CN110473757B - X射线管、医学成像设备、测温系统及轴承测温方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种X射线管、医学成像设备、测温系统及轴承测温方法，所述X射线管包括管壳、转轴、轴承以及轴承套，所述轴承套设所述转轴，所述轴承套套设所述轴承，所述轴承套固定设置于所述管壳内并与管壳之间形成封闭的真空空间；所述轴承套上开设有与所述真空空间相隔离设置的测温槽，所述测温槽供测温元件伸入以使所述测温元件能够检测到所述轴承的温度。本发明提供的X射线管通过在轴承套上开设测温槽，使得自身内部的轴承的温度处于可测温的状态；又由于轴承套并非X射线管内部的运动部件，X射线管能够实现在工作状态下的实时测温，克服了传统X射线管无法进行高精度实时温度检测的弊端。

Description

X射线管、医学成像设备、测温系统及轴承测温方法

技术领域

本发明涉及医疗设备技术领域，尤其涉及一种X射线管、医学成像设备、测温系统及轴承测温方法。

背景技术

X射线管常用于产生X射线，是医学成像设备中最为核心与关键的元器件之一。X射线管的转轴需要驱动靶盘转动，转轴的高速转动会使得承载转轴的轴承具有极高的工作温度。当轴承的工作温度超过表面固体镀层的熔点时，轴承的表面镀层会发生熔融，从而威胁X射线管以及医学成像设备的正常工作。

轴承工作温度的实时测量成为X射线管提高安全性的必要手段。但是X射线管内的功能元件均服役于真空环境内，传统的测温方式在精度以及可行性上均无法满足测温需求。例如红外等非接触式测温方式由于管壳的阻挡而精度较低，传统的接触式测温方式又会破坏X射线管内部的真空环境。X射线管中轴承温度的实时测量已经成为X射线管领域亟待攻破的技术难题。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种改进的X射线管、医学成像设备、测温系统及轴承测温方法，该X射线管的轴承温度可测且不破坏X射线管内部的真空环境。

本发明提供一种X射线管，包括管壳、转轴、轴承以及轴承套，所述轴承套设所述转轴，所述轴承套套设所述轴承，所述轴承套固定设置于所述管壳内并与管壳之间形成封闭的真空空间；所述轴承套上开设有与所述真空空间相隔离设置的测温槽，所述测温槽供测温元件伸入以使所述测温元件能够检测到所述轴承的温度。

本发明提供的X射线管通过在轴承套上开设测温槽，使得自身内部的轴承的温度处于可测温的状态；又由于轴承套并非X射线管内部的运动部件，X射线管能够实现在工作状态下的实时测温，克服了传统X射线管无法进行高精度实时温度检测的弊端。

进一步地，为了实现不同数量轴承的温度检测，所述转轴具有沿轴向相对远离所述轴承套的第一端以及沿轴向相对靠近所述轴承套的第二端；所述轴承包括第一轴承，所述第一轴承设置于所述第一端上，所述测温槽包括第一测温槽，所述第一测温槽延伸至所述第一端处；及/或，

所述轴承包括第二轴承，所述第二轴承设置于所述第二端上，所述测温槽包括第二测温槽，所述第二测温槽延伸至第二轴承处。

如此设置，测温槽能够实现对处于不同位置上的轴承的温度测量。

进一步地，为了方便安装以及降低加工难度，所述测温槽的延伸方向与所述转轴的轴向相平行设置。

如此设置，可以便于测温槽的开设，同时便于外部测温元件伸入测温槽的内部。

本发明提供一种医学成像设备，包括X射线管，所述X射线管为上述任意一项所述的X射线管。

本发明提供的医学成像系统通过采用上述的X射线管，能够实时检测X射线管内部轴承的温度，系统的稳定性与可靠性进一步提升。

本发明提供一种X射线管测温系统，包括测温元件、处理器及X射线管，所述X射线管为上述任意一项所述的X射线管，所述测温元件的一端连接于所述处理器，另一端伸入所述测温槽内。

本发明提供的X射线管测温系统，能够直接检测X射线管内部的轴承的工作温度，并通过处理器将测温元件检测出的模拟信号处理为数字信号，以便于进行后续的处理、运算以及监控。

进一步地，为了便于处理器的信号处理，所述X射线管测温系统还包括放大器，所述测温元件通过所述放大器连接至所述处理器。

如此设置，测温元件所反馈的模拟信号能够通过放大器的放大作用后再传递至处理器处，使得处理器能够较佳的处理该模拟信号。

进一步地，为了提高检测精度，所述测温元件包括安装座及探针，所述安装座的一端抵持并固定于所述轴承套内，所述探针设置于所述安装座上并且伸入所述测温槽内；所述X射线管测温系统还包括密封件，所述密封件密封所述测温槽。

如此设置，处于测温槽内的探针能够在封闭环境下进行温度检测，减少了外部环境对探针测温精度的干扰，提高了X射线管测温系统的测温精度。

进一步地，为了提高检测精度，所述探针与所述测温槽的底壁相接触设置。

如此设置，探针可以通过导热的方式直接感测轴承的温度，有助于提高探针的探温精度，避免了探针在与测温槽的各个壁面相间隔设置时辐射测温上的误差。

本发明提供一种X射线管轴承测温方法，用于测量X射线管中轴承的温度，所述X射线管的轴承套与管壳之间形成封闭的真空空间，所述轴承套上开设有与所述真空空间相隔离设置的测温槽，测温元件连接于处理器；所述X射线管轴承测温方法包括：

将所述测温元件伸入所述测温槽内；

通过所述测温元件检测所述轴承的温度并传递于所述处理器。

本发明提供的X射线管轴承测温方法，能够实时检测X射线管内部轴承的温度，具有广泛的应用前景。

进一步地，为了便于处理器的信号处理，所述测温元件与处理器之间还设置有放大器，所述通过所述测温元件检测所述轴承的温度并传递于所述处理器的步骤包括：

通过所述测温元件检测所述轴承的温度，并通过所述放大器传递于所述处理器。

如此设置，测温元件所反馈的模拟信号能够通过放大器的放大作用后再传递至处理器处，使得处理器能够较佳的处理该模拟信号。

进一步地，为了提高检测精度，所述测温元件包括安装座及探针，所述安装座抵持并固定于所述安装座上，所述探针设置于所述安装座上并且伸入所述测温槽内；所述将所述测温元件伸入所述测温槽内的步骤包括：

将所述测温元件伸入所述测温槽内，并使所述测温元件的探针接触所述测温槽的底壁。

如此设置，探针可以通过导热的方式直接感测轴承的温度，有助于提高探针的探温精度，避免了探针在与测温槽的各个壁面相间隔设置时辐射测温上的误差。

进一步地，为了提高检测精度，所述测温元件与轴承套之间还设置有密封件；所述将所述测温元件伸入所述测温槽内的步骤包括：

将所述测温元件伸入所述测温槽内，并通过所述密封件密封所述测温槽。

如此设置，探针可以通过导热的方式直接感测轴承的温度，有助于提高探针的探温精度，避免了探针在与测温槽的各个壁面相间隔设置时辐射测温上的误差。

附图说明

图1为本发明一个实施方式中X射线管以及具有该X射线管的X射线管测温系统的结构示意图；

图2为图1所示X射线管在A处的放大示意图；

图3为图1所示X射线管在B处的放大示意图；

图4为图1所示X射线管在C处的放大示意图；

图5为本发明提供的X射线管轴承测温方法的流程示意图。

主要元件符号说明

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，当组件被称为“装设于”另一个组件，它可以直接装设在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“固定于”另一个组件，它可以是直接固定在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1，图1为本发明一个实施方式中X射线管100以及具有该X射线管100的X射线管测温系统200的结构示意图。

X射线管100用于发射X射线，其能够利用加速后的电子撞击金属靶，通过电子在撞击过程中的动能损失将电子的部分能量(约为其中的1％)以光子的形式放出(制动辐射)，从而发射出具有连续X光光谱的X射线。又或者通过电子对金属原子内层电子的撞出以使得原子的外层电子能够向内层跃迁(特性辐射)，从而发射出具有特性X光光谱(特性辐射)的X射线。

本实施方式中，X射线管100应用至医学成像设备中，其既可以用于单模态的医学成像设备的X射线发射，如CT机、CR机以及DR机等；还可以用于多模态医疗成像设备的X射线发射，如PET/CT机等。

可以理解，本发明并不限制X射线管100仅能够应用至医学成像设备中；在其他的实施方式中，X射线管100还可以应用工业探伤、安全检测、生物大分子分析、X射线卫星导航等领域中。

具体地，X射线管100包括管壳10、阴极组件20以及阳极组件30，管壳 10的内部形成封闭的真空空间11，阳极组件30与阴极组件20均容置于管壳10 内部的真空空间11内，且阳极组件30与阴极组件20之间相对设置。

管壳10用于容置和承载阴极组件20与阳极组件30，阴极组件20用于发射电子束，阳极组件30用于承受阴极组件20发射的电子束。阴极组件20发射的电子束在管壳10所提供的真空空间11下以低损耗的状态传输，并在外加电场的作用下经过加速轰击至阳极组件30的表面，利用特性辐射或者制动辐射的原理发射出X射线。

就管壳10本身的结构而言，其可以采用常规结构。其既可以采用玻璃，也可以采用陶瓷或者金属等除玻璃之外的其他材料，只要管壳10本身能够形成封闭的真空环境即可。

阴极组件20包括灯丝(未标号)以及灯丝驱动电路(图未示)，灯丝驱动电路连接于灯丝，其用于为灯丝供电，从而驱动灯丝发射电子束。灯丝的结构可以为螺旋线圈、D形、平面发射体等，只要其能在通电后实现电子束的发射即可。灯丝的材料可以是钨或者其他通电后能够发射电子束的材料。

灯丝在灯丝驱动电路的驱动作用下产生高温(一般大于2000K)，此时灯丝的表面电子因为高温而具有足够的逸出能量，并通过热运动的形式逸出灯丝的表面，从宏观上即表现为灯丝发射出电子束。

阳极组件30包括靶盘31、转轴32、轴承33以及轴承套34，靶盘31与灯丝相对设置并连接于转轴32，轴承33设置于转轴32与轴承套34之间，轴承套 34固定连接于管壳10且轴承套34的内壁套设轴承33。

靶盘31用于接收并承受灯丝所发射出的电子束，靶盘31上直接承受电子束轰击的表面(常被称为焦点)即产生和发射X射线；转轴32用于驱动靶盘 31转动；轴承33用于支撑转轴32，并使得转轴32能够以较小的摩擦系数进行转动；轴承套34用于实现阳极组件30在管壳10上的固定设置，并且为轴承33 提供安装设置的空间。转轴32在外部驱动源的驱动作用下转动，并在轴承33 的润滑以及减摩擦作用下带动靶盘31转动，从而实现靶盘31相对灯丝的快速转动。

本发明提供的X射线管100为旋转阳极X射线管，其内部的灯丝所发射出的电子束轰击靶盘31的表面，在遭遇到靶盘31表面的阻挡后将自身的绝大部分动能(99％以上)以热能的逸散掉；由于靶盘31的高速旋转，靶盘31上直接承载电子束的焦点位置不停转换，从而提高了散热效果并且延长了靶盘31的寿命，这也是旋转阳极X射线管能够逐步取代固定阳极X射线管的直接原因。

靶盘31的本身形状既可以采用盘状，也可以采用柱状等其他形状。为了增加靶盘31的导热效率，靶盘31的内部可设为中空，且相应填充有用于增加散热效果的材料。由于靶盘31在承载电子束轰击时会集聚大量的热量，靶盘31 的工作温度一般在1200℃以上，甚至会达到1800℃。因此靶盘31的材料优选铜、钻、镍、铁、铝等具有较佳传热性以及高熔点的合金材料。

本实施方式中，靶盘31与灯丝偏心设置，也即灯丝并不与靶盘31的轴心(也即转轴32的轴心)相对设置，而是与靶盘31的轴心偏心设置。此时靶盘 31的轰击承受区域具有较大回转线速度，散热效果较佳。

转轴32具有连接于靶盘31的第一端321以及与第一端321相背设置的第二端322，第一端321相对远离轴承套34，第二端322相对靠近轴承套34。转轴32抵持于轴承33，并在轴承33的支撑下相对轴承33转动并带动靶盘31旋转。

本实施方式中，转轴32的第一端321不与靶盘31直接连接，而是通过连接件323连接至靶盘31。连接件323沿转轴32的轴向延伸并相间隔地包覆转轴 32、轴承33以及轴承套34，从而进一步地保护转轴32、轴承33以及轴承套34，并且使得转轴32与靶盘31之间的转动磨损可由方便替换的连接件323承受，以降低成本，提高产品竞争力。

轴承33包括外圈331以及滚动体332，滚动体332的一端嵌设于转轴32内，滚动体332的另一端抵接轴承33的外圈331。轴承33的外圈331固定于轴承套 34上，从而实现轴承33在轴承套34上的固定安装。

本实施方式中，轴承33为球轴承，此时滚动体332为球体；可以理解，在其他的实施方式中，轴承33还可以采用圆锥滚子轴承、深沟球轴承等除球轴承之外的其他类型的轴承，只要该轴承能够实现对转轴32的支撑和减磨即可，此时滚动体332对应调节为圆锥滚子等其他类型的滚动元件。

可以理解的是，轴承33还可以设置保持架(图未示)；若有必要，轴承33 还可以进一步设置内圈(图未示)，该内圈与滚动体332抵接并且固定连接于转轴32。这些结构均为轴承的常见选型，在此不作赘述。

本实施方式中，轴承33的数量为两个，分别为设置于转轴32中第一端321 上的第一轴承333以及设置于转轴32中第二端322上的第二轴承334。可以理解，在其他的实施方式中，轴承33的数量还可以设置为三个以上，只要其能够满足当时的工况要求即可。

轴承套34固定连接于管壳10，从而将阳极组件30固定设置在管壳10的内部。轴承套34相间隔地套设转轴32并且直接承载轴承33的外圈331。由于轴承33的数量至少为两个，轴承套34直接承载并且固定连接于第一轴承333的外圈331与第二轴承334的外圈331。

可以理解，若轴承33的数量进一步增多，轴承套34将同时承载更多轴承 33的外圈331。

本实施方式中，轴承套34参与管壳10的密封，轴承套34的一端密封管壳 10的开口，从而使得管壳10形成封闭空间。此时管壳10再通过外部抽真空装置将内部环境调节为真空环境。当然，在其他的实施方式中，轴承套34也可以并直接封堵管壳10的开口，管壳10的开口也可由其他的功能附件负责封闭。

可以理解，X射线管100的内部还会设置供X射线外射的窗口结构、驱动转轴32转动的驱动结构等功能部件，这些功能部件并非本发明的重点，在此不作赘述。

由于转轴需要驱动靶盘在2800r/min以上的高转速下旋转，会使得轴承服役于极度高温的工作环境下。当轴承的工作温度超过滚动体表面上的固定镀层或者其他结构的熔点时，轴承的表面固定镀层或者其他结构会发生熔化，破坏自身的结构并且威胁X射线管以及医学成像设备的正常工作。轴承工作温度的实时测量成为X射线管提高安全性的必要手段。

但是由于X射线管内的靶盘、转轴、轴承等元件均处于真空环境内，传统轴承温度测量在面对真空环境下的检测工况时，要么在检测精度上无法保证，要么会破坏X射线管的真空环境，在可行性上相对欠缺。例如传统的红外线非接触测量，会由于管壳、轴承套的阻隔而精度急剧降低；直接接触式的测量又难以靠近轴承，更会破坏真空环境，不具有可行性。

本发明提供的X射线管100，通过在轴承套34上开设测温槽40，使得外部测温元件210能够通过伸入测温槽40内部从而相对靠近轴承33。由于测温槽 40为凹槽，其一端仅与外部环境相连通，与X射线管100内部的真空空间11 相隔离，因此测温槽40的开设并不会破坏X射线管100内部的真空环境。在测温槽40的开设下，外部测温元件210能够伸入测温槽40的内部并且检测到轴承33的温度，从而实现了对X射线管100内部轴承33的温度测量。

需要说明的是，本发明并不限制外部测温元件210与测温槽40之间的连接状态；外部测温元件210伸入测温槽40的内部，既可以固设在测温槽40内，也可以活动设置于测温槽40内。

本发明提供的X射线管100通过在轴承套34上开设测温槽40，使得自身内部的轴承33的温度处于可测温的状态；又由于轴承套34并非X射线管100 内部的运动部件，X射线管100能够实现在工作状态下的实时测温，克服了传统X射线管100无法进行高精度实时温度检测的弊端。

请一并参阅图2至图4，图2为图1所示X射线管100在A处的放大示意图，图3为图1所示X射线管100在B处的放大示意图，图4为图1所示X射线管100在C处的放大示意图。

在本发明的一个实施方式中，测温槽40包括第一测温槽41，第一测温槽 41自轴承套34的表面延伸至第一轴承333处，第一测温槽41供外部测温元件 210伸入，以使得外部测温元件210能够检测第一轴承333的温度；及/或，

测温槽40包括第二测温槽42，第二测温槽42自轴承套34的表面延伸至第二轴承334处，第二测温槽42供外部测温元件210伸入，以使得外部测温元件 210能够检测第二轴承334的温度。

需要说明的是，“第一测温槽41延伸至第一轴承333处”，指的是第一测温槽41延伸至外部测温元件210能够检测到第一轴承333的位置，第一测温槽41 既可以延伸至与第一轴承333相平齐的位置，还可以超过或者还未达到第一轴承333的装设位置。

同样的，“第二测温槽42延伸至第二轴承334处”，指的是第二测温槽42 延伸至外部测温元件210能够检测到第二轴承334的位置，第二测温槽42既可以延伸至与第二轴承334相平齐的位置，还可以超过或者还未达到第二轴承334 的装设位置。

从延伸长度上看，由于第二轴承334相对靠近轴承套34的端面位置，因此第二测温槽42的延伸长度相对小于第一测温槽41的延伸长度。如此设置，测温槽40能够实现对处于不同位置上的轴承33的温度测量。

在本发明的一个实施方式中，测温槽40的延伸方向与转轴32的轴向相平行设置。转轴32的轴向也即靶盘31的中心轴线方向，将测温槽40的延伸方向设置为与转轴32的轴向相平行，可以便于测温槽40的开设，同时便于外部测温元件210伸入测温槽40的内部。

本发明还提供一种应用上述X射线管100的医学成像系统(图未示)，该医学成像系统通过利用上述的X射线管100发射出X射线，并通过X射线辐照人体并形成医学影像。本发明提供的医学成像系统通过采用上述的X射线管100，能够实时检测X射线管100内部轴承33的温度，系统的稳定性与可靠性进一步提升。

本发明还提供一种应用上述X射线管100的X射线管测温系统200，X射线管测温系统200除了包括上述的X射线管100以外，还包括处理器220以及设置于X射线管100中测温槽40内部的测温元件210。

本实施方式中，测温元件210与处理器220之间通过线媒230实现电连接/ 通信连接。可以理解，本发明并不限制测温元件210与处理器220之间的传输方式，测温元件210与处理器220之间还可以通过蓝牙传输等无线传输的方式实现通信连接。

需要说明的是，本文所称“测温元件210连接于处理器220”，指的是测温元件210能够与处理器220之间发生信号耦合，并非要求测温元件210需要机械连接于处理器220。

本发明提供的X射线管测温系统200，能够直接检测X射线管100内部的轴承33的工作温度，并通过处理器220将测温元件210检测出的模拟信号处理为数字信号，以便于进行后续的处理、运算以及监控。

在本发明的一个实施方式中，X射线管测温系统200还包括放大器240，测温元件210通过放大器240连接至处理器220。放大器240的设置，使得测温元件210所反馈的模拟信号能够通过放大器240的放大作用后再传递至处理器220 处，使得处理器220能够较佳的处理该模拟信号。

在本发明的一个实施方式中，测温元件210包括安装座250以及安装于安装座250上的探针260，安装座250的一端抵持轴承套34的端面并且通过胶固、螺接等方式固定在轴承套34的端面上，探针260伸入测温槽40的内部；X射线管测温系统200还包括密封件270，密封件270设置于安装座250与轴承套 34之间，密封件270能够密封测温槽40。

密封件270可以采用橡胶密封圈，也可以采用硅胶密封圈等除橡胶密封圈之外的其他密封元件。密封件270的设置，使得处于测温槽40内的探针260能够在封闭环境下进行温度检测，减少了外部环境对探针260测温精度的干扰，提高了X射线管测温系统200的测温精度。

在本发明的一个实施方式中，测温槽40具有底壁43，探针260的端部与测温槽40的底壁43相接触。此时探针260可以通过导热的方式直接感测轴承33 的温度，有助于提高探针260的探温精度，避免了探针260在与测温槽40的各个壁面相间隔设置时辐射测温上的误差。

请一并参阅图5，图5为本发明提供的X射线管轴承测温方法的流程示意图。本发明还提供一种X射线管轴承测温方法，所述X射线管轴承测温方法用于测量X射线管中轴承的温度。所述X射线管的轴承套与所述X射线管的管壳之间形成封闭的真空空间，所述轴承套上开设有与所述真空环境相隔离设置的测温槽，测温元件以电连接或者通信连接的方式连接于处理器并能够与处理器发生信号耦合，所述X射线管轴承测温方法包括：

S51：将所述测温元件伸入所述测温槽内。具体地，所述测温元件在测温槽内，既可以采用固定安装的方式，也可以采用活动设置的方式，只要所述测温元件能够伸入所述测温槽并且检测到所述轴承的温度即可。

S52：通过所述测温元件检测所述轴承的温度并传递于所述处理器。具体地，所述测温元件检测所述轴承的温度并将产生的模拟信号传递至所述处理器处，所述处理器接收并处理所述测温元件发出的信号，从而完成对轴承温度的检测。

本发明提供的X射线管轴承测温方法通过在所述轴承套上开设测温槽，可以使得X射线管内部的轴承温度处于可测的状态；又由于轴承套并非X射线管内部的运动部件，X射线管能够实现在工作状态下的实时测温，克服了传统X 射线管无法进行高精度实时温度检测的弊端。

在本发明的一个实施方式中，所述测温元件与处理器之间还设置有放大器，所述步骤S52包括：

S521：通过所述测温元件检测所述轴承的温度，并通过所述放大器传递于所述处理器。

此时所述X射线管轴承测温方法包括：

S51：将所述测温元件伸入所述测温槽内。

S521：通过所述测温元件检测所述轴承的温度，并通过所述放大器传递于所述处理器。

放大器的设置，使得测温元件所反馈的模拟信号能够通过放大器的放大作用后再传递至处理器处，使得处理器能够较佳的处理该模拟信号。

在本发明的一个实施方式中，所述测温元件包括安装座及探针，所述安装座抵持并固定于所述安装座上，所述探针设置于所述安装座上并且伸入所述测温槽内；所述步骤S51包括：

S511：将所述测温元件伸入所述测温槽内，并使所述测温元件的探针接触所述测温槽的底壁。

此时所述X射线管轴承测温方法包括：

S511：将所述测温元件伸入所述测温槽内，并使所述测温元件的探针接触所述测温槽的底壁。

S52：通过所述测温元件检测所述轴承的温度并传递于所述处理器。

探针可以通过导热的方式直接感测轴承的温度，有助于提高探针的探温精度，避免了探针在与测温槽的各个壁面相间隔设置时辐射测温上的误差。

在本发明的一个实施方式中，所述测温元件与轴承套之间还设置有密封件；所述步骤S51包括：

S512：将所述测温元件伸入所述测温槽内，并通过所述密封件密封所述测温槽。

此时所述X射线管轴承测温方法包括：

S512：将所述测温元件伸入所述测温槽内，并通过所述密封件密封所述测温槽。

S52：通过所述测温元件检测所述轴承的温度并传递于所述处理器。

密封件的设置，使得处于测温槽内的探针能够在封闭环境下进行温度检测，减少了外部环境对探针测温精度的干扰，提高了X射线管测温系统的测温精度。

本发明提供的X射线管轴承测温方法通过在所述轴承套上开设测温槽，可以使得X射线管内部的轴承温度处于可测的状态；又由于轴承套并非X射线管内部的运动部件，X射线管能够实现在工作状态下的实时测温，克服了传统X 射线管无法进行高精度实时温度检测的弊端。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围内，对以上实施方式所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围内。

Claims (12)

1.一种X射线管(100)，包括管壳(10)、转轴(32)、轴承(33)以及轴承套(34)，所述轴承(33)套设所述转轴(32)，所述轴承套(34)套设所述轴承(33)，所述轴承套(34)固定设置于所述管壳(10)内并与管壳(10)之间形成封闭的真空空间(11)；其特征在于，所述轴承套(34)上开设有与所述真空空间(11)相隔离设置的测温槽(40)，所述测温槽(40)供测温元件(210)伸入以使所述测温元件(210)能够检测到所述轴承(33)的温度。

2.如权利要求1所述的X射线管(100)，其特征在于，所述转轴(32)具有沿轴向相对远离所述轴承套(34)的第一端(321)以及沿轴向相对靠近所述轴承套(34)的第二端(322)；

所述轴承(33)包括第一轴承(333)，所述第一轴承(333)设置于所述第一端(321)上，所述测温槽(40)包括第一测温槽(41)，所述第一测温槽(41)延伸至所述第一端(321)处；及/或，

所述轴承(33)包括第二轴承(334)，所述第二轴承(334)设置于所述第二端(322)上，所述测温槽(40)包括第二测温槽(312)，所述第二测温槽(312)延伸至第二轴承(334)处。

3.如权利要求1所述的X射线管(100)，其特征在于，所述测温槽(40)的延伸方向与所述转轴(32)的轴向相平行设置。

4.一种医学成像设备，包括X射线管，其特征在于，所述X射线管为权利要求1至3中任意一项所述的X射线管(100)。

5.一种X射线管测温系统(200)，包括测温元件(210)、处理器(220)及X射线管，其特征在于，所述X射线管为权利要求1至3中任意一项所述的X射线管(100)，所述测温元件(210)的一端连接于所述处理器(220)，另一端伸入所述测温槽(40)内。

6.如权利要求5所述的X射线管测温系统(200)，其特征在于，所述X射线管测温系统(200)还包括放大器(240)，所述测温元件(210)通过所述放大器(240)连接至所述处理器(220)。

7.如权利要求5所述的X射线管测温系统(200)，其特征在于，所述测温元件(210)包括安装座(250)及探针(260)，所述安装座(250)的一端抵持并固定于所述轴承套(34)内，所述探针(260)设置于所述安装座(250)上并且伸入所述测温槽(40)内；所述X射线管测温系统(200)还包括密封件(270)，所述密封件密封所述测温槽(40)。

8.如权利要求7所述的X射线管测温系统(200)，其特征在于，所述探针(260)与所述测温槽(40)的底壁(43)相接触设置。

9.一种X射线管轴承测温方法，用于测量X射线管中轴承的温度，其特征在于，所述X射线管的轴承套与管壳之间形成封闭的真空空间，所述轴承套上开设有与所述真空空间相隔离设置的测温槽，测温元件连接于处理器；所述X射线管轴承测温方法包括：

将所述测温元件伸入所述测温槽内；

通过所述测温元件检测所述轴承的温度并传递于所述处理器。

10.如权利要求9所述的X射线管轴承测温方法，其特征在于，所述测温元件与处理器之间还设置有放大器，所述通过所述测温元件检测所述轴承的温度并传递于所述处理器的步骤包括：

通过所述测温元件检测所述轴承的温度，并通过所述放大器传递于所述处理器。

11.如权利要求9所述的X射线管轴承测温方法，其特征在于，所述测温元件包括安装座及探针，所述安装座抵持并固定于所述安装座上，所述探针设置于所述安装座上并且伸入所述测温槽内；所述将所述测温元件伸入所述测温槽内的步骤包括：

将所述测温元件伸入所述测温槽内，并使所述测温元件的探针接触所述测温槽的底壁。

12.如权利要求9所述的X射线管轴承测温方法，其特征在于，所述测温元件与轴承套之间还设置有密封件；所述将所述测温元件伸入所述测温槽内的步骤包括：

将所述测温元件伸入所述测温槽内，并通过所述密封件密封所述测温槽。

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