CN110749939B - 一种缝纫机的布料检测方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种缝纫机的布料检测方法及系统，该方法包括：当与红外光接收电路中的红外光敏二极管对射的红外发射二极管启动时，接收红外光接收电路发送的第一采样信号；当红外发射二极管关闭时，接收红外光接收电路发送的第二采样信号；生成第一采样信号对应的第一红外光能量和第二采样信号对应的第二红外光能量，并计算第一红外光能量与第二红外光能量的差值；根据差值和预设红外光能量的比较，确定红外光敏二极管的对应位置是否存在布料；本发明可以有效去掉环境中的红外光对布料检测的干扰，且减少布料检测的时间，有利于缝纫机剪线时控制线辫长度；并且通过红外光敏二极管的设置，可以更准确的感应光强度，提高布料检测的准确性。

Description

一种缝纫机的布料检测方法及系统

技术领域

本发明涉及缝纫机技术领域，特别涉及一种缝纫机的布料检测方法及系统。

背景技术

随着缝纫机技术的发展，越来越多的缝纫机在走向自动化。缝纫机通过布料检测感应器检测缝台上布料的状态，进行相应缝制动作，如抬压脚、剪线等。通常情况下，缝纫机上的布料检测感应器是由红外光发射管发射红外光，由红外光敏三极管接收红外光来感知布料状态。

一些缝纫机受到工况条件限制，不能避免阳光的照射。太阳光中的红外光会影响到布料检测感应器的工作，严重时会使布料检测感应器失灵，而使缝纫机产生误动作。

现有技术中，一般的缝纫机上的布料检测感应器需要增加防阳光功能。目前缝纫机上常用的防阳光处理方式是红外光发射管发射载波为几KHz或几十KHz的红外光，由红外光敏三极管接收端采用硬件解调电路解调出有用的信号，从而起到防阳光效果。但这种处理方式需要花费较长的时间才能获得稳定一致的信号，对高速运行的缝纫机来说，会产生一些不良的结果，比如剪线时线辫长度不好控制等，并且这种防阳光处理方式在阳光辐射强度大时会出现失效的情况。因此，如何避免现有的布料检测感应器存在的防阳光缺陷，缩短防阳光处理时间，增强防阳光的效果，是现今急需解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种缝纫机的布料检测方法及系统，以缩短布料检测中的防阳光处理时间，增强防阳光的效果。

为解决上述技术问题，本发明提供一种缝纫机的布料检测方法，包括：

当与红外光接收电路中的红外光敏二极管对射的红外发射二极管启动时，接收所述红外光接收电路发送的第一采样信号；

当所述红外发射二极管关闭时，接收所述红外光接收电路发送的第二采样信号；所述第一采样信号和所述第二采样信号均为所述红外光接收电路根据所述红外光敏二极管采集的红外光能量生成的采样电流对应的采样信号；

生成所述第一采样信号对应的第一红外光能量和所述第二采样信号对应的第二红外光能量，并计算所述第一红外光能量与所述第二红外光能量的差值；

根据所述差值和预设红外光能量的比较，确定所述红外光敏二极管的对应位置是否存在布料。

可选的，当所述第一采样信号和所述第二采样信号均为电压信号时，所述生成所述第一采样信号对应的第一红外光能量和所述第二采样信号对应的第二红外光能量，包括：

根据预设的所述电压信号与计算电流的对应关系，生成所述第一采样信号对应的第一采样电流和所述第二采样信号对应的第二采样电流；其中，所述计算电流与所述采样电流相对应，所述第一采样电流和所述第二采样电流均为所述计算电流；

根据预设的所述计算电流与所述红外光能量的对应关系，生成所述第一采样电流对应的第一红外光能量和所述第二采样电流对应的第二红外光能量。

可选的，该方法还包括：

控制所述红外发射二极管的启动和关闭。

可选的，所述控制所述红外发射二极管的启动，包括：

控制所述红外发射二极管按不同的预设模式启动；其中，所述红外发射二极管按不同的所述预设模式启动时，发射的红外光的辐射强度不同。

可选的，所述根据所述差值和预设红外光能量的比较，确定所述红外光敏二极管的对应位置是否存在布料，包括：

根据所述差值和所述第一采样信号对应的预设模式对应的预设红外光能量的比较，确定所述红外光敏二极管的对应位置是否存在布料；其中，所述第一采样信号对应的预设模式为接收所述第一采样信号时，控制所述红外发射二极管启动的预设模式。

此外，本发明还提供了一种缝纫机的布料检测系统，包括：

单片机，用于执行时实现如上述任一项所述的缝纫机的布料检测方法的步骤；

与所述单片机相连，设置有红外光敏二极管的红外光接收电路，用于将所述红外光敏二极管生成的采样电流转换为对应的采样信号；

与所述红外光敏二极管对射设置的红外发射二极管，用于启动时向所述红外光敏二极管发射红外光。

可选的，所述红外光接收电路，包括：所述红外光敏二极管和电阻；

其中，所述红外光敏二极管的阳极与电源相连，所述红外光敏二极管阴极分别与所述电阻的第一端和所述单片机的AD引脚相连，所述电阻的第二端接地。

可选的，所述红外光接收电路，包括：所述红外光敏二极管和运放电路；

其中，所述红外光敏二极管通过所述运放电路与所述单片机相连。

可选的，该系统还包括：

与所述单片机相连，设置有所述红外发射二极管的红外光发射电路，用于根据所述单片机的控制，启动或关闭所述红外发射二极管。

可选的，所述红外光发射电路，具体用于根据所述单片机的控制，按不同的预设模式启动或关闭所述红外发射二极管；其中，所述红外发射二极管按不同的所述预设模式启动时，发射的红外光的辐射强度不同。

本发明所提供的一种缝纫机的布料检测方法，包括：当与红外光接收电路中的红外光敏二极管对射的红外发射二极管启动时，接收红外光接收电路发送的第一采样信号；当红外发射二极管关闭时，接收红外光接收电路发送的第二采样信号；其中，第一采样信号和第二采样信号均为红外光接收电路根据红外光敏二极管采集的红外光能量生成的采样电流对应的采样信号；生成第一采样信号对应的第一红外光能量和第二采样信号对应的第二红外光能量，并计算第一红外光能量与第二红外光能量的差值；根据差值和预设红外光能量的比较，确定红外光敏二极管的对应位置是否存在布料；

可见，本发明通过生成第一采样信号对应的第一红外光能量和第二采样信号对应的第二红外光能量，并计算第一红外光能量与第二红外光能量的差值，可以有效去掉环境中的红外光对布料检测的干扰，且减少布料检测的时间，有利于缝纫机剪线时控制线辫长度；通过红外光接收电路中红外光敏二极管的设置，可以更准确的感应光强度，提高布料检测的准确性。此外，本发明还提供了一种缝纫机的布料检测系统，同样具有上述有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例所提供的一种缝纫机的布料检测方法的流程图；

图2为本发明实施例所提供的另一种缝纫机的布料检测方法的布料检测感应器的电路图；

图3为本发明实施例所提供的另一种缝纫机的布料检测方法的红外光接收电路的电路图；

图4为本发明实施例所提供的另一种缝纫机的布料检测方法的红外发射二极管的电流驱动波形示意图；

图5为本发明实施例所提供的另一种缝纫机的布料检测方法的红外发射二极管和红外光敏二极管的安装位置展示图；

图6为本发明实施例所提供的一种缝纫机的布料检测系统的结构图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图1，图1为本发明实施例所提供的一种缝纫机的布料检测方法的流程图。该方法可以包括：

步骤101：当与红外光接收电路中的红外光敏二极管对射的红外发射二极管启动时，接收红外光接收电路发送的第一采样信号。

其中，本步骤中的第一采样信号可以为红外光接收电路根据红外光敏二极管采集的红外光能量生成的采样电流对应的采样信号。也就是，红外光敏二极管根据接收到的红外发射二极管发射出的红外光能量和环境中的红外光能量产生的相应的采样电流(光电流)后，如布料检测感应器中的单片机的处理器从红外光接收电路获取的该采样电流对应的采样信号。

具体的，对于处理器接收的第一采样信号的具体类型，可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置，可以接收红外光敏二极管生成的采样电流对应的电压信号，如当红外光接收电路的结构采用如图2中的红外光接收电路设置时，处理器(单片机MCU)可以获取R7电阻上产生的采样电压(第一采样信号)；如当红外光接收电路的结构采用如图3的电路结构时，处理器可以获取红外光敏二极管(D1)接到运放电路后R8电阻上产生的放大后的采样电压；也可以直接接收红外光敏二极管生成的采样电流或放大后的采样电流。本实施例对此不做任何限制。

需要说明的是，本步骤的目的可以为在与红外光敏二极管对射的红外发射二极管启动后，处理器通过红外光接收电路获取红外光敏二极管根据接收到的红外光能量(红外发射二极管发射出的红外光能量和环境中的红外光能量)生成的采样电流对应的采样信号。

可以理解的是，本实施例是以对射方式设置的红外光敏二极管和红外发射二极管之间一次布料检测为例进行的展示。对于多次布料检测的具体方式，采用与本实施例相似的方式对应进行设置，如当红外发射二极管在多次布料检测中持续启动时，本步骤可以为当红外发射二极管启动时，按预设时间间隔接收红外光接收电路发送的第一采样信号，其中，预设时间间隔可以为设计人员或用户自行设置的每次布料检测的间隔时间；如当红外发射二极管在多次布料检测中间隔启动时，本步骤可以为在每次红外发射二极管启动后，接收红外光接收电路发送的第一采样信号。本实施例对此不做任何限制。

对应的，对于设置在红外光敏二极管的对射位置的红外发射二极管的启动和关闭的控制，可以由设计人员根据实用场景和用户需求对应设置，如当红外发射二极管在多次布料检测中持续启动时，可以由用户或其他处理器控制，即红外发射二极管可以与设置在缝纫机上的开关或其他处理器连接；如当红外发射二极管在多次布料检测中间隔启动时，可以由本实施例中的如布料检测感应器中的单片机的处理器控制，即红外发射二极管可以与本实施例中的处理器连接，由处理器按预设时间间隔启动红外发射二极管，红外发射二极管的驱动电流频率高，响应速度快，可以进一步提升本实施例所提供的方法的检测时间。本实施例对此不做任何限制。

优选的，为了进一步提高布料检测的对不同厚度布料的适用性，在本实施例中的处理器可以控制红外发射二极管按不同的预设模式启动；其中，红外发射二极管按不同的预设模式启动时，发射的红外光的辐射强度不同。具体的，处理器可以根据用户设置或其他处理器发送的布料厚度信息，控制红外发射二极管按对应的预设模式启动，如图2所示，处理器(单片机MCU)与由电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、三极管Q1、Q2、Q3及红外发射二极管D2组成红外光发射电路相连，单片机根据布料厚度信息(薄、中和厚)令相应引脚(ID0、ID1和ID2)输出高低电平，控制Q1、Q2和Q3的导通与截止。当Q1、Q2和Q3均导通时，红外发射二机管D2的驱动电流最大，此时红外发射二机管D2的辐射强度最强；当Q1、Q2和Q3均截止时，红外发射二机管D2上无驱动电流，此时红外发射二机管D2不发射红外光；当Q1、Q2和Q3中有一个导通两个截止或两个导通一个截止时，可以调节红外发射二机管D2上的驱动电流大小，进一步就能调节红外发射二机管D2的辐射强度。对于处理器控制红外发射二极管启动的预设模式的具体设置，即红外光发射电路的具体结构，可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置，本实施例对此不做任何限制。

具体的，对于红外发射二极管的驱动电流采用的具体频率和周期，可以由设计人员自行设置，如可以如图4所示，红外发射二极管(IR LED)的驱动电流采用频率62.5KHz，周期为16us。本实施例对此不做任何限制。

步骤102：当红外发射二极管关闭时，接收红外光接收电路发送的第二采样信号。

其中，本步骤中的第二采样信号可以为红外光接收电路根据红外光敏二极管采集的红外光能量生成的采样电流对应的采样信号。也就是，红外光敏二极管根据接收到的环境中的红外光能量产生的相应的采样电流(光电流)后，处理器从红外光接收电路获取的该采样电流对应的采样信号。

具体的，处理器接收的第二采样信号的具体类型，可以采用与第一采样信号相同的类型，本实施例对此不再赘述。

需要说明的是，本步骤的目的可以为在与红外光敏二极管对射的红外发射二极管关闭后或启动之前，处理器通过红外光接收电路获取红外光敏二极管根据接收到的红外光能量(环境中的红外光能量)生成的采样电流对应的采样信号。

可以理解的是，本实施例是以对射方式设置的红外光敏二极管和红外发射二极管之间一次布料检测为例进行的展示。对于本步骤与步骤101的具体逻辑顺序，可以由设计人员自行设置，可以先启动红外发射二极管执行步骤101，再关闭红外发射二极管执行本步骤；也可以在红外发射二极管启动之前(关闭时)先执行本步骤，再启动红外发射二极管执行步骤101。本实施例对此不做任何限制。

对应的，对于多次布料检测的情况，如当红外发射二极管在多次布料检测中持续启动时，本步骤可以为在红外发射二极管启动之前，接收红外光接收电路发送的第二采样信号；如当红外发射二极管在多次布料检测中间隔启动时，本步骤可以为在每次红外发射二极管启动之前或关闭之后，接收红外光接收电路发送的第二采样信号。本实施例对此不做任何限制。

步骤103：生成第一采样信号对应的第一红外光能量和第二采样信号对应的第二红外光能量，并计算第一红外光能量与第二红外光能量的差值。

其中，本步骤的目的可以为处理器根据从红外光接收电路获取的第一采样信号和第二采样信号，生成各自对应的第一红外光能量(红外发射二极管发射出的红外光能量和环境中的红外光能量)和第二红外光能量(环境中的红外光能量)，计算出第一红外光能量与第二红外光能量的差值(红外发射二极管发射出的红外光能量)，从而避免了阳光(环境中的红外光能量)对布料检测的影响。

具体的，对于本步骤中生成第一采样信号对应的第一红外光能量和第二采样信号对应的第二红外光能量的具体方式，可以由设计人员根据第一采样信号和第二采样信号的具体类型对应进行设置，如当第一采样信号和第二采样信号均为电压信号时，可以根据预设的电压信号与计算电流的对应关系，生成第一采样信号对应的第一采样电流和第二采样信号对应的第二采样电流；其中，计算电流与采样电流相对应，第一采样电流和第二采样电流均为计算电流；根据预设的计算电流与红外光能量的对应关系，生成第一采样电流对应的第一红外光能量和第二采样电流对应的第二红外光能量。只要处理器可以根据从红外光接收电路获取的第一采样信号和第二采样信号，生成各自对应的第一红外光能量和第二红外光能量，本实施例对此不做任何限制。

对应的，上述计算电流与红外光敏二极管采集的红外光能量生成的采样电流的具体对应关系，可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置，如计算电流可以与采样电流相等，即处理器可以根据接收的电压信号计算生成对应的采样电流的电流值；计算电流也可以与采样电流存在预设倍数或预设加减量的对应关系，即处理器可以根据接收的电压信号计算生成对应的采样电流的预设倍数或预设加减量的电流值，作为计算电流。本实施例对此不做任何限制。

可以理解的是，本步骤中生成第一采样信号对应的第一红外光能量和第二采样信号对应的第二红外光能量的具体过程，可以如本实施例在步骤101和步骤102之后再分别生成第一红外光能量和第二红外光能量；也可以先在先进行的步骤101之后生成第一红外光能量，再在后进行的步骤102之后生成第二红外光能量；还可以先在先进行的步骤102之后生成第二红外光能量，再在后进行的步骤101之后生成第一红外光能量。本实施例对此不做任何限制。

需要说明的是，对于多次布料检测的情况，如当红外发射二极管在多次布料检测中持续启动时，本步骤可以为先生成第二采样信号对应的第二红外光能量，再在每次接收到第一采样信号后，生成对应的第一红外光能量，计算每次生成的第一红外光能量与同一第二红外光能量的差值。如当红外发射二极管在多次布料检测中间隔启动时，本步骤可以为按预设时间间隔生成第一采样信号对应的第一红外光能量和第二采样信号对应的第二红外光能量，并计算第一红外光能量与第二红外光能量的差值。本实施例对此不做任何限制。

步骤104：根据差值和预设红外光能量的比较，确定红外光敏二极管的对应位置是否存在布料。

其中，本步骤中的预设红外光能量为预先设置的可以确定对射方式设置的红外光敏二极管和红外发射二极管之间是否存在布料的红外光能量，如当第一红外光能量与第二红外光能量的差值(红外发射二极管发射出的红外光能量)大于预设红外光能量时，可以说明红外光敏二极管和红外发射二极管之间不存在布料遮挡，则确定该位置不存在布料；如当差值小于或等于预设红外光能量时，可以说明红外光敏二极管和红外发射二极管之间存在布料遮挡，则确定该位置存在布料。

具体的，对于预设红外光能量的具体数值的设置，可以由设计人员根据实用场景或用户需求自行设置，本实施例对此不做任何限制。

需要说明的是，当本步骤中的处理器可以控制红外发射二极管按不同的预设模式启动时，本步骤可以为根据差值和第一采样信号对应的预设模式对应的预设红外光能量的比较，确定红外光敏二极管的对应位置是否存在布料；其中，第一采样信号对应的预设模式为接收第一采样信号时，控制红外发射二极管启动的预设模式。也就是说，可以为红外发射二极管启动的每种的预设模式，设置一一对应的预设红外光能量，以在红外发射二极管按不同的预设模式启动时，使用对应的预设红外光能量进行布料检测。本实施例对此不做任何限制。

具体的，对于本实施例中的红外发射二极管和红外光敏二极管的在缝纫机上的具体设置，可以由设计人员自行设置，如图5所示，红外发射二极管(前发射管、中发射管或后发射管)可以安装在机头上部，对应的红外光敏二极管(前接收管、中接收管或后接收管)可以缝台或针板处，只要保证红外发射二极管和对应的红外光敏二极管采用对射方式进行设置，本实施例对此不做任何限制。

可以理解的是，本实施例是以如布料检测感应器中的单片机的处理器对对射方式设置的一个红外光敏二极管和一个红外发射二极管之间的布料检测为例进行的展示，对于处理器对对射方式设置的多个红外光敏二极管和红外发射二极管的布料检测，可以采用与本实施例所提供的方法相似的方式对应进行设置，如图5中的前接收管、中接收管和后接收管可以与同一处理器相连，由该处理器分别对三个位置进行布料检测。本实施例对此不做任何限制。

本实施例中，本发明实施例通过生成第一采样信号对应的第一红外光能量和第二采样信号对应的第二红外光能量，并计算第一红外光能量与第二红外光能量的差值，可以有效去掉环境中的红外光对布料检测的干扰，且减少布料检测的时间，有利于缝纫机剪线时控制线辫长度；通过红外光接收电路中红外光敏二极管的设置，可以更准确的感应光强度，提高布料检测的准确性。

请参考图6，图6为本发明实施例所提供的一种缝纫机的布料检测系统的结构图。该系统可以包括：

单片机100，用于执行时实现如上述实施例所提供的缝纫机的布料检测方法的步骤；

与单片机100相连，设置有红外光敏二极管210的红外光接收电路200，用于将红外光敏二极管210生成的采样电流转换为对应的采样信号；

与红外光敏二极管210对射设置的红外发射二极管300，用于启动时向红外光敏二极管210发射红外光。

可选的，如图2中的红外光接收电路，红外光接收电路200，可以包括：红外光敏二极管210(D1)和电阻(R7)；

其中，红外光敏二极管210的阳极与电源相连，红外光敏二极管210阴极分别与电阻的第一端和单片机100的AD引脚相连，电阻的第二端接地。

可选的，红外光接收电路200，可以包括：红外光敏二极管210和运放电路；其中，红外光敏二极管210通过运放电路与单片机100相连。

具体的电路结构可以如图3所示，使单片机100可以获取红外光敏二极管210(D1)接到运放电路后R8电阻上产生的放大后的采样电压。

可选的，该系统还可以包括：

与单片机100相连，设置有红外发射二极管300的红外光发射电路，用于根据单片机100的控制，启动或关闭红外发射二极管300。

可选的，红外光发射电路，具体可以用于根据单片机100的控制，按不同的预设模式启动或关闭红外发射二极管300；其中，红外发射二极管300按不同的预设模式启动时，发射的红外光的辐射强度不同。

具体的，可以如图2所示，单片机100(MCU)与由电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、三极管Q1、Q2、Q3及红外发射二极管300(D2)组成红外光发射电路相连，单片机100令相应引脚(ID0、ID1和ID2)输出高低电平，控制Q1、Q2和Q3的导通与截止。当Q1、Q2和Q3均导通时，红外发射二机管300的驱动电流最大，此时红外发射二机管300的辐射强度最强；当Q1、Q2和Q3均截止时，红外发射二机管300上无驱动电流，此时红外发射二机管300不发射红外光；当Q1、Q2和Q3中有一个导通两个截止或两个导通一个截止时，可以调节红外发射二机管300上的驱动电流大小，进一步就能调节红外发射二机管300的辐射强度。对于红外光发射电路的具体结构，可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置，本实施例对此不做任何限制。

本实施例中，本发明实施例利用单片机100可以有效去掉环境中的红外光对布料检测的干扰，且减少布料检测的时间，有利于缝纫机剪线时控制线辫长度；通过红外光接收电路200中红外光敏二极管210的设置，可以更准确的感应光强度，提高布料检测的准确性。

说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本发明所提供的缝纫机的布料检测方法及系统进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (6)

1.一种缝纫机的布料检测方法，其特征在于，包括：

当与红外光接收电路中的红外光敏二极管对射的红外发射二极管启动时，接收所述红外光接收电路发送的第一采样信号；

当所述红外发射二极管关闭时，接收所述红外光接收电路发送的第二采样信号；其中，所述第一采样信号和所述第二采样信号均为所述红外光接收电路根据所述红外光敏二极管采集的红外光能量生成的采样电流对应的采样信号；

生成所述第一采样信号对应的第一红外光能量和所述第二采样信号对应的第二红外光能量，并计算所述第一红外光能量与所述第二红外光能量的差值；

根据所述差值和预设红外光能量的比较，确定所述红外光敏二极管的对应位置是否存在布料；

还包括：控制所述红外发射二极管的启动和关闭；

所述控制所述红外发射二极管的启动，包括：

控制所述红外发射二极管按不同的预设模式启动；其中，所述红外发射二极管按不同的所述预设模式启动时，发射的红外光的辐射强度不同。

2.根据权利要求1所述的缝纫机的布料检测方法，其特征在于，当所述第一采样信号和所述第二采样信号均为电压信号时，所述生成所述第一采样信号对应的第一红外光能量和所述第二采样信号对应的第二红外光能量，包括：

根据预设的所述电压信号与计算电流的对应关系，生成所述第一采样信号对应的第一采样电流和所述第二采样信号对应的第二采样电流；其中，所述计算电流与所述采样电流相对应，所述第一采样电流和所述第二采样电流均为所述计算电流；

根据预设的所述计算电流与所述红外光能量的对应关系，生成所述第一采样电流对应的第一红外光能量和所述第二采样电流对应的第二红外光能量。

3.根据权利要求1所述的缝纫机的布料检测方法，其特征在于，所述根据所述差值和预设红外光能量的比较，确定所述红外光敏二极管的对应位置是否存在布料，包括：

根据所述差值和所述第一采样信号对应的预设模式对应的预设红外光能量的比较，确定所述红外光敏二极管的对应位置是否存在布料；其中，所述第一采样信号对应的预设模式为接收所述第一采样信号时，控制所述红外发射二极管启动的预设模式。

4.一种缝纫机的布料检测系统，其特征在于，包括：

单片机，用于执行时实现如权利要求1至3任一项所述的缝纫机的布料检测方法的步骤；

与所述单片机相连，设置有红外光敏二极管的红外光接收电路，用于将所述红外光敏二极管生成的采样电流转换为对应的采样信号；

与所述红外光敏二极管对射设置的红外发射二极管，用于启动时向所述红外光敏二极管发射红外光；

还包括：

与所述单片机相连，设置有所述红外发射二极管的红外光发射电路，用于根据所述单片机的控制，启动或关闭所述红外发射二极管；

所述红外光发射电路，具体用于根据所述单片机的控制，按不同的预设模式启动或关闭所述红外发射二极管；其中，所述红外发射二极管按不同的所述预设模式启动时，发射的红外光的辐射强度不同。

5.根据权利要求4所述的缝纫机的布料检测系统，其特征在于，所述红外光接收电路，包括：所述红外光敏二极管和电阻；

其中，所述红外光敏二极管的阳极与电源相连，所述红外光敏二极管阴极分别与所述电阻的第一端和所述单片机的AD引脚相连，所述电阻的第二端接地。

6.根据权利要求4所述的缝纫机的布料检测系统，其特征在于，所述红外光接收电路，包括：所述红外光敏二极管和运放电路；

其中，所述红外光敏二极管通过所述运放电路与所述单片机相连。

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