CN110377566A - 整理pcb的s参数测试文件的方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了整理PCB的S参数测试文件的方法及系统,包括获取测试文件,读取测试文件名,按照测试次数,对测试文件进行分类;提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序;按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel。通过编写matlab脚本,对测试文件按照测试次数进行分类,按照不同的关键字进行排序,根据setup文件每列的表头信息,逐列写入对应数据,快速整理setup文件,整个过程不需要人工干预,且将该脚本进行封装,生成可执行文建,使用方便,提高测试文件的整理效率,且避免整理出错。
Description
技术领域
本发明涉及数据处理技术领域,具体地说是整理PCB的S参数测试文件的方法及系统。
背景技术
Delta-L是Intel推出的PCB Loss测试的一种重要方法,目前,越来越多的板厂采用delta-L的方式测试Loss,Delta-L的测试方法目前主要依靠PNA(Performance NetworkAnalyzer,网络分析仪)测试PCB(Printed Circuit Board,印制电路板)的S参数,依靠Intel的Intel Delta-L软件分析S参数,以此来实现Loss的量测。其中Intel Delta-L软件需要一个配置文件——Setup文件,该文件需要手动填写测试出的S文件名称,整理成Excel表格。
针对Setup文件整理,目前常常采用测试人员人工整理的方法,根据厂商名称、测试次数、trace长度、阻抗标称等进行区别命名S参数文件,根据命名进行归类,整理成Setup文件。
由于PCB Loss测试通常测试多个厂商、多个板卡,且每个板卡上面存在多个trace,仅仅通过命名规则来区分不同的S参数文件,命名相似且繁多,在人工整理SetupExcel文件时,不仅费时费力,又容易整理出错,造成测试数据出现差错。
发明内容
本发明实施例中提供了整理PCB的S参数测试文件的方法,以解决现有技术中人工整理测试文件效率低、易出错的问题。
为了解决上述技术问题,本发明实施例公开了如下技术方案:
本发明第一方面提供了一种整理PCB的S参数测试文件的方法,包括以下步骤:
获取测试文件,读取测试文件名,按照测试次数,对测试文件进行分类;
提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序;
按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel。
进一步地,在所述步骤之前还包括:
获取测试文件的存储地址,将测试文件组成Nx1的矩阵。
进一步地,所述提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序的具体过程为:
读取每一个测试文件的文件名,根据文件名中的特殊符号,对文件名进行拆分,提取关键字;
以第一关键字为基准,按照第一关键字值的大小顺序对测试文件进行排序;
若存在第一关键字相同的多个文件,对于所述相同的多个文件以第二关键字为基准,进一步排序,依次类推,得到所有测试文件的排列顺序。
进一步地,所述关键字包括叠层信息、阻抗信息和INCH信息。
进一步地,按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel的具体过程为:
Setup文件的第一列为文件夹位置目录,通过输入函数录入;
将按照顺序排列的测试文件的文件名录入第二列;
按照第二列的文件名,根据setup文件每列的表头信息,依次确定第三至第十列的数据,并保存。
进一步地,按照分类结果,每个分类分别进行排序,每个分类下的测试文件按照测试顺序整体排序。
进一步地,所述方法还包括:
将所述步骤进行封装,生成可执行文件。
本发明第二方面提供了一种整理PCB的S参数测试文件的系统,所述系统包括:
文件分类模块,用于获取测试文件,读取测试文件名,按照测试次数,对测试文件进行分类;
文件排序模块,提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序;
Setup文件生成模块,按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel。
进一步地,所述系统还包括封装模块,用于将所述文件分类模块、文件排序模块和setup文件生成模块进行封装,生成可执行文件。
发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果,而不是发明所有的全部效果,上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果:
本发明通过编写matlab脚本,对测试文件按照测试次数进行分类,按照不同的关键字进行排序,根据setup文件每列的表头信息,逐列写入对应数据,快速整理setup文件,整个过程不需要人工干预,且将该脚本进行封装,生成开执行文件,使用方便,提高测试文件的整理效率,且避免整理出错。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明所述方法的流程示意图;
图2是测试形成的S参数文件的示意图;
图3是形成的setup文件的部分示意图;
图4是本发明所述系统的结构示意图。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点,下面通过具体实施方式,并结合其附图,对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外,本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意,在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
如图1所示,本发明整理PCB的S参数测试文件的方法包括:
S1,获取测试文件,读取测试文件名,按照测试次数,对测试文件进行分类;
S2,提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序;
S3,按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel。
在步骤S1之前还包括采用fullfile()函数读取测试文件所在的文件夹,该函数通过给定本地文件夹地址参数,读取文件夹内容,将文件夹下面的文件名称读取到Matlab中,组成Nx1的矩阵,其中N为所有S参数文件的个数。
步骤S1中,通常情况下一般测试三次,形成如图2所示的测试文件。测试文件的命名规则为PN-Vendor-叠层-阻抗-INCH-测试次数.s4P。以图2中第一个测试文件名“1366_tripod_L01_85_02INCH_1.s4p”为例,“1366”表示待测PCB编号、“tripod”为厂商名称,“L01”为叠层,此处表示为1层,叠层信息与INCH需要补足两位数,“85”表示阻抗,“02INCH”表示尺寸,“1”表示测试次数(或者说第几次测试)。在编写脚本时,通过读取S参数文件名,利用if-else判断当前的测试次数,按照测试次数将测试文件分类。
步骤S2中,读取每一个测试文件的文件名,根据文件名中的特殊符号,对文件名进行拆分,提取关键字;以第一关键字为基准,按照第一关键字值的大小顺序对测试文件进行排序;若存在第一关键字相同的多个文件,对于所述相同的多个文件以第二关键字为基准,进一步排序,依次类推,得到所有测试文件的排列顺序。排序的关键字包括叠层信息、阻抗信息和INCH信息。若将叠层信息作为第一关键词,以叠层信息从小到大的顺序,对测试文件进行排序;若存在叠层信息相同的多个测试文件,则将阻抗信息作为第二关键字,将叠层信息相同的测试文件以阻抗信息从小到大的顺序进行排列,依次类推,将说是有测试文件进行排序。以上排序过程,按照分类结果分别进行,然后按照测试次数,将所有的测试文件统一排列。
步骤S3中,将排列好的测试文件,按照setup文件的表头信息依次写入相应数据,形成如图3所示的setup文件,该setup文件包括10列,第一列表示S参数文件存放位置,第二列表示作为参考的S参数的文件名,第三列表示待测量的S参数的文件名,第四列表示参考的S参数trace长度,第五列表示待测量的S参数trace的长度,第六列表示对应Port,第七列表示测试结果使用特征值,第八列表示只保存CSV文件中定义的少数几个点的数值,不保存插损数据波形,第九列表示创建的图形格式,第十列表示分析结果的文件名。
第一列为文件夹位置目录,通过input()函数写入,单独组成一列矩阵,放在第一列的位置,写入Setup文件中;将按照顺序排列的测试文件的文件名录入第二列;按照第二列的文件名,根据setup文件每列的表头信息,依次确定第三至第十列的数据,并保存。
通过xlswrite()函数写入,将前面10列对应Setup文件,形成Excel表格。
通过matlab GUI封装程序,将上述步骤进行封装,生成可执行文件,使用时,只需点击该可执行文件,即可完成setup文件的整理,生成Excel。
如图4所示,本发明整理PCB的S参数测试文件的系统包括文件分类模块1、文件排序模块2和setup文件生成模块3。文件分类模块1用于获取测试文件,读取测试文件名,按照测试次数,对测试文件进行分类;文件排序模块2提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序;Setup文件生成模块3按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel。
系统还包括封装模块,用于将文件分类模块1、文件排序模块2和setup文件生成模块3进行封装,并生成exe格式的可执行文件。
以上所述只是本发明的优选实施方式,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也被视为本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种整理PCB的S参数测试文件的方法,其特征是,包括以下步骤:
获取测试文件,读取测试文件名,按照测试次数,对测试文件进行分类;
提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序;
按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel。
2.根据权利要求1所述的整理PCB的S参数测试文件的方法,其特征是,在所述步骤之前还包括:
获取测试文件的存储地址,将测试文件组成Nx1的矩阵。
3.根据权利要求2所述的整理PCB的S参数测试文件的方法,其特征是,所述提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序的具体过程为:
读取每一个测试文件的文件名,根据文件名中的特殊符号,对文件名进行拆分,提取关键字;
以第一关键字为基准,按照第一关键字值的大小顺序对测试文件进行排序;
若存在第一关键字相同的多个文件,对于所述相同的多个文件以第二关键字为基准,进一步排序,依次类推,得到所有测试文件的排列顺序。
4.根据权利要求3所述的整理PCB的S参数测试文件的方法,其特征是,所述关键字包括叠层数信息、阻抗信息和INCH信息。
5.根据权利要求3所述的整理PCB的S参数测试文件的方法,其特征是,按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel的具体过程为:
Setup文件的第一列为文件夹位置目录,通过输入函数录入;
将按照顺序排列的测试文件的文件名录入第二列;
按照第二列的文件名,根据setup文件每列的表头信息,依次确定第三至第十列的数据,并保存。
6.根据权利要求1-5任一项所述的整理PCB的S参数测试文件的方法,其特征是,按照分类结果,每个分类分别进行排序,每个分类下的测试文件按照测试顺序整体排序。
7.根据权利要求6所述的整理PCB的S参数测试文件的方法,其特征是,所述方法还包括:
将所述步骤进行封装,生成可执行文件。
8.一种整理PCB的S参数测试文件的系统,其特征是,所述系统包括:
文件分类模块,用于获取测试文件,读取测试文件名,按照测试次数,对测试文件进行分类;
文件排序模块,提取当前分类下测试文件的文件名,根据文件名中的关键字,对测试文件进行排序;
Setup文件生成模块,按照所述排序,分别提取测试文件中对应setup文件每列表头信息的数据,形成Excel。
9.根据权利要求8所述的整理PCB的S参数测试文件的系统,其特征是,所述系统还包括封装模块,用于将所述文件分类模块、文件排序模块和setup文件生成模块进行封装,生成可执行文件。
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