CN110546488B - 绝缘物中缺陷的检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及绝缘物中缺陷的检测设备，该设备包括：外盒，其内部具备能够收纳测定对象绝缘物的试验舱；耐电压试验机，其对收纳在所述试验舱的测定对象绝缘物施加电压；多个X射线模块，其设置在所述试验舱且向不同区域或不同方向照射X射线；以及，局部放电传感器，其测定收纳在所述试验舱的测定对象绝缘物中产生的局部放电。

Description

绝缘物中缺陷的检测方法
技术领域
本发明涉及绝缘物中缺陷的检测设备、用于固定其测定对象绝缘物的夹具及绝缘物中缺陷的检测方法。
背景技术
气体绝缘开闭设备(Gas Insulated Sweitchgear,GIS)的内部适用以支撑各种导体类为目的的环氧材料的绝缘物。
上述适用于气体绝缘开闭设备的绝缘物由于在高电压环境下使用，所以需要高的耐电压性能，且需要在高电压环境下也有稳定的绝缘性能。
但是，绝缘物中存在气孔(Void)时，就会随时间经过，产生气孔内部的气体的电离(Ionization)，并且因这样的气体电离而产生局部放电。
绝缘物中持续产生局部放电时，就会引起材料物性的急剧下降，其结果造成绝缘物的绝缘破坏。因此，从绝缘物的制造阶段需要通过精密检查来选择良品。
专利公开公报第10-1998-0066157号公开了绝缘物的局部放电测定设备。这样的以往技术的局部放电测定设备是，单纯地对测定对象绝缘物施加高压电源且等待至产生局部放电后，测定局部放电信号。
但是，以往技术涉及的绝缘物的局部放电测定设备是，需要等待至气孔中的气体电离所需的时间、即产生放电延迟，因此存在测定缺陷需要很长时间的缺点。
另外，以往技术涉及的绝缘物的局部放电测定设备是，为了气体的电离而需要非常高的电压，所以存在测定时消耗大量电力的缺点。
此外，以往技术涉及的绝缘物的局部放电测定设备是，为了绝缘物的气孔中存在的气体的电离而需要施加高电压，所以因测定时施加在绝缘物的高电压而加深绝缘物所受的压力，其结果存在降低产品寿命的缺点。
另外，以往技术涉及的绝缘物的局部放电测定设备是，测定结果依赖于环境噪音和试验者的经验等，因此存在测定可信性不高的缺点。
发明内容
为解决上述以往技术的问题点中至少一部分而提出本发明，本发明一个目的是缩短用于测定绝缘物的缺陷所需的时间，减小用于测定缺陷所需的电压大小。
另外，本发明另一个目的是防止绝缘物的材料物性的降低，将多个绝缘物一次性固定，将施加在绝缘物的X射线能量的衰减最小化。
课题解决手段
本发明涉及的绝缘物中缺陷的检测设备包括：外盒，其内部具备能够收纳测定对象绝缘物的试验舱；耐电压试验机，其对收纳在上述试验舱的测定对象绝缘物施加电压；多个X射线模块，其设置在上述试验舱且向不同区域或不同方向照射X射线；以及，局部放电传感器，其测定收纳在上述试验舱的测定对象绝缘物中产生的局部放电。
另外，上述多个X射线模块可以相互独立地工作。
此外，上述多个X射线模块包括：多个上部X射线模块，其位于上述试验舱的上部，沿着上述外盒的长度方向排列，向下方照射X射线；多个左侧X射线模块，其位于上述试验舱的左侧，沿着上述外盒的长度方向排列，向右侧照射X射线；多个右侧X射线模块，其位于上述试验舱的右侧，沿着上述外盒的长度方向排列，向左侧照射X射线。
另外，上述X射线模块进一步包括正面X射线模块，其设置在上述试验舱的前方，向上述试验舱的后方照射X射线。
此外，上述X射线模块设置成可以调节与收纳在上述试验舱的测定对象绝缘物之间的间隔距离。
一方面，上述外盒设置成在上述试验舱可以同时收纳多个上述测定对象绝缘物。
另外，进一步包括置物架，可安装上述多个测定对象绝缘物，并可进出上述试验舱。
此外，上述外盒具有：导体，其连接在上述多个测定对象绝缘物；和电极端子，其连接上述耐电压试验机，将上述耐电压试验机产生的电压供给上述导体。
另外，上述局部放电传感器包括高频电流互感器【HFCT(High Frequency CurrentTransforrners)】传感器，其连接在分别连接于上述多个测定对象绝缘物的接地线上。
并且，上述局部放电传感器包括设置在上述外盒的超高频【UHF(Ultra HighFrequency)】天线。
一方面，本发明涉及的用于固定绝缘物中缺陷的检测设备的测定对象绝缘物的夹具包括：一对凸缘部，其连接在测定对象绝缘物的凸缘；支撑管，其连接在上述一对凸缘部且将上述一对凸缘部相互间隔地支撑；以及，多个贯通孔，其形成在上述支撑管上。
另一方面，包括：一对凸缘部，其连接在上述测定对象绝缘物的凸缘；和多个支撑杆，其连接在上述一对凸缘部且将上述一对凸缘部相互间隔地支撑，将支撑杆两端连接在上述凸缘部沿着上述凸缘部的圆周方向可旋转，多个上述支撑杆相互之间具有间隔。
另外，上述支撑管沿着上述凸缘部的圆周方向形成有多个上述贯通孔。
此外，上述贯通孔沿着上述支撑管的长度方向分割形成多个、或者沿着上述支撑管的长度方向长长地延长形成。
另外，上述凸缘部形成有多个长孔，其沿着上述凸缘部与上述测定对象绝缘物凸缘连接的方向贯通且沿着上述凸缘部的圆周方向延长。
并且，进一步包括：双头螺栓，其贯通上述长孔连接且连接在上述测定对象绝缘物的凸缘；以及螺母，其将上述双头螺栓固定在上述凸缘部。
一方面，绝缘物中缺陷的检测方法是：通过使用X射线模块对测定对象绝缘物照射X射线，诱导上述测定对象绝缘物内部存在的气孔中的气体电离，对测定对象绝缘物中产生的局部放电进行测定；该检测方法包括：以对上述测定对象绝缘物照射X射线的方向为基准，测定上述测定对象绝缘物的截面积和厚度的步骤；以及根据上述测定对象绝缘物的截面积和厚度，调节施加在上述X射线模块的X射线发生部的施加电压和施加电流的X射线输出控制步骤。
另外，上述X射线输出控制步骤包括：根据上述测定对象绝缘物的厚度，调节上述施加电压的步骤；以及根据上述测定对象绝缘物的截面积，调节上述施加电流的步骤。
此外，上述施加电压的调节步骤包括：将上述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，上述测定对象绝缘物的厚度为上述标准厚度以上时，将上述施加电压设定为事先设定的高电压，上述测定对象绝缘物的厚度不足上述标准厚度时，将上述施加电压设定为比上述高电压低的事先设定的中电压或比上述中电压更低的事先设定的低电压的步骤。
而且，上述施加电流的调节步骤包括：将上述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，上述测定对象绝缘物的截面积为上述事先设定的标准面积以上时，将上述施加电流设定为事先设定的大电流，上述测定对象绝缘物的截面积不足上述标准面积时，将上述施加电流设定为比上述大电流低的中电流或比上述中电流更小的事先设定的小电流的步骤。
一方面，本发明涉及的绝缘物中缺陷的检测方法中，在测定上述测定对象绝缘物的截面积和厚度的步骤之后，进一步包括测定上述测定对象绝缘物和上述X射线发生部之间的间隔距离的步骤；上述X射线输出控制步骤包括，根据上述间隔距离，调节施加在上述X射线发生部的施加电压和施加电流的步骤。
另外，上述X射线输出控制步骤进一步包括：将上述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将上述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，上述测定对象绝缘物的厚度为上述标准厚度以上且上述测定对象绝缘物的截面积为上述标准面积以上时，将上述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；上述间隔距离不足上述标准距离时，将上述施加电压设定为事先设定的中电压，将上述施加电流设定为事先设定的中电流；上述间隔距离与上述标准距离相同时，将上述施加电压设定为上述中电压或比上述中电压高的事先设定的高电压，将上述施加电流设定为比上述中电流更大的事先设定的大电流；上述间隔距离超过上述标准距离时，将上述施加电压设定为上述高电压，将上述施加电流设定为上述大电流。
此外，上述X射线输出控制步骤进一步包括：将上述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将上述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，上述测定对象绝缘物的厚度为上述标准厚度以上且上述测定对象绝缘物的截面积不足上述标准面积时，将上述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；上述间隔距离不足上述标准距离时，将上述施加电压设定为事先设定的中电压，将上述施加电流设定为事先设定的小电流；上述间隔距离与上述标准距离相同时，将上述施加电压设定为上述中电压或比上述中电压高的事先设定的高电压，将上述施加电流设定为上述小电流或比上述小电流更大的事先设定的中电流；上述间隔距离超过上述标准距离时，将上述施加电压设定为上述高电压，将上述施加电流设定为比上述中电流更大的事先设定的大电流。
另外，上述X射线输出控制步骤进一步包括：将上述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将上述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，上述测定对象绝缘物的厚度不足上述标准厚度且上述测定对象绝缘物的截面积不足上述标准面积时，将上述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；上述间隔距离不足上述标准距离时，将上述施加电压设定为事先设定的低电压，将上述施加电流设定为事先设定的小电流；上述间隔距离与上述标准距离相同时，将上述施加电压设定为比上述低电压高的事先设定的中电压，将上述施加电流设定为上述小电流或比上述小电流更大的事先设定的中电流；上述间隔距离超过上述标准距离时，将上述施加电压设定为上述中电压，将上述施加电流设定为上述中电流或比上述中电流更大的事先设定的大电流。
此外，上述X射线输出控制步骤进一步包括：将上述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将上述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，上述测定对象绝缘物的厚度不足上述标准厚度且上述测定对象绝缘物的截面积为上述标准面积以上时，将上述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；上述间隔距离不足上述标准距离时，将上述施加电压设定为事先设定的低电压，将上述施加电流设定为事先设定的中电流；上述间隔距离与上述标准距离相同时，将上述施加电压设定为上述低电压或比上述低电压更高的事先设定的中电压，将上述施加电流设定为比上述中电流更大的事先设定的大电流；上述间隔距离超过上述标准距离时，将上述施加电压设定为比上述中电压更高的事先设定的高电压，将上述施加电流设定为上述大电流。
另外，上述间隔距离设定为500mm至800mm。
此外，本发明涉及的绝缘物中缺陷的检测方法是，使用多个上述X射线模块，对上述测定对象绝缘物照射X射线，根据上述测定对象绝缘物的截面积和厚度以及上述间隔距离，调节多个上述X射线模块的工作台数。
发明效果
根据本发明，可以缩短绝缘物中缺陷的测定时间，减少所消耗的电力量，使绝缘物所受的损伤最小化。
另外，可以提高绝缘物的寿命和检查的可信性，提高产品的生产效率及优良品产量的效果。
附图说明
图1是本发明一个实施例涉及的绝缘物中缺陷检测设备的结构图。
图2的(a)是将以往技术涉及的绝缘物局部放电测定设备与本发明一个实施例涉及的绝缘物中缺陷检测设备的不同电极形状的起始电压大小的比较表；图2的(b)是将以往技术涉及的绝缘物局部放电测定设备与本发明一个实施例涉及的绝缘物中缺陷检测设备的不同电极形状的熄灭电压大小的比较表。
图3是本发明另一实施例涉及的绝缘物中缺陷检测设备的侧截面图。
图4是图3所示的绝缘物中缺陷检测设备的正截面图。
图5是图3所示的绝缘物中缺陷检测设备的外盒中引出测定对象绝缘物的状态的侧截面图。
图6是用于固定绝缘物中缺陷测定设备的测定对象绝缘物的夹具的实施例1涉及的立体图。
图7是图6所示的用于固定绝缘物中缺陷测定设备的测定对象绝缘物的夹具，固定测定对象绝缘物的结构示意的侧截面图。
图8是用于固定绝缘物中缺陷测定设备的测定对象绝缘物的夹具的实施例2涉及的立体图。
图9是用于固定绝缘物中缺陷测定设备的测定对象绝缘物的夹具的实施例3涉及的立体图。
图10是图9所示的用于固定绝缘物中缺陷测定设备的测定对象绝缘物的夹具的工作状态图。
图11是图9所示的用于固定绝缘物中缺陷测定设备的测定对象绝缘物的夹具，固定测定对象绝缘物的结构示意的侧截面图。
具体实施方式
本说明书中使用的用语是仅仅为了说明特定的实施例而使用的，并不是为了限定本发明。另外，本说明书中除非在文字上明确指出其他意思，否则单数的表达包括复数形式。
下面参照附图对本发明的多种实施例进行说明。
首先，参照图1，说明本发明一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备100。
如图1所示，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备100可以包括：外盒110、电压转换器120、变压器130、局部放电传感器140、信号分析仪150、以及X射线模块160。
上述外盒110的结构为内部可以收纳变压器130、局部放电传感器140、X射线模块160、以及测定对象绝缘物S。
这样的外盒110的结构为内部可屏蔽，以便防止在测定对象绝缘物中缺陷的测定时从X射线模块160照射的X射线向外辐射。
上述电压转换器120设置在外盒110的外部，转换施加在绝缘物S的电压。
上述变压器130设置在外盒110的内部，通过电压转换器120放大或减小施加在绝缘物S的电压大小。
上述局部放电传感器140设置在外盒110的内部，将测定对象绝缘物S中产生的局部放电信号进行测定。
上述信号分析仪150设置在外盒110的外部且连接在局部放电传感器140，将局部放电传感器140中测定局部放电信号的周期及强度进行分析，显示成使用者可确认。
上述X射线模块160设置在外盒110的内部，对测定对象绝缘物S照射X射线。另外，X射线模块160是，使用者能够调节所释放的X射线的输出。在一个实施例中，X射线模块160可以根据得到的电压和电流而调节所释放的X射线的输出。
本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备100是，通过将电压施加在测定对象绝缘物S来测定是否产生局部放电，因此在绝缘物S中缺陷的检测时，通过X射线模块160，对绝缘物S照射X射线。
对测定对象绝缘物S照射X射线时，人为地引发绝缘物S内部的气孔(Void)中存在的气体电离和电子崩，气体就会迅速电离，从而具有不会出现放电迟延问题的优点，具有在低的施加电压下也能测定局部放电信号的优点。
图2的(a)和(b)为X射线不适用的以往的缺陷检测设备和本发明的一个实施例涉及的缺陷检测设备100的不同电极形状的起始电压大小的比较表和熄灭电压大小的比较表。
在这里，结合在绝缘物S的电极的形状使用针电极、棒电极、以及平板电极。
另外，在这里，上述起始电压是指在最初检测到局部放电时的施加在绝缘物S的电压大小，上述熄灭电压是指在检测到局部放电后重新熄灭时的施加在绝缘物S的电压大小。
首先，从图2的(a)可知，使用本发明的一个实施例涉及的缺陷检测设备100的情况与使用以往的缺陷检测设备的情况相比，不同电极形状的起始电压大小减少到50％以下。
这样的起始电压的减少是指在相对低的施加电压条件下可以检测到绝缘物S的缺陷。
通过这样的实验结果可知，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备100与以往技术的缺陷检测设备相比，以消耗更少电力来测定绝缘物S的缺陷。也就是，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备100是，如上所述，X射线人为电离绝缘物S内部的气孔中存在的气体，从而即使低的施加电压也能产生局部放电。
另外，如图2的(b)所示，使用本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备100的情况与使用以往的缺陷检测设备的情况相比，熄灭电压大小就会在针电极和平板电极减少。
具体地说，针电极的情况，熄灭电压大小大约减少45％，平板电极的情况，熄灭电压大小大约减少75％以上。
这样的熄灭电压的减少是指预测绝缘物S的绝缘性能的准确性得到提高。也就是，熄灭电压是指绝缘物S不产生局部放电且发挥绝缘性能的电压的最大限值，因此，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备100与以往的缺陷检测设备相比，更加准确地预测绝缘物S的绝缘性能。
图3至图5是本发明的另一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备200。
下面参照图3至图5对本发明的另一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备200进行说明。
如图3至图5所示，本发明的另一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备200可以包括：外盒210、耐电压试验机270、多个X射线模块260、局部放电传感器240、信号分析仪250、置物架280、以及夹具290，290-1。
上述外盒210具有内部可以收纳测定对象绝缘物S的试验舱212。这样的外盒210具有可以屏蔽的试验舱212，以便防止在测定对象绝缘物S中缺陷的测定时从X射线模块260照射的X射线向外辐射。
在一个实施例中，外盒210的一侧具有开闭试验舱212的门216。后述的多个测定对象绝缘物S是在搭载在置物架280的状态下通过门216进出试验舱212内部。
另外，在一个实施例中，外盒210具有电极端子214，其向试验舱212突出，与结合在多个测定对象绝缘物S的导体C和耐电压试验机270连接，向导体C供给耐电压试验机270产生的电压。
此外，在一个实施例中，外盒210的结构为试验舱212同时可收纳多个测定对象绝缘物S。为此，如图3所示，外盒210的结构为水平方向长长地延长的圆筒形状，但并不限定于此，多个测定对象绝缘物S可以收纳一列，只要是满足高压电压时内部爆发的耐压性能，可以任何形状。
上述耐电压试验机270设置在外盒210的外部，对收纳在试验舱212的测定对象绝缘物S施加高电压。这样的耐电压试验机270可以调节施加在测定对象绝缘物S的电压大小。
上述多个X射线模块260设置在试验舱212内部，分别向不同区域或不同方向照射X射线。也就是，多个X射线模块260分别向不同方向照射X射线或即使相同方向也向不同区域照射X射线。
在这里，X射线模块260设置成使用者可调节所释放的X射线的输出。举一例，X射线模块260根据所供给的电压和电流可调节所释放的X射线的输出。
一方面，多个X射线模块260可相互独立工作。也就是，多个X射线模块260分别选择性地接入电源，使X射线照射区域可以多变化。
在一个实施例中，如图3和图4所示，多个X射线模块260包括：多个上部X射线模块260a、多个左侧X射线模块260b、多个右侧X射线模块260c、以及正面X射线模块260d。
在这里，上述多个上部X射线模块260a沿着外盒210的长度方向排列在试验舱212的上部，向下方照射X射线。
另外，上述多个左侧X射线模块260b沿着外盒210的长度方向排列在试验舱212的左侧，向右侧照射X射线。
此外，上述多个右侧X射线模块260c沿着外盒210的长度方向排列在试验舱212的右侧，向左侧照射X射线。
此外，上述多个右侧X射线模块260c沿着外盒210的长度方向排列在试验舱212的右侧，向左侧照射X射线。
另外，上述正面X射线模块260d设置在试验舱212的前方，向试验舱212的后方照射X射线。
具有上述多个上部X射线模块260a、多个左侧X射线模块260b、和多个右侧X射线模块260c的各自X射线模块260的配置结构是，根据设备的试验条件和测定对象绝缘物S，可设定多种。例如，多个左侧X射线模块260b和多个右侧X射线模块260c可以设置在各自模块相互一对一相向的位置，也可以设置在以排列方向为基准的相互错开位置。
具有这样的结构的本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备200的优点是，通过多个方向相互不同区域照射X射线的X射线模块260，对多个测定对象绝缘物S同时照射X射线，不存在照射不到X射线的死角地带。
另外，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备200的优点是，对测定对象绝缘物S多个方向照射X射线，所以幅宽或厚度厚或长度长的测定对象绝缘物S的中心部为止能够照射到高能量的X射线。测定对象绝缘物S的整体部位照射到高能量的X射线时，气体电离速度就会增加，从而可缩短局部放电的检测时间。
相反，对宽度窄或厚度薄或长度短的小型测定对象绝缘物S进行试验时，也可以从不同方向对相同区域照射X射线的多个X射线模块260中选择一部分进行工作，从而降低电力消耗。
一方面，在一个实施例中，X射线模块260的结构为可以调节与收纳在试验舱212的测定对象绝缘物S之间的间隔距离。因此，根据测定对象绝缘物S的大小，将X射线模块260设置在适当的位置上，从而提高缺陷检测试验的准确性。具体虽没有图示，X射线模块260是通过将X射线模块260支撑在外盒210内壁的长度可变性支撑机构(未图示)来调节X射线模块260与测定对象绝缘物S之间的距离。
另外，虽没有图示，X射线模块260具有倾斜性能，可调节照射角度，沿着外盒210的长度方向，可以按指定距离移动位置。
上述局部放电传感器240可测定收纳在试验舱212的测定对象绝缘物S中产生的局部放电。
作为一例，局部放电传感器240可以由高频电流互感器【HFCT(High FrequencyCurrent Transforrners)】传感器(未图示)构成，该高频电流互感器传感器连接在与多个测定对象绝缘物S分别连接的接地线。局部放电传感器240由HFCT传感器构成时，可检测到各测定对象绝缘物S是否存在缺陷。
另外，作为另一例，局部放电传感器240也可以由设置在外盒210的UHF天线242构成。局部放电传感器240由设置在外盒210的UHF天线242构成时，可一次性检测到同时收纳在试验舱212且一起试验的所有多个测定对象绝缘物S是否存在缺陷。
但是，局部放电传感器240不限定在HFCT传感器和UHF天线242，可以由能够检测到测定对象绝缘物S中产生的局部放电的多种类型的传感器构成。
上述信号分析仪250设置在外盒210的外部，连接在局部放电传感器240，分析局部放电传感器240中测定的局部放电信号的周期及强度，显示成使用者可确认。
上述置物架280可安装多个测定对象绝缘物S，其结构为能够进出试验舱212的推车形状。如图5所示，使用者将置物架280向外盒210的外部引出，在外部将多个测定对象绝缘物S安装在置物架280后，一次性地收纳在试验舱212。
在一个实施例中，如图3至图5所示，本发明的另一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测设备200为，可检查圆盘形状的绝缘圆片的缺陷，此时，夹具290的结构整体上为圆筒形状，以便能够与形成在圆盘形状的绝缘圆片边缘的凸缘结合，但并不限定于此。
下面对本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测方法进行说明。
首先，如图1所示，在外盒110内部设置的夹具或框架结构物上安装测定对象绝缘物S。
然后，对结合在绝缘物S的电极施加电压，启动X射线模块160，对绝缘物S照射X射线。
另外，将施加在电极的电压增加至局部放电传感器140能够检测到局部放电信号。
此外，为了将在X射线模块160产生且在局部放电传感器140接收的噪音信号最小化，调节X射线模块160的输出。在这里，调节X射线模块160的输出，使绝缘物S中产生的局部放电信号能够回避干涉或最小化。
一方面，局部放电传感器140检测到局部放电信号时，测定起始电压。
另外，测定起始电压后，将施加在电极的电压减少至局部放电传感器140中的局部放电信号消失为止。
此外，局部放电信号消失时，测定熄灭电压。
最后，以已测定的局部放电信号、起始电压、以及熄灭电压为基础，判断绝缘物S的缺陷是否存在和绝缘物S的绝缘性能。
如上所述，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测方法的优点是，利用电子崩的产生，能够在低的施加电压下测定局部放电信号，该电子崩是通过由X射线的能量迅速电离绝缘物S中形成的气孔内部存在的气体而产生的；并且，能够迅速检测绝缘物S的缺陷，使在性能试验阶段对绝缘物S施加高电压而产生的绝缘物S的潜在损伤能够最小化，提高产品寿命及产品可信性。
另外，本发明涉及的绝缘物中缺陷的检测方法是，以对测定对象绝缘物照射X射线的方向为基准，对测定对象绝缘物的截面积和厚度进行测定，根据测定的测定对象绝缘物截面积和厚度，调节施加在X射线模块的X射线发生部(例如，X射线管)的施加电压和施加电流，从而调节X射线的输出。
在这里，X射线是在特性上透过率与施加电压成正比，线密度是根据施加电流而密度与施加电流成正比。
因此，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测方法是，利用根据X射线的施加电压和施加电流的透过率和密度特性，将照射到测定对象绝缘物的X射线的输出最适合化，从而使绝缘物(例如，环氧树脂)的材料物性的降低程度最小化。
作为参考，当照射到绝缘物的X射线的输出过多时，X射线的过度能量就会影响绝缘物的材料物性，降低绝缘物的材料物性。另外，当材料物性降低的绝缘物使用于产品时，就会存在产品性能减低的问题。
一方面，本发明的一个实施例涉及的绝缘物S中缺陷的检测方法可以分为，X射线模块的X射线发生部和测定对象绝缘物之间的间隔距离为一定的情况和上述间隔距离有变动的情况。
第一，对间隔距离为一定的条件进行说明。
首先，将测定对象绝缘物S的截面积和厚度进行测定。
另外，为了根据测定对象绝缘物的厚度来调节X射线的透过率，调节施加电压，为了根据测定对象绝缘物的截面积来调节X射线的密度，调节施加电流。
具体地，在施加电压的调节步骤中，将测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较。
此外，测定对象绝缘物的厚度为标准厚度以上时，施加电压设定为高电压。另外，测定对象绝缘物的厚度不足标准厚度时，施加电压设定为中电压或低电压。在这里，电压值以高电压、中电压、以及低电压的顺序排列，高电压、中电压、以及低电压事先设定。
一方面，在施加电流的调节步骤中，将测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较。
此外，测定对象绝缘物的截面积为标准面积以上时，施加电流设定为大电流。另外，测定对象绝缘物的截面积不足标准面积时，施加电流设定为中电流或小电流。在这里，电流值以大电流、中电流、以及小电流的顺序排列，大电流、中电流、以及小电流事先设定。
接着，对间隔距离有变动的条件进行说明。
X射线是在特性上根据与照射对象物之间的距离而产生衰减。另外，与照射对象物之间的距离非常近时，即使将X射线以低能量输出，施加在照射对象物的X射线的能量也会相对较高，所以对照射对象物的材料物性产生影响。
因此，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测方法是，即使在测定对象绝缘物的形状相同，也根据X射线发生部与测定对象绝缘物之间的距离，调节施加电压和施加电流，从而使由X射线衰减产生的测定准确性降低和由过度X射线能量引起的测定对象绝缘物的材料物性降低的问题最小化。
首先，将测定对象绝缘物的截面积和厚度进行测定。
另外，将测定对象绝缘物与X射线发生部之间的间隔距离进行测定。
然后，将测定对象绝缘物的厚度与标准厚度比较，将测定对象绝缘物的截面积与标准面积比较。
接着，根据测定对象绝缘物的厚度、截面积、以及间隔距离，设定施加电压和施加电流，控制X射线输出。
首先，测定对象绝缘物的厚度为标准厚度以上且截面积为标准面积以上时，将间隔距离与事先设定的标准距离比较。
另外，根据间隔距离，设定施加电压和施加电流。
具体地，间隔距离不足标准距离时，将间隔距离判断为短距离，为了防止X射线能量的过度供给，施加电压设定为中电压，施加电流设定为中电流。
另外，间隔距离与标准距离相同时，将间隔距离判断为中距离，施加电压设定为中电压或高电压，施加电流设定为大电流。
此外，间隔距离超过标准距离时，将间隔距离判断为长距离，为了补偿X射线的衰减，施加电压设定为高电压，施加电流设定为大电流。
然后，测定对象绝缘物的厚度为标准厚度以上且截面积不足标准面积时，将间隔距离与事先设定的标准距离比较。
另外，根据间隔距离，设定施加电压和施加电流。
具体地，间隔距离不足标准距离时，将间隔距离判断为短距离，为了防止X射线能量的过度供给，施加电压设定为中电压，施加电流设定为小电流。
另外，间隔距离与标准距离相同时，将间隔距离判断为中距离，施加电压设定为中电压或高电压，施加电流设定为小电流或中电流。
此外，间隔距离超过标准距离时，将间隔距离判断为长距离，为了补偿X射线的衰减，施加电压设定为高电压，施加电流设定为大电流。
接着，测定对象绝缘物的厚度不足标准厚度且截面积不足标准面积时，将间隔距离与事先设定的标准距离比较。
另外，根据间隔距离，设定施加电压和施加电流。
具体地，间隔距离不足标准距离时，将间隔距离判断为短距离，为了防止X射线能量的过度供给，施加电压设定为低电压，施加电流设定为小电流。
另外，间隔距离与标准距离相同时，将间隔距离判断为中距离，施加电压设定为中电压，施加电流设定为小电流或中电流。
此外，间隔距离超过标准距离时，将间隔距离判断为长距离，为了补偿X射线的衰减，施加电压设定为中电压，施加电流设定为中电流或大电流。
最后，测定对象绝缘物的厚度不足标准厚度且截面积为标准面积以上时，将间隔距离与事先设定的标准距离比较。
另外，根据间隔距离，设定施加电压和施加电流(S164)。
具体地，间隔距离不足标准距离时，将间隔距离判断为短距离，为了防止X射线能量的过度供给，施加电压设定为低电压，施加电流设定为中电流。
另外，间隔距离与标准距离相同时，将间隔距离判断为中距离，施加电压设定为低电压或中电压，施加电流设定为大电流。
此外，间隔距离超过标准距离时，将间隔距离判断为长距离，为了补偿X射线的衰减，施加电压设定为高电压，施加电流设定为大电流。
一方面，本发明的一个实施例中，上述间隔距离可以设定为500mm至800mm，但并不限定于此，也可以根据X射线模块的性能和测定对象绝缘物的材质而设定不同。
另外，本发明的一个实施例涉及的绝缘物中缺陷的检测方法是，如图3所示，利用缺陷检测设备200来检测绝缘物的缺陷，此时可以根据测定对象绝缘物的截面积和厚度以及间隔距离而调节多个X射线模块的工作台数，其中上述缺陷检测设备200是在外盒210的内部具有多个X射线模块260，上述多个X射线模块260是对测定对象绝缘物S向相互不同区域或相互不同方向照射X射线。
一方面，图6和图7是用于固定绝缘物中缺陷测定设备的测定对象绝缘物S的夹具290(以下称“夹具”)的实施例1涉及的立体图，图8是实施例2的图示，图9至图11是实施例3的图示。
首先，如图6和图7所示，实施例1涉及的夹具290包括：凸缘部291、支撑管292、以及贯通孔293。
上述凸缘部291具有一对，连接在测定对象绝缘物S外廓形成的凸缘。
如图7所示，这样的凸缘部291螺栓结合在测定对象绝缘物S的凸缘。
上述支撑管292是，将一对凸缘部291相互连接，使一对凸缘部291相互有间隔地支撑。也就是，支撑管292的两端分别形成有一个凸缘部291。
这样的支撑管292为圆筒形状，围绕着除了测定对象绝缘物S的凸缘之外的剩余的绝缘体部位。
上述贯通孔293为贯通支撑管292本体形成的开口，支撑管292的整体面积上形成多个。
这样的贯通孔293减少由支撑管292而产生的X射线的能量衰减，使产生在测定对象绝缘物S的没有照射到X射线能量的死角地带最小化。
也就是说，结合在夹具290的测定对象绝缘物S是有可能因支撑管292而挡住绝缘体部位，支撑管292是由金属材料制作，所以照射到测定对象绝缘物S的X射线能量因支撑管292而衰减，从而测定对象绝缘物S中就会产生没有照射到X射线能量的死角地带，但是因为贯通孔293以贯通支撑管292的形状形成，所以使X射线能量的衰减最小化。
在夹具290的实施例1中，如图6所示，贯通孔293可以沿着凸缘部291的圆周方向间隔地形成多个，可以沿着支撑管292的长度方向、以分割为多个的开口形状形成。
一方面，如图8所示的实施例2涉及的夹具290是，凸缘部291和支撑管292实质上与实施例1的凸缘部291和支撑管292相同，贯通孔293的形状与实施例1的夹具290上形成的贯通孔293的形状不同。
实施例2中，贯通孔293可以沿着凸缘部291的圆周方向间隔地形成多个且沿着支撑管292的长度方向长长地延长形成。
最后，参照图9至图11，对夹具290-1的实施例3进行说明。
如图9至图11所示，实施例3涉及的夹具290-1包括支撑杆295而不是支撑管292，作为连接一对凸缘部291的要素。
上述支撑杆295连接在一对凸缘部291，将一对凸缘部291相互间隔地支撑，此时上述支撑杆295的两端以凸缘部291的圆周方向可旋转地结合在凸缘部291。另外，这样的支撑杆295具有多个，相互间隔地沿着凸缘部291的周围方向设置。因此，通过支撑杆295和支撑杆295之间的间隔，X射线就会没有能量衰减地照射到测定对象绝缘物S。
在这样的结构中，将一对凸缘部291中的一个凸缘部291相对于另一个凸缘部291在圆周方向时，如图10所示，可旋转地结合在凸缘部291的支撑杆295就会允许凸缘部291的圆周方向旋转，多个支撑杆295倾斜到凸缘部291旋转的方向，其结果，一对凸缘部291的间隔发生变化。
因此，实施例3涉及的夹具290-1根据凸缘部291的旋转角度，可调节长度。
这样的实施例3涉及的夹具290-1通过调节长度，可调节同时收纳在试验舱212的测定对象绝缘物S的个数。
一方面，凸缘部291形成有多个长孔296，上述长孔296沿着凸缘部291与测定对象绝缘物S凸缘连接的方向贯通、且沿着凸缘部291的圆周方向以弧状延长。
另外，夹具290-1进一步包括双头螺栓297和螺母298。
在这里，如图9所示，上述双头螺栓297贯通长孔296后连接在测定对象绝缘物S的凸缘。
此外，上述螺母298螺丝结合在双头螺栓297，将贯通长孔296连接的双头螺栓297固定在凸缘部291。
在这样的结构中，双头螺栓297是，即使以任何角度旋转凸缘部291的情况，也可以通过沿着凸缘部291的圆周方向长长延长的长孔296，固定一对凸缘部291的位置。
另外，如图11所示，实施例3涉及的多个夹具290-1固定多个测定对象绝缘物S时，从设置在最前方的夹具290-1到设置在最后方的夹具290-1为止，可使用一次性贯通多个夹具290-1的凸缘部291和多个测定对象绝缘物S的凸缘的长度长的双头螺栓297。此时，在凸缘部291和测定对象绝缘物S的凸缘连接的部位，配置螺母298。
本发明图示说明了特征实施例，但是明确说明本领域具有通常知识的人员在不脱离以下权利要求书所记载的本发明的思想和领域的范围内，对本发明可进行多种修改及变更。

Claims (8)

1.一种绝缘物中缺陷的检测方法，该检测方法通过使用X射线模块对测定对象绝缘物照射X射线，诱导所述测定对象绝缘物内部存在的气孔中的气体电离，对测定对象绝缘物中产生的局部放电进行测定；该检测方法包括：
以对所述测定对象绝缘物照射X射线的方向为基准，测定所述测定对象绝缘物的截面积和厚度的步骤；以及
根据所述测定对象绝缘物的截面积和厚度，调节施加在所述X射线模块的X射线发生部的施加电压和施加电流的X射线输出控制步骤；
其中，所述X射线输出控制步骤包括：
施加电压的调节步骤，根据所述测定对象绝缘物的厚度，调节所述施加电压的步骤；以及
施加电流的调节步骤，根据所述测定对象绝缘物的截面积，调节所述施加电流的步骤；
所述施加电压的调节步骤包括：将所述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，所述测定对象绝缘物的厚度为所述标准厚度以上时，将所述施加电压设定为事先设定的高电压，所述测定对象绝缘物的厚度不足所述标准厚度时，将所述施加电压设定为比所述高电压低的事先设定的中电压或比所述中电压更低的事先设定的低电压的步骤；
所述施加电流的调节步骤包括：将所述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，所述测定对象绝缘物的截面积为所述事先设定的标准面积以上时，将所述施加电流设定为事先设定的大电流，所述测定对象绝缘物的截面积不足所述标准面积时，将所述施加电流设定为比所述大电流低的中电流或比所述中电流更小的事先设定的小电流的步骤。
2.根据权利要求1所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，在测定所述测定对象绝缘物的截面积和厚度的步骤之后，进一步包括测定所述测定对象绝缘物和所述X射线发生部之间的间隔距离的步骤；所述X射线输出控制步骤包括，根据所述间隔距离，调节施加在所述X射线发生部的施加电压和施加电流的步骤。
3.根据权利要求2所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，所述X射线输出控制步骤进一步包括：
将所述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将所述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，所述测定对象绝缘物的厚度为所述标准厚度以上且所述测定对象绝缘物的截面积为所述标准面积以上时，将所述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；
所述间隔距离不足所述标准距离时，将所述施加电压设定为事先设定的中电压，将所述施加电流设定为事先设定的中电流；所述间隔距离与所述标准距离相同时，将所述施加电压设定为所述中电压或比所述中电压高的事先设定的高电压，将所述施加电流设定为比所述中电流更大的事先设定的大电流；所述间隔距离超过所述标准距离时，将所述施加电压设定为所述高电压，将所述施加电流设定为所述大电流。
4.根据权利要求2所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，所述X射线输出控制步骤进一步包括：
将所述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将所述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，所述测定对象绝缘物的厚度为所述标准厚度以上且所述测定对象绝缘物的截面积不足所述标准面积时，将所述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；
所述间隔距离不足所述标准距离时，将所述施加电压设定为所述事先设定的中电压，将所述施加电流设定为事先设定的小电流；
所述间隔距离与所述标准距离相同时，将所述施加电压设定为所述中电压或比所述中电压高的事先设定的高电压，将所述施加电流设定为所述小电流或比所述小电流更大的事先设定的中电流；
所述间隔距离超过所述标准距离时，将所述施加电压设定为所述高电压，将所述施加电流设定为比所述中电流更大的事先设定的大电流。
5.根据权利要求2所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，所述X射线输出控制步骤进一步包括：
将所述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将所述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，所述测定对象绝缘物的厚度不足所述标准厚度且所述测定对象绝缘物的截面积不足所述标准面积时，将所述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；
所述间隔距离不足所述标准距离时，将所述施加电压设定为事先设定的低电压，将所述施加电流设定为事先设定的小电流；
所述间隔距离与所述标准距离相同时，将所述施加电压设定为比所述低电压高的事先设定的中电压，将所述施加电流设定为所述小电流或比所述小电流更大的事先设定的中电流；
所述间隔距离超过所述标准距离时，将所述施加电压设定为所述中电压，将所述施加电流设定为所述中电流或比所述中电流更大的事先设定的大电流。
6.根据权利要求2所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，所述X射线输出控制步骤进一步包括：
将所述测定对象绝缘物的厚度与事先设定的标准厚度比较，将所述测定对象绝缘物的截面积与事先设定的标准面积比较，所述测定对象绝缘物的厚度不足所述标准厚度且所述测定对象绝缘物的截面积为所述标准面积以上时，将所述间隔距离与事先设定的标准距离比较的步骤；
所述间隔距离不足所述标准距离时，将所述施加电压设定为事先设定的低电压，将所述施加电流设定为事先设定的中电流；
所述间隔距离与所述标准距离相同时，将所述施加电压设定为所述低电压或比所述低电压更高的事先设定的中电压，将所述施加电流设定为比所述中电流更大的事先设定的大电流；
所述间隔距离超过所述标准距离时，将所述施加电压设定为比所述中电压更高的事先设定的高电压，将所述施加电流设定为所述大电流。
7.根据权利要求2-6中任意一项所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，所述间隔距离设定为500mm至800mm。
8.根据权利要求2所述的绝缘物中缺陷的检测方法，其中，使用多个所述X射线模块，对所述测定对象绝缘物照射X射线，根据所述测定对象绝缘物的截面积和厚度以及所述间隔距离，调节多个所述X射线模块的工作台数。
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