CN110716074A - 一种探针模组 - Google Patents

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刘跃
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Abstract

本发明公开一种探针模组,包括本体;位于本体底部的浮板以及位于浮板的背离本体一侧的探针组件;探针组件包括盖板;结合固定在盖板底面的包括有若干针槽的型芯;以及被限位件限位固定于针槽内的若干刀片针;浮板上包括有与刀片针电接触端对应的针孔,浮板被配置为在刀片针延伸方向上可相对本体浮动,刀片针的电接触端可在浮板靠近本体的位置由针孔探出浮板的背离本体的一侧表面。本发明可在某一探针损坏时,针对探针组件进行整体更换。在更换探针组件时,作为探针模组一部分的浮板与本体之间的装配精度不受影响,不用进一步调整二者之间的精度,在提高了探针模组更换探针的工作效率的同时,增加了测试过程的稳定性。

Description

一种探针模组
技术领域
本发明涉及测试装置技术领域,更具体地,涉及一种探针模组。
背景技术
随着现代社会的快速发展,各式各样的电子产品进入到人们的生活中,人们对电子产品的质量要求也越来越高,从而在电子产品的生产过程中,每道工序都需要对半成品产品进行检测,目前通常采用测试设备与产品电连接进行测试,测试设备的连接件为金属探针,现有技术主要针对的是Pogo Pin(圆柱形针),该结构形式的探针存在Pogo pin与液晶模组端的接触是点接触,易扎伤产品,Pogo pin的寿命偏低,本身电阻值大,测试信号不稳定等诸多弊端。目前扁平状的刀片针正逐步替代Pogo Pin(圆柱形针)被广泛应用,刀片针与液晶模组端的接触是线接触,接触面积大,寿命较Pogo pin高,本身电阻值小,测试信号更加稳定。
但受限于现有探针模组结构设计的缺陷,无法针对探针组件进行整体的更换,也就是说当在某一探针即刀片针针体损坏时,在拆掉盖板后,各配置在型芯内的刀片针针体均是单独个体,无法查找已损坏的针体或者对已损坏的针体进行更换,且由于探针组件中型芯通常被用于压住浮板以使之能够与本体固定,进而在跟换针体时配置有探针的型芯无法拆卸,进而只能将配置在针槽内的探针全部倒出,探针在取出时,如一个一个取出探针,工作繁琐,效率低,易对型芯造成不必要的摩擦损伤;如将所有探针全部整体倒出,各探针会全部散落开,为探针的更换带来不便。
发明内容
鉴于上述问题,本发明要解决的技术问题是提供一种易于方便更换探针的探针模组。
为解决上述技术问题,本发明采用下述技术方案:
一种探针模组,所述模组包括:
具有中空内腔的本体;
位于所述本体底部的浮板;以及
位于浮板的背离本体一侧的探针组件;
所述探针组件包括:
结合固定在所述本体顶部的盖板;
结合固定在所述盖板底面的位于中空内腔的包括有若干针槽的型芯;以及
位于中空内腔内与若干针槽一一对应且被限位件限位固定于针槽内的若干刀片针;
所述浮板上包括有与刀片针电接触端一一对应的若干针孔,所述浮板被配置为在刀片针延伸方向上可相对本体浮动,刀片针的电接触端可在浮板靠近本体的位置由针孔探出浮板的背离本体的一侧表面。
此外,优选地方案是,所述探针组件还包括有位于中空内腔内的型芯固定件,所述型芯固定件环套在所述型芯外,且与所述盖板结合固定;
所述型芯固定件包括有内收的台阶部,所述台阶部形成所述限位件。
此外,优选地方案是,所述刀片针上包括有与台阶部台面对应的限位边,通过台阶部台面与刀片针限位边的配合,所述刀片针被限位固定于型芯的针槽内。
此外,优选地方案是,所述浮板通过等高螺丝结合固定在所述本体的底面上,所述浮板与本体之间包括有弹性件,所述弹性件的作用力方向沿所述等高螺丝的轴向方向。
此外,优选地方案是,所述型芯固定件与所述盖板之间包括有定位柱和与定位柱对应配合的定位孔。
此外,优选地方案是,所述本体与所述盖板之间包括有定位销和与定位销对应配合的定位销孔。
此外,优选地方案是,所述盖板上包括有与刀片针的远离电连接端的头端对应的定位针孔。
此外,优选地方案是,所述浮板的在位于靠近本体的极限位置时,所述浮板与型芯以及型芯固定件之间均不相接触。
此外,优选地方案是,所述本体包括有由中空内腔内壁向内延伸出的限位台,所述限位台被配置为可将型芯固定件稳固的固定在所述本体与盖板之间。
此外,优选地方案是,所述浮板的背离所述本体的一侧表面上包括有环绕在若干针孔外围的围壁。
本发明的有益效果如下:
相较于现有技术,本发明提供的探针模组通过将浮板与探针组件分别固定于本体两侧的设计,且通过在型芯上设置与刀片针匹配的针槽,使得多个刀片针可一一对应安装于针槽内,保证的装配的有效性,且由于针槽的形状与刀片针形状一致,使得整体结构更紧凑,增加了测试过程的稳定性。此外本发明提供的探针模组结构中至少由盖体、型芯以及探针所构成的探针组件形成一整体结构,便于在某一探针损坏时,可针对探针组件进行整体更换。在更换探针组件时,作为探针模组一部分的浮板与本体之间的装配精度不受影响,进而保证了更换探针组件后,探针能够直接与浮板上的针孔一一对应,不用进一步调整二者之间的精度,在提高了探针模组更换探针的工作效率的同时,增加了测试过程的稳定性。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。
图1示出本发明所提供探针模组的整体结构示意图。
图2示出本发明所提供探针模组的装配图。
图3示出本发明所提供探针组件的装配图。
图4示出本发明所提供型芯固定件的结构示意图。
图5示出本发明所提供浮板的结构示意图。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
为解决现有探针模组受结构限制,不易更换模组中探针的问题,本发明提供一种探针模组,结合图1至图5所示,具体地,所述探针模组包括:
具有中空内腔的本体1;
位于所述本体1底部的浮板2;以及
位于浮板2的背离本体1一侧的探针组件3;
所述探针组件3包括:
结合固定在所述本体1顶部的盖板31;
结合固定在所述盖板31底面的位于中空内腔的包括有若干针槽321的型芯32;以及
位于中空内腔内与若干针槽321一一对应且被限位件限位固定于针槽321内的若干刀片针33;
所述浮板2上包括有与刀片针33电接触端331一一对应的若干针孔21,所述浮板2被配置为在刀片针33延伸方向上可相对本体1浮动,刀片针33的电接触端331可在浮板2靠近本体1的位置由针孔21探出浮板2的背离本体1的一侧表面。
本发明提供的探针模组通过将浮板2与探针组件3分别固定于本体1两侧,并配合刀片针33被限位件限位固定于针槽321内的设计,使得至少由盖体31、型芯32以及刀片针33相互结合固定构成的探针组件3形成一整体结构,便于在某一探针损坏时,可针对探针组件进行整体更换。在更换探针组件时,作为探针模组一部分的浮板与本体之间的装配精度不受影响,进而保证了更换探针组件后,探针能够直接与浮板上的针孔一一对应,不用进一步调整二者之间的精度,在提高了探针模组更换探针的工作效率,以及方便探针后期更换及维护的同时,还增加了测试过程的稳定性。
在一个实施例中,本发明提供一种优选地的针对型芯32、刀片针33以及盖板31之间结合固定的实施方式,具体地,结合图2、图3以及图4所示,所述探针组件3还包括有位于中空内腔内的型芯固定件34,所述型芯固定件34环套在所述型芯32外,且与所述盖板31结合固定;所述型芯固定件34包括有内收的台阶部341,所述台阶部341形成所述限位件。进一步地,所述刀片针33上包括有与台阶部341台面对应的限位边332,通过台阶部341台面与刀片针33限位边332的配合,所述刀片针33被限位固定于型芯32的针槽321内。型芯固定件34一方面可从刀片针33外侧包围住刀片针,以便于防止刀片针由针槽内脱落。另一方面型芯固定件34的内收的台阶部341可由型芯32底部牢固的将型芯32与盖板31结合固定为一整体结构,并且通过由所述台阶部341形成的限位件,利用台阶部341台面与刀片针33限位边332的配合,以实现刀片针33被限位件限位固定于针槽321内,当然可以理解的是,台阶部341之间留有空间以供刀片针33的电接触端331可在浮板2靠近本体1的位置由针孔探出浮板2的背离本体1的一侧表面。优选地,所述型芯固定件34与所述盖板31之间包括有定位柱4和与定位柱4对应配合的定位孔5。且在一个实施例中,所述本体1包括有由中空内腔内壁向内延伸出的限位台,所述限位台被配置为可将型芯固定件34稳固的固定在所述本体1与盖板31之间。
本发明中,刀片针首先通过型芯实现刀片针的初步组装定位,再通过型芯与盖板的固定,以及型芯固定件与盖板的固定实现刀片针的完全定位,型芯固定件与所述盖板之间的相互配合的定位柱与定位孔可保证型芯固定件与盖板之间的装配精度。可以理解的是,定位柱可设置在盖板上或者设置在型芯固定件上,与定位柱相对的,所述定位孔可设置在型芯固定件上或者盖板上,定位柱可为单独构件,以方便后期的更换及组装,对此本发明不做限制。
在一个具体实施方式中,所述浮板2通过等高螺丝6结合固定在所述本体1的底面上,所述浮板2与本体1之间包括有弹性件7,所述弹性件7的作用力方向沿所述等高螺丝6的轴向方向。所述等高螺丝6包括有位于头端部的用以将浮板2连接固定在本体1上的螺接部以及位于螺接部后端的为浮板2的浮动提供导向的导向部。此外所述弹性件7可为弹簧或者其它具有弹性复位能力的弹性元件,对此不做限制,当所述弹性件7选用弹簧时,弹簧可被配置在浮板2与本体1底部之间,或者为了保证弹簧的受力均匀,不发生扭曲变形,所述弹簧也可套设在所述等高螺丝上,以维持浮板浮动的稳定。
结合图5所示,本发明所提供浮板2的背离所述本体1的一侧表面上还包括有环绕在若干针孔21外围的围壁22。当探针模组结合固定在检测结构上对液晶模组端的B2B及FPC进行压接导通时,围壁22可提供预定位作用,保证产品位于刀片针正下方,以使若干刀片针电接触端与待测产品电连接端之间可一一对应的准确的稳定压接形成电连接。
在一个实施例中,如图2所示,所述本体1与所述盖板31之间包括有定位销8和与定位销8对应配合的定位销孔,以保证本体与探针组件整体结构之间的装配精度。
结合图示结构,一优选地实施例,所述盖板31上包括有与刀片针33的远离电连接端331的头端333对应的定位针孔311,以进一步确保刀片针33的定位精度。
在采用如附图1至图4所示的实施方式时,为了避免浮板2与型芯32或者型芯固定件34之间发生碰撞使刀片针33产生晃动,影响刀片针33的对接精度,所述浮板2的在位于靠近本体1的极限位置时,所述浮板2与型芯32以及型芯固定件34之间均不相接触。
在实际应用中,本发明提供的探针模组结合固定在检测结构上,用以对液晶模组端的B2B及FPC进行压接检测,初始状态时浮板是弹开状态,即浮板位于远离本体的位置,此时刀片针的电连接端隐藏在浮板内,起到对刀片针的保护。检测时,本探针模组去压接B2B或者FPC,浮板受力缩回,靠向本体,刀片针的电连接端由浮板的远离本体的一侧表面露出,与B2B或FPC接触,实现信号的导通,随后通过其他的设备完成检测。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定,对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动,这里无法对所有的实施方式予以穷举,凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。

Claims (10)

1.一种探针模组,其特征在于,所述模组包括:
具有中空内腔的本体;
位于所述本体底部的浮板;以及
位于浮板的背离本体一侧的探针组件;
所述探针组件包括:
结合固定在所述本体顶部的盖板;
结合固定在所述盖板底面的位于中空内腔的包括有若干针槽的型芯;以及
位于中空内腔内与若干针槽一一对应且被限位件限位固定于针槽内的若干刀片针;
所述浮板上包括有与刀片针电接触端一一对应的若干针孔,所述浮板被配置为在刀片针延伸方向上可相对本体浮动,刀片针的电接触端可在浮板靠近本体的位置由针孔探出浮板的背离本体的一侧表面。
2.根据权利要求1所述的探针模组,其特征在于,所述探针组件还包括有位于中空内腔内的型芯固定件,所述型芯固定件环套在所述型芯外,且与所述盖板结合固定;
所述型芯固定件包括有内收的台阶部,所述台阶部形成所述限位件。
3.根据权利要求2所述的探针模组,其特征在于,所述刀片针上包括有与台阶部台面对应的限位边,通过台阶部台面与刀片针限位边的配合,所述刀片针被限位固定于型芯的针槽内。
4.根据权利要求1所述的探针模组,其特征在于,所述浮板通过等高螺丝结合固定在所述本体的底面上,所述浮板与本体之间包括有弹性件,所述弹性件的作用力方向沿所述等高螺丝的轴向方向。
5.根据权利要求2所述的探针模组,其特征在于,所述型芯固定件与所述盖板之间包括有定位柱和与定位柱对应配合的定位孔。
6.根据权利要求1所述的探针模组,其特征在于,所述本体与所述盖板之间包括有定位销和与定位销对应配合的定位销孔。
7.根据权利要求1所述的探针模组,其特征在于,所述盖板上包括有与刀片针的远离电连接端的头端对应的定位针孔。
8.根据权利要求2所述的探针模组,其特征在于,所述浮板的在位于靠近本体的极限位置时,所述浮板与型芯以及型芯固定件之间均不相接触。
9.根据权利要求2所述的探针模组,其特征在于,所述本体包括有由中空内腔内壁向内延伸出的限位台,所述限位台被配置为可将型芯固定件稳固的固定在所述本体与盖板之间。
10.根据权利要求1所述的探针模组,其特征在于,所述浮板的背离所述本体的一侧表面上包括有环绕在若干针孔外围的围壁。
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CN113267717A (zh) * 2021-06-11 2021-08-17 珠海市精实测控技术有限公司 一种电路板测试平台

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021093330A1 (zh) * 2019-11-12 2021-05-20 苏州华兴源创科技股份有限公司 一种探针模组
US11860191B2 (en) 2019-11-12 2024-01-02 Suzhou Hyc Technology Co., Ltd. Probe module
CN113267717A (zh) * 2021-06-11 2021-08-17 珠海市精实测控技术有限公司 一种电路板测试平台

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