CN110426644A - 一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提出了一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,设置被测锂电池充电芯片以及第一、第二两个电压源和一个电流源构成的测试系统,第一电压源和电流源共同连接在被测锂电池充电芯片的输出端,用于模拟替代锂电池并模拟锂电池先恒流再恒压的充电特性,第二电压源连接在被测锂电池充电芯片的输入端,用于给被测锂电池充电芯片供电,提供充电电流。
Description
技术领域
本发明涉及一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,属于锂电池充电技术领域。
背景技术
随着便携式电子产品的广泛使用于工作和生活的各个方面,锂电池的应用也日益广泛。现有的针对锂电池充电芯片的测试方法主要有两种,一种是直接采用锂电池,但缺点是锂电池充电时间长,测试周期长,不能快速得到测试结果,还有就是锂电池反复测试会减小电池的寿命;另一种方法是特定的测试版,需要单片机控制电路,分别控制电压配置网络和电流配置网络、恒压电子负载、基准电压电路、隔离通道等等,测试系统复杂。如图1所示传统的测试方法,框图中的电路都需要特定的设备来支持,整个系统搭建下来,需要构建一个昂贵的大型设备,不利于个人操作。
发明内容
本发明为解决现有技术的缺陷,提供一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,该方法是一种简易的模拟锂电池的测试方法,个人可以在短时间内就可以测得锂电池充电芯片的性能。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,其特征在于:设置被测锂电池充电芯片以及第一、第二两个电压源和一个电流源构成的测试系统,第一电压源和电流源共同连接在被测锂电池充电芯片的输出端,用于模拟替代锂电池并模拟锂电池先恒流再恒压的充电特性,第二电压源连接在被测锂电池充电芯片的输入端,用于给被测锂电池充电芯片供电,提供充电电流;若全过程模拟锂电池充电流为IBAT,第一电压源提供充电电流为IV1,电流源提供电流为IC1,则实时的充电电流为IBAT=IC1-IV1,通过读取第二电压源的输出电流即是。
当锂电池电压低于涓流充电电压时,以额定电流的一定比例开始涓流充电;当锂电池电压大于涓流充电电压时,以额定的电流充电;当锂电池电压接近标称电压值时,转入恒压充电模式,此时充电电流开始减小,直至最终关断;充电电流关断后,如果锂电池开始放电,锂电池电压开始下降,当锂电池电压再次下降到低于涓流充电电压时,开始再次涓流充电以及后续的恒压充电及放电过程,最终被测锂电池充电芯片输出电流减小的部分由第一电压源来提供,以保持测试系统的稳定性。
设置锂电池充电芯片的最大充电电流为一个额定值IMAX,那么电流源提供电流的电流IC1要大于IMAX,第一电压源的最大电流限流值Ilimit1要大于电流源电流IC1,即Ilimit1>IC1,而第二电压源的最大电流限流值Ilimit2要大于IMAX,即Ilimit2>IMAX;通过调节第一电压源的电压值,能够短时间内模拟锂电池充电时电压上升的完整过程。
所述锂电池充电芯片测试的具体过程如下:
步骤1,通过不断上调第一电压源电压,同时观察第一电压源的输出电流,得到完整的从恒流充电到恒压充电的全过程,并测试到锂电池充电芯片的充电截止电压;当第一电压源的电压低于涓流充电电压时,读取第二电压源的输出电流即充电电流,此时的充电电流为额定充电电流的一定比例,充电状态为小电流的涓流模式;当第一电压源的电压上升到大于涓流电压时,读取第二电压源的输出电流即充电电流为额定充电电流,充电状态为恒流模式,并且该状况持续到第一电压源电压接近电池标称电压;此后,随着第一电压源电压继续上升,充电电流继续减小,当充电电流减小到零时充电结束,为充电标称电压值;
步骤2,将第一电压源的电压开始下调,当观察到重新有充电电流时,重复步骤1再次完成充电,有效地模拟锂电池的完整充电过程,准确评价锂电池充电芯片的性能。
所述第一、第二两个电压源可采用ITECH IT6322,电流源可采用Chroma 63600-1。
本发明的优点及显著效果:本发明采用电压源和电流源共同模拟锂电池,电压源用于模拟锂电池的电压并承担一定的输出电流,电流源用于模拟锂电池被充电时的抽取电流。由于锂电池充电特性是先恒流再恒压,即当电池电压比较低时,以恒定的大电流充电;当电池电压接近标称电压值时,转入恒压充电模式,此时充电电流开始减小,直至最终关断。因此,锂电池充电过程中充电电流在变化,当采用固定电流源时,被测试芯片的输出电流减小的部分,都需要用电压源来提供,以保持测试系统的稳定性。全过程实际锂电池充电流电流为IBAT,电压源提供电流为IV,电流源提供电流为IC,因此实时的充电电流为IBAT=IC-IV。这种方式避免使用锂电池,提高测试效率,同时降低操作人员的测试难度,降低测试设备成本,最终增加充电芯片测试的可靠性和稳定性。
附图说明
图1是传统的测试锂电池充电芯片的方法示意图;
图2是本发明模拟锂电池测试充电芯片方法的测试系统原理图。
具体实施方式
图2中,测试系统电路包括两个电压源和一个电流源,在满足额定电压和额定电流的条件下,可以采用采用市面上任意的电压源和电子负载做电流源。在本电路验证时,采用ITECH IT6322三通道电源,其中通道1和通道2分别对应第一电压源和第二电压源,电流源采用Chroma 63600-1电子负载。其中第二电压源给被测锂电池充电芯片供电,即提供充电电流;第一电压源和电流源连接在一起,接至锂电池充电芯片的输出端,用于模拟锂电池的充电特性。全过程模拟锂电池充电流为IBAT,第一电压源提供电流为IV1,电流源提供电流为IC1,因此实时的充电电流为IBAT=IC1-IV1,该值可以通过读取第二电压源的输出电流即可以方便获得。由于锂电池充电充电特性是先恒流再恒压,即当电池电压低于涓流充电电压时,以额定电流的一定比例开始涓流充电,例如1/10;当电流电压大于涓流电压时,以额定的电流充电;当电池电压接近标称电压值时,转入恒压充电模式,此时充电电流开始减小,直至最终关断。充电电流关断后,如果电池开始放电,那么电池电压开始下降,当电池电压下降到再次充电电压时,开始再次充电。因此最终被测试芯片的输出电流减小的部分,都需要用第一电压源来提供,以保持测试系统的稳定性。
测试时,设置锂电池充电芯片的最大充电电流为一个额定值IMAX,那么电流源的电流IC1要大于IMAX,例如1.5倍的IMAX值。此时第一电压源的最大电流限流值Ilimit1要大于电流源电流IC1,即Ilimit1>IC1,而第二电压源的最大电流限流值Ilimit2要大于IMAX,即Ilimit2>IMAX。通过调节第一电压源的电压值,即可以短时间内模拟锂电池充电时电压上升的完整过程。
锂电池充电芯片测试的完整过程如下:选取合适的第二电压源的电压,例如5V,给锂电池充电芯片供电。同时引入第一电压源和电流源用于模拟替代锂电池,通过不断上调第一电压源电压,例如从2.5V上调到4.3V,同时观察第二电压源的输出电流,可以观察到完整的从恒流充电到恒压充电的全过程,并且可以测试到锂电池充电芯片的充电截止电压。当第一电压源的电压低于涓流充电电压时,例如低于2.9V,从第二电压源可以观察到充电电流,此时为额定充电电流的一定比例,例如1/10,此时充电状态即为小电流的涓流模式。当第一电压源的电压上升到大于涓流电压时,可以观察到充电电流为额定充电电流,即为恒流模式,并且该状况持续到第一电压源电压接近电池标称电压。此后,随着第一电压源电压继续上升,充电电流继续减小,当充电电流减小到零时,充电结束,该电压即为充电标称电压值,例如4.2V。此时将第一电压源的电压开始下调,当观察到重新有充电电流时,即恢复再次充电,此时的电压即为再充电电压,例如4.05V。因此,采用本发明测试方法,通过使用常见的电压源和电流源,在短时间内可以有效地模拟锂电池的完整充电过程,从而可以准确评价锂电池充电芯片的性能。
Claims (5)
1.一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,其特征在于:设置被测锂电池充电芯片以及第一、第二两个电压源和一个电流源构成的测试系统,第一电压源和电流源共同连接在被测锂电池充电芯片的输出端,用于模拟替代锂电池并模拟锂电池先恒流再恒压的充电特性,第二电压源连接在被测锂电池充电芯片的输入端,用于给被测锂电池充电芯片供电,提供充电电流;若全过程模拟锂电池充电流为IBAT,第一电压源提供充电电流为IV1,电流源提供电流为IC1,则实时的充电电流为IBAT=IC1-IV1,通过读取第二电压源的输出电流即是。
2.根据权利要求1所述的模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,其特征在于:当锂电池电压低于涓流充电电压时,以额定电流的一定比例开始涓流充电;当锂电池电压大于涓流充电电压时,以额定的电流充电;当锂电池电压接近标称电压值时,转入恒压充电模式,此时充电电流开始减小,直至最终关断;充电电流关断后,如果锂电池开始放电,锂电池电压开始下降,当锂电池电压再次下降到低于涓流充电电压时,开始再次涓流充电以及后续的恒压充电及放电过程,最终被测锂电池充电芯片输出电流减小的部分由第一电压源来提供,以保持测试系统的稳定性。
3.根据权利要求1或2所述的模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,其特征在于:设置锂电池充电芯片的最大充电电流为一个额定值IMAX,那么电流源提供电流的电流IC1要大于IMAX,第一电压源的最大电流限流值Ilimit1要大于电流源电流IC1,即Ilimit1>IC1,而第二电压源的最大电流限流值Ilimit2要大于IMAX,即Ilimit2>IMAX;通过调节第一电压源的电压值,能够短时间内模拟锂电池充电时电压上升的完整过程。
4.根据权利要求3所述的模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,其特征在于:所述锂电池充电芯片测试的具体过程如下:
步骤1,通过不断上调第一电压源电压,同时观察第一电压源的输出电流,得到完整的从恒流充电到恒压充电的全过程,并测试到锂电池充电芯片的充电截止电压;当第一电压源的电压低于涓流充电电压时,读取第二电压源的输出电流即充电电流,此时的充电电流为额定充电电流的一定比例,充电状态为小电流的涓流模式;当第一电压源的电压上升到大于涓流电压时,读取第二电压源的输出电流即充电电流为额定充电电流,充电状态为恒流模式,并且该状况持续到第一电压源电压接近电池标称电压;此后,随着第一电压源电压继续上升,充电电流继续减小,当充电电流减小到零时充电结束,为充电标称电压值;
步骤2,将第一电压源的电压开始下调,当观察到重新有充电电流时,重复步骤1再次完成充电,有效地模拟锂电池的完整充电过程,准确评价锂电池充电芯片的性能。
5.根据权利要求1所述的模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法,其特征在于:所述第一、第二两个电压源采用ITECH IT6322,电流源采用Chroma 63600-1。
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