CN110632678A - 全电波暗室测试装置、传感探头测试方法和可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种全电波暗室测试装置、传感探头测试方法以及可读存储介质。所述全电波暗室测试装置包括：屏蔽室，所述屏蔽室的内壁设置有吸波材料；发射天线，所述发射天线设于所述屏蔽室内，且所述发射天线具有至少一个极化方向；测试平台，所述测试平台设于所述屏蔽室内，并相对所述发射天线可移动，所述测试平台用于安置待检测件；以及控制组件，所述控制组件与所述测试平台电性连接，并与所述发射天线电性连接。本发明旨在对传感探头的数据采集能力进行数据收集，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

Description

全电波暗室测试装置、传感探头测试方法和可读存储介质

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种全电波暗室测试装置，应用该全电波暗室测试装置的传感探头测试方法，以及可读存储介质。

背景技术

随着地表下的运动(地壳运动)或地表上的作业活动(矿石开采等活动)，大地一般会发出一定的振动或者信号，收集这些信号并进行分析有助于人类对地面运动进行了解。一般的，会利用传感探头采集大地的运动参数信息。

当前的使用过程中，通常会设置多个传感探头组成地震监测网络，而多个传感探头组成系统时，无法保证其具有相近的检测效果，从而整个地震监测网络探头的一致性较低，在相同激励条件下，不同传感探头得到的监测数据有所差别，存在造成误报或误判的风险，因此有必要对传感探头的数据采集能力进行数据收集，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

以上仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容为现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种全电波暗室测试装置、传感探头测试方法，以及可读存储介质，旨在对传感探头的数据采集能力进行数据收集，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

为实现上述目的，本发明提供一种全电波暗室，所述全电波暗室测试装置包括：

屏蔽室，所述屏蔽室的内壁设置有吸波材料；

发射天线，所述发射天线设于所述屏蔽室内，且所述发射天线具有至少一个极化方向；

测试平台，所述测试平台设于所述屏蔽室内，并相对所述发射天线可移动，所述测试平台用于安置待检测件；以及

控制组件，所述控制组件与所述测试平台电性连接，并与所述发射天线电性连接。

可选地，所述测试平台包括：

支撑座，所述支撑座的上表面设有用于固定所述待检测件的接口，所述接口与所述控制组件电性连接，所述支撑座形成有导向孔；

竖直驱动件，所述竖直驱动件设于支撑座背离所述上表面的一侧，并抵接于所述支撑座；以及

导向柱，所述导向柱与所述竖直驱动件设于同一侧，并可滑动地插接于所述导向孔。

可选地，所述测试平台还包括水平移动机构，所述水平移动机构包括水平驱动件和与所述水平驱动件连接的支撑板，所述导向柱背离所述支撑座的一侧与所述支撑板固定连接，所述竖直驱动件固定于所述支撑板的表面。

可选地，所述全电波暗室测试装置还包括设置于屏蔽室内的天线调节装置，所述天线调节装置用于使发射天线相对测试平台转动。

可选地，所述天线调节装置包括固定部和与所述固定部转动连接的转动部，所述固定部与所述屏蔽室固定连接，所述转动部与所述发射天线固定连接。

可选地，所述天线调节装置包括第一滑块、第二滑块和第三滑块，所述天线调节装置还包括相互交叉的第一方向和第二方向，所述第一滑块形成有沿所述第一方向延伸的第一导向弧面，所述第二滑块贴合所述第一导向弧面，并沿所述第一导向弧面于所述第一方向滑动；所述第二滑块背离所述第一滑块形成有沿所述第二方向延伸的第二导向弧面，所述第三滑块贴合所述第二导向弧面，并沿所述第二导向弧面于所述第二方向滑动所述发射天线设于所述第三滑块背离所述第二滑块的一侧，所述第一滑块背离所述第二滑块的一侧与所述屏蔽室的内壁固定连接。

本发明还提出一种传感探头测试方法，该传感探头探测试方法采用全电波暗室测试装置测试，所述全电波暗室测试装置包括屏蔽室，所述屏蔽室的内壁设置有吸波材料；

发射天线，所述发射天线设于所述屏蔽室内，且所述发射天线具有至少一个极化方向；

测试平台，所述测试平台设于所述屏蔽室内，并相对所述发射天线可移动，所述测试平台用于安置待检测件；以及

控制组件，所述控制组件与所述测试平台电性连接，并与所述发射天线电性连接。

所述传感探头测试方法包括以下步骤：

根据发射天线与传感探头的距离信息，发出预置施加信号；

获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据；

将所述第一波形数据与所述第二波形数据进行比对，得到第一比对参数；

确定第一比对参数是否位于误差区间，若位于误差区间，则记录所述第一比对参数。

可选地，所述发射天线根据与传感探头的距离信息，发出预置施加信号的步骤之前，还包括：

检测传感探头与发射天线的距离信息；

建立所述距离信息与预置施加信号的映射关系。

可选地，所述获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据的步骤之前，所述根据发射天线与传感探头的距离信息，发出预置施加信号的步骤之后还包括：

设置预置施加信号的信号周期；

根据所述信号周期对所述预置施加信号进行采集。

本申请还提出一种全电波暗室测试装置，所述全电波暗室测试装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的传感探头测试程序，所述传感探头与所述处理器电性连接，所述传感探头测试程序被所述处理器执行时实现如下步骤：

根据发射天线与传感探头的距离信息，发出预置施加信号；

获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据；

将所述第一波形数据与所述第二波形数据进行比对，得到第一比对参数；

确定第一比对参数是否位于误差区间，若位于误差区间，则记录所述第一比对参数。

本发明的技术方案通过设置内壁具有吸波材料的屏蔽室，并在屏蔽室内设置发射天线和测试平台，再通过控制组件与测试平台以及发射天线电性连接，在需要对传感探头进行检测时，将传感探头安置于测试平台，并与测试平台电性连接，通过调节待检测件与发射天线的距离，从而发射天线即可发出测试信号，通过待检测件对信号的接收和反馈，从而可以判断待检测件与发射天线发出信号的关系，如此，用户可以根据这个关系对传感探头的数据采集能力进行判断，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明涉及的全电波暗室测试装置一实施例的硬件结构示意图；

图2为本发明涉及的全电波暗室测试装置一实施例的结构示意图；

图3为本发明涉及的全电波暗室测试装置的测试平台一实施例结构示意图；

图4为本发明涉及的全电波暗室测试装置的天线调节装置一实施例结构示意图；

图5为本发明涉及的全电波暗室测试装置的天线调节装置一实施例另一视角的结构示意图；

图6为本发明传感探头测试方法一实施例的流程示意图；

图7为本发明传感探头测试方法又一实施例的流程示意图；

图8为本发明传感探头测试方法又一实施例的流程示意图；

图9为本发明全电波暗室测试装置的不同位置的场强分布情况图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				100	全电波暗室测试装置	a10	第一滑块
10	屏蔽室	a111	第一圆弧滑槽
				20	发射天线	a1111	第一限位挡边
30	测试平台	a20	第二滑块
				31	支撑座	a2111	第二限位挡边
311	接口	a221	第二圆弧滑槽
				32	竖直驱动件	a2211	第三限位挡边
33	导向柱	a23	滑动部
				34	位置传感器	a30	第三滑块
40	控制组件	a3111	第四限位挡边
				41	控制器	a3112	第二调节槽
42	信号发生器	a60	第二调整件
				43	信号放大器	a70	第二连接滑块
50	水平移动机构	a80	第三调整件
				51	水平驱动件	a90	第四调整件
52	支撑板	a110	第一锁紧件
				60	天线调节装置

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本申请中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提出一种全电波暗室测试装置100，旨在对传感探头的数据采集能力进行数据收集，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

下面将对本申请全电波暗室测试装置100的具体结构进行介绍：

参照图2至图5，在本申请的一实施例中，所述全电波暗室测试装置100 包括：

屏蔽室10，所述屏蔽室10的内壁设置有吸波材料；

发射天线20，所述发射天线20设于所述屏蔽室10内，且所述发射天线 20具有至少一个极化方向；

测试平台30，所述测试平台30设于所述屏蔽室10内，并相对所述发射天线20可移动，所述测试平台30用于安置待检测件；以及

控制组件40，所述控制组件40与所述测试平台30电性连接，并与所述发射天线20电性连接。

在本申请的一实施例中屏蔽室10可以由屏蔽壳体、屏蔽门、通风波导窗及各类电源滤波器等组成，该屏蔽壳体可采用焊接式或拼装式结构。吸波材料可以由工作频率范围在30MHz～1000MHz的单层铁氧体片，以及锥形含碳海绵吸波材料构成，锥形含碳海绵吸波材料是由聚氨脂泡沫塑料在碳胶溶液中渗透而成，具有较好的阻燃特性，并且能较好地吸收杂波。在一实施例中，待检测件可以为传感探头，具体的，可以为传感探头。

如图9所示，在屏蔽室10内，同一频率信号在不同位置的场强是不一样的。分别对1MHz与10MHz在中心轴的各个位置做了实验，得到的结果如图所示，从图中可以看出，1MHz与10MHz随着位置变化而带来的场强值的变化趋势是相同的，1MHz在各个位置的场强值均比10MHz的大，大概在距测试参量原点80cm处开始，场强变化相对较小，说明在这个距离范围内，水平面内场强能够在一定的容差范围内，从而可以确定一个场强值分布相对均匀的区域。从而将测试平台30相对移动后，在多个测试位置下判断待检测件的信号接收状态，可以对其接收能力进行更准确的判断，从而为后续将传感探头形成测试系统时，对传感探头的一致性进行调整提供参考。因此优选的，将测试平台30与发射天线20的距离值设置的取值范围s为：s≥0.8m。可以理解的是，该s的取值还可以为1m、2m、2.5m、3m、3.5m等，均能保证测试效果的稳定性。

以及，在本申请的一实施例中，所述控制组件40包括控制器41、信号发生器42和信号放大器43，所述控制器41与所述信号放大器43分别与信号发生器42电性连接，所述信号放大器43还与反射天线电性连接，从而为发射天线20提供发射的信号。信号发生器42可以用于调试和测试发出的信号，控制器41可以控制信号的生成和测试的进程。

本发明的技术方案通过设置内壁具有吸波材料的屏蔽室10，并在屏蔽室 10内设置发射天线20和测试平台30，再通过控制组件40与测试平台30以及发射天线20电性连接，在需要对传感探头进行检测时，将传感探头安置于测试平台30，并与测试平台30电性连接，通过调节待检测件与发射天线20 的距离，从而发射天线20即可发出测试信号，通过待检测件对信号的接收和反馈，从而可以判断待检测件与发射天线20发出信号的关系，如此，用户可以根据这个关系对传感探头的数据采集能力进行判断，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

参照图2、图3，在本申请的一实施例中，所述测试平台30包括：

支撑座31，所述支撑座31的上表面设有用于固定所述待检测件的接口 311，所述接口311与所述控制组件40电性连接，所述支撑座31形成有导向孔；

竖直驱动件32，所述竖直驱动件32设于支撑座31背离所述上表面的一侧，并抵接于所述支撑座31；以及

导向柱33，所述导向柱33与所述竖直驱动件32设于同一侧，并可滑动地插接于所述导向孔。

设置竖直驱动件32，从而改变其与发射天线20的距离，如此，可以在多个测试位置下判断待检测件的信号接收状态，进而可以对传感探头的接收能力进行更准确的判断，从而为后续将传感探头形成测试系统时，对传感探头的一致性进行调整提供参考。该支撑座31的形状和尺寸可以根据实际需要进行设定，在一实施例中，该支撑座31为外轮廓为四边形的直四棱柱，该竖直驱动件32可以为汽缸，或者为丝杠副，或者为与电机连接的齿条或蜗杆等装置以及在电机输出端还可以设置减速机，从而使动力输出更方便。在本实施例中，采用丝杠传动的方式，具体的，采用滚珠丝杠传动，滚珠丝杠可以将旋转运动转换成线性运动，或将扭矩转换成轴向反复作用力，同时兼具高精度、可逆性和高效率的特点。如此，方便竖直驱动件32驱动支撑座31在竖直方向上运动。设置导向柱33，可以进一步保证支撑座31的运动方向，提高测试的效率。

参照图2，在本申请的一实施例中，所述测试平台30还包括水平移动机构50，所述水平移动机构50包括水平驱动件51和与所述水平驱动件51连接的支撑板52，所述导向柱33背离所述支撑座31的一侧与所述支撑板52固定连接，所述竖直驱动件32固定于所述支撑板52的表面。设置水平移动机构 50可以使传感探头相对发射天线20在水平方向移动，从而改变其与发射天线 20的距离，如此，可以在多个测试位置下判断待检测件的信号接收状态，进而可以对传感探头的接收能力进行更准确的判断，从而为后续将传感探头形成测试系统时，对传感探头的一致性进行调整提供参考。可以理解的是，该水平移动机构50可以为汽缸，或者为丝杠副，或者为与电机连接的齿条或蜗杆等装置以及在电机输出端还可以设置减速机，从而使动力输出更方便。在本实施例中，采用丝杠传动的方式，具体的，采用滚珠丝杠传动，滚珠丝杠可以将旋转运动转换成线性运动，或将扭矩转换成轴向反复作用力，同时兼具高精度、可逆性和高效率的特点。

参照图3，在本申请的一实施例中，测试平台30还包括位置传感器34，该位置传感器34用于探测测试平台30与发射天线20之间的距离，从而发射天线20可以根据这个距离信息，对天线信号进行调整，保证发出合适的天线信号，以对传感探头进行测试，在一实施例中，位置传感器34设置于支撑座 31的侧面，从而可以较好地判断测试平台30相对发射天线20的位置。

参照图2、图4、图5，在本申请的一实施例中，所述全电波暗室测试装置100还包括设置于屏蔽室10内的天线调节装置60，所述天线调节装置60 用于使发射天线20相对测试平台30转动。通过设置天线调节装置60从而改变发射天线20发出的信号状态参数，从而可以使传感探头得到更全面的测试，从而对传感探头的数据采集能力进行更全面的测试，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

在本申请的一实施例中，所述天线调节装置60包括固定部和与所述固定部转动连接的转动部，所述固定部与所述屏蔽室10固定连接，所述转动部与所述发射天线20固定连接。如此设置，可以使得天线调节装置60的结构简单，并且能较好地调节发射天线20的角度。在一实施例中，还可以通过码盘控制天线的角位移，从而保证发射天线20可以在在弧形路径的所有点上指向被测设备。在一实施例中，天线调节装置60还包括定位装置，该定位装置可以为设于转动部的转动路径上的夹持件，当需要限定转动部的位置时，夹持件将转动部夹持固定。或者，该定位装置可以为设于转动部与固定部之间的限位件，在需要对转动部定位时，该限位件将转动部抵接于固定部，从而保证转动部与固定部的相互固定。

参照图4、图5，在本申请的一实施例中，所述天线调节装置60包括第一滑块a10、第二滑块a20和第三滑块a30，所述天线调节装置60还包括相互交叉的第一方向和第二方向，所述第一滑块a10形成有沿所述第一方向延伸的第一导向弧面，所述第二滑块a20贴合所述第一导向弧面，并沿所述第一导向弧面于所述第一方向滑动；所述第二滑块a20背离所述第一滑块a10形成有沿所述第二方向延伸的第二导向弧面，所述第三滑块a30贴合所述第二导向弧面，并沿所述第二导向弧面于所述第二方向滑动，所述发射天线20设于所述第三滑块a30背离所述第二滑块a20的一侧，所述第一滑块a10背离所述第二滑块a20的一侧与所述屏蔽室10的内壁固定连接。通过采用在第一滑块 a10设置沿第一方向延伸的第一导向弧面，并使第二滑块a20贴合第一导向弧面沿第一方向滑动，以及在第二滑块a20背离第一滑块a10形成沿第二方向延伸的第二导向弧面，并使第三滑块a30贴合第二导向弧面沿第二方向滑动。当需要使发射天线20具备一定的角度时，固定第一滑块a10，驱动第二滑块 a20和第三滑块a30或者固定第三滑块a30，驱动第一滑块a10和第二滑块a20，即可使发射泰宁县具备一定的倾角，并且由于采用圆弧延伸的方式与水平方向产生夹角，使得角度的变化均匀，进而使得发射天线20的转动角度准确。通过设置天线调节装置60从而改变发射天线20发出的信号状态参数，从而可以使传感探头得到更全面的测试，从而对传感探头的数据采集能力进行更全面的测试，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

参照图4、图5，在本申请的一实施例中，所述第二滑块a20还包括背离所述第二导向弧面的第一上表面，所述第一导向弧面和所述第一上表面二者之一凹陷形成第一圆弧滑槽a111，所述第一导向弧面和所述第一上表面二者之另一凸起形成第一圆弧凸筋，所述第一圆弧凸筋与所述第一圆弧滑槽a111 滑动连接；

且/或，所述第三滑块a30包括朝向所述第二导向弧面的第二上表面，所述第二导向弧面和所述第二上表面二者之一凹陷形成第二圆弧滑槽a221，所述第二导向弧面和所述第二上表面二者之另一凸起形成第二圆弧凸筋，所述第二圆弧凸筋与所述第二圆弧滑槽a221滑动连接。

在本实施例中，在第一导向弧面和第一上表面分别设置沿第一方向延伸的第一圆弧滑槽a111或第一圆弧凸筋，在第二导向弧面和第二上表面分贝设置沿第二方向延伸的第二圆弧滑槽a221或第二圆弧凸筋，在固定第三滑块a30时，通过第一圆弧滑槽a111和第一圆弧凸筋相对滑动，第一滑块a10则可与水平方向呈一定倾角弧线运动，从而实现第一滑块a10相对第二滑块a20的位置精确角度调整；通过第二圆弧滑槽a221和第二圆弧凸筋相对滑动，第二滑块a20则可与水平方向呈一定倾角弧线运动，从而实现第二滑块a20相对第三滑块a30的位置精确角度调整。

参照图4、图5，在本申请的一实施例中，所述第一圆弧凸筋的上表面凹陷形成第一调节槽，所述天线调节装置60还包括容置于所述第一调节槽的第一连接滑块，所述第一连接滑块的部分与所述第一滑块a10固定连接，所述天线调节装置60还设有第一调整件a50和第二调整件a60，所述第一调整件a50和第二调整件a60相对设置，所述第一调整件a50和第二调整件a60的一端均穿过所述第一调节槽抵持于所述第一连接滑块，且所述第一调整件a50和所述第二调整件a60均可于所述天线调节装置60中相对运动。

所述天线调节装置60还设有第三调整件a80和第四调整件a90，所述第三调整件a80和第四调整件a90相对设置，所述第三调整件a80和第四调整件a90的一端均穿过所述第二调节槽3112抵持于所述第二连接滑块a70，且所述第三调整件a80和所述第四调整件a90均可于所述天线调节装置60中相对运动。

当需要对第一连接滑块进行调整从而改变第一滑块a10相对水平方向的角度时，通过驱动第一调整件a50抵持第一连接滑块，驱动第二调整件a60远离第一连接滑块，从而使第一连接滑块发生运动，以带动第一滑块a10沿第一方向的正方向运动。或者通过驱动第一调整件a50远离第一连接滑块，驱动第二调整件a60抵持第一连接滑块，从而使第一连接滑块发生运动，进而带动第一滑块a10沿第一方向的反方向运动。

可以理解的是，第一圆弧凸筋还设有一个贯穿通孔，该贯穿通孔与第一调节槽相互贯穿，第一调整件a50穿过贯穿通孔的一孔段安装于第一圆弧凸筋，第二调整件a60穿过贯穿通孔的另一孔段安装于第一圆弧凸筋，并且通过第一调整件a50和第二调整件a60，调节第一连接滑块运动的方式仅为一种实施例，第一调整件a50和第二调整件a60与贯穿通孔的连接方式可以为滑轨连接或齿条连接。具体的，第一调整件a50和第二调整件a60采用螺栓，当然，还可以采用其他结构，只要能够实现运动调整第一连接滑块的方案均在本发明的保护范围。在本申请的一实施例中，还可以通过设置微型电机和连接于微型电机与第一调整件a50、第二调整件a60、第三调整件a80、第四调整件a80的皮带，再对第一调整件a50、第二调整件a60、第三调整件a80和第四调整件a80进行驱动，从而对发射天线20角度的调节。

参照图4、图5，在本申请的一实施例中，所述天线调节装置60还包括第一锁紧件a110，所述第一锁紧件a110设于所述第一滑块a10的外侧，所述第一滑块a10还设有第一贯穿孔，所述第一锁紧件a110的部分可活动地伸入所述第一贯穿孔，并抵接锁紧所述第二滑块a20或远离所述第二滑块a20。可以理解的是的，该第一贯穿孔可以为螺接孔，第一锁紧件a110可以为螺接件，该第一锁紧件a110抵接于第二限位挡边a2111，从而使第一圆弧凸筋a211背离第二限位挡边a2111的表面与槽壁相互固定，从而实现第一滑块a10和第二滑块a20的相互锁紧。

在本申请的一实施例中，所述发射天线20的数量为至少两个，两个发射天线20间隔设置于屏蔽室10内，进一步地，该两个发射天线20的极化方向相互正交。当接收天线的极化方向与来波的极化方向完全正交时，例如用水平极化的接收天线接收或发射垂直极化的来波，或用右旋圆极化的接收天线接收或发射左旋圆极化的来波时，天线就完全接收不到来波的能量，这种情况下极化损失为最大，称极化完全隔离。也即，采用不同极化方向的发射天线20进行工作，从而使二者之间的隔离度更高。

作为一种实现方案，全电波暗室测试装置100可以如图1所示。

本发明实施例方案涉及的是全电波暗室测试装置100，全电波暗室测试装置100包括：处理器1001，例如CPU，存储器1002，通信总线1003。其中，通信总线1003用于实现传感器、存储器、处理器之间的连接通信。

存储器1002可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器 (non-volatilememory)，例如磁盘存储器。如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1003中可以包括传感探头测试程序；而处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的传感探头测试程序，并执行以下操作：

当传感探头测试程序被处理器120调用后，处理器120可执行传感探头测试方法，如图6所示，该传感探头测试方法包括如下步骤：

根据发射天线20与传感探头的距离信息，发出预置施加信号；

获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据；

将所述第一波形数据与所述第二波形数据进行比对，得到第一比对参数；

确定第一比对参数是否位于误差区间，若位于误差区间，则记录所述第一比对参数。

在一实施例中，处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的传感探头测试程序，并执行以下操作：

检测传感探头与发射天线20的距离信息；

建立所述距离信息与预置施加信号的映射关系。

在一实施例中，处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的传感探头测试程序，并执行以下操作：

设置预置施加信号的信号周期；

根据所述信号周期对所述预置施加信号进行采集。

本实施例根据上述方案，惯根据发射天线20与传感探头的距离信息，发出预置施加信号；获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据；将所述第一波形数据与所述第二波形数据进行比对，得到第一比对参数；确定第一比对参数是否位于误差区间，若位于误差区间，则记录所述第一比对参数，从而可以判断待检测件与发射天线20发出信号的关系，如此，用户可以根据这个关系对传感探头的数据采集能力进行判断，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

基于上述硬件构架，提出本发明全电波暗室测试装置100的实施例。

参照图6，图6为本发明传感探头测试方法的一实施例，所述传感探头测试方法包括以下步骤：

步骤S10，根据发射天线20与传感探头的距离信息，发出预置施加信号；测试平台30还包括位置传感器34，该位置传感器34用于探测测试平台30与发射天线20之间的距离，从而发射天线20可以根据这个距离信息，对天线信号进行调整，保证发出合适的天线信号，以对传感探头进行测试，在一实施例中，位置传感器34设置于支撑座31的侧面，从而可以较好地判断测试平台30相对发射天线20的位置。

步骤S20，获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据；在本发明中，可以理解的是，在获取传感探头波形数据前，需要对传感探头进行信号施加，该信号施加可以按照预设的测试流程进行施加，例如，首先施加正弦信号，其次施加冲击波信号，最后施加随机信号等。也可以设置手动信号输入，此时可以是处理器预存的其他信号。

传感探头在采集信号后，对信号进行输出，此时处理器可以对该信号进行滤波和降噪处理，还可以再进行放大处理，从而保证对传感探头的波形数据进行清晰准确的获取。

预置施加信号可以为系统预存的信号，该信号在录入系统时，已经被测试并记录了各个时刻的状态。当预置施加信号为手动时，还可以通过测试装置测试该预置施加信号的波形数据，此时，测试装置可以为加速度计，加速度计对信号测量具有较高的准确度，可以较好地得到手动施加的预置主峰参数。

步骤S30，将所述第一波形数据与所述第二波形数据进行比对，得到第一比对参数；通过对第一波形数据与所述第二波形数据进行比对，即可知道传感探头的信号输出是否与预置施加信号不一致，从而即可判断传感探头的是否需要调整。在一实施例中，可以将波形数据中的振幅或者产生波形的频率进行对比，或者将第一波形数据和第二波形数据形成图像，并将二者的图像在同一振动周期内进行对比，对图像上的波形重合度进行分析，从而可以得到第一比对参数。

步骤S40，确定第一比对参数是否位于误差区间，若位于误差区间，则记录所述第一比对参数。在本实施例中，可以通过将第一波形数据中参数的大小与第二波形数据中参数的大小进行对比，具体的，可以通过做差或者做商的方式，确认二者的大小关系，从而将做差或做商的结果作为第一比对参数。

该第一区间可以根据实际需要进行设定，当采用做商的方式时，第一区间可以为0.8至1.2，从而可以对第一比对参数进行的大小进行判断，从而判断第一波形数据中参数的大小与第二波形数据中参数的大小。当采用做差的方式时，该第一区间可以为10、100或者为其他数值，从而可以判断待检测件与发射天线20发出信号的关系，如此，用户可以根据这个关系对传感探头的数据采集能力进行判断，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

本实施例根据上述方案，惯根据发射天线20与传感探头的距离信息，发出预置施加信号；获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据；将所述第一波形数据与所述第二波形数据进行比对，得到第一比对参数；确定第一比对参数是否位于误差区间，若位于误差区间，则记录所述第一比对参数，从而可以判断待检测件与发射天线20发出信号的关系，如此，用户可以根据这个关系对传感探头的数据采集能力进行判断，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

参照图7，图7为本发明传感探头测试方法的又一实施例，所述步骤S10 之前还包括：

步骤S101，检测传感探头与发射天线20的距离信息；

步骤S102，建立所述距离信息与预置施加信号的映射关系。

本实施例中，预先在电控板的存储设备中建立距离信息预置和施加信号的映射表，电控板在接收到输入的预置施加信号启动指令后，查表确定与距离信息对应的预置施加信号的值(参照前述的原因，距离过近容易导致场强不稳，影响测试效果)；例如，参照下图表1，若距离信息为L1，根据预置施加信号与距离信息的对应关系，查表确定距离信息L1对应的预置施加信号为A1，B1，C1，若距离信息为L2，则距离信息为L2对应的预置施加信号为 A2，B2，C2。

表1

通过建立映射关系，使得距离信息与预置施加信号具有对应关系，从而用户可以在合适的距离下，施加不同类型的信号，保证对传感探头的测试的完整性，从而便于为后续改进工作提供数据支持。

参照图8，图8为本发明传感探头测试方法的又一实施例，所述步骤S10 之后和所述步骤S20之前还包括：

步骤S201，设置预置施加信号的信号周期；

步骤S202，根据所述信号周期对所述预置施加信号进行采集。

本实施例中，即为在一定的周期内对输出信号进行采集，从而判断单个信号周期内输出信号与预置施加信号的波形数据状况，进而判断是否触发校准指令。由于只是对部分预置施加信号进行采集和比较，大大减少了信号处理的复杂度，以获得更精确的传感探头测试，提高传感探头的检测效果一致性。

在一实施例中，对预置施加信号的多个信号周期进行采集，并对不同信号周期进行处理后，与预置施加信号进行对比。从而可以使得传感探头的输出信号在不同的信号周期与预置施加信号匹配，提高传感探头的检测效果一致性。

本发明还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有传感探头测试程序，所述传感探头测试程序被处理器执行时实现如上实施例传感探头测试方法步骤。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种全电波暗室测试装置，其特征在于，所述全电波暗室测试装置包括：

屏蔽室，所述屏蔽室的内壁设置有吸波材料；

发射天线，所述发射天线设于所述屏蔽室内，且所述发射天线具有至少一个极化方向；

测试平台，所述测试平台设于所述屏蔽室内，并相对所述发射天线可移动，所述测试平台用于安置待检测件；以及

控制组件，所述控制组件与所述测试平台电性连接，并与所述发射天线电性连接。

2.如权利要求1所述的全电波暗室测试装置，其特征在于，所述测试平台包括：

支撑座，所述支撑座的上表面设有用于固定所述待检测件的接口，所述接口与所述控制组件电性连接，所述支撑座形成有导向孔；

竖直驱动件，所述竖直驱动件设于支撑座背离所述上表面的一侧，并抵接于所述支撑座；以及

导向柱，所述导向柱与所述竖直驱动件设于同一侧，并可滑动地插接于所述导向孔。

3.如权利要求2所述的全电波暗室测试装置，其特征在于，所述测试平台还包括水平移动机构，所述水平移动机构包括水平驱动件和与所述水平驱动件连接的支撑板，所述导向柱背离所述支撑座的一侧与所述支撑板固定连接，所述竖直驱动件固定于所述支撑板的表面。

4.如权利要求1至3中任一项所述的全电波暗室测试装置，其特征在于，所述全电波暗室测试装置还包括设置于屏蔽室内的天线调节装置，所述天线调节装置用于使发射天线相对测试平台转动。

5.如权利要求4所述的全电波暗室测试装置，其特征在于，所述天线调节装置包括固定部和与所述固定部转动连接的转动部，所述固定部与所述屏蔽室固定连接，所述转动部与所述发射天线固定连接。

6.如权利要求4所述的全电波暗室测试装置，其特征在于，所述天线调节装置包括第一滑块、第二滑块和第三滑块，所述天线调节装置还包括相互交叉的第一方向和第二方向，所述第一滑块形成有沿所述第一方向延伸的第一导向弧面，所述第二滑块贴合所述第一导向弧面，并沿所述第一导向弧面于所述第一方向滑动；所述第二滑块背离所述第一滑块形成有沿所述第二方向延伸的第二导向弧面，所述第三滑块贴合所述第二导向弧面，并沿所述第二导向弧面于所述第二方向滑动。

7.一种传感探头测试方法，该传感探头探测试方法采用如权利要求1至6中任一项所述的全电波暗室测试装置测试，其特征在于，包括以下步骤：

根据发射天线与传感探头的距离信息，发出预置施加信号；

获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据；

将所述第一波形数据与所述第二波形数据进行比对，得到第一比对参数；

确定第一比对参数是否位于误差区间，若位于误差区间，则记录所述第一比对参数。

8.如权利要求7所述的传感探头测试方法，其特征在于，所述发射天线根据与传感探头的距离信息，发出预置施加信号的步骤之前，还包括：

检测传感探头与发射天线的距离信息；

建立所述距离信息与预置施加信号的映射关系。

9.如权利要求7所述的传感探头测试方法，其特征在于，所述获取传感探头输出信号的第一波形数据，并读取预置施加信号的第二波形数据的步骤之前，所述根据发射天线与传感探头的距离信息，发出预置施加信号的步骤之后还包括：

设置预置施加信号的信号周期；

根据所述信号周期对所述预置施加信号进行采集。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有传感探头测试的程序，所述传感探头测试的程序被处理器执行时实现如权利要求7至9中任一项所述的传感探头测试方法步骤。

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