CN110499493A - 一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法 - Google Patents
一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,具体包括以下步骤:步骤1:清洗硅片,将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡5~20分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡5~15分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,调整磁控溅射沉积设备的温度为50℃~200℃,电压为360V~400V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为1A~5A,将烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为11%~88%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。本发明通过抑制Ag的杀菌活性,从而保证了Ta2O5@Ag微纳结构表面的生物活性。
Description
技术领域
本发明属于生物材料技术领域,具体涉及一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法。
背景技术
等离子体微纳结构增强基底,为实现高效的生物分析奠定了基础。其中,银纳米结构可产生极优异的LSPR效应(Long Lin,Min Chen,Haiyan Qin,Xiaogang Peng.Agnanocrystals with nearly ideal optical quality:synthesis,growth mechanism,ndcharacterizations[J].Journal of the American Chemical Society,2018,140,17734-17742.)。相比于Au纳米结构,Ag纳米结构光学截面更大且成本低廉。但是,Ag纳米结构化学稳定性较差且杀菌能力极强,阻碍了活性病原菌Ag微纳界面的高灵敏、高稳定原位等离子体分析。一般情况下,纳米银通过接触反应进行杀菌,银离子与细胞的接触反应,造成细菌固有成分被破坏或产生功能障碍,导致细菌死亡,无法生长繁殖。因此,微纳复合策略成为提高Ag微纳结构化学稳定性及生物相容性的主要办法,但是目前复合的Ag微纳结构对抑制纯Ag界面极强的杀菌活性的方面的效果不佳。
发明内容
本发明的目的是提供一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,解决了目前复合的Ag微纳结构对抑制纯Ag界面极强的杀菌活性的方面的效果不佳的问题。
本发明所采用的技术方案是,
一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡5~20分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡5~15分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为50℃~200℃,电压为360V~400V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为1A~5A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为11%~88%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
本发明的特点还在于,
步骤1中,硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中的时间为10~20分钟,放入去离子水中浸泡时间为10~15分钟。
步骤1中,硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中的时间为15分钟,放入去离子水中浸泡时间为10分钟。
步骤2中,通入的气体为氮气。
步骤2中,磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,电压为360V~380V,Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,Ta2O5相的质量百分数为20%~70%。
步骤2中,磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,电压为360V~380V,Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,Ta2O5相的质量百分数为30%~50%。
步骤2中,磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,电压为360V~380V,Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,Ta2O5相的质量百分数为40%~80%。
步骤2中,磁控溅射沉积设备的温度为150℃,电压为370V,Ag靶和Ta2O5靶的电流为3A,Ta2O5相的质量百分数47%。
本发明的有益效果是,本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,通过在Ag微纳结构中掺杂Ta2O5相,形成Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构,抑制纯Ag界面极强的杀菌活性,可以为活性病原菌在Ag微纳界面的高灵敏、高稳定原位等离子体分析提供了平台。
附图说明
图1是本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法中,Ta2O5相掺杂质量百分数为11%的情形下Ag微纳结构截面扫描电子显微镜图;
图2是本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法中,当Ta2O5相掺杂质量百分数为11%的情形下用菌落计数法分析微纳界面得到的大肠杆菌活性分析示意图;
图3是本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法中,Ta2O5相掺杂质量百分数为88%的情形下Ag微纳结构截面扫描电子显微镜图;
图4是本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法中,当Ta2O5相掺杂质量百分数为88%的情形下用菌落计数法分析微纳界面得到的大肠杆菌活性分析示意图;
图5是本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法中纯Ag微纳结构截面扫描电子显微镜图;
图6是本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法中纯Ag微纳结构大肠杆菌活性分析示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明进行详细说明。
本发明提供一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡5~20分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡5~15分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为50℃~200℃,电压为360V~400V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为1A~5A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为11%~88%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
进一步地,步骤1中,硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中的时间为10~20分钟,放入去离子水中浸泡时间为10~15分钟。
进一步地,步骤1中,硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中的时间为15分钟,放入去离子水中浸泡时间为10分钟。
进一步地,步骤2中,通入的气体为氮气。
进一步地,步骤2中,磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,电压为360V~380V,Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,Ta2O5相的质量百分数为20%~70%。
进一步地,步骤2中,磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,电压为360V~380V,Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,Ta2O5相的质量百分数为30%~50%。
进一步地,步骤2中,磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,电压为360V~380V,Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,Ta2O5相的质量百分数为40%~80%。
进一步地,步骤2中,磁控溅射沉积设备的温度为150℃,电压为370V,Ag靶和Ta2O5靶的电流为3A,Ta2O5相的质量百分数47%。
Ta2O5@Ag双相微纳结构即为Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构。
Ta2O5具有极为优异的生物相容性、耐腐蚀性、断裂韧性。可产生良好的细胞表面相互作用(Yu Zhu,Yingxin Gu,Shichong Qiao,Linyi Zhou,Junyu Shi,HongchangLai.Journal of Biomedical Materials Research Part A,2017,105,871-878),Ta2O5纳米层具有良好的细菌吸附能力(Alireza Meidanchia,Azadeh Jafarib,Optics&LaserTechnology,2019,111:89-94)。发展Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构,可为活性病原菌在Ag微纳界面的高灵敏、高稳定原位等离子体分析提供了可能性。
本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法通过Ta2O5相掺杂,构建出Ta2O5@Ag等离子体微纳结构,从而保持病原菌在Ta2O5@Ag等离子体微纳结构表面的生物活性,有利于活性病原菌的原位等离子体分析。
下面通过具体的实施例对本发明一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法进行详细说明。
实施例1
本实施例提供一种通过Ta2O5相掺杂抑制Ag微纳结构杀菌活性的方法,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡5分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡15分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为50℃,电压为400V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为1A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为11%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。如图1所示,从图1中可以看出,该Ta2O5@Ag双相微纳结构表面粗糙度较高。
如表1所示,制备的双相微纳结构由氧、钽、银三种元素组成,分别为Ta2O5相和Ag相,Ta2O5质量百分数约为11%。
表1
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为8小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为95%,如图2所示,从图2中可以看出病原菌生长为大量菌落,并保持了良好的病原菌生物活性。
实施例2
本实施例提供一种通过Ta2O5相掺杂抑制Ag微纳结构杀菌活性的方法,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡20分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡5分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为200℃,电压为360V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为5A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氮气,将Ta2O5相按照质量百分数为88%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。如图3所示,从图3中可以看出薄膜表面较为平整,粗糙度较低。
如表2所示,制备的双相微纳结构由氧、钽、银三种元素组成,分别为Ta2O5相和Ag相,Ta2O5质量百分数约为88%。
表2
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试。
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为10小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为97%,如图4所示。从图4中可以看出病原菌生长为大量菌落,并保持了极好的病原菌生物活性。
实施例3
本实施例提供一种通过Ta2O5相掺杂抑制Ag微纳结构杀菌活性的方法,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡10分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡10分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为180℃,电压为360V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为4A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氮气,将Ta2O5相按照质量百分数为20%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为10小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为96%,
实施例4
本实施例提供一种通过Ta2O5相掺杂抑制Ag微纳结构杀菌活性的方法,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡15分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡10分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为180℃,电压为360V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为4A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氮气,将Ta2O5相按照质量百分数为40%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为10小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为96%,
实施例5
本实施例提供一种通过Ta2O5相掺杂抑制Ag微纳结构杀菌活性的方法,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡15分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡10分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为100℃,电压为380V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为70%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为1小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为98%,
实施例6
本实施例提供一种通过Ta2O5相掺杂抑制Ag微纳结构杀菌活性的方法,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡15分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡10分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为130℃,电压为380V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为3A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为50%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为12小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为97%。
实施例7
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡15分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡10分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为150℃,电压为370V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为3A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为80%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为12小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为98%。
实施例8
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡15分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡10分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为150℃,电压为370V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为3A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为30%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为12小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为97%。
实施例9
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡15分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡10分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为150℃,电压为370V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为3A,将步骤1中烘干的硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为47%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
通过实验,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,
将病原菌置于制备出的Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构表面,对Ta2O5相掺杂的Ag微纳结构进行病原菌活性测试,控制时间为12小时后,使用菌落计数法分析测试得出所述病原菌的存活率为99%。
对比实验
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡15分钟,取出浸入后的硅片放入去离子水中浸泡10分钟,然后取出并烘干浸泡后的硅片;
步骤2:制备纯Ag等离子体微纳结构,
在磁控溅射沉积设备中进行Ag元素沉积,即可制备出纯Ag等离子体微纳结构,如图5所示;从图5可以看出,纯银薄膜表面粗糙度较高,晶粒尺寸较大。
步骤3:测试病大肠杆菌活性,
对纯Ag等离子体微纳结构表面的大肠杆菌进行大肠杆菌活性测试,使用菌落计数法分析测试得出所述大肠杆菌的存活率为0%,如图6所示,从图6可以看出,病原菌全部被杀死,没有生长出任何菌落,病原菌无生物活性。
因此,可以得出当掺杂入Ta2O5相,形成Ta2O5@Ag双相微纳结构后,大肠杆菌孵育后的存活率显著升高。
本发明一种通过Ta2O5相掺杂抑制Ag微纳结构杀菌活性的方法,通过Ta2O5相掺杂,形成Ta2O5@Ag双相微纳结构,抑制纯Ag微纳界面极强的杀菌活性,从而保持病原菌在Ta2O5@Ag等离子体微纳结构表面的生物活性,有利于活性病原菌的原位等离子体分析,可推广使用。
Claims (8)
1.一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,其特征在于,具体包括以下步骤:
步骤1:清洗硅片,
将清洁后的硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中浸泡5~20分钟,取出浸入后的所述硅片放入去离子水中浸泡5~15分钟,然后取出并烘干浸泡后的所述硅片;
步骤2:制备Ta2O5@Ag双相微纳结构,
调整磁控溅射沉积设备的温度为50℃~200℃,电压为360V~400V,控制Ag靶和Ta2O5靶的电流为1A~5A,将步骤1中烘干的所述硅片放入磁控溅射沉积设备中,将磁控溅射沉积设备保持真空并通入氩气,将Ta2O5相按照质量百分数为11%~88%与Ag进行两相共溅射,即可制备出Ta2O5@Ag双相微纳结构。
2.根据权利要求1所述的一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,其特征在于,步骤1中,所述硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中的时间为10~20分钟,放入去离子水中浸泡时间为10~15分钟。
3.根据权利要求2所述的一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,其特征在于,步骤1中,所述硅片衬底浸入乙醇、丙酮溶液中的时间为15分钟,放入去离子水中浸泡时间为10分钟。
4.根据权利要求1所述的一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,其特征在于,步骤2中,所述通入的气体为氮气。
5.根据权利要求1所述的一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,其特征在于,步骤2中,所述磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,所述电压为360V~380V,所述Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,所述Ta2O5相的质量百分数为20%~70%。
6.根据权利要求1所述的一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,其特征在于,步骤2中,所述磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,电压为360V~380V,所述Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,所述Ta2O5相的质量百分数为30%~50%。
7.根据权利要求1所述的一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,其特征在于,步骤2中,所述磁控溅射沉积设备的温度为100℃~200℃,所述电压为360V~380V,所述Ag靶和Ta2O5靶的电流为2A~4A,所述Ta2O5相的质量百分数为40%~80%。
8.根据权利要求1-7所述的一种制备可抑制杀菌活性的Ta2O5@Ag双相微纳结构的方法,其特征在于,步骤2中,所述磁控溅射沉积设备的温度为150℃,所述电压为370V,所述Ag靶和Ta2O5靶的电流为3A,所述Ta2O5相的质量百分数47%。
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