排(221)和直流排(222),所述电容(211)和电容母排(212)形成连接,所述交流排(221)和直流排(222)均与电容母排(212)形成连接,所述测试柱(23)安装在交流排(221)和直流排(222)上。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述支撑台(1)底部设有万向轮(6)。
11.根据权利要求10所述的IGBT模块扫频测试台,其特征在于:所述支撑台(1)上设有把手(7)。
CN201911198887.9A 2019-11-29 2019-11-29 一种igbt模块扫频测试台 Active CN110927550B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911198887.9A CN110927550B (zh) 2019-11-29 2019-11-29 一种igbt模块扫频测试台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911198887.9A CN110927550B (zh) 2019-11-29 2019-11-29 一种igbt模块扫频测试台

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110927550A true CN110927550A (zh) 2020-03-27
CN110927550B CN110927550B (zh) 2021-11-09

Family

ID=69847718

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911198887.9A Active CN110927550B (zh) 2019-11-29 2019-11-29 一种igbt模块扫频测试台

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110927550B (zh)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01141363A (ja) * 1987-11-27 1989-06-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 掃引回路
CN102698969A (zh) * 2012-05-29 2012-10-03 格兰达技术(深圳)有限公司 一种ic芯片自动测试分选机
CN203191512U (zh) * 2013-04-18 2013-09-11 重庆大学 应用于有机薄膜场效应晶体管测试的装置
CN204349819U (zh) * 2015-01-30 2015-05-20 南车株洲电力机车研究所有限公司 一种简易紧凑式功率模块装置
CN105896948A (zh) * 2014-12-31 2016-08-24 国家电网公司 一种具有igbt元件运行寿命预判功能的驱动器
CN205720314U (zh) * 2016-06-02 2016-11-23 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 多路igbt模块测试夹具
CN207020281U (zh) * 2017-07-27 2018-02-16 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种功能测试设备
CN108957281A (zh) * 2018-09-13 2018-12-07 宁波市创源光伏科技有限公司 一种光伏接线盒二极管特性检测装置
CN109047006A (zh) * 2018-07-12 2018-12-21 太仓市晨启电子精密机械有限公司 一种igbt模块全自动测试一贯机
CN208672690U (zh) * 2018-08-29 2019-03-29 烟台台芯电子科技有限公司 一种igbt模块内部的半桥dbc测试夹具

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01141363A (ja) * 1987-11-27 1989-06-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 掃引回路
CN102698969A (zh) * 2012-05-29 2012-10-03 格兰达技术(深圳)有限公司 一种ic芯片自动测试分选机
CN203191512U (zh) * 2013-04-18 2013-09-11 重庆大学 应用于有机薄膜场效应晶体管测试的装置
CN105896948A (zh) * 2014-12-31 2016-08-24 国家电网公司 一种具有igbt元件运行寿命预判功能的驱动器
CN204349819U (zh) * 2015-01-30 2015-05-20 南车株洲电力机车研究所有限公司 一种简易紧凑式功率模块装置
CN205720314U (zh) * 2016-06-02 2016-11-23 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 多路igbt模块测试夹具
CN207020281U (zh) * 2017-07-27 2018-02-16 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种功能测试设备
CN109047006A (zh) * 2018-07-12 2018-12-21 太仓市晨启电子精密机械有限公司 一种igbt模块全自动测试一贯机
CN208672690U (zh) * 2018-08-29 2019-03-29 烟台台芯电子科技有限公司 一种igbt模块内部的半桥dbc测试夹具
CN108957281A (zh) * 2018-09-13 2018-12-07 宁波市创源光伏科技有限公司 一种光伏接线盒二极管特性检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN110927550B (zh) 2021-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN203811714U (zh) 一种pcb板自动测试治具
CN209746008U (zh) 一种可快速检测led灯和排插的治具
CN209432962U (zh) 一种上下交替结构功能测试平台
CN208434189U (zh) 一种pcb线路板的压合装置
CN110927550B (zh) 一种igbt模块扫频测试台
CN108169523B (zh) 一种在线测试过板机构
CN208467501U (zh) 用于管材切割的辅助支撑结构及加工设备
CN110911299B (zh) Igbt模块扫频测试台
CN208646067U (zh) 汽车主地毯用高频焊接设备
CN215300800U (zh) 一种电视机检测装置
CN212905234U (zh) 一种igbt模块局部放电测试工装
CN212904858U (zh) 一种金属构件表面缺陷检测装置
CN212528449U (zh) 新型注塑件产品整形设备
CN211741493U (zh) 一种集成电路的测试装置
CN208654302U (zh) 高精确度led自动检测机
CN115951095B (zh) 一种具有位置校正功能的集成电路测试夹具
CN212905260U (zh) 一种igbt模块扫频测试台
CN112635379A (zh) 一种电源芯片加工用定位装置及其使用方法
CN214779215U (zh) 一种多头吸料装置
CN105682370A (zh) 一种全自动智能pcb板贴片移载平台
CN117819195B (zh) 一种电路板测试工装
CN216927010U (zh) 一种fpc测试设备
CN218927725U (zh) 一种电气产品装配工作台
CN213122189U (zh) 一种igbt模块全自动分选测试线
CN219266460U (zh) 一种用于集成电路芯片的测试工装

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant