CN102331967A - 芯片验证测试用例的管理方法 - Google Patents

芯片验证测试用例的管理方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102331967A
CN102331967A CN201110159449A CN201110159449A CN102331967A CN 102331967 A CN102331967 A CN 102331967A CN 201110159449 A CN201110159449 A CN 201110159449A CN 201110159449 A CN201110159449 A CN 201110159449A CN 102331967 A CN102331967 A CN 102331967A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test case
test
tabulation
case
steps
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201110159449A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102331967B (zh
Inventor
柏帆
袁博浒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fiberhome Telecommunication Technologies Co Ltd
Original Assignee
Fiberhome Telecommunication Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fiberhome Telecommunication Technologies Co Ltd filed Critical Fiberhome Telecommunication Technologies Co Ltd
Priority to CN201110159449.9A priority Critical patent/CN102331967B/zh
Publication of CN102331967A publication Critical patent/CN102331967A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102331967B publication Critical patent/CN102331967B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

本发明公开了一种芯片验证测试用例的管理方法,通过直接读取项目计划阶段完成的测试用例列表,采用DOM分析方法生成树状结构数据,并将测试用例列表文件中每个测试用例导入测试平台中直接生成测试用例;测试结束后,直接将测试结果反标回测试用例列表,大大提高了芯片验证工作的效率,减少了人力成本,并能有效地保证验证工作的完备性,提高芯片验证质量。

Description

芯片验证测试用例的管理方法
技术领域
本发明涉及芯片验证领域,具体涉及芯片验证测试用例的管理方法。
背景技术
根据摩尔定律,随着数字集成电路(芯片)的发展,其复杂程度日益增加。无论是在通信、消费电子还是在工业应用等领域,数字集成电路的工艺的提升越来越快,单块芯片所具有的功能越来越多,集成电路芯片的设计必然越来越复杂。于是,对于每个集成芯片的验证团队来说,所担负的工作会越来越复杂化。为了配合成几何倍数爆炸式增长的芯片功能需求,如何提高EDA验证工作的效率,如何保证芯片的成功率,如何增强验证工作的完善性,成为非常迫切的需求。
现代的EDA工具已经可以很好的实现对HDL代码的高速测试,并且提出了很多实用的验证方法学,但是对于测试用例的管理,还没有完善的解决方案。目前在EDA验证工作中,对于验证计划中测试用例管理还处于人工录入检查阶段。
对于一般的芯片验证流程中,在项目开始阶段定义好测试点和测试用例分解列表,在验证的过程中,通过人工来检查录入哪些用例通过,哪些用例失败,通过后期人力检查代码覆盖率来确保验证的完备性。
这种方法的缺点是在验证过程中,投入的人力成本过大,并且通过人力来保证验证工作的完整性,有太多的不确定因素。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是解决在芯片的验证过程中,通过人工进行测试用例的录入、验证人力成本过大,并且有太多的不确定因素的问题。
为了解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案是提供一种芯片验证测试用例的管理方法,包括测试用例导入以及反标输出两个步骤,
所述测试用例导入包括以下步骤:
A101、读取项目计划阶段完成的测试用例列表并转化为标准XML文件,所述测试用例列表至少包含测试组、测试点和测试用例名称;
A102、采用DOM分析方法将步骤A101得到的标准XML文件生成树状结构数据,并将此树状结构数据作为测试用例列表导入测试系统平台;
A103、根据上述树状结构数据,在测试系统平台上生成对应的空测试用例结构,并将测试用例列表文件中每个测试用例中的测试组、测试点和测试用例名称导入;
A104、在测试平台中手工配置测试用例;
A105、利用EDA工具进行测试用例仿真;
所述测试用例反标输出包括以下步骤:
A201、根据测试用例仿真的结果获得测试用例的运行情况和测试结果的文本文件;
A202、将测试用例完成情况和测试结果文本文件生成树状结构数据并保存在系统内存中;
A203、采用DOM分析方法,将测试用例完成情况测试结果文本文件转化为XML格式,并将对应的字段反标到原测试用例列表中。
在上述方法中,在步骤A101中,测试用例列表为xls格式,通过表格软件将测试用例列表转化为标准XML文件。
在上亮方法中,在步骤A102中,根据DOM文件中的<Row…>到<\Row>,生成树状结构数据。
在上述方法中,在步骤A103中,首先根据上述树状结构数据,生成对应的空测试用例结构,然后读取该空测试用例结构生成树状列表。
在上述方法中,在步骤A203中,根据DOM文件中的<Row…>到<\Row>,生成树状结构数据。
在上述方法中,根据测试用例在测试用例列表中的增减,反标输出时对相应的增减测试用例进行修改。
本发明,通过直接读取项目计划阶段完成的测试用例列表,将其在测试平台中直接生成测试用例;测试结束后,直接将测试结果反标回测试用例列表,这样,大大提高了芯片验证工作的效率,减少了人力成本,并能有效地保证验证工作的完备性,提高芯片验证质量。
附图说明
图1,本发明测试用例导入导出系统结构框图;
图2,本发明的流程图;
图3,测试用例列表示例;
图4,测试用例导入到测试平台结果示例;
图5,测试平台运行完成示例;
图6,导出了结果以后的测试用例列表示例;
图7,一个通过DOM分析读取XML文件的示例。
具体实施方式
本发明提供一种芯片验证测试用例的管理方法,能够自动完成测试用例的输入和验证结果的反标输出,减少了测试人员在测试过程中对测试用例进行核对的时间,大大提升了芯片验证效率,并且规避了人工构建用例时容易出现遗漏的情况,有效地保证了芯片验证的完备性。
本发明提供的芯片验证测试用例的管理方法包括测试用例导入以及反标输出两个步骤,下面结合附图对本发明作出详细的说明。
导入导出系统如图1所示,包括一个Dom(Document Object Model)分析工具、一个与测试系统平台底层交互的组件以及GUI图形界面。其中Dom分析工具是指一种HTML与XML的应用编程接口(API),通过此接口对XML文档进行分析,可以对文档进行读取和写入。
如图2所示,测试用例导入包括以下步骤:
A101、读取项目计划阶段完成的测试用例列表,生成如图3所示的xls格式的测试用例列表,所述测试用例列表至少包含测试组(TestGroup)、测试点(TestPoint)和测试用例名称(TestCase),也可包含测试用例描述等相关信息,通过表格软件(Excel,WPS表格)将测试用例列表转化为标准XML文件;
A102、采用DOM(Document Object Model)分析方法将步骤A101得到的标准XML文件,生成如图7所示的DOM文件,并根据DOM文件中的<Row…>到<\Row>,生成树状结构数据,最后将此树状结构数据作为测试用例列表导入测试系统平台,树状结构数据如下:
A103、根据上述树状结构数据,生成对应的空测试用例结构,读取该空测试用例结构生成图4显示的树状列表,并通过GUI(图形用户接口)程序显示到测试平台中,将测试用例列表文件中每个测试用例中的测试组、测试点和测试用例名称导入树状列表中。导入完成后,通过图4和图5可以观测出,测试平台中的测试用例结构与测试用例列表中的结构保持一致。
A104、在测试平台中手工配置测试用例,并显示在GUI图形界面上。
A105、利用EDA工具进行测试用例仿真,收集覆盖率检查验证完备性。
测试用例反标输出包括以下步骤:
A201、根据EDA工具测试用例仿真的运行结果(EDA工具仿真生成的结果保存于一个测试结果文本文件中),将测试用例的运行情况和测试结果(包含通过情况,覆盖率等)从测试结果文本文件读出,通过GUI显示出来,如图5,其中通过的用例为Test Passed,可用绿色标识,未通过的用例为SomeErrors,可用红色标识。
A202、分析GUI系统中显示的测试用例完成情况以及测试用例运行的结果,生成树状结构数据并存储到系统内存中,此数据如下所示:
Figure BSA00000517125000052
Figure BSA00000517125000061
A203、读取系统内存中的用例结构,并转化为适用于XML文档的数据格式,如图7所示的<Row>…<\Row>格式(包括测试用例运行的结果(如Result,Branch,Line等));采用DOM分析方法,将对<Row>…<\Row>格式格式进行分析,将测试用例完成情况以及测试用例运行的结果转化为XML格式,并将对应的字段反标到原测试用例列表中,如图5和图6所示。
图6所示为最后反标完成后输出的结果,绿色(Test Passed)的用例表示通过,红色(Some Errors)的用例表示失败,同时也会将测试组以及测试点的成功或者失败分别用绿色或者红色标出。此测试用例列表就包括了测试用例运行的全部相关结果,用例运行通过情况以及用例相关代码以及功能覆盖率等信息。通过此文档,可以直观的监测用例运行情况,直接看出哪个测试组或者测试点没用通过,然后查找未通过的用例;也可以直接将此报告作为项目管理的依据,判断项目是否带到结束要就;同时由于此文档由测试平台自动生成,可以有效的节省目前手工录入带来的人力成本。
在实践中,测试用例列表在项目进行过程中会有所增减,于是在反标输出时,会将增减的用例在测试用例列表中进行修改,最终反标输出到测试用例列表中的是经过增减的用例。
本发明,使用自动化的方式完成验证计划的输入和验证结果的反标输出过程,减少了测试人员在测试过程中对用例进行核对的时间;可以有效的保证验证的完备性,规避了人工构建用例时出现遗漏的情况,大幅提升了工作效率。
本发明不局限于上述最佳实施方式,任何人应该得知在本发明的启示下作出的结构变化,凡是与本发明具有相同或相近的技术方案,均落入本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.芯片验证测试用例的管理方法,其特征在于包括测试用例导入以及反标输出两个步骤,
所述测试用例导入包括以下步骤:
A101、读取项目计划阶段完成的测试用例列表并转化为标准XML文件,所述测试用例列表至少包含测试组、测试点和测试用例名称;
A102、采用DOM分析方法将步骤A101得到的标准XML文件生成树状结构数据,并将此树状结构数据作为测试用例列表导入测试系统平台;
A103、根据上述树状结构数据,在测试系统平台上生成对应的空测试用例结构,并将测试用例列表文件中每个测试用例中的测试组、测试点和测试用例名称导入;
A104、在测试平台中手工配置测试用例;
A105、利用EDA工具进行测试用例仿真;
所述测试用例反标输出包括以下步骤:
A201、根据测试用例仿真的结果获得测试用例的运行情况和测试结果的文本文件;
A202、将测试用例完成情况和测试结果文本文件生成树状结构数据并保存在系统内存中;
A203、采用DOM分析方法,将测试用例完成情况测试结果文本文件转化为XML格式,并将对应的字段反标到原测试用例列表中。
2.如权利要求1所述的芯片验证测试用例的管理方法,其特征在于,在步骤A101中,测试用例列表为xls格式,通过表格软件将测试用例列表转化为标准XML文件。
3.如权利要求1所述的芯片验证测试用例的管理方法,其特征在于,在步骤A102中,根据DOM文件中的<Row…>到<\Row>,生成树状结构数据。
4.如权利要求1所述的芯片验证测试用例的管理方法,其特征在于,在步骤A103中,首先根据上述树状结构数据,生成对应的空测试用例结构,然后读取该空测试用例结构生成树状列表。
5.如权利要求1所述的芯片验证测试用例的管理方法,其特征在于,在步骤A203中,根据DOM文件中的<Row…>到<\Row>,生成树状结构数据。
6.如权利要求1所述的芯片验证测试用例的管理方法,其特征在于,根据测试用例在测试用例列表中的增减,反标输出时对相应的增减测试用例进行修改。
CN201110159449.9A 2011-06-15 2011-06-15 芯片验证测试用例的管理方法 Active CN102331967B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110159449.9A CN102331967B (zh) 2011-06-15 2011-06-15 芯片验证测试用例的管理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110159449.9A CN102331967B (zh) 2011-06-15 2011-06-15 芯片验证测试用例的管理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102331967A true CN102331967A (zh) 2012-01-25
CN102331967B CN102331967B (zh) 2014-08-27

Family

ID=45483750

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110159449.9A Active CN102331967B (zh) 2011-06-15 2011-06-15 芯片验证测试用例的管理方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102331967B (zh)

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103793437A (zh) * 2012-11-01 2014-05-14 无锡华润上华科技有限公司 晶圆测试数据处理方法及其系统
CN104008054A (zh) * 2014-05-28 2014-08-27 中国工商银行股份有限公司 一种软件性能测试装置及方法
CN104268078A (zh) * 2014-09-23 2015-01-07 北京控制工程研究所 一种基于参数化ip 测试用例集合的芯片自动化验证方法
CN104268310A (zh) * 2014-09-05 2015-01-07 浪潮集团有限公司 使用专用图形界面调用uvm验证环境的方法
CN104268161A (zh) * 2014-09-05 2015-01-07 四川和芯微电子股份有限公司 Usb芯片验证结果的分析处理系统
CN105718371A (zh) * 2016-01-21 2016-06-29 深圳市同创国芯电子有限公司 一种回归测试方法、装置及系统
CN106019120A (zh) * 2016-05-12 2016-10-12 中国电子科技集团公司第四十研究所 基于可扩展器件测试库的测试管理方法
CN106599498A (zh) * 2016-12-20 2017-04-26 盛科网络(苏州)有限公司 基于树回溯算法提高芯片验证覆盖率的方法
CN106940428A (zh) * 2016-01-04 2017-07-11 中兴通讯股份有限公司 芯片验证方法、装置及系统
CN107870863A (zh) * 2017-11-28 2018-04-03 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种基于xml的分布式自动化测试方法
CN108628748A (zh) * 2018-05-09 2018-10-09 平安普惠企业管理有限公司 自动化测试管理方法和自动化测试管理系统
CN108845942A (zh) * 2018-06-20 2018-11-20 上海哔哩哔哩科技有限公司 产品特征管理方法、装置、系统及存储介质
CN108874671A (zh) * 2018-06-20 2018-11-23 上海哔哩哔哩科技有限公司 测试用例管理方法、装置、系统及存储介质
CN109117356A (zh) * 2017-06-22 2019-01-01 大唐移动通信设备有限公司 一种在人机交互脚本的测试结果的展现方法和装置
CN109597733A (zh) * 2018-12-04 2019-04-09 航天恒星科技有限公司 一种多功能高效动态芯片验证仿真方法和设备
CN109885476A (zh) * 2018-12-14 2019-06-14 平安万家医疗投资管理有限责任公司 自动化测试方法及装置、终端和计算机可读存储介质
CN112527587A (zh) * 2020-12-03 2021-03-19 深圳大普微电子科技有限公司 一种验证进度确定方法、装置、设备及可读存储介质
CN113468003A (zh) * 2021-06-18 2021-10-01 上海芷锐电子科技有限公司 一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法
CN114880242A (zh) * 2022-06-08 2022-08-09 北京百度网讯科技有限公司 测试用例的提取方法、装置、设备和介质
CN115983191A (zh) * 2022-11-28 2023-04-18 海光集成电路设计(北京)有限公司 测试点验证方法及相关装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1916920A (zh) * 2006-09-14 2007-02-21 华为技术有限公司 一种功能覆盖率测试度量系统和方法
US20080052308A1 (en) * 2006-08-22 2008-02-28 Huawei Technologies Co., Ltd. Method and system for realizing automatic adaptation of data object model
CN101819596A (zh) * 2010-04-28 2010-09-01 烽火通信科技股份有限公司 一种基于内存的xml脚本缓存容器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080052308A1 (en) * 2006-08-22 2008-02-28 Huawei Technologies Co., Ltd. Method and system for realizing automatic adaptation of data object model
CN1916920A (zh) * 2006-09-14 2007-02-21 华为技术有限公司 一种功能覆盖率测试度量系统和方法
CN101819596A (zh) * 2010-04-28 2010-09-01 烽火通信科技股份有限公司 一种基于内存的xml脚本缓存容器

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈怡等: "EDA工程建模及其管理方法研究", 《现代电子技术》 *
马庆利等: "自动生成XML测试脚本的类测试", 《信息技术》 *

Cited By (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103793437A (zh) * 2012-11-01 2014-05-14 无锡华润上华科技有限公司 晶圆测试数据处理方法及其系统
CN104008054B (zh) * 2014-05-28 2016-08-31 中国工商银行股份有限公司 一种软件性能测试装置及方法
CN104008054A (zh) * 2014-05-28 2014-08-27 中国工商银行股份有限公司 一种软件性能测试装置及方法
CN104268310A (zh) * 2014-09-05 2015-01-07 浪潮集团有限公司 使用专用图形界面调用uvm验证环境的方法
CN104268161A (zh) * 2014-09-05 2015-01-07 四川和芯微电子股份有限公司 Usb芯片验证结果的分析处理系统
CN104268310B (zh) * 2014-09-05 2017-08-29 浪潮集团有限公司 使用专用图形界面调用uvm验证环境的方法
CN104268078B (zh) * 2014-09-23 2017-03-15 北京控制工程研究所 一种基于参数化ip测试用例集合的芯片自动化验证方法
CN104268078A (zh) * 2014-09-23 2015-01-07 北京控制工程研究所 一种基于参数化ip 测试用例集合的芯片自动化验证方法
CN106940428A (zh) * 2016-01-04 2017-07-11 中兴通讯股份有限公司 芯片验证方法、装置及系统
CN105718371A (zh) * 2016-01-21 2016-06-29 深圳市同创国芯电子有限公司 一种回归测试方法、装置及系统
CN106019120B (zh) * 2016-05-12 2018-12-04 中国电子科技集团公司第四十一研究所 基于可扩展器件测试库的测试管理方法
CN106019120A (zh) * 2016-05-12 2016-10-12 中国电子科技集团公司第四十研究所 基于可扩展器件测试库的测试管理方法
CN106599498A (zh) * 2016-12-20 2017-04-26 盛科网络(苏州)有限公司 基于树回溯算法提高芯片验证覆盖率的方法
CN109117356B (zh) * 2017-06-22 2020-11-13 大唐移动通信设备有限公司 一种在人机交互脚本的测试结果的展现方法和装置
CN109117356A (zh) * 2017-06-22 2019-01-01 大唐移动通信设备有限公司 一种在人机交互脚本的测试结果的展现方法和装置
CN107870863A (zh) * 2017-11-28 2018-04-03 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种基于xml的分布式自动化测试方法
CN108628748A (zh) * 2018-05-09 2018-10-09 平安普惠企业管理有限公司 自动化测试管理方法和自动化测试管理系统
CN108628748B (zh) * 2018-05-09 2023-11-03 新疆北斗同创信息科技有限公司 自动化测试管理方法和自动化测试管理系统
CN108874671A (zh) * 2018-06-20 2018-11-23 上海哔哩哔哩科技有限公司 测试用例管理方法、装置、系统及存储介质
CN108845942A (zh) * 2018-06-20 2018-11-20 上海哔哩哔哩科技有限公司 产品特征管理方法、装置、系统及存储介质
CN108845942B (zh) * 2018-06-20 2024-03-12 上海幻电信息科技有限公司 产品特征管理方法、装置、系统及存储介质
CN109597733A (zh) * 2018-12-04 2019-04-09 航天恒星科技有限公司 一种多功能高效动态芯片验证仿真方法和设备
CN109885476A (zh) * 2018-12-14 2019-06-14 平安万家医疗投资管理有限责任公司 自动化测试方法及装置、终端和计算机可读存储介质
CN112527587A (zh) * 2020-12-03 2021-03-19 深圳大普微电子科技有限公司 一种验证进度确定方法、装置、设备及可读存储介质
CN113468003A (zh) * 2021-06-18 2021-10-01 上海芷锐电子科技有限公司 一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法
CN114880242A (zh) * 2022-06-08 2022-08-09 北京百度网讯科技有限公司 测试用例的提取方法、装置、设备和介质
CN115983191A (zh) * 2022-11-28 2023-04-18 海光集成电路设计(北京)有限公司 测试点验证方法及相关装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN102331967B (zh) 2014-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102331967B (zh) 芯片验证测试用例的管理方法
CN110852065B (zh) 一种文档审核方法、装置、系统、设备及存储介质
CN109739766B (zh) 一种快速搭建fpga数字仿真模型的系统及方法
CN102043719B (zh) 一种对iec61850配置描述文件进行测试的方法
CN110765639B (zh) 一种电气仿真建模方法、装置及可读存储介质
CN102445941B (zh) 列控系统车载设备互联互通测试结果自动判定及分析方法
CN108984208A (zh) 一种功能文件生成方法、装置及系统
CN104408050A (zh) 一种测试数据在线自动判读系统及方法
CN108255837A (zh) 一种sql解析器及方法
CN110347709A (zh) 一种规则引擎的构建方法及系统
CN101604290B (zh) 一种后台模块测试方法和后台模块测试系统
CN102135939B (zh) 一种测试用例执行调度装置及方法
CN103902590B (zh) 终端自动化测试方法及其装置
CN105574246A (zh) 版图的ip模块合成方法
CN108132881A (zh) 一种自动化测试方法及系统
CN115794639B (zh) 基于流程的可视化测试及可视化仿真模拟测试系统和方法
CN101916305A (zh) 一种复杂管脚芯片的验证方法
CN109240872B (zh) 一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质
CN102882737A (zh) 一种基于xml脚本的tl1命令自动化测试方法
CN110377566A (zh) 整理pcb的s参数测试文件的方法及系统
CN102609571A (zh) 一种自动化ip验证平台
CN108776723A (zh) 测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质
CN104216986A (zh) 以数据更新周期进行预操作提高数据查询效率的装置及方法
CN102043708A (zh) Erp软件测试系统
CN113591429A (zh) 一种lcd邦定pin电路原理图的审核系统及审核方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant