CN110782941B - 一种存储设备测试和自动分bin的方法、装置以及设备 - Google Patents

Abstract

本发明揭示了一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备。其中，一种存储设备测试和自动分BIN的方法，包括：测试自动分BIN机台根据测试结果数据信息，将已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别。自动分BIN机台根据测试结果信息，分别将三种类别的存储设备转移至对应的第二承载板，避免装有存储容量合格的第二承载板中，混有存储容量失效以及无法测试存储容量的存储设备。通过机器测试和分类的方式，大幅提高测试和分类存储设备的速度。通过上述操作，与现有技术相比，大幅提高测试存储设备容量和分类存储设备的速度，以及大幅降低存储设备分类出错的概率，从而提高存储设备测试效率和分类效率。

Description

一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备

技术领域

本发明涉及到存储器领域，特别是涉及到一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备。

背景技术

存储设备如TF卡(Trans-flash Card，Micro SD卡)和U盘已深入人们的生产生活中。

目前存储设备测试加工厂，均是工人手动测试存储设备的容量，该方式测试速度慢。另外，由于同批量生产的存储设备的外观相同，工人无法凭借存储设备外观区分存储设备之间的存储容量，容易在存储设备容量分级时操作失误，导致相同容量批次下，出现不同容量的存储设备，或者出现无法使用的存储设备。综上，通过人工测试存储设备容量的方式速度慢，易出错，导致存储设备测试效率和分类效率低。

发明内容

本发明的主要目的为提供一种存储设备测试和自动分BIN的方法，旨在解决存储设备测试效率和分类效率低的技术问题。

本发明提出一种一种存储设备测试和自动分BIN的方法，存储设备测试和自动分BIN方法具有对应的测试自动分BIN机台，测试自动分BIN机台包括测试区域、分类区域和成品区域，且测试自动分BIN机台具有对应的承载板，包括：

测试自动分BIN机台进行机台自检；

将装有待测试的存储设备的第一承载板传送至测试区域，并测试所有待测试的存储设备；

判断是否获取到所有待测试的存储设备的测试结果数据信息，其中测试结果信息包括各待测试的存储设备对应的实际容量信息，并根据实际容量信息，将各已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别；

若是，则依次判断各已测试的存储设备是否处在第一承载板对应的预设位置；

若是，则将处在第一承载板对应预设位置的已测试的存储设备判定为第一存储设备；

根据测试结果数据信息，将各第一存储设备从第一承载板转移至对应的第二承载板，其中，第二承载板为位于分类区域的承载板；

判断位于第二承载板的存储容量合格的第一存储设备是否达到预设数量；

若是，则将装载有存储容量合格的第一存储设备的第二承载板从分类区域传送至成品区域。

优选的，依次判断各已测试的存储设备是否处在第一承载板对应的预设位置步骤，包括：

以位于测试区域的指定第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板；

根据光学定位，获取各已测试的存储设备在第一承载板对应的实际位置，生成各已测试的存储设备对应的第一坐标信息；

根据各已测试的存储设备在第一承载板对应的预设位置，获取第二坐标信息，其中，第二坐标信息为各已测试存储设备预设于数据库的对应的坐标信息；

判断各已测试存储设备对应的第一坐标信息，以及对应的第二坐标信息是否一致；

若是，则判定该已测试的存储设备处在第一承载板对应的预设位置。

优选的，存储容量合格的第一存储设备具有对应的容量等级划分表，存储容量合格的各第一存储设备具有对应的排布序号，将根据测试结果数据信息，将各第一存储设备从第一承载板转移至对应的第二承载板的步骤，包括：

获取各排布序号对应的第一存储设备的实际容量信息；

根据容量等级划分表和实际容量信息，将各排布序号对应的第一存储设备划分容量等级；

根据容量等级，各排布序号对应的第一存储设备转移至与容量等级对应的第二承载板。

优选的，将装载有存储容量合格的第一存储设备的第二承载板从分类区域传送至成品区域的步骤之后，包括：

记录当前各容量等级对应的第二承载板的数量；

根据各容量等级对应的第二承载板的数量，计算当前各容量等级对应的存储设备的数量。

优选的，判断位于第二承载板的存储容量合格的第一存储设备是否达到预设数量的步骤之后，包括：

若否，则判断第一承载板是否存在第一存储设备；

若否，则将第二承载板从分类区域传输到成品区域。

优选的，本发明还提供一种存储设备测试和自动分BIN的装置，包括：

自检模块，用于测试自动分BIN机台进行机台自检；

第一执行模块，用于将装有待测试的存储设备的第一承载板传送至测试区域，并测试所有待测试的存储设备；

第一判断模块，用于判断是否获取到所有待测试的存储设备的测试结果数据信息，其中测试结果信息包括各待测试的存储设备对应的实际容量信息，并根据实际容量信息，将各已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别；

第二判断模块，用于若是，则依次判断各已测试的存储设备是否处在第一承载板对应的预设位置；

第二执行模块，用于若是，则将处在第一承载板对应预设位置的已测试的存储设备判定为第一存储设备；

第一传输模块，用于根据测试结果数据信息，将各第一存储设备从第一承载板转移至对应的第二承载板，其中，第二承载板为位于分类区域的承载板；

第三判断模块，用于判断位于第二承载板的存储容量合格的第一存储设备是否达到预设数量；

第二传输模块，用于若是，则将装载有存储容量合格的第一存储设备的第二承载板从分类区域传送至成品区域。

优选的，第二判断模块包括：

第一执行子模块，用于以位于测试区域的指定第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板；

第一获取子模块，用于根据光学定位，获取各已测试的存储设备在第一承载板对应的实际位置，生成各已测试的存储设备对应的第一坐标信息；

第二获取子模块，用于根据各已测试的存储设备在第一承载板对应的预设位置，获取第二坐标信息，其中，第二坐标信息为各已测试存储设备预设于数据库的对应的坐标信息；

第一判断子模块，用于判断各已测试存储设备对应的第一坐标信息，以及对应的第二坐标信息是否一致；

第二执行子模块，用于若是，则判定该已测试的存储设备处在第一承载板对应的预设位置。

优选的，第二执行模块包括：

第三获取子模块，用于获取各排布序号对应的第一存储设备的实际容量信息；

第三执行子模块，用于根据容量等级划分表和实际容量信息，将各排布序号对应的第一存储设备划分容量等级；

第一传输子模块，用于根据容量等级，各排布序号对应的第一存储设备转移至与容量等级对应的第二承载板。

优选的，测试和自动分BIN的装置还包括：

记录模块，用于记录当前各容量等级对应的第二承载板的数量；

计算模块，用于根据各容量等级对应的第二承载板的数量，计算当前各容量等级对应的存储设备的数量。

优选的，本发明还提供一种测试和自动分BIN的设备，用于执行权利要上述测试和自动分BIN的方法。

本发明的有益效果：测试自动分BIN机台进行机台自检，目的是检查测试自动分BIN机台的各部件是否正常工作。测试自动分BIN机台根据测试结果数据信息，将已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别。测试自动分BIN机台判断各已测试的存储设备是否处在第一承载板对应预设位置，当已测试的存储设备处于第一承载板对应预设位置，才方便测试自动分BIN机台抓取已测试的存储设备，并转移至第二承载板。自动分BIN机台根据测试结果信息，分别将存储容量合格，存储容量失效，以及无法测试存储容量的存储设备转移至对应的第二承载板，避免装有存储容量合格的第二承载板中，混有存储容量失效以及无法测试存储容量的存储设备，大幅降低存储设备分类出错的概率。此外，通过机器测试和分类的方式，大幅提高测试和分类存储设备的速度。综上，通过上述操作，大幅提高测试存储设备容量和分类存储设备的速度，以及大幅降低存储设备分类出错的概率，从而提高存储设备测试效率和分类效率。

附图说明

图1为本发明一种存储设备测试和自动分BIN的方法的第一流程示意图；

图2为本发明一种存储设备测试和自动分BIN的方法的第二流程示意图；

图3为本发明一种存储设备测试和自动分BIN的方法的第三流程示意图；

图4为本发明一种存储设备测试和自动分BIN的方法的第四流程示意图；

图5为本发明一种存储设备测试和自动分BIN的方法的第五流程示意图；

图6本发明一种存储设备测试和自动分BIN的装置的第一实施例的结构示意图。

标号说明：

1、自检模块；2、第一执行模块；3、第一判断模块；4、第二判断模块；5、第二执行模块；6、第一传输模块；7、第三判断模块；8、第二传输模块。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，本发明提供一种存储设备测试和自动分BIN的方法，存储设备测试和自动分BIN方法具有对应的测试自动分BIN机台，测试自动分BIN机台包括测试区域、分类区域和成品区域，且测试自动分BIN机台具有对应的承载板，包括：

S1：测试自动分BIN机台进行机台自检；

S2：将装有待测试的存储设备的第一承载板传送至测试区域，并测试所有待测试的存储设备；

S3：判断是否获取到所有待测试的存储设备的测试结果数据信息，其中，测试结果信息包括各待测试的存储设备对应的实际容量信息，并根据实际容量信息，将各已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别；

S4：若是，则依次判断各已测试的存储设备是否处在第一承载板对应的预设位置；

S5：若是，则将处在第一承载板对应预设位置的已测试的存储设备判定为第一存储设备；

S6：根据测试结果数据信息，将各第一存储设备从第一承载板转移至对应的第二承载板，其中，第二承载板为位于分类区域的承载板；

S7：判断位于第二承载板的存储容量合格的第一存储设备是否达到预设数量；

S8：若是，则将装载有存储容量合格的第一存储设备的第二承载板从分类区域传送至成品区域。

在本发明实施例中，存储设备包括但不限于TF卡和U盘，测试自动分BIN机台具有测试电脑。以U盘为例，第一承载板上分布有10个U盘，U盘的USB接口与测试自动分BIN机台通信连接，通过测试电脑上的测试软件测试U盘的实际容量，生成各U盘对应的测试结果信息。根据测试结果信息，将U盘分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别。如10个U盘中，有7个存储容量合格，即U盘的实际容量不为零；有2个存储容量失效，即U盘的实际容量为零；有1个无法测试存储容量，即无法得知U盘的实际容量。由于U盘测试过程中，与测试自动分BIN机台产生物理接触，因此可能导致U盘的位置发生变化，所以需要测试自动分BIN机台判断已测试的存储设备是否处在第一承载板对应的预设位置，即判断已测试的U盘的位置是否不变。若U盘的位置保持不变，则测试自动分BIN机台通过具有真空吸盘的抓手，吸取U盘，将储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量的U盘分别转移至不同的第二承载板。在本发明其它实施例中，若U盘的位置发生变化，则测试自动分BIN机台不转移U盘。当测试自动分BIN机台将7个存储容量合格的U盘转移至第二承载板后，则判断位于第二承载板的存储容量合格的U盘是否达到预设数量，如7个。若位于第二承载板的存储容量合格的U盘达到预设数量，即第二承载板能承载U盘的最大数量，则将装有7个存储容量合格的U盘的第二承载板转移至成品区域，方便工作人员收取存储设备。通过上述操作，测试自动分BIN机台进行机台自检，目的是检查测试自动分BIN机台的各部件是否正常工作。测试自动分BIN机台根据测试结果数据信息，将已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别。测试自动分BIN机台判断各已测试的存储设备是否处在第一承载板对应预设位置，当已测试的存储设备处于第一承载板对应预设位置，才方便测试自动分BIN机台抓取已测试的存储设备，并转移至第二承载板。自动分BIN机台根据测试结果信息，分别将存储容量合格，存储容量失效，以及无法测试存储容量的存储设备转移至对应的第二承载板，避免装有存储容量合格的第二承载板中，混有存储容量失效以及无法测试存储容量的存储设备，大幅降低存储设备分类出错的概率。此外，通过机器测试和分类的方式，大幅提高测试和分类存储设备的速度。综上，通过上述操作，大幅提高测试存储设备容量和分类存储设备的速度，以及大幅降低存储设备分类出错的概率，从而提高存储设备测试效率和分类效率。

参考图2，依次判断各所述已测试的存储设备是否处在所述第一承载板对应的预设位置步骤S4包括：

S41:以位于测试区域的指定第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板；

S42：根据光学定位，获取各已测试的存储设备在第一承载板对应的实际位置，生成各已测试的存储设备对应的第一坐标信息；

S43：根据各已测试的存储设备在第一承载板对应的预设位置，生成第二坐标信息；

S44：判断各已测试存储设备对应的第一坐标信息，以及对应的第二坐标信息是否一致；

S45：若是，则判定该已测试的存储设备处在第一承载板对应的预设位置。

在本发明实施例中，测试自动分BIN机台包含光学定位检测仪。第一承载板和第二承载板均设有多个用于放置单一存储设备的凹槽。测试自动分BIN机根据各凹槽的位置，生成各已测试存储设备对应的第二坐标信息，并将各已测试存储设备对应的第二坐标信息存储于测试自动分BIN机台的数据库。测试自动分BIN机台以位于测试区域的指定第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板。存储设备以U盘为例。第一承载板上装载10个U盘。以第一U盘为例，测试自动分BIN机台通过光学定位，获取第一U盘在第一承载板对应的实际位置，生成第一坐标信息(X_A，Y_A)；测试自动分BIN机台根据第一U盘在第一承载板对应的预设位置，从测试自动分BIN机台的数据库(如硬盘)获取第一U盘对应的第二坐标信息(X₁，Y₁)。测试自动分BIN机台判断第一坐标信息(X_A，Y_A)和第二坐标信息(X₁，Y₁)是否一致，若一致，则证明存储设备在测试过程前后，物理位置未发生改变，仍位于承载板的凹槽内。通过上述操作，可以准确判断各已测试的存储设备在测试过程前后物理位置是否发生改变。

参照图3，存储容量合格的所述第一存储设备具有对应的容量等级划分表，存储容量合格的各第一存储设备具有对应的排布序号，将根据测试结果数据信息，将各第一存储设备从第一承载板转移至对应的第二承载板的步骤S6，包括：

S61：获取各排布序号对应的第一存储设备的实际容量信息；

S62：根据容量等级划分表和实际容量信息，将各排布序号对应的第一存储设备划分容量等级；

S63：根据容量等级，各排布序号对应的第一存储设备转移至与容量等级对应的第二承载板。

在本发明实施例中，容量等级划分表为根据存储设备实际容量信息对应的容量等级表格。以物理容量为64Gb的U盘为例，U盘实际容量范围为(64Gb,60Gb)的U盘，对应的容量等级为BIN1，实际容量范围为(59Gb,50Gb)的U盘，对应的容量等级为BIN2，依此类推。如第一承载板上装载有10个物理容量为64Gb的U盘，排布序号分别为1、2、3......10。其中，经测试自动分BIN机台检测，排布序号1至9的U盘实际容量处于(59Gb,50Gb)，因此被划分为BIN1，排布序号10的U盘实际容量处于(59Gb,50Gb)，因此被划分为BIN2。测试自动分BIN机台将BIN1的U盘从第一承载板转移至BIN1对应的第二承载板A，将BIN2的U盘从第一承载板转移至BIN2对应的第二承载板B。通过上述操作，实现对存储设备的精细分类。

参照图4，将装载有存储容量合格的第一存储设备的第二承载板从分类区域传送至成品区域的步骤S8之后，包括：

S9：记录当前各容量等级对应的第二承载板的数量；

S10：根据各容量等级对应的第二承载板的数量，计算当前各容量等级对应的存储设备的数量。

在本发明实施例中，不同容量等级的存储设备的价格不同。测试自动分BIN机台检测通过传感器等方式记录当前各容量等级对应的第二承载板的数量，根据各容量等级对应的第二承载板的数量，计算当前各容量等级对应的存储设备的数量，生成的结果可以以图片、文字、语音等形式告知测试人员。通过上述操作，测试人员可以准确得知当前批次的存储设备的测试情况，从而估算出当前批次存储设备的经济价值。在本发明其它实施例中，测试自动分BIN机台记录装载有存储容量失效的第二承载板，以及无法测试存储容量的第二承载板数量，从而估算出当前批次存储设备的损耗。

参照图5，判断位于第二承载板的存储容量合格的第一存储设备是否达到预设数量的步骤S7之后，包括：

S71：若否，则判断第一承载板是否存在第一存储设备；

S72：若否，则将第二承载板从分类区域传输到成品区域。

在本发明实施例中，第一存储设备为已检测的U盘。测试自动分BIN机台检测通过传感器等方式检测第一承载板是否存在第一存储设备。若否，则无需等待第二承载板装满U盘，即将第二承载板从分类区域传输到成品区域。通过上述操作，避免第一承载板没有待分类的存储设备时，第二承载板空等。

参照图6，本发明还提供一种存储设备测试和自动分BIN的装置，包括：

自检模块1，用于测试自动分BIN机台进行机台自检；

第一执行模块2，用于将装有待测试的存储设备的第一承载板传送至测试区域，并测试所有待测试的存储设备；

第一判断模块3，用于判断是否获取到所有待测试的存储设备的测试结果数据信息，其中测试结果信息包括各待测试的存储设备对应的实际容量信息，并根据实际容量信息，将各已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别；

第二判断模块4，用于若是，则依次判断各已测试的存储设备是否处在第一承载板对应的预设位置；

第二执行模块5，用于若是，则将处在第一承载板对应预设位置的已测试的存储设备判定为第一存储设备；

第一传输模块6，用于根据测试结果数据信息，将各第一存储设备从第一承载板转移至对应的第二承载板，其中，第二承载板为位于分类区域的承载板；

第三判断模块7，用于判断位于第二承载板的存储容量合格的第一存储设备是否达到预设数量；

第二传输模块8，用于若是，则将装载有存储容量合格的第一存储设备的第二承载板从分类区域传送至成品区域。

在本发明实施例中，存储设备包括但不限于TF卡和U盘，测试自动分BIN机台具有测试电脑。以U盘为例，第一承载板上分布有10个U盘，U盘的USB接口与测试自动分BIN机台通信连接，通过测试电脑上的测试软件测试U盘的实际容量，生成各U盘对应的测试结果信息。根据测试结果信息，将U盘分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别。如10个U盘中，有7个存储容量合格，即U盘的实际容量不为零；有2个存储容量失效，即U盘的实际容量为零；有1个无法测试存储容量，即无法得知U盘的实际容量。由于U盘测试过程中，与测试自动分BIN机台产生物理接触，因此可能导致U盘的位置发生变化，所以需要测试自动分BIN机台判断已测试的存储设备是否处在第一承载板对应的预设位置，即判断已测试的U盘的位置是否不变。若U盘的位置保持不变，则测试自动分BIN机台通过具有真空吸盘的抓手，吸取U盘，将储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量的U盘分别转移至不同的第二承载板。在本发明其它实施例中，若U盘的位置发生变化，则测试自动分BIN机台不转移U盘。当测试自动分BIN机台将7个存储容量合格的U盘转移至第二承载板后，则判断位于第二承载板的存储容量合格的U盘是否达到预设数量，如7个。若位于第二承载板的存储容量合格的U盘达到预设数量，即第二承载板能承载U盘的最大数量，则将装有7个存储容量合格的U盘的第二承载板转移至成品区域，方便工作人员收取存储设备。通过上述操作，测试自动分BIN机台进行机台自检，目的是检查测试自动分BIN机台的各部件是否正常工作。测试自动分BIN机台根据测试结果数据信息，将已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别。测试自动分BIN机台判断各已测试的存储设备是否处在第一承载板对应预设位置，当已测试的存储设备处于第一承载板对应预设位置，才方便测试自动分BIN机台抓取已测试的存储设备，并转移至第二承载板。自动分BIN机台根据测试结果信息，分别将存储容量合格，存储容量失效，以及无法测试存储容量的存储设备转移至对应的第二承载板，避免装有存储容量合格的第二承载板中，混有存储容量失效以及无法测试存储容量的存储设备，大幅降低存储设备分类出错的概率。此外，通过机器测试和分类的方式，大幅提高测试和分类存储设备的速度。综上，通过上述操作，大幅提高测试存储设备容量和分类存储设备的速度，以及大幅降低存储设备分类出错的概率，从而提高存储设备测试效率和分类效率。

进一步地，第二判断模块4包括：

第一执行子模块，用于以位于测试区域的指定第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板；

第一获取子模块，用于根据光学定位，获取各已测试的存储设备在第一承载板对应的实际位置，生成各已测试的存储设备对应的第一坐标信息；

第二获取子模块，用于根据各已测试的存储设备在第一承载板对应的预设位置，获取第二坐标信息，其中，第二坐标信息为各已测试存储设备预设于数据库的对应的坐标信息；

第一判断子模块，用于判断各已测试存储设备对应的第一坐标信息，以及对应的第二坐标信息是否一致；

第二执行子模块，用于若是，则判定该已测试的存储设备处在第一承载板对应的预设位置。

在本发明实施例中，测试自动分BIN机台包含光学定位检测仪。第一承载板和第二承载板均设有多个用于放置单一存储设备的凹槽。测试自动分BIN机根据各凹槽的位置，生成各已测试存储设备对应的第二坐标信息，并将各已测试存储设备对应的第二坐标信息存储于测试自动分BIN机台的数据库。测试自动分BIN机台以位于测试区域的指定第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板。存储设备以U盘为例。第一承载板上装载10个U盘。以第一U盘为例，测试自动分BIN机台通过光学定位，获取第一U盘在第一承载板对应的实际位置，生成第一坐标信息(X_A，Y_A)；测试自动分BIN机台根据第一U盘在第一承载板对应的预设位置，从测试自动分BIN机台的数据库(如硬盘)获取第一U盘对应的第二坐标信息(X₁，Y₁)。测试自动分BIN机台判断第一坐标信息(X_A，Y_A)和第二坐标信息(X₁，Y₁)是否一致，若一致，则证明存储设备在测试过程前后，物理位置未发生改变，仍位于承载板的凹槽内。通过上述操作，可以准确判断各已测试的存储设备在测试过程前后物理位置是否发生改变。

进一步地，第二执行模块5包括：

第三获取子模块，用于获取各排布序号对应的第一存储设备的实际容量信息；

第三执行子模块，用于根据容量等级划分表和实际容量信息，将各排布序号对应的第一存储设备划分容量等级；

第一传输子模块，用于根据容量等级，各排布序号对应的第一存储设备转移至与容量等级对应的第二承载板。

在本发明实施例中，容量等级划分表为根据存储设备实际容量信息对应的容量等级表格。以物理容量为64Gb的U盘为例，U盘实际容量范围为(64Gb,60Gb)的U盘，对应的容量等级为BIN1，实际容量范围为(59Gb,50Gb)的U盘，对应的容量等级为BIN2，依此类推。如第一承载板上装载有10个物理容量为64Gb的U盘，排布序号分别为1、2、3......10。其中，经测试自动分BIN机台检测，排布序号1至9的U盘实际容量处于(59Gb,50Gb)，因此被划分为BIN1，排布序号10的U盘实际容量处于(59Gb,50Gb)，因此被划分为BIN2。测试自动分BIN机台将BIN1的U盘从第一承载板转移至BIN1对应的第二承载板A，将BIN2的U盘从第一承载板转移至BIN2对应的第二承载板B。通过上述操作，实现对存储设备的精细分类。

进一步地，测试和自动分BIN的装置还包括：

记录模块，用于记录当前各所述容量等级对应的所述第二承载板的数量；

计算模块，用于根据各所述容量等级对应的所述第二承载板的数量，计算当前各所述容量等级对应的存储设备的数量。

在本发明实施例中，不同容量等级的存储设备的价格不同。测试自动分BIN机台检测通过传感器等方式记录当前各容量等级对应的第二承载板的数量，根据各容量等级对应的第二承载板的数量，计算当前各容量等级对应的存储设备的数量，生成的结果可以以图片、文字、语音等形式告知测试人员。通过上述操作，测试人员可以准确得知当前批次的存储设备的测试情况，从而估算出当前批次存储设备的经济价值。在本发明其它实施例中，测试自动分BIN机台记录装载有存储容量失效的第二承载板，以及无法测试存储容量的第二承载板数量，从而估算出当前批次存储设备的损耗。

进一步地，测试和自动分BIN的装置还包括：

第四判断模块，用于若否，则判断第一承载板是否存在第一存储设备；

第三传输模块，用于若否，则将第二承载板从分类区域传输到成品区域。

在本发明实施例中，第一存储设备为已检测的U盘。测试自动分BIN机台检测通过传感器等方式检测第一承载板是否存在第一存储设备。若否，则无需等待第二承载板装满U盘，即将第二承载板从分类区域传输到成品区域。通过上述操作，避免第一承载板没有待分类的存储设备时，第二承载板空等。

进一步地，本发明还提供一种测试和自动分BIN的设备，用于执行上述测试和自动分BIN的方法。

本领域技术人员可以理解，本发明所述的测试和自动分BIN的和上述所涉及用于执行本申请中所述方法中的一项或多项的设备。这些设备可以为所需的目的而专门设计和制造，或者也可以包括通用计算机中的已知设备。这些设备具有存储在其内的计算机程序或应用程序，这些计算机程序选择性地激活或重构。这样的计算机程序可以被存储在设备(例如，计算机)可读介质中或者存储在适于存储电子指令并分别耦联到总线的任何类型的介质中，所述计算机可读介质包括但不限于任何类型的盘(包括软盘、硬盘、光盘、CD-ROM、和磁光盘)、ROM(Read-Only Memory，只读存储器)、RAM(Random Access Memory，随机存储器)、EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory，可擦写可编程只读存储器)、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，电可擦可编程只读存储器)、闪存、磁性卡片或光线卡片。也就是，可读介质包括由设备(例如，计算机)以能够读的形式存储或传输信息的任何介质。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，所述存储设备测试和自动分BIN方法具有对应的测试自动分BIN机台，所述测试自动分BIN机台包括测试区域、分类区域和成品区域，且所述测试自动分BIN机台具有对应的承载板，包括：

所述测试自动分BIN机台进行机台自检；

将装有待测试的存储设备的第一承载板传送至所述测试区域，并测试所有所述待测试的存储设备；

判断是否获取到所有所述待测试的存储设备的测试结果数据信息，其中所述测试结果信息包括各所述待测试的存储设备对应的实际容量信息，并根据所述实际容量信息，将各已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别；

若是，则依次判断各所述已测试的存储设备是否处在所述第一承载板对应的预设位置；

若是，则将处在所述第一承载板对应预设位置的所述已测试的存储设备判定为第一存储设备；

根据所述测试结果数据信息，将各所述第一存储设备从所述第一承载板转移至对应的第二承载板，其中，所述第二承载板为位于所述分类区域的承载板；

判断位于所述第二承载板的存储容量合格的所述第一存储设备是否达到预设数量；

若是，则将装载有存储容量合格的所述第一存储设备的所述第二承载板从所述分类区域传送至成品区域。

2.根据权利要求1所述的存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，所述依次判断各所述已测试的存储设备是否处在所述第一承载板对应的预设位置步骤，包括：

以位于测试区域的指定所述第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定所述第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板；

根据光学定位，获取各所述已测试的存储设备在所述第一承载板对应的实际位置，生成各所述已测试的存储设备对应的第一坐标信息；

根据各所述已测试的存储设备在所述第一承载板对应的预设位置，获取第二坐标信息，其中，所述第二坐标信息为各所述已测试存储设备预设于数据库的对应的坐标信息；

判断各所述已测试存储设备对应的所述第一坐标信息，以及对应的所述第二坐标信息是否一致；

若是，则判定该所述已测试的存储设备处在所述第一承载板对应的预设位置。

3.根据权利要求1所述的存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，存储容量合格的所述第一存储设备具有对应的容量等级划分表，存储容量合格的各所述第一存储设备具有对应的排布序号，所述根据测试结果数据信息，将各所述第一存储设备从所述第一承载板转移至对应的第二承载板的步骤，包括：

获取各排布序号对应的所述第一存储设备的所述实际容量信息；

根据所述容量等级划分表和所述实际容量信息，将各排布序号对应的所述第一存储设备划分容量等级；

根据所述容量等级，各所述排布序号对应的所述第一存储设备转移至与所述容量等级对应的所述第二承载板。

4.根据权利要求3所述的存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，将装载有存储容量合格的所述第一存储设备的所述第二承载板从所述分类区域传送至成品区域的步骤之后，包括：

记录当前各所述容量等级对应的所述第二承载板的数量；

根据各所述容量等级对应的所述第二承载板的数量，计算当前各所述容量等级对应的存储设备的数量。

5.根据权利要求1所述的存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，判断位于所述第二承载板的存储容量合格的所述第一存储设备是否达到预设数量的步骤之后，包括：

若否，则判断所述第一承载板是否存在所述第一存储设备；

若否，则将所述第二承载板从所述分类区域传输到所述成品区域。

6.一种存储设备测试和自动分BIN的装置，其特征在于，包括：

自检模块，用于测试自动分BIN机台进行机台自检；

第一执行模块，用于将装有待测试的存储设备的第一承载板传送至测试区域，并测试所有所述待测试的存储设备；

第一判断模块，用于判断是否获取到所有所述待测试的存储设备的测试结果数据信息，其中所述测试结果数据信息包括各所述待测试的存储设备对应的实际容量信息，并根据所述实际容量信息，将各已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别；

第二判断模块，用于若是，则依次判断各所述已测试的存储设备是否处在所述第一承载板对应的预设位置；

第二执行模块，用于若是，则将处在所述第一承载板对应预设位置的所述已测试的存储设备判定为第一存储设备；

第一传输模块，用于根据所述测试结果数据信息，将各所述第一存储设备从所述第一承载板转移至对应的第二承载板，其中，所述第二承载板为位于分类区域的承载板；

第三判断模块，用于判断位于所述第二承载板的存储容量合格的所述第一存储设备是否达到预设数量；

第二传输模块，用于若是，则将装载有存储容量合格的所述第一存储设备的所述第二承载板从所述分类区域传送至成品区域。

7.根据权利要求6所述的测试和自动分BIN的装置，其特征在于，所述第二判断模块包括：

第一执行子模块，用于以位于测试区域的指定所述第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定所述第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板；

第一获取子模块，用于根据光学定位，获取各所述已测试的存储设备在所述第一承载板对应的实际位置，生成各所述已测试的存储设备对应的第一坐标信息；

第二获取子模块，用于根据各所述已测试的存储设备在所述第一承载板对应的预设位置，获取第二坐标信息，其中，所述第二坐标信息为各所述已测试存储设备预设于数据库的对应的坐标信息；

第一判断子模块，用于判断各所述已测试存储设备对应的所述第一坐标信息，以及对应的所述第二坐标信息是否一致；

第二执行子模块，用于若是，则判定该所述已测试的存储设备处在所述第一承载板对应的预设位置。

8.根据权利要求6所述的测试和自动分BIN的装置，其特征在于，所述第二执行模块包括：

第三获取子模块，用于获取各排布序号对应的所述第一存储设备的所述实际容量信息；

第三执行子模块，用于根据容量等级划分表和所述实际容量信息，将各排布序号对应的所述第一存储设备划分容量等级；

第一传输子模块，用于根据所述容量等级，各所述排布序号对应的所述第一存储设备转移至与所述容量等级对应的所述第二承载板。

9.根据权利要求8所述的测试和自动分BIN的装置，其特征在于，还包括：

记录模块，用于记录当前各所述容量等级对应的所述第二承载板的数量；

计算模块，用于根据各所述容量等级对应的所述第二承载板的数量，计算当前各所述容量等级对应的存储设备的数量。

10.一种测试和自动分BIN的设备，其特征在于，用于执行权利要求1至5任意一项所述的测试和自动分BIN的方法。

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