CN110517641A - 像素电路、参数检测方法、显示面板和显示装置 - Google Patents

像素电路、参数检测方法、显示面板和显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种像素电路、参数检测方法、显示面板和显示装置。像素电路包括数据写入电路、驱动电路、复位控制电路、检测控制电路和发光元件，检测控制电路用于在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通或断开；复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通或断开。本发明实现显示驱动和参数检测同时进行，可以提高参数检测和根据检测到的参数对数据电压进行补偿的速度。

Description

像素电路、参数检测方法、显示面板和显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种像素电路、参数检测方法、显示面板和显示装置。
背景技术
当今人类不仅对产品的外观和质量有苛刻的需求，而且对产品的价格和实用性有更高的关注；在显示领域特别是OLED(有机发光二极管)显示领域，因其广色域、广视角、薄型化、轻型化、低耗能、高对比度、可弯曲的出色的功能而被人民所广泛的接收，逐渐成为未来显示技术的发展方向。但在大尺寸OLED显示领域，因其氧化物工艺，TFT(薄膜晶体管)特性不稳定是其最大缺点，TFT的不稳定造成画面质量的降低，提高画面显示质量一直是技术人员努力的方向。
传统的大尺寸OLED显示装置画质提高技术普遍采用外部补偿方法。对于显示装置，画面以帧为单位进行显示；在帧与帧之间，会有一段帧空闲时间。传统的外部补偿的原理即为：在帧空闲时间对某行进行参数检测，也即一帧仅能感测一行像素电路的参数，参数检测速度慢，进而导致补偿速度慢。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种像素电路、参数检测方法、显示面板和显示装置，解决现有的显示装置中参数检测速度和补偿速度慢的问题。
为了达到上述目的，本发明提供了一种像素电路，包括数据写入电路、驱动电路、复位控制电路、检测控制电路和发光元件，其中，
所述数据写入电路用于在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与所述驱动电路的控制端之间连通或断开；
所述驱动电路的第一端与电源电压端电连接，所述驱动电路的第二端与所述发光元件的第一极电连接，所述驱动电路用于在其控制端的电位的控制下，控制所述电源电压端与所述发光元件的第一极之间连通或断开；
所述检测控制电路用于在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通或断开；所述发光元件的第二极与第一电压端电连接；
所述复位控制电路分别与复位控制线、所述发光元件的第一极和所述发光元件的第二极电连接，用于在所述复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制所述发光元件的第一极与所述发光元件的第二极之间连通或断开。
实施时，所述复位控制电路包括复位控制晶体管；
所述复位控制晶体管的控制极与所述复位控制线电连接，所述复位控制晶体管的第一极与所述发光元件的第一极电连接，所述复位控制晶体管的第二极与所述发光元件的第二极电连接。
实施时，所述数据写入电路包括数据写入晶体管；
所述数据写入晶体管的控制极与所述栅线电连接，所述数据写入晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述数据写入晶体管的第二极与所述驱动电路的控制端电连接。
实施时，所述驱动电路包括驱动晶体管和存储电容，其中，
所述驱动晶体管的控制极与所述数据写入晶体管的第二极电连接，所述驱动晶体管的第一极与电源电压端电连接，所述驱动晶体管的第二极与所述发光元件的第一极电连接；
所述存储电容的第一端与所述驱动晶体管的控制极电连接，所述存储电容的第二端与所述驱动晶体管的第二极电连接。
实施时，所述检测控制电路包括检测控制晶体管；
所述检测控制晶体管的控制极与检测控制线电连接，所述检测控制晶体管的第一极与所述发光元件的第一极电连接，所述检测控制晶体管的第二极与所述感测线电连接。
本发明还提供了一种参数检测方法，应用于上述的像素电路，所述参数检测方法包括：
复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通或断开；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通或断开；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通或断开。
实施时，第一参数检测周期包括第一复位阶段和第一检测阶段，所述参数检测方法包括：
在所述第一复位阶段，复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通，以控制所述发光元件不发光；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通，以将所述驱动电路的控制端的电位复位为第一复位电压；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，以对感测线的电压进行复位；
在所述第一检测阶段，所述复位控制电路在所述复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间断开；所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间断开，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；根据所述第一检测阶段持续的时间、所述第一复位电压和所述第一检测阶段结束时所述感测线的电压能够得到所述驱动电路包括的驱动晶体管的补偿增益值。
实施时，所述第一参数检测周期包括其他行像素电路中的至少一行像素电路的显示阶段。
实施时，第二参数检测周期包括第二复位阶段和第二检测阶段，所述第二检测阶段包括多个依次设置的检测子阶段，所述检测子阶段包括依次设置的充电时间段和充电复位时间段；
所述参数检测方法包括：
在所述第二复位阶段，复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通，以控制所述发光元件不发光；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通，以将所述驱动电路的控制端的电位复位为第二复位电压；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，以对感测线的电压进行复位；
在所述充电时间段，所述复位控制电路在所述复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间断开；所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间断开，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；
在所述充电复位时间段，所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线写入第二复位电压至驱动电路的控制端，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；
根据最后一个检测子阶段结束时所述感测线的电压，能够得到所述驱动电路中的驱动晶体管的补偿偏移值。
实施时，在最后一个检测子阶段结束时，所述感测线的电压提升至能够使得所述驱动电路控制其第一端与该驱动电路的第二端之间断开。
实施时，所述第二参数检测周期包括其他行像素电路中的至少一行像素电路的显示阶段。
本发明还提供了一种显示面板，包括N行M列上述的像素电路；
位于第m列的像素电路与第m感测线电连接；
N和M为正整数，m为小于或等于M的正整数。
实施时，位于第n行的像素电路与第n行栅线、第n行检测控制线和第n行复位控制线电连接；n为小于或等于N的正整数。
本发明还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。
与现有技术相比，本发明所述的像素电路、参数检测方法、显示面板和显示装置通过复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，在复位阶段，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通，以控制发光元件不发光，并通过检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通或断开，从而可以通过进行发光元件的复位控制，通过进行检测开关控制，以对非显示行像素电路进行参数检测，实现显示驱动和参数检测同时进行，可以提高参数检测和根据检测到的参数对数据电压进行补偿的速度，提升显示装置的显示质量。
附图说明
图1是本发明实施例所述的像素电路的结构图；
图2是本发明所述的像素电路的一具体实施例的电路图；
图3是本发明所述的像素电路的该具体实施例的第一工作时序图；
图4A是本发明所述的像素电路的该具体实施例在第一复位阶段t1的工作状态示意图；
图4B是本发明所述的像素电路的该具体实施例在第一检测阶段t2的工作状态示意图；
图5是本发明所述的像素电路的该具体实施例的第二工作时序图；
图6A是本发明所述的像素电路的该具体实施例在第二复位阶段t3的工作状态示意图；
图6B是本发明所述的像素电路的该具体实施例在充电时间段t4的工作状态示意图；
图6C是本发明所述的像素电路的该具体实施例在充电复位时间段t5的工作状态示意图；
图7是本发明实施例所述的显示装置的结构图；
图8是本发明实施例所述的显示装置中的时序控制器的结构图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明所有实施例中采用的晶体管均可以为三极管、薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件。在本发明实施例中，为区分晶体管除控制极之外的两极，将其中一极称为第一极，另一极称为第二极。
在实际操作时，当所述晶体管为三极管时，所述控制极可以为基极，所述第一极可以为集电极，所述第二极可以发射极；或者，所述控制极可以为基极，所述第一极可以为发射极，所述第二极可以集电极。
在实际操作时，当所述晶体管为薄膜晶体管或场效应管时，所述控制极可以为栅极，所述第一极可以为漏极，所述第二极可以为源极；或者，所述控制极可以为栅极，所述第一极可以为源极，所述第二极可以为漏极。
如图1所示，本发明实施例所述的像素电路包括数据写入电路11、驱动电路12、复位控制电路13、检测控制电路14和发光元件EL，其中，
所述数据写入电路11分别与栅线GL1、数据线DL和所述驱动电路12的控制端电连接，用于在栅线GL1提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线DL与所述驱动电路12的控制端之间连通或断开；
所述驱动电路12的第一端与电源电压端ELVDD电连接，所述驱动电路12的第二端与所述发光元件EL的第一极电连接，所述驱动电路12用于在其控制端的电位的控制下，控制所述电源电压端ELVDD与所述发光元件EL的第一极之间连通或断开；
所述检测控制电路14分别与检测控制线GL2、发光元件EL的第一极和感测线SL电连接，用于在检测控制线GL2提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与感测线SL之间连通或断开；所述发光元件EL的第二极与第一电压端VT1电连接；
所述复位控制电路13分别与复位控制线GL3、所述发光元件EL的第一极和所述发光元件EL的第二极电连接，用于在所述复位控制线GL3提供的复位控制信号的控制下，控制所述发光元件EL的第一极与所述发光元件EL的第二极之间连通或断开。
本发明实施例所述的像素电路通过复位控制电路13在复位控制线GL3提供的复位控制信号的控制下，在复位阶段，控制发光元件EL的第一极与发光元件EL的第二极之间连通，以控制发光元件EL不发光，并通过检测控制电路14在检测控制线GL2提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与感测线SL之间连通或断开，从而可以通过GL3进行发光元件EL的复位控制，通过GL2进行检测开关控制，以对非显示行像素电路进行参数检测，实现显示驱动和参数检测同时进行，可以提高参数检测和根据检测到的参数对数据电压进行补偿的速度，提升显示装置的显示质量。
在本发明实施例中，所述第一电压端VT可以为低电压端，但不以此为限。
在本发明实施例中，所述发光元件EL可以为有机发光二极管，所述发光元件EL的第一极为所述有机发光二极管的阳极，所述发光元件EL的第二极为所述有机发光二极管的阴极，但不以此为限。
在对本发明如图1所示的像素电路进行参数检测时，可以在第一参数检测周期检测驱动电路包括的驱动晶体管的补偿增益值，在第二参数检测周期检测所述驱动晶体管的补偿偏移值；
第一参数检测周期可以包括第一复位阶段和第一检测阶段；
在所述第一复位阶段，复位控制电路13在复位控制线GL3提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与发光元件EL的第二极之间连通，以控制所述发光元件EL不发光；数据写入电路11在栅线GL1提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线DL与驱动电路12的控制端之间连通，以将所述驱动电路12的控制端的电位复位为第一复位电压VREF1；检测控制电路14在检测控制线GL2提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与感测线SL之间连通，以对感测线SL的电压进行复位；
在所述第一检测阶段，所述复位控制电路13在所述复位控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与发光元件EL的第二极之间断开；所述数据写入电路11在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线DL与驱动电路12的控制端之间断开，检测控制电路14在检测控制线GL2提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与感测线SL之间连通，所述驱动电路12在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端ELVDD与发光元件EL的第一极之间连通，产生由所述电源电压端ELVDD流向所述发光元件EL的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线SL上的寄生电容充电，以提升所述感测线SL的电压；根据所述第一检测阶段持续的时间、所述第一复位电压VREF1和所述第一检测阶段结束时所述感测线SL的电压，能够得到所述驱动电路12包括的驱动晶体管的补偿增益值。
在本发明实施例中，所述第一参数检测周期可以包括其他行像素电路中的至少一行像素电路的显示阶段。也即，在图1所示的像素电路处于非显示状态时，图1所示的像素电路可以在显示面板包括的其他行像素电路显示时进行驱动晶体管的补偿增益值检测。
在本发明实施例中，当参数检测准确时，所述补偿增益值可以等于所述驱动晶体管的阈值电压，所述补偿增益值可以等于所述驱动晶体管的迁移率。
在具体实施时，第二参数检测周期可以包括第二复位阶段和第二检测阶段，所述第二检测阶段包括多个依次设置的检测子阶段，所述检测子阶段包括依次设置的充电时间段和充电复位时间段；
在所述第二复位阶段，复位控制电路13在复位控制线GL3提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与发光元件EL的第二极之间连通，以控制所述发光元件EL不发光；数据写入电路11在栅线GL1提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线DL与驱动电路12的控制端之间连通，以将所述驱动电路12的控制端的电位复位为第二复位电压VREF2；检测控制电路14在检测控制线GL2提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与感测线SL之间连通，以对感测线SL的电压进行复位；
在所述充电时间段，所述复位控制电路13在所述复位控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与发光元件EL的第二极之间断开；所述数据写入电路11在所述栅极驱动信号GL1的控制下，控制数据线DL与驱动电路12的控制端之间断开，检测控制电路14在检测控制线GL2提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与感测线SL之间连通，所述驱动电路12在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端ELVDD与发光元件EL的第一极之间连通，产生由所述电源电压端ELVDD流向所述发光元件EL的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线SL上的寄生电容充电，以提升所述感测线SL的电压；
在所述充电复位时间段，所述数据写入电路11在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线DL写入第二复位电压VREF2至驱动电路12的控制端，检测控制电路14在检测控制线GL2提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件EL的第一极与感测线SL之间连通，所述驱动电路12在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端ELVDD与发光元件EL的第一极之间连通，产生由所述电源电压端ELVDD流向所述发光元件EL的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线SL上的寄生电容充电，以提升所述感测线SL的电压；
根据最后一个检测子阶段结束时所述感测线SL的电压，能够得到所述驱动电路12中的驱动晶体管的补偿偏移值。
具体的，在最后一个检测子阶段结束时，所述感测线SL的电压提升至能够使得所述驱动电路12控制其第一端与该驱动电路12的第二端之间断开。也即，在实际操作时，控制所述第二检测阶段持续的时间足够长，从而使得SL的电压能够升高至使得驱动晶体管关断，此时，SL的电压为Vs，驱动晶体管的补偿偏移值可以等于VREF2-Vs。
在本发明实施例中，所述第二参数检测周期可以包括其他行像素电路中的至少一行像素电路的显示阶段。也即，在图1所示的像素电路处于非显示状态时，图1所示的像素电路可以在显示面板包括的其他行像素电路显示时进行驱动晶体管的补偿偏移值检测。
在检测到了图1所示的像素电路中的驱动电路12包括的驱动晶体管的补偿增益值和补偿偏移值后，可以在图1所示的像素电路显示时，根据所述补偿增益值和所述补偿偏移值，对数据线DL提供至驱动晶体管的控制极的数据电压进行补偿，从而可以提升显示效果。
在对本发明实施例所述的像素电路进行参数检测时，可以在一帧画面显示时间中，在其他行像素电路进行显示时，通过对本发明实施例所述的像素电路进行参数检测；并能够在参数检测时，在一非显示行像素电路进行复位的同时，对另一行非显示行像素电路进行检测，能够提升参数检测的速度。
具体的，所述复位控制电路可以包括复位控制晶体管；
所述复位控制晶体管的控制极与所述复位控制线电连接，所述复位控制晶体管的第一极与所述发光元件的第一极电连接，所述复位控制晶体管的第二极与所述发光元件的第二极电连接。
具体的，所述数据写入电路可以包括数据写入晶体管；
所述数据写入晶体管的控制极与所述栅线电连接，所述数据写入晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述数据写入晶体管的第二极与所述驱动电路的控制端电连接。
具体的，所述驱动电路可以包括驱动晶体管和存储电容，其中，
所述驱动晶体管的控制极与所述数据写入晶体管的第二极电连接，所述驱动晶体管的第一极与电源电压端电连接，所述驱动晶体管的第二极与所述发光元件的第一极电连接；
所述存储电容的第一端与所述驱动晶体管的控制极电连接，所述存储电容的第二端与所述驱动晶体管的第二极电连接。
具体的，所述检测控制电路可以包括检测控制晶体管；
所述检测控制晶体管的控制极与检测控制线电连接，所述检测控制晶体管的第一极与所述发光元件的第一极电连接，所述检测控制晶体管的第二极与所述感测线电连接。
如图2所示，本发明所述的像素电路的一具体实施例数据写入电路11、驱动电路12、复位控制电路13、检测控制电路14和有机发光二极管OLED；
所述复位控制电路13包括复位控制晶体管；
所述复位控制晶体管T4的栅极与所述复位控制线GL3电连接，所述复位控制晶体管T4的漏极与所述有机发光二极管OLED的阳极电连接，所述复位控制晶体管T4的源极与所述有机发光二极管OLED的阴极电连接；OLED的阴极接入低电压ELVSS；
所述数据写入电路11包括数据写入晶体管T2；
所述数据写入晶体管T2的栅极与所述栅线GL1电连接，所述数据写入晶体管T2的漏极与所述数据线DL电连接，所述数据写入晶体管T2的源极与驱动晶体管T1的栅极电连接；
所述驱动电路12包括驱动晶体管T1和存储电容Cst，其中，
所述驱动晶体管T1的栅极与所述数据写入晶体管T2的源极电连接，所述驱动晶体管T1的漏极与电源电压端ELVDD电连接，所述驱动晶体管T1的源极与所述有机发光二极管的阳极电连接；
所述存储电容Cst的第一端与所述驱动晶体管T1的栅极电连接，所述存储电容Cst的第二端与所述驱动晶体管T1的源极电连接；
所述检测控制电路14包括检测控制晶体管T3；
所述检测控制晶体管T3的栅极与检测控制线GL2电连接，所述检测控制晶体管T3的漏极与所述有机发光二极管的阳极电连接，所述检测控制晶体管T3的源极与所述感测线SL电连接。
在图2所示的像素电路的具体实施例中，所有的晶体管都为N型薄膜晶体管，但不以此为限。
如图3所示，如图2所示的像素电路的具体实施例在工作时，第一参数检测周期包括第一复位阶段t1和第一检测阶段t2；
在第一复位阶段t1，GL1、GL2和GL3都输入高电平，如图4A所示，T2、T3和T4打开，OLED的阳极和OLED的阴极短接，OLED不发光，并SL的电压被复位为ELELVSS；并DL输入第一复位电压VREF1至T1的栅极，以使得在第一检测阶段t2开始时，T1能够打开；
在第一检测阶段t2，GL1和GL3输入低电平，GL2输入高电平，如图4B所示，T4和T2关断，T3打开，T1在其栅极接入的VREF1的控制下打开，产生由ELVDD至T1的源极的充电电流，因SL的寄生电容和线电阻，以提升SL的电压；
在所述第一检测阶段t2结束时，源极驱动器会感测SL上的电压，以表征驱动晶体管T1的老化程度；根据所述第一检测阶段t2持续的时间、所述第一复位电压VREF1和所述第一检测阶段t2结束时所述感测线SL的电压，能够得到所述驱动晶体管T1的补偿增益值K。
在图3中，标号为GL1_m+1的为相邻下一行栅线，标号为GL2_m+1的为相邻下一行检测控制线，标号为GL3_m+1的为相邻下一行复位控制线，GL1_m+1、GL2_m+1和GL3_m+1都与相邻下一行像素电路电连接；在图3中，GL1_m+1对应的波形为相邻下一行栅线提供的栅极驱动信号的波形，GL2_m+1对应的波形为相邻下一行检测控制线提供的检测控制信号的波形，GL3_m+1对应的波形为相邻下一行复位控制线提供的复位控制信号的波形。
在实际操作时，可以通过控制VREF1的电压值和第一检测阶段t2的持续时间，控制在第一检测阶段t2结束时，OLED的阳极的电压与ELVSS之间的电压差值小于OLED的启亮电压，以使得在进行参数检测时，OLED不会发光，从而不会影响显示效果。
对于不同扫描频率和不同分辨率的显示面板，每行显示充电时间不同，对于补偿增益值K的感测可能需要更多行显示充电时间。假设每行补偿增益值检测时间需要40行显示充电时间，并显示面板包括2250行像素电路，则对本发明实施例所述的像素电路采用的补偿增益值检测方法相比传统的补偿增益值检测方法至少可以提高2250/40倍，也即可以提高约56倍。
在图4A和图4B中，圆圈代表相应的晶体管打开，叉号代表相应的晶体管关断。
如图5所示，如图2所示的像素电路的具体实施例在工作时，第二参数检测周期可以包括第二复位阶段t3和第二检测阶段，所述第二检测阶段包括多个依次设置的检测子阶段，每一所述检测子阶段包括依次设置的充电时间段和充电复位时间段；
在图5中，标号为t4的为所述第二检测阶段中的第一检测子阶段包括的充电时间段，标号为t5的为所述第二检测阶段中的第一检测子阶段包括的充电复位时间段；
在第二复位阶段t3，GL1、GL2和GL3都输入高电平，如图6A所示，T2、T3和T4打开，OLED的阳极和OLED的阴极短接，OLED不发光，并SL的电压被复位为ELELVSS；并DL输入第二复位电压VREF2至T1的栅极，以使得在第二检测阶段开始时，T1能够打开；
在充电时间段t4，GL1和GL3输入低电平，GL2输入高电平，如图6B所示，T4和T2打开，T3关断，T1在其栅极接入的VREF1的控制下打开，产生由ELVDD至T1的源极的充电电流，该充电电流通过打开的T3流向SL，以为SL上的寄生电容充电，从而提升SL的电压；
由于在充电时间段t4，T2关闭，由于电容自举效应，T1的栅极电压会上升，因此在充电时间段t4结束后需要对T1的栅极电压进行复位；
在充电复位时间段t5，GL1和GL2都输入高电平，GL3输入低电平，如图6C所示，T2和T3打开，T4关断，DL输入第二复位电压VREF2，T1的栅极电压被复位为VREF2；
在第二检测阶段，SL的电压持续上升，逐渐随着T1的源极电压上升，流过T1的电流减小，SL的电压上升的斜率逐渐减小，重复充电时间段和充电复位时间段，直至流过T1的电流为0(也即T1关断)为止，通过源极驱动器检测SL的电压，假设此时SL的电压为Vs，则T1的偏移量补偿值为VREF2-Vs；对于不同的Vs，可以获得不同的补偿偏移值。
在图6A、图6B和图6C中，圆圈代表相应的晶体管打开，叉号代表相应的晶体管关断。
传统的Vth补偿技术需要在关机时进行，而在本发明实施例中，Vth补偿可以实时进行，可有效补偿画质。
在本发明实施例中，通过设置VREF2的电压值以及第二检测阶段的持续时间，使得在第二复位阶段t3和第二检测阶段，OLED的阳极电压与ELVSS之间的电压差值小于OLED的启亮电压，以使得OLED不发光，从而不会影响显示。
本发明实施例所述的参数检测方法，应用于上述的像素电路，所述参数检测方法包括：
复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通或断开；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通或断开；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通或断开。
本发明实施例所述的像素电路的参数检测方法通过复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，在复位阶段，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通，以控制发光元件不发光，并通过检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通或断开，从而可以通过复位控制线进行发光元件的复位控制，通过检测控制线进行检测开关控制，以对非显示行像素电路进行参数检测，实现显示驱动和参数检测同时进行，可以提高参数检测和根据检测到的参数对数据电压进行补偿的速度，提升显示装置的显示质量。
在具体实施时，第一参数检测周期可以包括第一复位阶段和第一检测阶段，所述参数检测方法包括：
在所述第一复位阶段，复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通，以控制所述发光元件不发光；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通，以将所述驱动电路的控制端的电位复位为第一复位电压；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，以对感测线的电压进行复位；
在所述第一检测阶段，所述复位控制电路在所述复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间断开；所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间断开，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；根据所述第一检测阶段持续的时间、所述第一复位电压和所述第一检测阶段结束时所述感测线的电压能够得到所述驱动电路包括的驱动晶体管的补偿增益值。
在本发明实施例中，所述第一参数检测周期可以包括其他行像素电路中的至少一行像素电路的显示阶段。也即，在本发明实施例所述像素电路处于非显示状态时，并本发明实施例所述的像素电路可以在显示面板包括的其他行像素电路显示时进行驱动晶体管的补偿增益值检测。
在具体实施时，第二参数检测周期可以包括第二复位阶段和第二检测阶段，所述第二检测阶段包括多个依次设置的检测子阶段，所述检测子阶段包括依次设置的充电时间段和充电复位时间段；
所述参数检测方法包括：
在所述第二复位阶段，复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通，以控制所述发光元件不发光；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通，以将所述驱动电路的控制端的电位复位为第二复位电压；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，以对感测线的电压进行复位；
在所述充电时间段，所述复位控制电路在所述复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间断开；所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间断开，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；
在所述充电复位时间段，所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线写入第二复位电压至驱动电路的控制端，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；
根据最后一个检测子阶段结束时所述感测线的电压，能够得到所述驱动电路中的驱动晶体管的补偿偏移值。具体的，在最后一个检测子阶段结束时，所述感测线的电压提升至预定电压，以使得所述驱动电路控制其第一端与该驱动电路的第二端之间断开。
在本发明实施例中，所述第二参数检测周期可以包括其他行像素电路中的至少一行像素电路的显示阶段。也即，在本发明实施例所述的像素电路处于非显示状态时，本发明实施例所述的像素电路可以在显示面板包括的其他行像素电路显示时进行驱动晶体管的补偿偏移值检测。
本发明实施例所述的显示面板包括N行M列上述的像素电路；
位于第m列的像素电路与第m感测线电连接；
N和M为正整数，m为小于或等于M的正整数。
具体的，位于第n行的像素电路与第n行栅线、第n行检测控制线和第n行复位控制线电连接；n为小于或等于N的正整数。
本发明实施例所述的显示装置包括上述的显示面板。
具体的，本发明实施例所述的显示装置可以为OLED显示装置，如图7所示，本发明实施例所述的显示装置包括显示面板70、时序控制器71、栅极驱动器72、存储器73和源极驱动器74等；
所述时序控制器71读取存储器73中存储的数据RAM，同时接收外部输入的RGB(红绿蓝)数据Drgb和时序控制信号ST，并接收源极驱动器74输出的感测数据Sdata(所述感测数据即为所述源极驱动器74检测到的感测线的电压)；经过计算、转换和补偿等算法，时序控制器71产生经过补偿运算后的数据电压Vdata和源极控制信号SCS，并将该数据电压Vdata和所述源极控制信号SCS输出给源极驱动器74，时序控制器74产生栅极驱动信号GCS，并将该栅极驱动信号GCS输出给栅极驱动器72；
存储器73存储全屏不同颜色不同像素的一个或多个的像素补偿值，所述像素补偿值例如可以包括控制像素启亮的偏移值Vth和控制像素亮度变化率的增益值K。
源极驱动器74接收时序控制器71输出的经过补偿计算后的数据电压Vdata和源极控制信号SCS，通过感测线SL感测某行整体或部分像素特征值，经过模数转换产生感测数据Sdata，并将该感测数据Sdata输出给时序控制器71。栅极驱动器72接收栅极控制信号GCS，产生至少一扫描信号，并将所述至少一扫描信号传送给显示面板(所述扫描信号包括检测控制信号、补偿控制信号和栅极驱动信号)。
并如图7所示，源极驱动器74检测显示面板70中的感测线SL的电压，并向显示面板70中的数据线DL提供数据电压。
如图8所示，时序控制器包括时序控制单元81、亮度转换单元82、算法补偿单元83、系数计算单元84、存储控制单元85和数据输出单元86；
时序控制单元81接收时序控制信号ST，产生控制源极驱动器的源极控制信号SCS和控制栅极驱动器的栅极控制信号GCS。亮度转换单元82接收外部RGB数据Drgb，将Drgb转换为亮度信号Data1，将亮度数据Data1输出给算法补偿单元83。算法补偿单元83接收到亮度转换单元82输出的亮度数据Data1和系数计算单元84输出的补偿数据，经过像素补偿算法，向数据输出单元82输出电压信号Data2。数据输出单元86接收电压信号Data2，并将Data2转换为数字电压信号Data，并将所述数字电压信号Data输出至源极驱动器。
在第一参数检测周期和第二参数检测周期，系数计算单元84接收源极驱动器输出的感测数据Sdata，经过计算将Sdata转换为基于某个像素的补偿偏移值Vth和补偿增益值K。存储控制单元85接收到所述补偿偏移值Vth和补偿增益值K后，在时序控制单元81的控制下，将某行的全部或部分补偿数据写入存储器中。
本发明实施例所提供的显示装置可以为手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (14)

1.一种像素电路，其特征在于，包括数据写入电路、驱动电路、复位控制电路、检测控制电路和发光元件，其中，
所述数据写入电路用于在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与所述驱动电路的控制端之间连通或断开；
所述驱动电路的第一端与电源电压端电连接，所述驱动电路的第二端与所述发光元件的第一极电连接，所述驱动电路用于在其控制端的电位的控制下，控制所述电源电压端与所述发光元件的第一极之间连通或断开；
所述检测控制电路用于在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通或断开；所述发光元件的第二极与第一电压端电连接；
所述复位控制电路分别与复位控制线、所述发光元件的第一极和所述发光元件的第二极电连接，用于在所述复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制所述发光元件的第一极与所述发光元件的第二极之间连通或断开。
2.如权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述复位控制电路包括复位控制晶体管；
所述复位控制晶体管的控制极与所述复位控制线电连接，所述复位控制晶体管的第一极与所述发光元件的第一极电连接，所述复位控制晶体管的第二极与所述发光元件的第二极电连接。
3.如权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述数据写入电路包括数据写入晶体管；
所述数据写入晶体管的控制极与所述栅线电连接，所述数据写入晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述数据写入晶体管的第二极与所述驱动电路的控制端电连接。
4.如权利要求3所述的像素电路，其特征在于，所述驱动电路包括驱动晶体管和存储电容，其中，
所述驱动晶体管的控制极与所述数据写入晶体管的第二极电连接，所述驱动晶体管的第一极与电源电压端电连接，所述驱动晶体管的第二极与所述发光元件的第一极电连接；
所述存储电容的第一端与所述驱动晶体管的控制极电连接，所述存储电容的第二端与所述驱动晶体管的第二极电连接。
5.如权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述检测控制电路包括检测控制晶体管；
所述检测控制晶体管的控制极与检测控制线电连接，所述检测控制晶体管的第一极与所述发光元件的第一极电连接，所述检测控制晶体管的第二极与所述感测线电连接。
6.一种参数检测方法，应用于如权利要求1至5中任一权利要求所述的像素电路，其特征在于，所述参数检测方法包括：
复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通或断开；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通或断开；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通或断开。
7.如权利要求6所述的参数检测方法，其特征在于，第一参数检测周期包括第一复位阶段和第一检测阶段，所述参数检测方法包括：
在所述第一复位阶段，复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通，以控制所述发光元件不发光；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通，以将所述驱动电路的控制端的电位复位为第一复位电压；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，以对感测线的电压进行复位；
在所述第一检测阶段，所述复位控制电路在所述复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间断开；所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间断开，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；根据所述第一检测阶段持续的时间、所述第一复位电压和所述第一检测阶段结束时所述感测线的电压能够得到所述驱动电路包括的驱动晶体管的补偿增益值。
8.如权利要求7所述的参数检测方法，其特征在于，所述第一参数检测周期包括其他行像素电路中的至少一行像素电路的显示阶段。
9.如权利要求6所述的参数检测方法，其特征在于，第二参数检测周期包括第二复位阶段和第二检测阶段，所述第二检测阶段包括多个依次设置的检测子阶段，所述检测子阶段包括依次设置的充电时间段和充电复位时间段；
所述参数检测方法包括：
在所述第二复位阶段，复位控制电路在复位控制线提供的复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间连通，以控制所述发光元件不发光；数据写入电路在栅线提供的栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间连通，以将所述驱动电路的控制端的电位复位为第二复位电压；检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，以对感测线的电压进行复位；
在所述充电时间段，所述复位控制电路在所述复位控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与发光元件的第二极之间断开；所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线与驱动电路的控制端之间断开，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；
在所述充电复位时间段，所述数据写入电路在所述栅极驱动信号的控制下，控制数据线写入第二复位电压至驱动电路的控制端，检测控制电路在检测控制线提供的检测控制信号的控制下，控制发光元件的第一极与感测线之间连通，所述驱动电路在其控制端的电位的控制下，控制电源电压端与发光元件的第一极之间连通，产生由所述电源电压端流向所述发光元件的第一极的充电电流，通过所述充电电流为感测线上的寄生电容充电，以提升所述感测线的电压；
根据最后一个检测子阶段结束时所述感测线的电压，能够得到所述驱动电路中的驱动晶体管的补偿偏移值。
10.如权利要求9所述的参数检测方法，其特征在于，在最后一个检测子阶段结束时，所述感测线的电压提升至能够使得所述驱动电路控制其第一端与该驱动电路的第二端之间断开。
11.如权利要求9所述的参数检测方法，其特征在于，所述第二参数检测周期包括其他行像素电路中的至少一行像素电路的显示阶段。
12.一种显示面板，其特征在于，包括N行M列如权利要求1至5中任一权利要求所述的像素电路；
位于第m列的像素电路与第m感测线电连接；
N和M为正整数，m为小于或等于M的正整数。
13.如权利要求12所述的显示面板，其特征在于，位于第n行的像素电路与第n行栅线、第n行检测控制线和第n行复位控制线电连接；n为小于或等于N的正整数。
14.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求12或13所述的显示面板。
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