CN110441734B - 激光定位系统及使用此系统的位置测量方法 - Google Patents

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Abstract

一种激光定位系统，包括一激光扫描仪、一第一定位标签、一第二定位标签以及一处理单元。激光扫描仪设置于移动载具上，用以发射光束至一定位板，并接收定位板反射光束所产生的多个反射光点信号。第一定位标签及第二定位标签用以反射光束以产生第一定位信号与第二定位信号至激光扫描仪。处理单元用以寻找光束投射至第一定位标签与第二定位标签的位置信息，并通过过滤此些反射光点信号以定义一参考坐标，以供处理单元以参考坐标，计算激光扫描仪与定位板的相对位置。

Description

激光定位系统及使用此系统的位置测量方法
技术领域
一种激光定位系统及使用此系统的位置测量方法，且特别是有关于一种用以提高激光定位精度的激光定位系统及使用此系统的位置测量方法。
背景技术
随着时代演变，新的工业生产模式已由大量制造转为少量多样化的弹性制造，导致生产线换线频繁且需要具灵活弹性的自动化运载系统。无轨导引式AGV(AutomatedGuided Vehicle)为自动化物料传输中的重要载具，其具有不占空间、可弹性调整产线的优点。在技术方面，以激光、磁柱或二维条形码标签等方式来达成定位的目的。其中激光地图比对导引方式，在产线弹性调整方面有极大优势，其定位算法可以分为两部分：在整个环境中全局定位的算法和利用地标特征的细定位算法。而目前的地标仅使用形状来计算定位，但因为激光扫描仪信号本身存在噪声且激光打到地标形状边缘也会有噪声产生，想要达到定位精准度毫米级以下的定位不容易达成。
发明内容
本发明是有关于一种激光定位系统及其方法，主要是在激光定位板上贴上定位标签做为定位辅助标记，并通过算法计算激光扫描仪与定位板的间的相对位置及距离，以提高激光的定位精度。
根据本发明的一方面，提出一种激光定位系统，用以定位一移动载具，激光定位系统包括一定位板、一激光扫描仪、一第一定位标签、一第二定位标签以及一处理单元。激光扫描仪设置于移动载具上，用以发射一光束至定位板，并接收激光扫描仪由定位板的第一侧扫描至第二侧时，定位板反射光束所产生的多个反射光点信号。第一定位标签设置于定位板的第一侧处，用以反射光束以产生一第一定位信号至激光扫描仪。第二定位标签设置于定位板的第二侧处，用以反射光束以产生一第二定位信号至激光扫描仪。处理单元用以寻找光束投射至第一定位标签的位置及光束投射至第二定位标签的位置信息，并通过过滤此些反射光点信号以定义一参考坐标，以供处理单元以参考坐标，计算激光扫描仪与定位板的相对位置。
根据本发明的一方面，提出一种位置测量方法，用以定位一移动载具，移动载具上设有一激光扫描仪，激光定位方法包括下列步骤。激光扫描仪投射一光束在一第一定位标签、一定位板以及一第二定位标签上，以对应产生第一定位信号、多个反射光点信号以及第二定位信号，其中第一定位标签与第二定位标签设置于定位板的相对两侧。以一处理单元寻找光束投射至第一定位标签及第二定位标签的位置信息，并通过过滤此些反射光点信号以定义一参考坐标，以供处理单元以参考坐标，计算激光扫描仪与定位板的相对位置。
为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举实施例，并配合所附图式详细说明如下：
附图说明
图1绘示依照本发明一实施例的激光定位系统的示意图。
图2绘示依照本发明一实施例的利用反射光点信号及定位信号定义参考坐标的示意图。
图3A及3B分别绘示对应本发明不同实施例的定位板的正面示意图。
图4A及4B分别绘示依照本发明一实施例的位置测量方法的流程示意图。
图5A及5B分别绘示依照本发明另一实施例的定位板的正面示意图。
图6绘示依照本发明另一实施例的位置测量方法的流程示意图。
【符号说明】
100：激光定位系统
101、102、103：位置测量方法
110、110’：定位板
111、112：两个相对表面
120：激光扫描仪
121：发射中心位置
122：第一定位标签
124：第二定位标签
130：处理单元
132：光强度检测单元
134：噪声过滤单元
136：演算单元
M：移动载具
L：光束
S1：第一侧
S2：第二侧
B1：第一定位信号
B2：第二定位信号
B3：反射光点信号
L1：回归直线
L2：第一直线
L3：第二直线
CI：第一交点
C2：第二交点
O：中点
H：扫描光束
R：区间
具体实施方式
以下是提出实施例进行详细说明，实施例仅用以作为范例说明，并非用以限缩本发明欲保护的范围。以下是以相同/类似的符号表示相同/类似的组件做说明。
依照本发明一实施例的激光定位系统可用以定位一移动载具，移动载具例如是无人搬运车、无人飞机、自走式机器人或无人化运输装置等，通过本实施例的激光定位系统，可使移动载具在路面上、工厂内行走或在三维空间中飞行时可精确测量移动载具相对于目标物的距离或坐标，以确保移动载具能自主移动到工作站或停止在定位点上。
图1绘示依照本发明一实施例的激光定位系统100的示意图。图2绘示依照本发明一实施例的利用反射光点信号B3及定位信号B1、B2定义参考坐标的示意图。图3A至3B分别绘示对应本发明不同实施例的定位板110、110’的正面示意图。
请参照图1及2，在一实施例中，激光定位系统100包括一定位板110、一激光扫描仪120、一第一定位标签122、一第二定位标签124以及一处理单元130。激光扫描仪120设置于移动载具M上，用以发射一光束L至一定位板110，并接收激光扫描仪120由定位板110的第一侧S1扫描至第二侧S2时，定位板110反射光束L所产生的多个反射光点信号B3。第一定位标签122设置于定位板110的第一侧S1处，用以反射光束L以产生一第一定位信号B1至激光扫描仪120。第二定位标签124设置于定位板110的第二侧S2处，用以反射光束L以产生一第二定位信号B2至激光扫描仪120。
如上所述，本实施例的激光定位系统100是在定位板110的特定区域，例如是定位板110靠近边缘的第一侧S1与第二侧S2的区域，贴上具有反光或增强光反射信号强度的反光卷标或贴纸，做为第一定位标签122与第二定位标签124，或者，在定位板110的特定区域贴上具有吸光或减弱光反射信号强度的吸光卷标或贴纸，做为第一定位标签122与第二定位标签124，以使激光定位系统100能根据光反射信号强度判断光束L是否投射在第一定位标签122与第二定位标签124上。
在一实施例中，经由测量光反射信号强度，得知第一定位信号B1及第二定位信号B2的光强度大于反射光点信号B3的光强度(例如大于反射光点信号B3的光强度的两倍以上)，或小于反射光点信号B3的光强度(例如小于反射光点信号B3的光强度的一半)，以供激光定位系统100能清楚得知光束L投射在第一定位标签122与第二定位标签124的位置以及光束L投射在定位板110的各个反射光点的位置。
请参照图1及2，当激光扫描仪120由定位板110的第一侧S1扫描至第二侧S2时，光束L依序投射在第一定位标签122、定位板110以及第二定位标签124上，并依序产生第一定位信号B1、多个反射光点信号B3以及第二定位信号B2。其中，第一定位信号B1表示光束L投射至第一定位标签122的位置信息，通过计算光束L飞行时间及角度可得知激光扫描仪120相对于第一定位标签122的距离及角度，且光束L投射至第一定位标签122的位置必然位于第一定位标签122与激光扫描仪120的发射中心位置121相连形成的一第一直线L2上，以确定第一定位标签122与激光扫描仪120的相对位置。此外，第二定位信号B2表示光束L投射至第二定位标签124的位置信息，通过计算光束L飞行时间及角度可得知激光扫描仪120相对于第二定位标签124的距离及角度，且光束L投射至第二定位标签124的位置必然位于第二定位标签124与激光扫描仪120的发射中心位置121相连形成的一第二直线L3上，以确定第二定位标签124与激光扫描仪120的相对位置信息。
另外，反射光点信号B3表示光束L投射至定位板110的位置，通过计算光束L飞行时间及量角器可大概推估激光扫描仪120相对于定位板110上各个反射光点的距离及角度。若未设置第一定位标签122与第二定位标签124于定位板110上，仅通过反射光点信号B3推估激光扫描仪120相对于定位板110的各个反射光点的距离及角度时，由于靠近第一侧S1及第二侧S2处的反射光点信号B3在对象边缘容易产生噪声，因而无法精确地定位。本实施例的激光定位系统100通过设置第一定位标签122与第二定位标签124于定位板110上做为辅助定位标记，可过滤激光在边缘地区产生的噪声信号，找出特定区间R内的反射光点信号B3，以提高激光的定位精度。
请参照图1及2，处理单元130用以寻找光束L投射至第一定位标签122及第二定位标签124的位置信息，并通过过滤此些反射光点信号B3以定义参考坐标。在一实施例中，处理单元130例如包括一光强度检测单元132、一噪声过滤单元134以及一演算单元136。光强度检测单元132可根据第一定位信号B1的光强度及第二定位信号B2的光强度分别寻找光束L投射至第一定位标签122及第二定位标签124的位置信息。噪声过滤单元134根据光束L投射至第一定位标签122及第二定位标签124的位置过滤此些反射光点信号B3，以提取在第一定位标签122与第二定位标签124之间的一区间R内的此些反射光点信号B3。
也就是说，处理单元130可去除第一定位标签122与第二定位标签124外侧的噪声信号，仅提取第一定位标签122与第二定位标签124之间的反射光点信号B3来寻找一回归直线L1。在一实施例中，演算单元136例如根据区间R内的此些反射光点信号B3的最小平方函数寻找回归直线L1。本实施例采用的线性回归最小平方法，找出最适代表反射光点信号B3的回归直线L1方程式，请参照定义如下：
变量X的标准偏差：
Figure GDA0003940598120000061
其中
Figure GDA0003940598120000062
为X的平均值
变量Y的标准偏差：
Figure GDA0003940598120000063
其中
Figure GDA0003940598120000064
为Y的平均值
变量X与Y的相关系数：
Figure GDA0003940598120000065
回归直线L1方程式为：
Figure GDA0003940598120000066
请参照图2，其绘示最适代表反射光点信号B3的一回归直线L1。接着，激光定位系统100利用回归直线L1与光束L投射至第一定位标签122及第二定位标签124的位置信息定义出一坐标轴，以供处理单元130以坐标轴为参考坐标，计算激光扫描仪120与定位板110的相对位置。如图1及2所示，在一实施例中，演算单元136可根据已知的第一定位标签122的位置信息，找出第一定位标签122与激光扫描仪120的发射中心位置121相连的一第一直线L2，且第一直线L2与回归直线L1相交而得到一第一交点C1，并根据已知的第二定位标签124的位置信息，找出第二定位标签124与激光扫描仪120的发射中心位置121相连的一第二直线L3，且第二直线L3与回归直线L1相交而得到一第二交点C2，演算单元136再以第一交点C1与第二交点C2的一中点(以O表示)做为坐标轴的原点计算激光扫描仪120与定位板110的相对位置。当然，本实施例不限定以中点O做为坐标轴的原点，也可以第一交点C1或第二交点C2做为坐标轴的原点，本发明不以此为限。
请参照图3A，定位板110例如为一平板，平板具有一平面，第一定位标签122与第二定位标签124位于平面的相对两侧。第一定位标签122与第二定位标签124例如为反光条，沿着平板的纵向排列，然而，第一定位标签122与第二定位标签124也可为块状，不限定为条状。当激光束L由定位板110的第一侧S1扫描至第二侧S2时，形成一扫描光束H于定位板110上，再通过反光条可以找出激光束L投射至平面相对两侧的角度，如此处理单元130可以找出以激光发射中心位置121为起点的两射线(即第一直线L2与第二直线L3)，并与先前求出的回归直线L1相交找出两个交点(即第一交点C1与第二交点C2)，以找出计算激光扫描仪120与定位板110的相对位置的参考坐标。
激光扫描仪120不限定为形成单一条扫描光束L的二维扫描仪，在另一实施例中，激光扫描仪120也可为形成多条扫描光束H的三维扫描仪或由至少两个二维扫描仪组成的三维扫描仪。请参照图3B，激光扫描仪120可于定位板110上形成多条平行排列的扫描光束H，每一条扫描光束H通过上述的算法找出回归直线L1以及两交点，进而找出计算激光扫描仪120与定位板110的相对位置在三维空间中的参考坐标。
请参照图3B，以下介绍用于三维扫描及定位的另一实施例。定位板110例如为一平面。首先，将第一定位标签122与第二定位标签124设置于定位板110的相对两侧，并投射多条扫描光束H于定位板110上。此两个定位标签可以平行或不平行。处理单元130可根据第一定位标签122与第二定位标签124之间的反射光点信号(即数据点Dlidar)的最小平方函数进行回归分析，以找出平面方程式，其中平面方程式定义为：f(x，y)＝z＝ax+by+c，a，b，c为未知的系数，假设所取得的数据点Dlidar＝{(xk，yk，zk)|k∈[0，n]and n，k∈正整数}，将数据点代入平面方程式并写成矩阵型式：
Figure GDA0003940598120000071
将平面方程式乘上左边的转置矩阵，以便做最小平方差(linear least square)：
Figure GDA0003940598120000072
接着，将算式整理过后可得到下列方程式：
Figure GDA0003940598120000081
如此便可以求出a，b，c三个系数。
当求出平面方程式之后，处理单元130通过定位标签的位置信息可以找出激光束L投射至平面相对两侧的角度，并以激光发射中心为原点做两射线(即第一直线L2与第二直线L3)，利用此两射线找出与先前求出的平面方程式上的定位标签的位置相交的两个交点。上述的交点取三组以上，即可定义一参考坐标，以供处理单元130计算激光扫描仪120与定位板110的相对位置。
根据图3A所述的实施例，提出一种用以提高激光定位精度的位置测量方法。请参照图1、2、3A及4A，其中图4A绘示依照本发明一实施例的位置测量方法101的流程示意图。位置测量方法101包括下列步骤S11～S17。
在步骤S11中，投射光束L在第一定位标签122、定位板110以及第二定位标签124上，以对应产生第一定位信号B1、多个反射光点信号B3以及第二定位信号B2。
在步骤S12中，通过光反射信号强度，寻找光束L投射至第一定位标签122及光束L投射至第二定位标签124的位置信息。
在步骤S13中，根据光束L投射至第一定位标签122及第二定位标签124的位置信息过滤反射光点信号B3，以提取在第一定位标签122与第二定位标签124之间的一区间R内的反射光点信号B3。
在步骤S14中，根据区间R内的反射光点信号B3的最小平方函数寻找一回归直线L1。
在步骤S15中，根据第一定位标签122的位置信息，找出第一定位标签122与激光扫描仪120的发射中心位置121相连的一第一直线L2，且第一直线L2与回归直线L1相交而得到一第一交点C1。
在步骤S16中，根据第二定位标签124的位置信息，找出第二定位标签124与激光扫描仪120的发射中心位置121相连的一第二直线L3，且第二直线L3与回归直线L1相交而得到一第二交点C2。
在步骤S17中，以第一交点C1与第二交点C2的一中点O做为坐标轴的原点，计算激光扫描仪120与定位板110的相对位置。
根据图3B的实施例，提出另一种用以提高激光定位精度的位置测量方法。请参照图1、2、3B及4B，其中图4B绘示依照本发明一实施例的位置测量方法103的流程示意图。位置测量方法103包括下列步骤S31～S35，其中步骤S31～S33与S11～S13的步骤相同，在此不再赘述。接着，请参照步骤S34，根据区间R内的反射光点信号B3的最小平方函数进行回归分析，以找出一平面方程式。在步骤S35中，根据平面方程式与光束投射至第一定位标签122及第二定位标签124的位置的至少三组交点定义一参考坐标，以供处理单元130根据参考坐标计算激光扫描仪120与定位板110的相对位置。
定位板110不限定为一平板，在另一实施例中，定位板110也可具有特定形状，例如V形、W形(锯齿形)、梯形、半圆形、弧形或波浪形等。在一实施例中，处理单元130采用点云匹配算法可寻找出与定位板110表面形状匹配的一组点云，因此定位板110可为任意形状。
请参照图5A，定位板110’例如具有呈V形的两个相对表面111、112，第一定位标签122与第二定位标签124可分别位于呈V形的两个相对表面111、112上，用来过滤反射光在对象边缘产生噪声。处理单元130可通过点云匹配算法(例如迭代最近点(iterative closestpoint，ICP)算法)寻找一组匹配点云，以计算激光扫描仪120与定位板110’的相对位置，因此不限定以线性回归最小平方法来实施本发明。在本实施例中，处理单元130能够根据反射光点信号B3的点云数据找出与定位板110’表面形状匹配的点云，以定义激光扫描仪120与定位板110’的间的参考坐标。
根据上述图5A的实施例，提出一种用以提高激光定位精度的位置测量方法102。请参照图6，位置测量方法102包括下列步骤S21～S24。
在步骤S21中，投射光束L在第一定位标签122、定位板110’以及第二定位标签124上，以对应产生第一定位信号B1、多个反射光点信号B3以及第二定位信号B2。
在步骤S22中，通过光反射信号强度，寻找光束L投射至第一定位标签122及第二定位标签124的位置信息。
在步骤S23中，根据光束L投射至第一定位标签122及第二定位标签124的位置信息过滤反射光点信号B3，以提取在第一定位标签122与第二定位标签124之间的一区间R内的反射光点信号B3。
在步骤S24中，根据区间R内的反射光点信号B3寻找一组匹配点云，以定义定位板110的参考坐标，计算激光扫描仪120与定位板110的相对位置。
请参照图5B，在一实施例中，定位板110’还可具有一第三定位标签126位于两个相对表面111、112相交的边界上。第三定位标签126与第一及第二定位标签的功能一样，用以反射光束L以产生一第三定位信号至激光扫描仪120。类似图4A的位置测量方法101，第一定位标签122与第三定位标签126之间的位置测量方法与第二定位标签124与第三定位标签126之间的位置测量方法可分别根据反射光点信号B3的最小平方函数寻找回归直线的方式进行，接着再以各自的回归直线上的交点求出参考坐标，以计算激光扫描仪120与定位板110’的相对位置。
本发明上述实施例所公开的激光定位系统及其方法，主要是在激光定位板上贴上定位标签做为定位辅助标记，并通过算法精确计算激光扫描仪与定位板之间的相对位置或距离，以提高激光的定位精度。
综上所述，虽然本发明已以实施例公开如上，但其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本发明的保护范围当视后附的权利要求书所界定的为准。

Claims (25)

1.一种激光定位系统，用以定位一移动载具，该激光定位系统包括：
一定位板；
一激光扫描仪，设置于该移动载具上，用以发射一光束至该定位板，并接收该激光扫描仪由该定位板的第一侧扫描至第二侧时，该定位板反射该光束所产生的多个反射光点信号；
一第一定位标签，设置于该定位板的该第一侧处，用以反射该光束以产生一第一定位信号至该激光扫描仪；
一第二定位标签，设置于该定位板的该第二侧处，用以反射该光束以产生一第二定位信号至该激光扫描仪；以及
一处理单元，用以寻找该光束投射至该第一定位标签及该第二定位标签的位置信息，并通过过滤该些反射光点信号以定义一参考坐标，以供该处理单元以该参考坐标计算该激光扫描仪与该定位板的相对位置，
其中，该处理单元包括一噪声过滤单元，该噪声过滤单元根据该光束投射至该第一定位标签及该第二定位标签的位置信息过滤该些反射光点信号，以提取在该第一定位标签与该第二定位标签之间的一区间内的该些反射光点信号。
2.如权利要求1所述的激光定位系统，其中该处理单元包括一光强度检测单元，该光强度检测单元根据该第一定位信号的光强度及该第二定位信号的光强度分别寻找该光束投射至该第一定位标签及该第二定位标签的位置信息。
3.如权利要求2所述的激光定位系统，其中该第一定位标签及该第二定位标签为反光卷标或吸光卷标。
4.如权利要求2所述的激光定位系统，其中该第一定位信号及该第二定位信号的光强度大于该些反射光点信号的光强度或小于该些反射光点信号的光强度。
5.如权利要求1所述的激光定位系统，其中该处理单元包括一演算单元，该演算单元根据该区间内的该些反射光点信号的最小平方函数寻找一回归直线，该回归直线与该光束投射至该第一定位标签及该第二定位卷标的位置的交点定义该参考坐标。
6.如权利要求1所述的激光定位系统，其中该处理单元包括一演算单元，该演算单元根据该区间内的该些反射光点信号寻找一组匹配点云，以定义该参考坐标。
7.如权利要求5所述的激光定位系统，其中该演算单元根据该第一定位标签的位置信息，找出该第一定位标签与该激光扫描仪的发射中心位置相连的一第一直线，且该第一直线与该回归直线相交而得到一第一交点，并根据该第二定位标签的位置信息，找出该第二定位标签与该激光扫描仪的发射中心位置相连的一第二直线，且该第二直线与该回归直线相交而得到一第二交点，该演算单元以该第一交点与该第二交点的一中点做为参考坐标的原点，计算该激光扫描仪与该定位板的相对位置。
8.如权利要求1所述的激光定位系统，其中该定位板具有一平面，该第一定位标签与该第二定位标签位于该平面的相对两侧。
9.如权利要求1所述的激光定位系统，其中该定位板具有两个相对表面，该第一定位标签与该第二定位标签分别位于两个相对表面上。
10.如权利要求9所述的激光定位系统，更包括一第三定位标签，位于该两个相对表面相交的边界上。
11.如权利要求1所述的激光定位系统，其中该激光扫描仪为二维扫描仪，用以产生单一条扫描光束该定位板上。
12.如权利要求1所述的激光定位系统，其中该激光扫描仪为三维扫描仪，用以产生多条扫描光束于该定位板上。
13.一种位置测量方法，用以定位一移动载具，该移动载具上设有一激光扫描仪，该位置测量方法包括下列步骤：
该激光扫描仪投射一光束在一第一定位标签、一定位板以及一第二定位标签上，以对应产生第一定位信号、多个反射光点信号以及第二定位信号，其中该第一定位标签与该第二定位标签设置于该定位板的相对两侧；以及
以一处理单元寻找该光束投射至该第一定位标签及该第二定位标签的位置信息，并通过过滤该些反射光点信号以定义一参考坐标，以供该处理单元以该参考坐标计算该激光扫描仪与该定位板的相对位置，
其中，以该处理单元包括的噪声过滤单元根据该光束投射至该第一定位标签及该第二定位标签的位置信息过滤该些反射光点信号，以提取投射在该第一定位标签与该第二定位标签之间的一区间内的该些反射光点信号。
14.如权利要求13所述的位置测量方法，其中该处理单元包括一光强度检测单元，该光强度检测单元根据该第一定位信号的光强度及该第二定位信号的光强度分别寻找该光束投射至该第一定位标签及该第二定位标签的位置信息。
15.如权利要求14所述的位置测量方法，其中该第一定位标签及该第二定位标签为反光卷标或吸光卷标。
16.如权利要求14所述的位置测量方法，其中该第一定位信号及该第二定位信号的光强度大于该些反射光点信号的光强度或小于该些反射光点信号的光强度。
17.如权利要求13所述的位置测量方法，其中该处理单元包括一演算单元，该演算单元根据该区间内的该些反射光点信号的最小平方函数寻找一回归直线，该回归直线与该光束投射至该第一定位标签及该第二定位标签的位置的交点定义该参考坐标。
18.如权利要求13所述的位置测量方法，其中该处理单元包括一演算单元，该演算单元根据该区间内的该些反射光点信号的最小平方函数进行回归分析，以找出一平面方程式，并根据该平面方程式与该光束投射至该第一定位标签及该第二定位标签的位置的至少三组交点定义该参考坐标。
19.如权利要求13所述的位置测量方法，其中该处理单元包括一演算单元，该演算单元根据该区间内的该些反射光点信号寻找一组匹配点云，以定义该参考坐标。
20.如权利要求17所述的位置测量方法，其中该演算单元根据该第一定位标签的位置信息，找出该第一定位标签与该激光扫描仪的发射中心位置相连的一第一直线，且该第一直线与该回归直线相交而得到一第一交点，并根据该第二定位标签的位置信息，找出该第二定位标签与该激光扫描仪的发射中心位置相连的一第二直线，且该第二直线与该回归直线相交而得到一第二交点，该演算单元以该第一交点与该第二交点的一中点做为该参考坐标的原点，计算该激光扫描仪与该定位板的相对位置。
21.如权利要求13所述的位置测量方法，其中该定位板具有一平面，该第一定位标签与该第二定位标签位于该平面的相对两侧。
22.如权利要求13所述的位置测量方法，其中该定位板具有两个相对表面，该第一定位标签与该第二定位标签分别位于两个相对表面上。
23.如权利要求22所述的位置测量方法，更包括一第三定位标签，位于该两个相对表面相交的边界上。
24.如权利要求13所述的位置测量方法，其中该激光扫描仪为二维扫描仪，用以产生单一条扫描光束于该定位板上。
25.如权利要求13所述的位置测量方法，其中该激光扫描仪为三维扫描仪，用以产生多条扫描光束于该定位板上。
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