CN110763366B - 一种密封设备环境温度检测方法、控制器、电路及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及环境温度检测领域，公开一种密封设备环境温度检测方法、控制器、电路及系统，其中，该密封设备环境温度检测方法包括：首先确定热源的热功率和风场的风量，该热源和风场皆影响密封设备的实际环境温度值，然后根据热功率和风量，计算环境温度修正值，再采样该密封设备的内部温度值，最后根据内部温度值和环境温度修正值，计算该密封设备的实际环境温度值。因此，该方法的环境温度修正值可以跟随热功率和风量的改变而改变，不同环境下的环境温度修正值不同，该环境温度修正值进而影响密封设备检测的实际环境温度值，从而使得密封设备的实际环境温度值的检测更加精确。

Description

一种密封设备环境温度检测方法、控制器、电路及系统

技术领域

本发明涉及环境温度检测领域，特别是涉及一种密封设备环境温度 检测方法、控制器、电路及系统。

背景技术

在电力电子设备的应用场合中，需要对环境温度进行检测。目前很 多环境温度检测方法是直接采用传感器采样设备所处的环境温度，但当 有热源、风场干扰，且设备是密封时，传感器不能直接接触到外部环境， 若直接采用传感器采样环境温度，会使得环境温度的采样误差很大，甚 至使得环境温度采样误差达到±15°，对于一些对环境温度比较敏感的 电子设备，由于环境温度采样的误差，使得电子设备无法进行有效的散 热，进而就会使得电子设备运行的可靠性降低，甚至无法正常工作。

发明内容

本发明实施例一个目的旨在提供一种密封设备环境温度检测方法、 控制器、电路及系统，以能够对密封设备环境温度进行精确检测。

为解决上述技术问题，本发明实施例采用的一个技术方案是：

在第一方面，本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测方法， 包括：

确定热源的热功率和风场的风量，所述热源和所述风场皆影响所述 密封设备的实际环境温度值；

根据所述热功率和所述风量，计算环境温度修正值；

采样所述密封设备的内部温度值；

根据所述内部温度值和所述环境温度修正值，计算所述密封设备的 所述实际环境温度值。

在一些实施例中，所述环境温度修正值包括第一环境温度修正值和 第二环境温度修正值，所述根据所述热源功率和所述风量，计算环境温 度修正值，包括：

根据所述热功率，计算所述第一环境温度修正值；

判断所述第一环境温度修正值是否大于或等于预设参考值；

若是，根据所述风量，计算所述第二环境温度修正值，根据所述第 一环境温度修正值和所述第二环境温度修正值，计算所述环境温度修正 值。

在一些实施例中，所述根据所述热功率，计算所述第一环境温度修 正值，包括：

获取第一线性度曲线，所述第一线性度曲线用于描述所述热功率与 环境温度偏差率的相关性；根据所述第一线性度曲线和所述热功率，计 算所述第一环境温度修正值。

在一些实施例中，

所述热功率可被划分成若干段热源子功率区间，所述根据所述第一 线性度曲线和所述热功率，计算所述第一环境温度修正值，包括：

确定每个所述热源子功率区间在所述第一线性度曲线对应的目标 线性区间，其中，所述第一线性度曲线包含若干段线性函数，每个所述 线性函数皆对应一个线性区间，每个所述热源子功率区间皆对应一个所 述线性区间；

根据每个所述热源子功率区间及所述目标线性区间对应的线性函 数，计算与每个所述热源子功率区间对应的第一环境温度偏差值；

累加所述热功率中各个所述热源子功率区间对应的所述第一环境 温度偏差值，得到所述第一环境温度修正值。

在一些实施例中，所述根据所述风量，计算所述第二环境温度修正 值，包括：

获取第二线性度曲线，所述第二线性度曲线用于描述风量与所述环 境温度偏差率的相关性；

根据所述第二线性度曲线和所述风量，计算所述第二环境温度修正 值。

在一些实施例中，

所述风量可被划分成若干子风量区间，所述根据所述第二线性度曲 线和所述风量，计算所述第二环境温度修正值，包括：

确定每个所述子风量区间在所述第二线性度曲线的目标线性区间， 其中，所述第二线性度曲线包含若干段线性函数，每个所述线性函数皆 对应一个线性区间，每个所述子风量区间皆对应一个所述线性区间；

根据每个所述子风量区间及所述目标线性区间对应的线性函数，计 算与每个所述子风量对应的第二温度偏差值；

累加所述风量中各个所述子风量区间对应的第二温度偏差值，得到 所述第二环境温度修正值。

在一些实施例中，所述确定热源的热功率，包括：

采样所述热功率；

判断第一采样时间是否达到第一预设时间；

若是，将最近的所述第一预设时间段内的所述热功率进行平均化处 理，并确定所述热功率；

若否，将所述第一采样时间段内的所述热功率进行平均化处理，并 确定所述热功率。

在一些实施例中，所述将所述第一采样时间段内的所述热功率进行 平均化处理，并确定所述热功率，包括：

将所述第一采样时间段内的所述热功率进行积分，获取第一积分值；

根据所述第一积分值和所述第一预设时间，确定所述热功率。

在一些实施例中，所述确定风场的风量，包括：

采样所述风场的风量；

判断第二采样时间是否达到第二预设时间；

若是，将最近的所述第二预设时间段内的所述风场的风量进行平均 化处理，并确定所述风场的风量；

若否，将所述第二采样时间段内的所述风场的风量进行平均化处理， 并确定所述风场的风量。

在一些实施例中，所述将所述第二采样时间段内的所述热源功率进 行平均化处理，并确定所述风场风量值，包括：

将所述第二采样时间段内的所述风场风量进行积分，获取第二积分 值；

根据所述第二积分值和所述第二预设时间，确定所述风场风量值。

在第二方面，本发明实施例提供一种控制器，所述控制器包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储 有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理 器执行，以使所述至少一个处理器能够用于执行上述任一项的密封设备 环境温度检测方法。

在第三方面，本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测电路， 所述密封设备环境温度检测电路包括：

第一传感器，用于采样所述热源的热功率；

第二传感器，用于采样所述风场的风量；

第三传感器，用于采样所述密封设备内部温度；

如上所述的控制器，其分别与所述第一传感器、所述第二传感器和 所述第三传感器连接。

在第四方面，本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测系统， 所述密封设备环境温度检测系统包括：

密封设备；

电源，其与所述密封设备连接，用于驱动所述密封设备；以及

如上所述的密封设备环境温度检测电路，其分别与所述电源和所述 密封设备连接，用于检测所述密封设备的环境温度。

本发明实施例的有益效果是：区别于现有技术的情况，在本发明实 施例中，首先确定热源的热功率和风场的风量，该热源和风场皆影响密 封设备的实际环境温度值，然后根据热功率和风量，计算环境温度修正 值，再采样该密封设备的内部温度值，最后根据内部温度值和环境温度 修正值，计算该密封设备的实际环境温度值。因此，该方法的环境温度 修正值可以跟随热功率和风量的改变而改变，不同环境下的环境温度修 正值不同，该环境温度修正值进而影响密封设备检测的实际环境温度值， 从而使得密封设备的实际环境温度值的检测更加精确。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种密封设备环境温度检测应用场景的 结构示意图；

图2是本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测电路的结构示 意图；

图3是本发明实施例提供热源的热功率与环境温度偏差之间的关系 示意图；

图4是本发明实施例提供风场的风量与环境温度偏差之间的关系示 意图；

图5是本发明另一实施例提供一种密封设备环境温度检测系统的结 构示意图；

图6是本发明实施例提供一种控制器的结构示意图；

图7是本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测装置的结构示 意图；

图8是本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测方法的流程示 意图；

图9是图8中步骤51的流程示意图；

图10是图9中步骤514的流程示意图；

图11是图8中步骤51的另一流程示意图；

图12是图11中步骤518的流程示意图；

图13是图8中步骤52的流程示意图；

图14是图13中步骤521的流程示意图；

图15是图14中步骤5212的流程示意图；

图16是图13中步骤523的流程示意图；

图17是图16中步骤5232的流程示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面结合附图和具体实施方式，对本发明进 行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件， 它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。 当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元 件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目 的。

除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本 发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本发明 的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是用 于限制本发明。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关 的所列项目的任意的和所有的组合。

本发明实施例提供的密封设备是电子设备，且将该密封设备设置于 有热源和风场干扰的环境下，热源产生的热量会影响密封设备所处的环 境温度，具体地，一般是升高环境温度，而风场的风量也会影响密封设 备所处的环境温度，具体地，一般是降低环境温度，因为风场风量会对 密封设备所处环境进行散热。

请参阅图1，图1是本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测 应用场景的结构示意图。如图1所示，该密封设备环境温度检测应用场 景100包括：密封设备110、热源120以及风场130。其中，密封设备 110可以是任意密封的电子设备，热源120可以是任意产生热量的设备， 例如热电厂、区域锅炉房、工业与城市余热、核能、地热、燃气炉、燃 油炉、热泵、太阳能等，还可以是在工作时产生热量的设备，例如电机 等，风场130可以是任意能够产生风量的设备，例如风扇、风车或者自 然风等。

请再参阅图1，当密封设备110需要检测其所处的实际环境温度时， 将传感器设置于密封设备110内部，由该传感器采样密封设备110内部 的温度值，而该温度值并不是密封设备110所处的实际环境温度，首先 因为密封设备110的内部温度和外部温度是不同的，其所处的实际环境 温度是外部温度，其次，热源120产生的热量可以会提高该密封设备周 围的环境温度，最后风场130产生的风量会对密封设备110进行散热， 使其周围的环境温度降低，因此，热源120和风场130均会影响密封设 备110所处的实际环境温度。

而如果采用普通方法进行测量密封设备110所处的实际环境温度， 例如：采用传感器直接采样密封设备110外部的实际环境温度，而不考 虑热源120和风场130对其外部实际环境温度的影响，则会使得密封设 备110所处的实际环境温度检测不准确，误差增大。

因此，本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测电路，请参阅 图2，该密封设备环境温度检测电路10包括第一传感器11，用于采样 热源120的热功率；第二传感器12，用于采样风场130的风量；第三传 感器13，用于采样该密封设备110内部温度；以及控制器14，其分别 与第一传感器11、第二传感器12和第三传感器13连接。

第一传感器11和第二传感器12分别采样热源120的热功率和风场 130的风量，并将该热功率和风量传送给控制器14，由控制器14进行 处理该热量和风量，进而根据该热量和风量，计算环境温度修正值，然 后第三传感器13采样密封设备110的内部温度值，并传送给控制器14， 最后，控制器14根据环境温度修正值和内部温度值，计算该密封设备 110所处的实际环境温度值。

该检测电路10的具体工作原理如下：

首先，控制器14确定热源120的热功率P和风场110的风量F，由 于热功率P和风量F是实时在变化的，由于该变化引起的环境温度的变 化是缓慢的，甚至环境温度的变化滞后于热功率P和风量F的变化，因 此，若将第一传感,11和第二传感器12采样的热源和风量直接用于计算 环境温度修正值，就会使得环境温度修正值不断地变化，同时会给后续 的计算带来很大的误差，因此，本实施例通过对环境温度修正值的计算 频率进行控制，以减小误差，具体地：

第一传感器11实时采样热功率，并将热功率不断传送给控制器14， 控制器14判断第一传感器11的第一采样时间是否达到第一预设时间t1， 该第一预设时间是预先设置好的时间段，该第一预设时间是指固定风量 的情况下，热源产生变化，环境温度由波动到稳定所历经的时长，若第 一采样时间未达到第一预设时间，控制器14根据第一采样时间段内的 热功率的积分值和第一预设时间进行平均化处理，。在本发明实施例中， 控制器14将采样的热功率进行积分，获取第一积分值，该第一积分值 是第一采样时间段内所有时刻对应的热功率的累加和，然后，控制器14 根据第一积分值和第一预设时间，确定第一采样时间段内的平均热功率， 平均热功率Pavg和第一预设时间t1、第一采样时间t对应的热功率的关系可以用式子(1)表示：

若第一采样时间t达到第一预设时间，控制器14先获取最近的第 一预设时间段内采样的热功率，对该时间段内采样到的热功率进行积分， 然后将其在第一预设时间的基础上进行平均化处理，平均热功率Pavg 和第一预设时间t1、第一采样时间t、以及第一采样时间t对应的热功 率的关系可以用式子(1)表示：

基于同样的方法，第二传感器12时刻采样风量，控制器14判断第 二传感器12的第二采样时间是否达到第二预设时间t2，该第二预设时 间同样是预先设置的时间，其是指固定热源的情况下，风量产生变化， 环境温度由波动到稳定所历经的时长，若第二采样时间未达到第二预设 时间，控制器14根据第二采样时间段内的风量的积分值和第二预设时 间进行平均化处理，在本发明实施例中，控制器14将第二采样时间段 内的热功率进行积分，获取第二积分值，该第二积分值是第二采样时间 段内所有时刻对应的风量的累加和，然后，控制器14根据第二积分值 和第二预设时间，确定第二采样时间段内的平均风量，平均风量Favg 和第二预设时间t2、第二采样时间t＇对应的风量的关系可以用式子(3) 表示：

若第二采样时间t＇达到第二预设时间，控制器14先获取最近的第 二预设时间段内采样的风量，对该时间段内采样到的风量进行积分，然 后将其在第二预设时间的基础上进行平均化处理，平均风量Favg和第 二预设时间t2、第二采样时间t＇、以及第二采样时间t＇对应的风量的 关系可以用式子(4)表示：

因此，通过对一段时间内的热功率和风量做平均化处理，可以使得 环境温度修正值不会大范围的波动，也不会引起瞬态激烈的变化。

然后，控制器14根据平均以后的热功率和风量，计算环境温度修 正值，具体地：

环境温度修正值包括第一环境温度修正值和第二环境温度修正值， 首先，控制器14根据热功率，计算第一环境温度修正值，具体地，控 制器14获取第一线性度曲线，该第一线性度曲线用于描述热功率与温 度偏差率的相关性，请参阅图3，图3是本发明实施例提供热功率与环 境温度偏差率之间的关系示意图，也就是第一线性度曲线，其中，风场 的风量是固定的。如图3所示，横坐标代表热源的热功率，纵坐标代表 由热功率引起的环境温度偏差率K，根据热功率和环境温度偏差率可以 计算出由该热功率引起的环境温度偏差值，从图3中的第一线性度曲线 可以看出，第一线性度曲线包含若干段线性函数，每个线性函数皆对应 一个不同的线性区间，也就是说，不同的热功率差值与环境温度偏差率 的线性度不一致，因此，控制器14先将热功率划分成若干段热源子功 率区间，每一段的热源子功率区间对应一个不同的线性区间，根据热源 子功率，确定其在第一线性度曲线对应的目标区间，紧接着，控制器14 再根据段热源子功率区间以及其对应的目标线性区间对应的线性函数 f1，计算与每段热源子功率对应的第一环境温度偏差值⊿T1，最后，累 加所有的与每段热源子功率区间对应的第一环境温度偏差值⊿T1，该累 加和就是第一环境温度修正值T1。

总体而言，第一环境温度修正值T1与平均热功率之间的关系可以 用以下式子(5)描述：

T1＝∑⊿T1＝f1(Pavg) (5)

在本发明实施例中，若热源热功率为P，其可以划分为三个区间， 即分别是不超过热源子功率P1的部分、热子功率P1到热源子功率P2 的部分和热子功率P2到热源子功率P的部分，那么每个热源子功率区 间和由该热子功率区间引起的环境温度偏差率K如表1所示：

级数	热源功率	环境温度偏差率K
			1	不超过P1的部分	K1
2	超过P1至P2的部分	K2
			3	超过P2至P的部分	K3

那么第一环境温度修正值可以用下面的式(6)进行计算：

T1＝P1*K1+(P2-P1)*K2+(P-P2)*K3 (6)

在本发明实施例中，热源对环境温度的影响会直接影响风量对环境 温度产生的影响，只有热源对环境温度的影响达到一定程度时，才会考 虑风量对环境温度产生的影响，在一些实施例中，若没有热源对密封设 备110产生热辐射，使得其周围环境温度高于实际环境温度的话，那么 由风场风量引起的环境温度修正值甚至不会被考虑，因此，在计算由风 量引起的第二环境温度修正值之前，控制器14会先判断第一环境温度 修正值是否达到预设参考值，该预设参考值代表热源对环境温度影响的 程度，若第一环境温度修正值达到了预设参考值，控制器14再根据第 二传感器12采样的风量，计算第二环境温度修正值。

控制器14根据风量，计算第二环境温度修正值T2，具体地：

控制器14获取第二线性度曲线，该第二线性度曲线用于描述风量 与温度偏差率的相关性，请参阅图4，图4是本发明实施例提供风量与 环境温度偏差率之间的关系示意图，也就是第二线性度曲线，其中，热 源的热功率是固定的。如图4所示，横坐标代表风场的风量，纵坐标代 表由风量引起的环境温度偏差率K＇，根据风量值和环境温度偏差率可以计算出由该风量引起的环境温度偏差值，从图4中的第二线性度曲线可 以看出，第二线性度曲线包含若干段线性函数，每个线性函数皆对应一 个不同的线性区间，也就是说，不同的风量差值与环境温度偏差值的线 性率不一致，因此，控制器14先将风量分成若干子风量区间，每个子 风量区间对应一个不同的线性区间，根据子风量，确定其在第二线性度 曲线对应的目标区间，紧接着，控制器14再根据每段子风量区间以及 其对应的目标线性区间对应的线性函数f2，计算与每段子风量区间对应 的第二环境温度偏差值⊿T2，最后，累加所有的与每段子风量区间对应 的第二环境温度偏差值⊿T2，该累加和就是第二环境温度修正值T2。

总体而言，第二环境温度修正值T2与平均风量之间的关系可以用 以下式子(7)描述：

T2＝∑⊿T2＝f2(Favg) (7)

在本发明实施例中，若风场风量为F，其可以划分为三个区间，即 分别是不超过子风量F1的部分、子风量F1到子风量F2的部分和子风 量F2到子风量F的部分，那么每个子风量区间和由该子风量区间引起 的环境温度偏差率K＇如表2所示：

级数	风场风量	环境温度偏差率K＇
			1	不超过F1的部分	K1＇
2	超过F1至F2的部分	K2＇
			3	超过F2至F的部分	K3＇

那么第二环境温度修正值可以用下面的式(8)进行计算：

T2＝F1*K1＇+(F2-F1)*K2＇+(F-F2)*K3＇ (8)

紧接着，控制器14根据第一环境温度修正值T1和第二环境温度修 正值T2，计算环境温度修正值T，在一些实施例中，环境温度修正值T 与第一环境温度修正值T1和第二环境温度修正值T2的关系可以用式子 (9)表示：

T＝T1-T2 (9)

一般情况下，T1的值大于或等于T2，因此环境温度修正值T不会 小于0，也就是说，当热源120的热功率没有对密封设备110所处的环 境温度产生影响时，即使存在风量，也不会根据采样的风量对环境温度 进行修正。

然后，第三传感器13采样密封设备110的内部温度值Tsmp，并将 该内部温度值Tsmp传送给控制器14，控制器14根据该内部温度值Tsmp 和环境温度修正值T，计算密封设备110所处的实际环境温度值T＇,三 者之间的关系可以用式子(10)进行表示：

T＇＝Tsmp-T (10)

因此，当第一传感器11和第二传感器12采样热源110的热功率和 风场120的风量时，控制器14分别根据式子(1)、式子(2)、式子(3) 和式子(4)确定预设时间段内的热源的平均热功率和风场的平均风量， 然后再根据第一线性度曲线和第二线性度曲线(结合式子(5)、式子(6)、 式子(7)和式子(8))，计算出第一环境温度修正值和第二环境温度修 正值，其中，若热源110的热功率对环境温度的影响度没有达到预设参 考值时，则不会计算第二环境温度修正值，然后第三传感器13采样密 封设备110的内部温度，控制器14根据密封设备110的内部温度、第 一环境温度修正值和第二环境温度修正值，同时结合式子(9)和式子(10)，计算出实际环境温度值。因此，本实施例通过对时间段内的热 功率和风量进行平均化处理，以及通过线性度曲线计算环境温度修正值 的方法可以对环境温度进行线性的、实时的、准确的采样。

综上所述，该密封设备的环境温度检测电路10通过第一传感器11 采样热源110的热功率，通过第二传感器12采样风场120的风量，控 制器14根据该热功率和第一线性度曲线，计算出第一环境温度修正值 和风量，并且根据风量和第二线性度曲线，计算出第二环境温度修正值， 进而控制器14根据第一环境温度修正值和第二环境温度修正值计算出 环境温度修正值，第三传感器13采样密封设备110的内部温度值，控 制器14再根据该内部温度值和环境温度修正值，计算出密封设备110 所处的实际环境温度值。该实际环境温度值是经过修正以后的环境温度 值，是去掉热源110的热功率和风场120的风量对密封设备的环境温度 的影响以后的、实际的环境温度值，并且，环境温度修正值可以跟随热 功率和风量的改变而改变，不同环境下的环境温度修正值不同，该环境 温度修正值进而影响密封设备检测的实际环境温度值，从而使得密封设 备的实际环境温度值的检测更加精确。

本发明实施例还提供一种密封设备环境温度检测系统，如图5所示， 该密封设备的环境温度检测系统20包括：密封设备26、电源21、第一 传感器22、第二传感器23、第三传感器24以及控制器25，上述元件分 别与电源21连接，电源21给上述元件提供电能，第一传感器22、第二 传感器23以及第三传感器24分别与控制器25连接，第一传感器22用 于采样热源110的热功率，第二传感器23用于采样风场120的风量， 第三传感器24用于采样密封设备26的内部温度值，第一传感器22、第 二传感器23以及第三传感器24采样的数据均传送给控制器25，由控制 器25处理该数据，并计算出密封设备26的环境温度。

本领域技术人员应当明白：作为各个元件的电源，可以包含一些电 学单元，例如：整流滤波单元、功率变换单元、变压器等，其还可以根 据业务需求自行在电源中添加其它电学单元，以进一步实现其它应用需 求。

在本实施例中，在不引起内容互相冲突的前提下，密封设备、第一 传感器、第二传感器、第三传感器以及控制器可以引用上述各个实施例 所作出的阐述，在此不赘述。

本发明实施例是通过第一传感器22采样热源的热功率，通过第二 传感器23采样风场的风量，控制器25根据该热功率和第一线性度曲线， 计算出第一环境温度修正值和风量，并且根据风量和第二线性度曲线， 计算出第二环境温度修正值，进而控制器25根据第一环境温度修正值 和第二环境温度修正值计算出环境温度修正值，第三传感器24采样密封设备的内部温度值，控制器24再根据该内部温度值和环境温度修正 值，计算出密封设备26所处的实际环境温度值。该实际环境温度值是 经过修正以后的环境温度值，是去掉热源的热功率和风场的风量对密封 设备的环境温度的影响以后的、实际的环境温度值，并且，环境温度修 正值可以跟随热功率和风量的改变而改变，不同环境下的环境温度修正 值不同，该环境温度修正值进而影响密封设备检测的实际环境温度值， 从而使得密封设备的实际环境温度值的检测更加精确。

在本实施例中，该密封设备环境温度检测系统20能够应用于任何 类型的密封设备中。

在上述各个实施例中，控制器可以为通用处理器、数字信号处理器 (DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、单片机、ARM (Acorn RISC Machine)或其它可编程逻辑器件、分立门或晶体管逻辑、 分立的硬件组件或者这些部件的任何组合。还有，控制器还可以是任何 传统处理器、控制器、微控制器或状态机。控制器也可以被实现为计算 设备的组合，例如，DSP和微处理器的组合、多个微处理器、一个或多 个微处理器结合DSP核、或任何其它这种配置。

如图6所示，控制器30(内部控制器或外部控制器)包括：至少一 个处理器31以及与所述至少一个处理器31通信连接的存储器32；其中， 图6中以一个处理器31为例。处理器31和存储器32可以通过总线或 者其他方式连接，图6中以通过总线连接为例。

其中，存储器32存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所 述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器31能够 用于执行上述密封设备环境温度密封设备环境温度检测的控制逻辑。

因此，控制器30能够使得环境温度修正值可以跟随热功率和风量 的改变而改变，不同环境下的环境温度修正值不同，该环境温度修正值 进而影响密封设备检测的实际环境温度值，从而使得密封设备的实际环 境温度值的检测更加精确。

作为本发明实施例的另一方面，本发明实施例提供一种密封设备环 境温度检测装置。密封设备环境温度检测装置作为软件系统，其可以存 储在图2与图6所阐述的控制器内。该密封设备环境温度检测装置包括 若干指令，该若干指令存储于存储器内，处理器可以访问该存储器，调 用指令进行执行，以完成上述密封设备环境温度检测的控制逻辑。

如图7所示，该密封设备环境温度检测装置40包括确定模块41、 第一计算模块42、采样模块43以及第二计算模块44。

确定模块41用于确定热源的热功率和风场的风量，所述热源和所 述风场皆影响所述密封设备的实际环境温度值；

第一计算模块42用于根据所述热功率和所述风量，计算环境温度 修正值；

采样模块43用于采样所述密封设备的内部温度值；第二计算模块 44用于根据所述内部温度值和所述环境温度修正值，计算所述密封设备 的所述实际环境温度值。

该密封设备环境温度检测装置40能够使得环境温度修正值可以跟 随热功率和风量的改变而改变，不同环境下的环境温度修正值不同，该 环境温度修正值进而影响密封设备检测的实际环境温度值，从而使得密 封设备的实际环境温度值的检测更加精确。

在一些实施例中，请继续参阅图7，确定模块41包括第一采样单元 411，用于采样所述热功率；第一判断单元412，用于判断第一采样时间 是否达到第一预设时间；第一平均单元413，用于将所述第一采样时间 段内的所述热功率进行平均化处理；第二平均单元414，用于将最近的 所述第一预设时间段内的所述热功率进行平均化处理；第二采样单元415，用于采样所述风量；第二判断单元416，用于判断第二采样时间是 否达到第二预设时间；第三平均单元417，用于将所述第二采样时间段 内的所述风量进行平均化处理；第四平均单元418，用于将最近的所述 第二预设时间段内的所述风场的风量进行平均化处理。

在一些实施例中，请继续参阅图7，第一平均单元413包括第一积 分子单元4131，用于将所述第一采样时间段内的所述热功率进行积分， 获取第一积分值；第一确定子单元4132，用于根据所述第一积分值和所 述第一预设时间，确定所述热功率；第二积分子单元4133，用于将所述 第二采样时间段内的所述风量进行积分，获取第二积分值；第二确定子单元4134，用于根据所述第二积分值和所述第二预设时间，确定所述风 量。

在一些实施例中，请继续参阅图7，所述环境温度修正值包括第一 环境温度修正值和第二环境温度修正值，第一计算模块42包括第一计 算单元421，用于根据所述热功率，计算所述第一环境温度修正值；第 一判断单元422，用于判断所述第一环境温度修正值是否大于或等于预 设参考值；第二计算单元423，用于根据所述风量，计算所述第二环境 温度修正值；第三计算单元424，用于根据所述第一环境温度修正值和 所述第二环境温度修正值，计算所述环境温度修正值。

在一些实施例中，请继续参阅图7，第一计算单元421包括第一获 取子单元4211，用于获取第一线性度曲线，所述第一线性度曲线用于描 述所述热功率与环境温度偏差率的相关性；第一计算子单元4212，用于 根据所述第一线性度曲线和所述热功率，计算所述第一环境温度修正值， 所述热功率可被划分成若干段热源子功率区间，第一计算子单元4212 具体用于确定每个所述热源子功率区间在所述第一线性度曲线对应的 目标线性区间，其中，所述第一线性度曲线包含若干段线性函数，每个 所述线性函数皆对应一个线性区间，每个所述热源子功率区间皆对应一 个所述线性区间；根据每个所述热源子功率区间及所述目标线性区间对 应的线性函数，计算与每个所述热源子功率区间对应的第一环境温度偏 差值；累加所述热功率中各个所述热源子功率区间对应的所述第一环境 温度偏差值，得到所述第一环境温度修正值。

在一些实施例中，请继续参阅图7，第二计算单元423包括第二获 取子单元4231，用于获取第二线性度曲线，所述第二线性度曲线用于描 述所述风量与环境温度偏差率的相关性；第二计算子单元4232，用于根 据所述第二线性度曲线和所述风量，计算所述第二环境温度修正值，所 述风量可被划分成若干子风量区间，第二计算子单元4232具体用于确定每个所述子风量区间在所述第二线性度曲线对应的目标线性区间，其 中，所述第二线性度曲线包含若干段线性函数，每个所述线性函数皆对 应一个线性区间，每个所述子风量区间皆对应一个所述线性区间；根据 每个所述子风量区间及所述目标线性区间对应的线性函数，计算与每个 所述子风量对应的第二环境温度偏差值；累加所述风量中各个所述子风量区间对应的所述第二环境温度偏差值，得到所述第二环境温度修正值。

作为本发明实施例的又另一方面，本发明实施例提供一种密封设备 环境温度检测方法。本发明实施例的密封设备环境温度检测方法的功能 除了借助上述图7所述的密封设备环境温度检测装置的软件系统来执行， 其亦可以借助硬件平台来执行。例如：密封设备环境温度检测方法可以 在合适类型具有运算能力的处理器的电子设备中执行，例如：单片机、 数字处理器(Digital Signal Processing，DSP)、可编程逻辑控制器(Programmable Logic Controller，PLC)等等。

下述各个实施例的密封设备环境温度检测方法对应的功能是以指 令的形式存储在电子设备的存储器上，当要执行下述各个实施例的密封 设备环境温度检测方法对应的功能时，电子设备的处理器访问存储器， 调取并执行对应的指令，以实现下述各个实施例的密封设备环境温度检 测方法对应的功能。

存储器作为一种非易失性计算机可读存储介质，可用于存储非易失 性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块，如上述实施例中的 密封设备环境温度检测装置40对应的程序指令/模块(例如，图7所述 的各个模块和单元)，或者下述实施例密封设备环境温度检测方法对应 的步骤。处理器通过运行存储在存储器中的非易失性软件程序、指令以及模块，从而执行密封设备环境温度检测装置40的各种功能应用以及 数据处理，即实现下述实施例密封设备环境温度检测装置40的各个模 块与单元的功能，或者下述实施例密封设备环境温度检测方法对应的步 骤的功能。

存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器， 例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。 在一些实施例中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这 些远程存储器可以通过网络连接至处理器。上述网络的实例包括但不限 于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

所述程序指令/模块存储在所述存储器中，当被所述一个或者多个 处理器执行时，执行上述任意方法实施例中的密封设备环境温度检测方 法，例如，执行下述实施例描述的图8至图17所示的各个步骤；也可 实现附图7所述的各个模块和单元的功能。

如图8所示，该密封设备环境温度检测方法50包括：

步骤51、确定热源的热功率和风场的风量，所述热源和所述风场皆 影响所述密封设备的实际环境温度值；

步骤52、根据所述热功率和所述风量，计算环境温度修正值；

步骤53、采样所述密封设备的内部温度值；

步骤54、根据所述内部温度值和所述环境温度修正值，计算所述密 封设备的所述实际环境温度值。

通过采用该方法，其能够使得环境温度修正值可以跟随热功率和风 量的改变而改变，不同环境下的环境温度修正值不同，该环境温度修正 值进而影响密封设备检测的实际环境温度值，从而使得密封设备的实际 环境温度值的检测更加精确。

在一些实施例中，如图9所示，步骤51包括

步骤511、采样所述热功率；

步骤512、判断第一采样时间是否达到第一预设时间；

步骤513、若是，将最近的所述第一预设时间段内的所述热功率进 行平均化处理，并确定所述热功率；

步骤514、若否，将所述第一采样时间段内的所述热功率进行平均 化处理，并确定所述热功率。

在一些实施例中，如图10所示，步骤514包括：

步骤5141、将所述第一采样时间段内的所述热功率进行积分，获取 第一积分值；

步骤5142、根据所述第一积分值和所述第一预设时间，确定所述热 功率。

在一些实施例中，如图11所示，步骤51还包括：

步骤515、采样所述风场的风量；

步骤516、判断第二采样时间是否达到第二预设时间；

步骤517、若是，将最近的所述第二预设时间段内的所述风场的风 量进行平均化处理，并确定所述风场的风量；

步骤518、若否，将所述第二采样时间段内的所述风场的风量进行 平均化处理，并确定所述风场的风量。

在一些实施例中，如图12所示，步骤518包括：

步骤5181、将所述第二采样时间段内的所述风场风量进行积分，获 取第二积分值；

步骤5182、根据所述第二积分值和所述第二预设时间，确定所述风 场风量值。

在一些实施例中，如图13所示，所述环境温度修正值包括第一环 境温度修正值和第二环境温度修正值，步骤52包括：

步骤521、根据所述热功率，计算所述第一环境温度修正值；

步骤522、判断所述第一环境温度修正值是否大于或等于预设参考 值；

步骤523、若是，根据所述风量，计算所述第二环境温度修正值， 根据所述第一环境温度修正值和所述第二环境温度修正值，计算所述环 境温度修正值。

在一些实施例中，如图14所示，步骤521包括：

步骤5211、获取第一线性度曲线，所述第一线性度曲线用于描述所 述热功率与环境温度偏差率的相关性；

步骤5212、根据所述第一线性度曲线和所述热功率，计算所述第一 环境温度修正值。

在一些实施例中，如图15所示，所述热功率可被划分成若干段热 源子功率区间，步骤5212包括：

步骤52121、确定每个所述热源子功率区间在所述第一线性度曲线 对应的目标线性区间，其中，所述第一线性度曲线包含若干段线性函数， 每个所述线性函数皆对应一个线性区间，每个所述热源子功率区间皆对 应一个所述线性区间；

步骤52122、根据每个所述热源子功率区间及所述目标线性区间对 应的线性函数，计算与每个所述热源子功率区间对应的第一环境温度偏 差值；

步骤52123、累加所述热功率中各个所述热源子功率区间对应的所 述第一环境温度偏差值，得到所述第一环境温度修正值。

在一些实施例中，如图16所示，步骤523包括：

步骤5231、获取第二线性度曲线，所述第二线性度曲线用于描述风 量与所述环境温度偏差率的相关性；

步骤5232、根据所述第二线性度曲线和所述风量，计算所述第二环 境温度修正值。

在一些实施例中，如图17所示，所述风量可被划分成若干子风量 区间，步骤5232包括：

步骤52321、确定每个所述子风量区间在所述第二线性度曲线的目 标线性区间，其中，所述第二线性度曲线包含若干段线性函数，每个所 述线性函数皆对应一个线性区间，每个所述子风量区间皆对应一个所述 线性区间；

步骤52322、根据每个所述子风量区间及所述目标线性区间对应的 线性函数，计算与每个所述子风量对应的第二温度偏差值；

步骤52323、累加所述风量中各个所述子风量区间对应的第二温度 偏差值，得到所述第二环境温度修正值。

由于装置实施例和方法实施例是基于同一构思，在内容不互相冲突 的前提下，方法实施例的内容可以引用装置实施例的，在此不赘述。

作为本发明实施例的又另一方面，本发明实施例提供一种非暂态计 算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储有计算机可执 行指令，所述计算机可执行指令用于使微波设备执行如上任一项所述的 密封设备环境温度检测方法，例如执行上述任意方法实施例中的密封设 备环境温度检测方法，例如，执行上述任意装置实施例中的密封设备环 境温度检测装置。

通过采用该方法，其能够使得环境温度修正值可以跟随热功率和风 量的改变而改变，不同环境下的环境温度修正值不同，该环境温度修正 值进而影响密封设备检测的实际环境温度值，从而使得密封设备的实际 环境温度值的检测更加精确。

需要说明的是，本发明的说明书及其附图中给出了本发明的较佳的 实施例，但是，本发明可以通过许多不同的形式来实现，并不限于本说 明书所描述的实施例，这些实施例不作为对本发明内容的额外限制，提 供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。并 且，上述各技术特征继续相互组合，形成未在上面列举的各种实施例， 均视为本发明说明书记载的范围；进一步地，对本领域普通技术人员来 说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属 于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (12)

1.一种密封设备环境温度检测方法，其特征在于，包括：

确定热源的热功率和风场的风量，所述热源和所述风场皆影响所述密封设备的实际环境温度值；

根据所述热功率，计算第一环境温度修正值；

判断所述第一环境温度修正值是否大于或等于预设参考值；

若是，根据所述风量，计算第二环境温度修正值，根据所述第一环境温度修正值和所述第二环境温度修正值，计算环境温度修正值；

采样所述密封设备的内部温度值；

根据所述内部温度值和所述环境温度修正值，计算所述密封设备的所述实际环境温度值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述热功率，计算所述第一环境温度修正值，包括：

获取第一线性度曲线，所述第一线性度曲线用于描述所述热功率与环境温度偏差率的相关性；

根据所述第一线性度曲线和所述热功率，计算所述第一环境温度修正值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述热功率可被划分成若干段热源子功率区间，所述根据所述第一线性度曲线和所述热功率，计算所述第一环境温度修正值，包括：

确定每个所述热源子功率区间在所述第一线性度曲线对应的目标线性区间，其中，所述第一线性度曲线包含若干段线性函数，每个所述线性函数皆对应一个线性区间，每个所述热源子功率区间皆对应一个所述线性区间；

根据每个所述热源子功率区间及所述目标线性区间对应的线性函数，计算与每个所述热源子功率区间对应的第一环境温度偏差值；

累加所述热功率中各个所述热源子功率区间对应的所述第一环境温度偏差值，得到所述第一环境温度修正值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述风量，计算所述第二环境温度修正值，包括：

获取第二线性度曲线，所述第二线性度曲线用于描述风量与所述环境温度偏差率的相关性；

根据所述第二线性度曲线和所述风量，计算所述第二环境温度修正值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述风量可被划分成若干子风量区间，所述根据所述第二线性度曲线和所述风量，计算所述第二环境温度修正值，包括：

确定每个所述子风量区间在所述第二线性度曲线的目标线性区间，其中，所述第二线性度曲线包含若干段线性函数，每个所述线性函数皆对应一个线性区间，每个所述子风量区间皆对应一个所述线性区间；

根据每个所述子风量区间及所述目标线性区间对应的线性函数，计算与每个所述子风量对应的第二温度偏差值；

累加所述风量中各个所述子风量区间对应的第二温度偏差值，得到所述第二环境温度修正值。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述确定热源的热功率，包括：

采样所述热功率；

判断第一采样时间是否达到第一预设时间；

若是，将最近的所述第一预设时间段内的所述热功率进行平均化处理，并确定所述热功率；

若否，将所述第一采样时间段内的所述热功率进行平均化处理，并确定所述热功率。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将所述第一采样时间段内的所述热功率进行平均化处理，并确定所述热功率，包括：

将所述第一采样时间段内的所述热功率进行积分，获取第一积分值；

根据所述第一积分值和所述第一预设时间，确定所述热功率。

8.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述确定风场的风量，包括：

采样所述风场的风量；

判断第二采样时间是否达到第二预设时间；

若是，将最近的所述第二预设时间段内的所述风场的风量进行平均化处理，并确定所述风场的风量；

若否，将所述第二采样时间段内的所述风场的风量进行平均化处理，并确定所述风场的风量。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述将所述第二采样时间段内的所述风场的风量进行平均化处理，并确定所述风场风量值，包括：

将所述第二采样时间段内的所述风场风量进行积分，获取第二积分值；

根据所述第二积分值和所述第二预设时间，确定所述风场风量值。

10.一种控制器，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够用于执行如权利要求1至9任一项所述的密封设备环境温度检测方法。

11.一种密封设备环境温度检测电路，其特征在于，所述电路包括：

第一传感器，用于采样热源的热功率；

第二传感器，用于采样风场的风量；

第三传感器，用于采样所述密封设备内部温度；

如权利要求10所述的控制器，其分别与所述第一传感器、所述第二传感器和所述第三传感器连接。

12.一种密封设备环境温度检测系统，其特征在于，包括：

密封设备；

电源，其与所述密封设备连接，用于驱动所述密封设备；以及

如权利要求11所述的密封设备环境温度检测电路，其分别与所述电源和所述密封设备连接，用于检测所述密封设备的环境温度。

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