CN102224557A - 具有靶标温度传感器的x射线管 - Google Patents

具有靶标温度传感器的x射线管 Download PDF

Info

Publication number
CN102224557A
CN102224557A CN2009801468711A CN200980146871A CN102224557A CN 102224557 A CN102224557 A CN 102224557A CN 2009801468711 A CN2009801468711 A CN 2009801468711A CN 200980146871 A CN200980146871 A CN 200980146871A CN 102224557 A CN102224557 A CN 102224557A
Authority
CN
China
Prior art keywords
target
ray tube
supplemantary electrode
temperature
electron
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2009801468711A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102224557B (zh
Inventor
R·K·O·贝林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of CN102224557A publication Critical patent/CN102224557A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102224557B publication Critical patent/CN102224557B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/36Temperature of anode; Brightness of image power
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/24Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof
    • H01J35/26Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof by rotation of the anode or anticathode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/12Cooling
    • H01J2235/1204Cooling of the anode

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

提出了一种X射线管(1)、包括X射线管的医学设备(21)、程序要素和计算机可读介质。该X射线管包括当电子束(7)撞击到焦斑(9)上时适于生成X射线的靶标(3),以及附加电极(11)。该附加电极(11)被布置为并适于测量来自该靶标(3)的热离子电子发射。该X射线管适于基于由该附加电极(11)测量的热离子电子发射来提供与该靶标的温度相关的信号。该医学设备(21)包括根据本发明的X射线管(1),和与该X射线管连接的温度评估单元(23)。

Description

具有靶标温度传感器的X射线管
技术领域
本发明涉及:X射线管以及包括这种X射线管的医学设备,用于控制这种X射线管的程序要素和计算机可读介质。具体而言,本发明涉及包括靶标温度传感器的X射线管。
背景技术
X射线管例如用于CT系统,在该CT系统中X射线管围绕患者旋转,生成X射线扇束,其中探测器系统与该X射线管相对并与该X射线管一起在扫描架转子上旋转,该探测器系统将探测到的X射线转换为电信号。基于这些电信号,计算机系统可以重建患者身体的图像。
在X射线管中,从阴极发射的初级电子束碰撞靶标的焦斑并产生X射线。在那里,入射电子能量的主要部分转换为热能。
当前的大功率X射线管通常可在其材料相关限度下工作。尤其是靶标可能一直处于由过热引起损坏的风险中。
通常为了防止靶标和X射线管的损坏,不断地监视靶标的温度是有益的。这种监视将有助于对患者、放射线医生和成像装置的保护。
一些传统的管设计适于借助于,例如热辐射探测器或者红外光探测器来测量靶标的温度。
然而,这种测量技术在构造方面是复杂的并且很昂贵。此外,尤其是在电噪声环境中,或者当由于管寿命期间的气相淀积导致诸如玻璃窗的光学元件的质量恶化时,很难获得鲁棒性信号。
发明内容
可能需要提供一种至少部分克服以上提及的问题的X射线管。具体而言,可能需要提供一种其中可以有效地测量靶标温度的X射线管。此外,可能需要提供一种构造简单的X射线管,从而减少制造和维护的费用。
可以通过根据独立权利要求的主题来满足这些需要。在从属权利要求中描述了本发明的有利实施例。
根据本发明的第一方面,提供一种X射线管,该X射线管包括当电子束撞击到焦斑上时适于生成X射线的靶标,和附加电极。其中,该附加电极被布置为并适于测量来自该加热靶标的热离子电子发射。
提供一种适于间接测量靶标的局部温度的X射线管可视为是本发明第一方面的要点。因此该X射线管可以适于借助于另外的电极来测量电子,其中当该靶标被电子束轰击以便生成X射线辐射时由于热离子电子发射效应导致可能从靶标热发射所述电子。
换言之,本发明的第一方面可视为基于以下观念:提供一种X射线管,其适于通过测量由于热离子电子发射效应导致从靶标发射的电子来间接测量例如靶标的温度。由于来自靶标本身的电子热发射可能依赖于该靶标的温度,因此可以从由附加电极探测到的电子流来导出靶标的温度。
根据本发明的X射线管可以用于常规X射线装置、计算机断层摄影系统或者任意其他需要X射线管的装置、系统或者设备。
根据本发明的X射线管可以用于医院或者医学实践以及用于非破坏性的测试。
以下将详细地说明根据本发明第一方面的X射线管的可能细节、特征和优点。
X射线管可以是阳极接地管,这意味着在该X射线管中所包含的阳极可以是接地的,阴极则可以被施加负高电压。该负高电压的范围可以优选为-40kV到-150kV。
术语“电子束”可以表示例如可以通过用于在X射线管内部产生电子的热阴极生成的多个电子。由于热阴极和阳极之间的电势差导致这些电子可以向着例如阳极加速。
可以如此放置靶标以使得被加速的电子撞击到该靶标上。
该靶标通常可以是包括或者涂有诸如钨的靶标材料的固体。该靶标可是旋转的。该靶标和阳极可是一个并且是同一个设备,并且通常被称为靶标阳极。然而,具有单独的阳极和单独的靶标也是可能的。
电子束可以撞击到靶标上的焦斑处。术语“焦斑”可以表示当X射线管工作时被聚焦电子束轰击的靶标表面的特定区域。在焦斑处,该束通常具有最高的集中功率水平。因此在焦斑处,该靶标可以被强烈加热至远高于2000℃的温度。
在旋转靶标的情况下,该焦斑可以位于靶标的边缘。由于旋转,由电子束撞击引起的来自焦斑的热量可以被分散在靶标的整个边缘上。
由于电子与靶标材料的相互作用导致可以生成X射线。此外,由于热离子电子发射效应导致可能从靶标发射电子,尤其在靠近焦斑的具有超过例如1900℃高温的区域。此外,反冲电子或者背向散射电子可能从该靶标发射,尤其在焦斑的直接邻近区域处或者之内。
优选的,可以由附加电极探测由于热离子电子发射效应导致发射的电子。其中,电子的热离子发射率可能主要依赖于靶标的温度,例如,随着靶标温度的增高而指数增长。
附加电极可以是简单的导线或者板,例如,包括诸如金属的导电材料。该附加电极可以布置在X射线管之内的位置处,从而使得从靶标发射的电子可以撞击该附加电极。
根据本发明的实施例,X射线管适于基于由附加电极测量的热离子电子发射来提供与靶标的温度相关的信号。
热离子电子发射率可能主要依赖于靶标的局部温度。因此,在靶标的较高温度处,比在靶标的较低温度处发射更多的电子。由附加电极探测到的电子流可以代表可以提供关于靶标的局部温度信息的信号。
根据本发明的实施例,附加电极至少在部分时间相对于靶标电势处于正电势。
为了使用附加电极来探测从靶标发射的电子,有利的是附加电极可以相对于靶标具有正电势。可以通过在靶标和附加电极之间施加电压来实现附加电极相对于靶标的正电势。然后,附加电极可以吸引从靶标发射的带负电荷的电子。因此,原先未向着附加电极方向发射的电子同样可以被附加电极偏离和吸引,以便最终被附加电极捕获,从而有助于测量信号。
根据本发明的实施例,将附加电极布置于一位置处并距靶标一距离,从而使得在X射线管的工作期间,并且在该附加电极相对于靶标电势具有正电势时,该附加电极在焦斑的附近捕获从热区发射的电子。
由于在焦斑处存在背向散射电子和/或由于其他技术情况导致附加电极可能无法直接在焦斑处探测到由于热离子电子发射效应导致的从靶标发射的电子。鉴于此,可以将附加电极邻近热区(例如,焦斑轨迹)以在电子束撞击靶标的旁边小于例如几毫米的短距离处放置。为了测量热区的温度,附加电极可以优选被放置在热区之上大约0.2mm处,以提供足够高的牵引力场(pull-field),优选约1kV/mm,并克服了空间电荷限制。
使用旋转靶标时,热区或者之前的焦斑区域可以表示靶标正面的特定区域,由于对电子束的直接暴露而引起这一区域的加热,导致使该区域成为焦斑。由于该旋转,靶标的焦斑区域可能被旋转离开电子束并且靶标的新区域可能被旋转至该电子束中,从而使得这一新的区域可以代表当前焦斑。
然而,之前的焦斑区域可能仍然处于极高的温度,以及可以被附加电极探测到的热发射电子。
热区,也即之前的焦斑区域,以及当前的焦斑可以在靶标上紧密相邻,这意味着在它们之间可能具有很小的空间距离,例如几毫米,优选少于1mm。
根据本发明的实施例,附加电极与撞击电子束的焦点轨迹相对地放置。
使用旋转靶标时,术语“焦点轨迹”可以表示在X射线管的常规工作期间靶标的所有被电子束撞击的区域的总和。这些区域可以位于靶标正面上的、以靶标的旋转轴为中心的圆形路径上。
附加电极可能在焦点轨迹之上朝向靶标的正面。优选地,附加电极可以放置在焦点轨迹之上约0.2mm处。
根据本发明的实施例,将附加电极布置于一位置处并距焦斑一距离,从而使得在X射线管的工作期间,附加电极基本上不捕获从焦斑发射的背向散射电子。
从焦斑发射的背向散射电子可以使得由附加电极探测到的信号失真。背向散射电子无法有助于关于靶标温度的信息,因为背向散射的过程主要只依赖于初级电子束的能量而不是依赖于靶标的温度。
因此,为了允许例如甚至在工作期间而不只是在冷却时间期间的温度测量,附加电极可以通过距离和/或其他器件而屏蔽背向散射电子,以便避免由附加电极提供的由于所捕获电子导致的全部信号主要为不期望的背向散射电子捕获,或者至少被不期望的背向散射电子捕获干扰。因此,通过这种屏蔽电极提供的信号可以主要是由于来自温度相关热离子发射的电子导致的,并因而提供低噪声的温度指示信号。
可能期望的是附加电极只探测由于热离子效应导致发射的电子。使用用于为附加电极屏蔽背向散射电子的各种器件时,可能减少由附加电极探测到的背向散射电子的数量。然而,尽管使用了所有的屏蔽手段,但是一定数量的背向散射电子仍然可以被附加电极探测到,并使得信号失真。术语“‘基本上’不捕获背向散射电子”可以表示对背向散射电子的屏蔽是有效的,使得尽管存在背向散射残余电子,但是可以清楚地测量由于捕获热发射电子导致的实际信号,并且可以从其导出靶标的温度。
根据本发明的实施例,附加电极借助于散射电子捕获设备来屏蔽从焦斑发射的背向散射电子。
散射电子捕获设备可以具有任意期望的形状,包括例如用于屏蔽电子的壁。例如,散射电子捕获设备可以是可以布置在例如阴极和靶标之间的钟形设备,从而使该钟的底面可以平行于靶标可以旋转于其中的平面。散射电子捕获设备可以与该靶标具有一定距离从而使靶标的自由旋转成为可能。该钟形设备可以包括沿着其纵轴的通道,该通道允许电子束无障碍地撞击靶标。
散射电子捕获设备可以捕获从焦斑发射的背向散射电子。
附加电极可以优选布置在电子捕获设备的旁边,从而使该电子捕获设备布置在焦斑和该附加电极之间。可选地,附加电极可以布置在散射电子捕获设备本身的表面,该表面布置并取向为使得背向散射电子不能到达附加电极。
根据本发明的实施例,X射线管还包括分析单元,该分析单元适于通过利用在靶标和附加电极之间建立的二极管功能来导出与靶标温度相关的信号。
二极管的常规功能可以允许电流在一个方向上流过而阻碍相反的方向上的电流。靶标可以发射电子。由于附加电极相对于靶标的正电势,因此所发射的电子可以被附加电极捕获,这意味着可能发生从靶标向着附加电极的第一电子流。可以测量这一第一电子流。根据靶标的温度,可以发生更高或者更低的第一电子流。因此,第一电子流可以代表与靶标温度相关的可应用信号。
与之相反,如果靶标相对于附加电极具有中性电势或者负电势,那么从附加电极向着靶标的电子流通常不会发生,因为附加电极通常不适于发射电子。也不会发生从靶标向着附加电极的发射电子流,因为如果附加电极相对于靶标具有负电势的话,附加电极不可能吸引发射电子。相反,带负电荷的附加电极将排斥接近的电子,从而使甚至是向着附加电极方向飞行的热发射电子将通常不会达到附加电极。
无论如何,可以测量从靶标向着附加电极的第二电子流。这一第二电子流可以基于例如,反冲电子、背向散射电子或者尽管附加电极和靶标之间的相当小的电势差仍可到达附加电极的任意其他干扰电子。这些电子的动能可能远远大于随后由被施加于附加电极以用于温度测量的正电势所加速的热发射电子的能量。例如,反冲电子的动能范围可达150keV,而当用于温度测量的电势是最大值1keV时,被热发射和加速的电子可能具有最大值1keV。
由于所描述的依赖于施加到靶标和附加电极的电势而允许和不允许不同电子流的特性,因此靶标和附加电极的组合可以用作二极管。这一二极管功能可以用于提供温度指示信号,该信号主要清除了由于背向散射电子导致的干扰的影响。
出于这一目的,当将附加电极相对于靶标设置为正电势时,可以导出第一信号。所测量的第一电子流是由热发射电子和背向散射电子两者导致的。然后,当将附加电极相对于靶标设置为负电势时,可以导出第二信号。所测量的第二电子流则主要是由高能量的背向散射电子导致的。所测量的第一和第二电子流信号可以由分析单元接收。该分析单元可以包括于X射线管内部,或者可以布置在X射线管的外部。
可以通过从第一信号中减去第二信号而导出最终信号。该最终信号则可以主要代表由热离子发射导致的电子流,而没有背向散射电子的消极影响。
根据本发明的实施例,分析单元适于当附加电极相对于该靶标处于正电势时测量第一电子流;当附加电极相对于该靶标未处于正电势时测量第二电子流;以及基于所测量的第一和第二电子流来计算一值。
为了基于发射电子流来获得代表温度的有用信号,从例如反冲电子、背向散射电子或者任意其他干扰电子的背景信号中提取出这一信号可能是适用的。
因此,基于所测量的第一和第二电子流来计算一值可能是适用的。这种值可以例如是当附加电极相对于靶标处于正电势时所发射电子的电子流,其不受由反冲电子、背向散射电子或者任意其他干扰电子引起的干扰。这种值可以借助于分析单元获得,例如通过借助于分析单元建立第一和第二电子流之间的差别。
根据本发明的实施例,X射线管适于在靶标和附加电极之间施加交流电压。
在靶标和附加电极之间施加的电势可以是例如几百伏的交流电压。在靶标和附加电极处施加的这种交流电压可以实现附加电极相对于靶标周期性地处于正电势或者负电势。
由于施加于靶标和附加电极的交流电压的正半波,因此附加电极可以相对于靶标处于正电势。同时,由于热离子效应导致电子可以从靶标发射并被附加电极吸引。可以测量第一电子流。
由于施加于靶标和附加电极的交流电压的负半波或者零交点,因此附加电极可能相对于靶标不处于正电势。此外,如果完全没有交流电压施加于靶标和附加电极,那么附加电极可能相对于靶标不处于正电势。由于附加电极非正电势,因此所发射的电子可能不被附加电极捕获。可以测量包括背向散射电子等的第二电子流。
所施加的交流电压可以允许对多个第一和第二电子流的连续测量。因此,可以实现对温度相关信号的连续测量。
根据本发明的实施例,X射线管还包括用于控制施加于靶标和附加电极之间的电压的控制单元,其中该控制单元布置为远离附加电极。
控制单元可以控制,例如在什么时间靶标和附加电极可以呈现什么样的电势。此外,控制单元可以控制交流电压的频率、电压、电流和其他特性。
优选地,控制单元可以布置在X射线管的外部并相距X射线管一定距离,例如几米的距离。这种远离布置可以提供电压屏蔽并且可以帮助避免X射线管内部或者附近的电压波动,以便在管电弧放电的情况下保护控制单元的电子部件。
根据本发明的实施例,多个附加电极沿着靶标上的焦点轨迹放置以测量方位角温度曲线。
靶标的热梯度可能不同。因此,多于一个的附加电极可以沿着焦点轨迹布置以测量其方位角温度曲线。根据由附加电极接收的信号组可以计算焦斑温度和焦点轨迹的温度。能够使用实际数据校准热计算机模型。
根据本发明的第二方面,提供一种医学设备,该医学设备包括根据本发明第一方面的X射线管,以及与该X射线管连接的温度评估单元。
该温度评估单元可以适于进一步处理代表温度的信号,或者适于实现由那一信号导致的随后程序。例如,该温度评估单元可以将所测量的靶标温度可视化。可选地,该温度评估单元可以发送控制信号,例如以根据所测量的靶标温度来调节X射线管的功能。该温度评估单元可以实现X射线生成的开始、停止或者重新开始,以及改变管参数,例如管电压、管电流、阳极/靶标的旋转速度,等等。
控制信号的发送可以依赖于所测量靶标温度的某些阈值,例如,如果所测量的靶标温度超过某个阈值,那么X射线管的功率将被降低。
以此方式,可以阻止靶标和X射线管的温度的增高,可以允许靶标和X射线管冷却或者可以确保靶标和X射线管的恒定温度。
医学设备可以是常规X射线装置、计算机断层摄影系统或者需要X射线管的任意其他装置、系统或者设备。
根据本发明的第三方面,提供一种程序要素,其中该程序要素适于在根据本发明的第一方面的X射线管中测量靶标的温度,其中当被处理器执行时,该程序要素令该处理器执行步骤:控制该靶标和该附加电极之间的交流电势;当该附加电极相对于该靶标处于正电势时测量第一电子流;当该附加电极相对于该靶标未处于正电势时测量第二电子流;以及基于所测量的第一和第二电子流来计算一值。
程序要素可以优选被装载至处理器的工作存储器中。从而该处理器被装备为控制在根据本发明第一方面的X射线管中的靶标的温度测量。
根据本发明的第四方面,提供一种计算机可读介质,其上存储着根据本发明第三方面的程序要素。
计算机可读介质可以例如是CD-ROM或者存在于如万维网的网络中,并且能够从这种网络被下载至处理器的工作存储器中。
必须要注意的是,已经参考不同的主题来描述了本发明的方面、实施例和特征。具体而言,已经参考X射线管本身描述了一些特征和实施例,而相对于其操作或者使用描述了其他特征和实施例。然而,本领域技术人员将从以上和以下描述推断,除非另外告知,否则除了属于一种类型主题的特征的任意组合以外,同样与不同主题相关的特征之间的任意组合也被认为是被这一申请公开了。
本发明的以上定义方面和另外方面、特征和优点也能够从以下将描述的实施例的例子导出,并参考实施例的例子来说明。在下文中将参考实施例的例子来更加详细地描述本发明,但是本发明并不限于这些例子。
附图说明
图1示出了根据本发明实施例的X射线管的示意性表示;
图2示出了根据本发明实施例的X射线管的靶标区域的详细示意性表示,并结合了靶标温度的分布图;
图3示出了根据本发明实施例的X射线管的二极管功能的示意性表示;
图4示出了根据本发明实施例的X射线管的靶标的一部分的示意性表示,并结合了在这一部分中温度的分布图;
图5示出了根据本发明的医学设备和相关信号路径的例子。
应该注意的是,附图只是示意性的而不是成比例的。此外,在所有的附图中类似的附图标记表示类似的元件。
附图标记
1 X射线管
3 靶标
5 热阴极
7  电子束
9  焦斑
11 附加电极
12 分析单元
13 背向散射电子捕获设备
14 用于传送与温度相关的信号的线路
15 阳极的焦点轨迹
17 热离子电子发射
19 电阻器
20 电容器
21 CT扫描器
23 温度评估单元
25 用于传送控制信号的线路
27 辐射探测器
29 患者床
具体实施方式
图1示出了根据本发明实施例的X射线管的示意性表示。
热阴极5生成向着靶标3加速的电子。由于热阴极和靶标之间的电势差导致该电子可被加速。阳极和靶标可以是分离的设备,或者如图示,是一个并且同一个设备。靶标是旋转的。多个加速电子代表电子束7。该电子束撞击靶标上的焦斑9处。
由于电子与靶标材料的相互作用,生成X射线。此外,靶标材料被加热,并且由于热离子电子发射效应导致可以从该靶标发射更多的电子。
从该靶标发射的电子被附加电极11探测到。
背向散射电子捕获设备可以靠近该靶标的表面布置(在图1中未图示)。
X射线管可以包括分析单元12,该分析单元12能够放置在X射线管内部,或者如图示,放置在X射线管的外部。在X射线管内部,能够生成与温度相关的信号,并经由线路14将该信号传送至分析单元,以便随后在该分析单元12中处理该信号。
X射线管1可以是阳极接地管。
图2示出了根据本发明实施例的X射线管的靶标区域的详细示意性表示,并结合了靶标温度的分布图。
电子束7撞击靶标3上的焦斑9处。
图表中的横坐标代表各个靶标区域。纵坐标代表在各个靶标区域处的温度。
如该图表所图示,在焦斑处的温度达到大约3000℃。
用于探测由于热离子电子发射效应导致的从靶标发射的电子的该附加电极距焦斑一定距离定位。在那里,靶标的温度达到大约1900℃。
这意味着探测从靠近靶标焦斑的区域发射的电子。
除了由于热离子电子发射效应导致的从靶标发射的电子,反冲电子或者背向散射电子也可能从靶标发射。这种背向散射电子可能使得由附加电极探测到的信号失真。
因此,该附加电极由散射电子捕获设备13屏蔽。如图示,该散射电子捕获设备是靠近靶标的表面与电子束平行放置的钟形设备,从而使该钟的底面可以平行于靶标旋转于其中的平面。该散射电子捕获设备与该靶标具有一定距离,从而使靶标的自由旋转成为可能。该钟形设备包括沿着其长度轴的通道,该通道允许电子束无障碍地撞击靶标。
如图示,附加电极11布置在电子捕获设备13的旁边。
散射电子捕获设备13可以具有任意其他的可适用形式。
图3示出了根据本发明实施例的X射线管的二极管功能的示意性表示。
由于电子束撞击到靶标3以及因此的靶标的加热,因而在靶标旋转期间由于热离子电子发射效应导致该靶标沿着焦点轨迹15发射电子17。
当附加电极11相对于靶标3处于正电势时,该附加电极11捕获所发射的电子,并且能够测量从靶标3向着附加电极11的电子流。
当附加电极11不处于正电势时,靶标具有相对于该附加电极更加正的电势,从而使所发射的电子被向着靶标吸引。由于该附加电极就其本身而言由于热离子效应导致不适于发射电子,因此不会发生从附加电极11向着靶标3的电子流。
将具有-600到+600伏特幅度的交流电压施加于电阻器19。借助于电阻器19,将具有例如-600到+300伏特幅度的交流电压施加于附加电极11。在没有反冲电子的情况下,在负相时,经过电阻器19的电流基本为零,在正相时,电阻器19两端的电压代表热致电子电流,该热致电子电流流经附加电极11并将正电压从600V减少至只有300V。
如果反冲电子增加(其电流基本上不依赖于附加电极11处的电压,因为反冲电子以很高的动能碰撞,并且在负相期间小排斥场几乎不妨碍反冲电子到达附加电极),那么反冲电子的恒定电流叠加到热感应电子的交流电流上。电容器20分离出电阻器19两端的交流电压变化并仅将其递送给另外的测量电子器件,该交流电压变化代表经过附加电极11的电流的交流部分,并继而代表将要测量的热致信号。反冲电子的恒定电流由电容器电抑制。
图4示出了根据本发明实施例的X射线管的靶标的示意性部分,并结合了在这一部分中温度的分布图。
靶标的该部分图示了能够在钨靶标的焦斑处以及距该焦斑不同距离处测量的不同温度。在焦斑处,表面温度达到2760℃,其中在靶标的更深层处,该温度仅仅达到400℃。
图表图示了与钨靶标的不同温度相关的电子发射密度。例如,在靠近焦斑的表面区域处,温度达到1940℃。在存在1940℃温度的这一表面区域处,能够获得大约100mA/cm2的发射电流密度。
能够借助于附加电极11来探测这一发射电流密度。
图5示出了并入了根据本发明实施例的X射线管的医学设备和相关联的信号路径的例子。
该医学设备可以是CT扫描器21,包括:X射线管1、辐射探测器27、患者床29和温度评估单元23。该CT扫描器可以围绕被观察对象旋转,并且可以借助于使用探测器27的辐射探测来采集投影图像。根据本发明如以上描述的X射线管1能够用于测量靶标的温度。温度评估单元23经由线路14与该X射线管1连接,并且能够定位在X射线管的内部或者X射线管的外部。
温度评估单元23可以适于进一步处理代表靶标温度的信号,或者适于实现由于该信号导致的随后程序。
该温度评估单元可以经由线路25给X射线管发送控制信号,例如以根据所测量的靶标温度来调节X射线管的功能。
应该注意的是,术语“包括”不排除其他元件或者步骤,并且“一”或者“一个”不排除多个。同样,与不同实施例相关联描述的元件可以进行组合。同样应该注意的是,在权利要求中的附图标记不应被解释为限制权利要求的范围。

Claims (15)

1.一种X射线管(1),包括
靶标(3),其适于当电子束(7)撞击到焦斑(9)上时生成X射线;
附加电极(11);
其中,所述附加电极(11)被布置为并适于测量来自所述靶标(3)的热离子电子发射(17)。
2.如权利要求1所述的X射线管,
其中,所述X射线管(1)适于基于由所述附加电极(11)测量的热离子电子发射(17)来提供与所述靶标(3)的温度(14)相关的信号。
3.如权利要求1或2所述的X射线管,
其中,所述附加电极(11)至少在部分时间相对于所述靶标(3)的电势处于正电势。
4.如权利要求1-3之一所述的X射线管,
其中,所述附加电极(11)被布置于一位置并距所述靶标(3)一距离,从而使得在所述X射线管的工作期间,并且在所述附加电极(11)相对于所述靶标(3)的电势具有正电势时,所述附加电极捕获从所述焦斑(9)附近的热区发射的电子。
5.如权利要求1-4之一所述的X射线管,
其中,所述附加电极(11)与撞击电子束(7)的焦点轨迹(15)相对地放置。
6.如权利要求1-5之一所述的X射线管,
其中,所述附加电极(11)被布置于一位置并距所述焦斑(9)一距离,从而使得在所述X射线管的工作期间,所述附加电极(11)基本上不捕获从所述焦斑(9)发射的背向散射电子。
7.如权利要求1-6之一所述的X射线管,
其中,所述附加电极(11)借助于散射电子捕获设备(13)来屏蔽从所述焦斑(9)发射的背向散射电子。
8.如权利要求1-7之一所述的X射线管,
还包括分析单元(12),其适于通过利用所述靶标(3)和所述附加电极(11)之间建立的二极管功能来导出与所述靶标(3)的温度(14)相关的信号。
9.如权利要求8所述的X射线管,
其中,所述分析单元适于当所述附加电极(11)相对于所述靶标(3)处于正电势时测量第一电子流;
当所述附加电极(11)相对于所述靶标(3)未处于正电势时测量第二电子流;以及
基于所测量的第一和第二电子流来计算一值。
10.如权利要求1-9之一所述的X射线管,
其中,所述X射线管(1)适于在所述靶标(3)和所述附加电极(11)之间施加交流电压。
11.如权利要求1-10之一所述的X射线管,
还包括用于控制施加于所述靶标(3)和所述附加电极(11)之间的电压的控制单元,其中,所述控制单元被布置为远离所述附加电极(11)。
12.如权利要求1-11所述的X射线管,
其中,多个附加电极(11)沿着所述靶标(3)上的焦点轨迹(15)放置以测量方位角温度曲线。
13.一种医学设备(21),包括:
根据权利要求1-12之一所述的X射线管;
与所述X射线管连接的温度评估单元(23)。
14.一种用于测量根据权利要求1-12之一的X射线管中的靶标的温度的程序要素,
其中,当被处理器执行时,所述程序要素令所述处理器执行步骤:
控制所述靶标(3)和所述附加电极(11)之间的交流电势;
当所述附加电极(11)相对于所述靶标(3)处于正电势时测量第一电子流;
当所述附加电极(11)相对于所述靶标(3)未处于正电势时测量第二电子流;以及
基于所测量的第一和第二电子流来计算一值。
15.一种计算机可读介质,其上存储着根据权利要求14所述的程序要素。
CN200980146871.1A 2008-11-25 2009-11-19 具有靶标温度传感器的x射线管 Expired - Fee Related CN102224557B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP08169876.3 2008-11-25
EP08169876 2008-11-25
PCT/IB2009/055174 WO2010061325A1 (en) 2008-11-25 2009-11-19 X-ray tube with target temperature sensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102224557A true CN102224557A (zh) 2011-10-19
CN102224557B CN102224557B (zh) 2014-03-05

Family

ID=41660517

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200980146871.1A Expired - Fee Related CN102224557B (zh) 2008-11-25 2009-11-19 具有靶标温度传感器的x射线管

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8654924B2 (zh)
EP (1) EP2370988B1 (zh)
CN (1) CN102224557B (zh)
WO (1) WO2010061325A1 (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110168694A (zh) * 2017-12-31 2019-08-23 上海联影医疗科技有限公司 辐射发射设备
CN110473757A (zh) * 2019-08-21 2019-11-19 上海联影医疗科技有限公司 X射线管、医学成像设备、测温系统及轴承测温方法
CN110663289A (zh) * 2017-06-08 2020-01-07 皇家飞利浦有限公司 用于生成x射线的装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0525593D0 (en) 2005-12-16 2006-01-25 Cxr Ltd X-ray tomography inspection systems
US8243876B2 (en) 2003-04-25 2012-08-14 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US10483077B2 (en) 2003-04-25 2019-11-19 Rapiscan Systems, Inc. X-ray sources having reduced electron scattering
US9208988B2 (en) * 2005-10-25 2015-12-08 Rapiscan Systems, Inc. Graphite backscattered electron shield for use in an X-ray tube
GB0812864D0 (en) 2008-07-15 2008-08-20 Cxr Ltd Coolign anode
US9046465B2 (en) 2011-02-24 2015-06-02 Rapiscan Systems, Inc. Optimization of the source firing pattern for X-ray scanning systems
GB0901338D0 (en) 2009-01-28 2009-03-11 Cxr Ltd X-Ray tube electron sources
US20230066389A1 (en) * 2021-08-17 2023-03-02 Varian Medical Systems, Inc. Movable/replaceable high intensity target and multiple accelerator systems and methods

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR978570A (fr) * 1948-11-19 1951-04-16 Radiologie Cie Gle Tube à rayons chi auto-régulateur
WO2007110797A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-04 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Dual-colour pyrometric measurement of x-ray focal spot temperature

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3062960A (en) 1959-05-14 1962-11-06 Philips Corp Protective device for rotating anode tubes
DE2312336A1 (de) 1973-03-13 1974-09-19 Philips Patentverwaltung Anordnung zur messung der anodentemperatur einer roentgenroehre
US3836805A (en) * 1973-05-21 1974-09-17 Philips Corp Rotating anode x-ray tube
FR2565451B1 (fr) * 1984-05-30 1986-08-22 Thomson Cgr Procede de controle de la position du foyer d'un tube radiogene et dispositif de controle mettant en oeuvre ce procede
US4918714A (en) * 1988-08-19 1990-04-17 Varian Associates, Inc. X-ray tube exposure monitor
LU87595A1 (de) 1989-09-25 1991-05-07 Euratom Mehrwellenlaengen-pyrometer
DE4134126A1 (de) 1991-10-15 1993-04-22 Siemens Ag Roentgengenerator mit mitteln zum erfassen der temperatur der anode der roentgenroehre
US7075629B2 (en) * 2003-05-12 2006-07-11 Honeywell International Inc. High temperature pyrometer
CN1846621A (zh) * 2005-04-15 2006-10-18 株式会社东芝 Ct扫描机

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR978570A (fr) * 1948-11-19 1951-04-16 Radiologie Cie Gle Tube à rayons chi auto-régulateur
WO2007110797A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-04 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Dual-colour pyrometric measurement of x-ray focal spot temperature

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110663289A (zh) * 2017-06-08 2020-01-07 皇家飞利浦有限公司 用于生成x射线的装置
CN110663289B (zh) * 2017-06-08 2020-12-01 皇家飞利浦有限公司 用于生成x射线的装置
CN110168694A (zh) * 2017-12-31 2019-08-23 上海联影医疗科技有限公司 辐射发射设备
CN110473757A (zh) * 2019-08-21 2019-11-19 上海联影医疗科技有限公司 X射线管、医学成像设备、测温系统及轴承测温方法
CN110473757B (zh) * 2019-08-21 2021-11-02 上海联影医疗科技股份有限公司 X射线管、医学成像设备、测温系统及轴承测温方法

Also Published As

Publication number Publication date
US8654924B2 (en) 2014-02-18
EP2370988A1 (en) 2011-10-05
WO2010061325A1 (en) 2010-06-03
EP2370988B1 (en) 2014-07-30
US20110222662A1 (en) 2011-09-15
CN102224557B (zh) 2014-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102224557B (zh) 具有靶标温度传感器的x射线管
JP5797727B2 (ja) 分散型x線を発生するデバイス及びその方法
US20080260101A1 (en) Dual energy X-ray source
US8396185B2 (en) Method of fast current modulation in an X-ray tube and apparatus for implementing same
US6968039B2 (en) Focal spot position adjustment system for an imaging tube
US8477908B2 (en) System and method for beam focusing and control in an indirectly heated cathode
US8687769B2 (en) X-ray anode
US20110241575A1 (en) Pierce gun and method of controlling thereof
US9208986B2 (en) Systems and methods for monitoring and controlling an electron beam
US9251987B2 (en) Emission surface for an X-ray device
CN101313214A (zh) 用于复用计算机层析成像的方法、系统和计算机程序产品
CN104000616A (zh) 多放射线产生设备和放射线成像系统
TWI399780B (zh) 包含場發射陰極之x射線源
EP3597013B1 (en) Apparatus for generating x-rays
US20220086996A1 (en) System and method for providing a digitally switchable x-ray sources
US6341155B1 (en) Pulse detection system for X-ray tubes
JP2017135082A5 (ja) 電子銃、x線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム
CN114730681A (zh) 恒定放电电流泄放器
EP3648136A1 (en) X-ray tube for fast kilovolt-peak switching
JP2005347178A (ja) X線検査装置
Harper-Slaboszewicz et al. Effect of rod material on the impedance behavior of small aspect ratio rod pinches
Randall X-ray tube arrangement
JP2014130732A (ja) 放射線発生ユニット及び放射線撮影システム

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20140305

Termination date: 20151119

EXPY Termination of patent right or utility model