CN110376840A - 一种成像设备标校方法、装置、系统及终端设备 - Google Patents

一种成像设备标校方法、装置、系统及终端设备 Download PDF

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Abstract

本申请适用于核电站环境监测技术领域,提供了一种成像设备标校方法、装置、系统及终端设备,所述方法包括:控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录镜头的第一方位值和第一俯仰值;当标校物运动至第二位置时,根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值;获取雷达检测到的标校物位置信息,计算第二方位调节值和第二俯仰调节值;计算方位偏差值,计算俯仰偏差值,根据方位偏差值和俯仰偏差值对成像设备的镜头进行标校。本申请可以解决现有技术中使用雷达和成像设备配合监测时,需要分别对雷达和成像设备进行标校,将雷达和成像设备的坐标系调节至标准坐标系,对标校精度的要求高,实现难度大,耗费时间长的问题。

Description

一种成像设备标校方法、装置、系统及终端设备
技术领域
本申请属于核电站环境监测技术领域,尤其涉及一种成像设备标校方法、装置、系统及终端设备。
背景技术
随着科技的发展,环境监测技术逐渐应用在各种应用场所中。在环境监测技术中,可以使用多传感器相互配合对环境进行监测,例如,可以使用雷达和成像设备配合获取目标物的信息,通过雷达获取目标物的位置信息,成像设备根据目标物的位置信息调节方位和俯仰角,对准目标物,获取目标物的图像信息。
在使用雷达和成像设备对环境进行监测时,需要先对雷达和成像设备的坐标系进行标校,使得雷达和成像设备拥有相同的坐标系,才能协同工作。当前的标校方法中,分别对雷达和成像设备进行标校,将雷达和成像设备的坐标系调节至标准坐标系。这种方式对标校精度的要求高,实现难度大,耗费时间长,通常需要几天时间对雷达和成像设备进行标校。
综上,当前使用雷达和成像设备配合监测时,需要分别对雷达和成像设备进行标校,将雷达和成像设备的坐标系调节至标准坐标系,对标校精度的要求高,实现难度大,耗费时间长。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例提供了一种成像设备标校方法、装置、系统及终端设备,以解决现有技术中使用雷达和成像设备配合监测时,需要分别对雷达和成像设备进行标校,将雷达和成像设备的坐标系调节至标准坐标系,对标校精度的要求高,实现难度大,耗费时间长的问题。
本申请实施例的第一方面提供了一种成像设备标校方法,包括:
控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录所述镜头的第一方位值和第一俯仰值;
当所述标校物运动至第二位置时,根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值;
获取所述标校物位于第二位置时雷达检测到的标校物位置信息,根据所述标校物位置信息、所述成像设备的位置信息、所述第一方位值和所述第一俯仰值计算第二方位调节值和第二俯仰调节值;
计算所述第一方位调节值和所述第二方位调节值的方位偏差值,计算所述第一俯仰调节值和所述第二俯仰调节值的俯仰偏差值,根据所述方位偏差值和所述俯仰偏差值对所述成像设备的镜头进行标校。
本申请实施例的第二方面提供了一种成像设备标校装置,包括:
第一信息模块,用于控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录所述镜头的第一方位值和第一俯仰值;
第一调节模块,用于当所述标校物运动至第二位置时,根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值;
第二调节模块,用于获取所述标校物位于第二位置时雷达检测到的标校物位置信息,根据所述标校物位置信息、所述成像设备的位置信息、所述第一方位值和所述第一俯仰值计算第二方位调节值和第二俯仰调节值;
偏差标校模块,用于计算所述第一方位调节值和所述第二方位调节值的方位偏差值,计算所述第一俯仰调节值和所述第二俯仰调节值的俯仰偏差值,根据所述方位偏差值和所述俯仰偏差值对所述成像设备的镜头进行标校。
本申请实施例的第三方面提供了一种成像设备标校系统,包括:成像设备、雷达、标校物和上述成像设备标校装置;
所述成像设备标校装置分别与所述成像设备和所述雷达通信连接,所述成像设备标校装置用于根据所述雷达和所述标校物对所述成像设备进行标校。
本申请实施例的第四方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述方法的步骤。
本申请实施例的第五方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述方法的步骤。
本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是:
本申请的成像设备标校方法中,控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录此时镜头的第一方位值和第一俯仰值,然后标校物体运动至第二位置,此时可以根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值,并且雷达会测量标校物的位置信息,根据标校物的位置信息、成像设备的位置信息、第一方位值和第一俯仰值可以计算第二方位调节值和第二俯仰调节值,根据第一方位调节值和第二方位调节值可以计算方位偏差值,根据第一俯仰调节值和第二俯仰调节值可以计算俯仰偏差值,根据方位偏差值和俯仰偏差值可以对成像设备的镜头进行标校,标校的过程无需与标准坐标系对齐,成像设备只需与雷达进行配合即可,降低了对标校精度的要求,标校过程简单便捷,可以快速对成像设备进行标校,解决了现有技术中使用雷达和成像设备配合监测时,需要分别对雷达和成像设备进行标校,将雷达和成像设备的坐标系调节至标准坐标系,对标校精度的要求高,实现难度大,耗费时间长的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的一种成像设备标校方法的实现流程示意图;
图2是本申请实施例提供的一种成像设备标校装置的示意图;
图3是本申请实施例提供的一种成像设备标校系统的示意图;
图4是本申请实施例提供的终端设备的示意图;
图5是本申请实施例提供的雷达坐标系中标校物的位置示意图;
图6是本申请实施例提供的成像设备坐标系中标校物的位置示意图;
图7是本申请实施例提供的成像设备坐标系中标校物的位置对比示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
为了说明本申请所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。
应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样,术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地,短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
另外,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
实施例一:
下面对本申请实施例一提供的一种成像设备标校方法进行描述,请参阅附图1,本申请实施例一中的成像设备标校方法包括:
步骤S101、控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录所述镜头的第一方位值和第一俯仰值;
当前使用雷达和成像设备进行配合监测时,需要先分别对雷达和成像设备进行标校,将雷达和成像设备调节至与标准坐标系一致。调节过程中需要先确定标准坐标系,然后通过专业的标校设备进行调节,并且为了确保雷达和成像设备可以相互配合,需要两者均达到较高的标校精度,标校一次通常需要四五天。
在本实施例的成像设备标校方法中,先控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,例如,可以在镜头拍摄的画面中的预设位置设置一个准星,将调节镜头的方位值和俯仰值,使得标校物的图像出现在准星处。
将镜头对准标校物后,记录此时镜头的第一方位值和第一俯仰值。
标校物的类型可以根据实际情况进行选择,例如,本实施例中可以选择无人机作为标校物。
步骤S102、当所述标校物运动至第二位置时,根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值;
记录了第一方位值和第一俯仰值后,控制标校物运动至第二位置,标校物的运动可以由成像设备标校装置进行控制,也可以由工作人员通过其他方式控制,具体控制方式可以根据实际情况进行设置。
标校物运动至第二位置后,可以通过目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值,第一方位调节值和第一俯仰调节值为镜头跟踪标校物所需调节的方位值和俯仰值,第一方位调节值和第一俯仰调节值可以作为成像设备实际应当调节的方位值和俯仰值。
步骤S103、获取所述标校物位于第二位置时雷达检测到的标校物位置信息,根据所述标校物位置信息、所述成像设备的位置信息、所述第一方位值和所述第一俯仰值计算第二方位调节值和第二俯仰调节值;
此时,除了通过目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值之外,还可以获取当标校物位于第二位置时雷达检测到的标校物位置信息。
得到标校物位置信息后,可以根据标校物位置信息、成像设备的位置信息、第一方位值和第一俯仰值计算第二方位调节值和第二俯仰调节值,例如,可以通过标校物位置信息和成像设备的位置信息计算成像设备的镜头应当调节至方位值东偏北12度,俯仰值35度方向,而第一方位值为东偏北10.5度,俯仰值为37.5度,则可以计算出第二方位调节值为1.5度,第二俯仰调节值为-2.5度。
当成像设备的坐标系与雷达的坐标系存在偏差时,可以结合图5、图6和图7举例说明,雷达检测检测到的标志物位置如图5所示,雷达将标志物的位置信息发送至成像设备,成像设备根据标志物的位置信息在自己的坐标系确定标志物的位置如图6所示,但是因为成像设备的坐标系和雷达的坐标系存在偏差,因此,标志物在成像设备的坐标系中的实际位置如图7中的虚线框所示。
因此,当成像设备的坐标系和雷达的坐标系存在偏差时,第二方位调节值和第二俯仰调节值与实际应当调节的方位值和俯仰值存在偏差。
步骤S104、计算所述第一方位调节值和所述第二方位调节值的方位偏差值,计算所述第一俯仰调节值和所述第二俯仰调节值的俯仰偏差值,根据所述方位偏差值和所述俯仰偏差值对所述成像设备的镜头进行标校。
当计算得到第二方位调节值和第二俯仰调节值之后,可以计算第一方位调节值和第二方位调节值的方位偏差值,计算第一俯仰调节值和第二俯仰调节值的俯仰偏差值,例如,第一方位调节值为1.34度,第二方位调节值为1.5度,第一俯仰调节值为-2.23度,第二俯仰调节值为-2.5度,则可以计算得到方位偏差值位置-0.16度,俯仰偏差值为0.27度。
方位偏差值和俯仰偏差值为成像设备与雷达坐标系不一致导致的偏差,因此可以根据方位偏差值和俯仰偏差值对成像设备的镜头进行标校,例如,在雷达和成像设备配合监测的过程中,成像设备根据雷达发送的目标物位置计算第三方位调节值为33度,第三俯仰调节值为15度,在标校的过程计算得到的方位偏差值位置-0.16度,俯仰偏差值为0.27度,则可以根据第三方位调节值和方位偏差值计算得知实际应当调节的方位调节值为32.84度,根据第三俯仰调节值和俯仰偏差值计算得知实际应当调节的俯仰调节值为15.27度。
进一步地,所述方法还包括:
A1、将所述成像设备的监控区域划分为预置数量的子区域,分别在各个子区域中进行标校操作,得到各个子区域对应的方位偏差值和俯仰偏差值。
受到雷达和成像设备在安装过程中的多种因素的影响,成像设备在各个方向上的方位偏差值和俯仰偏差值可能存在一定的差异,为了提高精度,可以将成像设备的监控区域划分为预置数量的子区域,分别在各个子区域中进行标校操作,例如,可以将成像设备的监控区域均匀分成四个扇区子区域,分别在各个扇区子区域中进行标校操作,得到各个扇区子区域对应方位偏差值和俯仰偏差值,在应用的过程中,当雷达监测到目标物的位置信息位于某个扇区子区域中,则使用该扇区子区域对应的方位偏差值和俯仰偏差值进行标校,与雷达进行配合,对目标物进行监测。
通常而言,子区域划分地越多,标校的精度越高,但是标校的工作量也越多,子区域的具体数量和划分方式可以根据实际情况进行设置。
进一步地,所述方法还包括:
B1、以所述镜头为圆心,划分不同的距离区间,分别在各个距离区间中进行标校操作,得到各个距离区间对应的方位偏差值和俯仰偏差值。
目标物距离成像设备越远,则对雷达和成像设备的配合精度的要求越高,微小的误差可能会导致极大的偏差,因此,可以以镜头为圆心,划分不同的距离区间,例如,0至500米为一个区间,500米至1000米为一个区间,100米至2000米一个区间,2000米至3000米为一个区域,分别在各个距离区间内进行标校操作,得到不同精度的方位偏差值和俯仰偏差值,例如,同一个方向,在0至500米区间测得的方位偏差值为0.2度,在500米至1000区间测得的方位偏差值为0.19度。
同时,标校精度越高,对成像设备的运动模块的控制精度要求也越高,否则无法实现精细的调节,因此,当目标物处于不同的距离区间时,可以根据距离区间采取对应标校精度的方位偏差值和俯仰偏差值,不必所有距离的目标物都使用最高精度的方位偏差值和俯仰偏差值,降低成像设备的运动模块的控制难度。
进一步地,所述标校物具体为无人机。
标校物的具体类型可以根据实际情况进行选择,本实施例中可以优选无人机作为标校物,无人机进行标校时,操作便捷,可以适应各种地形和各种高度,降低标校的难度,提高标校效率。
本实施例一提供的成像设备标校方法中,控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录此时镜头的第一方位值和第一俯仰值,然后标校物体运动至第二位置,此时可以根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值,并且雷达会测量标校物的位置信息,根据标校物的位置信息、成像设备的位置信息、第一方位值和第一俯仰值可以计算第二方位调节值和第二俯仰调节值,根据第一方位调节值和第二方位调节值可以计算方位偏差值,根据第一俯仰调节值和第二俯仰调节值可以计算俯仰偏差值,根据方位偏差值和俯仰偏差值可以对成像设备的镜头进行标校,标校的过程无需与标准坐标系对齐,成像设备只需与雷达进行配合即可,降低了对标校精度的要求,标校过程简单便捷,可以快速对成像设备进行标校,解决了现有技术中使用雷达和成像设备配合监测时,需要分别对雷达和成像设备进行标校,将雷达和成像设备的坐标系调节至标准坐标系,对标校精度的要求高,实现难度大,耗费时间长的问题。
为了进一步提高精度,可以将成像设备的监控区域划分为多个子区域,分别对各个子区域进行标校操作,提高标校的精度。
在应用的过程中,不同的距离对成像设备和雷达的配合精度存在不同的要求,距离越远,配合精度要求越高,因此可以设置不同的距离区间,分别在各个距离区间中进行标校,得到不同精度的方位偏差值和俯仰偏差值,不同距离的目标物使用对应精度的方位偏差值和俯仰偏差值,降低成像设备的运动模块的控制难度。
在选择标校物时,可以优选为无人机,使用无人机进行标校时,操作便捷,可以适应各种地形和各种高度,降低标校的难度,提高标校效率。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
实施例二:
本申请实施例二提供了一种成像设备标校装置,为便于说明,仅示出与本申请相关的部分,如图2所示,成像设备标校装置包括,
第一信息模块201,用于控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录所述镜头的第一方位值和第一俯仰值;
第一调节模块202,用于当所述标校物运动至第二位置时,根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值;
第二调节模块203,用于获取所述标校物位于第二位置时雷达检测到的标校物位置信息,根据所述标校物位置信息、所述成像设备的位置信息、所述第一方位值和所述第一俯仰值计算第二方位调节值和第二俯仰调节值;
偏差标校模块204,用于计算所述第一方位调节值和所述第二方位调节值的方位偏差值,计算所述第一俯仰调节值和所述第二俯仰调节值的俯仰偏差值,根据所述方位偏差值和所述俯仰偏差值对所述成像设备的镜头进行标校。
进一步地,所述装置还包括:
分区标校模块,用于将所述成像设备的监控区域划分为预置数量的子区域,分别在各个子区域中进行标校操作,得到各个子区域对应的方位偏差值和俯仰偏差值。
进一步地,所述装置还包括:
分距标校模块,用于以所述镜头为圆心,划分不同的距离区间,分别在各个距离区间中进行标校操作,得到各个距离区间对应的方位偏差值和俯仰偏差值。
进一步地,所述标校物具体为无人机。
需要说明的是,上述装置/单元之间的信息交互、执行过程等内容,由于与本申请方法实施例基于同一构思,其具体功能及带来的技术效果,具体可参见方法实施例部分,此处不再赘述。
实施例三:
本申请实施例三提供了一种成像设备标校系统,为便于说明,仅示出与本申请相关的部分,如图3所示,成像设备标校系统包括,成像设备301、雷达302、标校物303和上述实施例中任一种成像设备标校装置304;
所述成像设备标校装置304分别与所述成像设备301和所述雷达302通信连接,所述成像设备标校装置304用于根据所述雷达302和所述标校物303对所述成像设备301进行标校。
成像设备标校装置304分别与成像设备301和雷达302通信连接,具体应用时,成像设备标校装置304可以与成像设备301分离设置,例如成像设备标校装置304可以为控制中心,或者成像设备标校装置304也可以与成像设备301集成设置,例如通过成像设备301的控制器实现上述实施例中的成像设备301标校方法。
标校物303可以与成像设备标校装置304通信连接,也可以不与成像设备301通信连接,例如,标校物303由成像设备标校装置304控制时,标校物303与成像设备标校装置304通信连接;标校物303由其他工作人员手动操作或者执行预设程序时,不与成像设备标校装置304通信连接也可以完成标校物303的功能,此时标校物303可以不与成像设备标校装置304通信连接。
实施例四:
图4是本申请实施例四提供的终端设备的示意图。如图4所示,该实施例的终端设备4包括:处理器40、存储器41以及存储在所述存储器41中并可在所述处理器40上运行的计算机程序42。所述处理器40执行所述计算机程序42时实现上述成像设备标校方法实施例中的步骤,例如图1所示的步骤S101至S104。或者,所述处理器40执行所述计算机程序42时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能,例如图2所示模块201至204的功能。
示例性的,所述计算机程序42可以被分割成一个或多个模块/单元,所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器41中,并由所述处理器40执行,以完成本申请。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序42在所述终端设备4中的执行过程。例如,所述计算机程序42可以被分割成第一信息模块、第一调节模块、第二调节模块以及偏差标校模块,各模块具体功能如下:
第一信息模块,用于控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录所述镜头的第一方位值和第一俯仰值;
第一调节模块,用于当所述标校物运动至第二位置时,根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值;
第二调节模块,用于获取所述标校物位于第二位置时雷达检测到的标校物位置信息,根据所述标校物位置信息、所述成像设备的位置信息、所述第一方位值和所述第一俯仰值计算第二方位调节值和第二俯仰调节值;
偏差标校模块,用于计算所述第一方位调节值和所述第二方位调节值的方位偏差值,计算所述第一俯仰调节值和所述第二俯仰调节值的俯仰偏差值,根据所述方位偏差值和所述俯仰偏差值对所述成像设备的镜头进行标校。
所述终端设备4可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端设备可包括,但不仅限于,处理器40、存储器41。本领域技术人员可以理解,图4仅仅是终端设备4的示例,并不构成对终端设备4的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器40可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器41可以是所述终端设备4的内部存储单元,例如终端设备4的硬盘或内存。所述存储器41也可以是所述终端设备4的外部存储设备,例如所述终端设备4上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器41还可以既包括所述终端设备4的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器41用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器41还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/终端设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种成像设备标校方法,其特征在于,包括:
控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录所述镜头的第一方位值和第一俯仰值;
当所述标校物运动至第二位置时,根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值;
获取所述标校物位于第二位置时雷达检测到的标校物位置信息,根据所述标校物位置信息、所述成像设备的位置信息、所述第一方位值和所述第一俯仰值计算第二方位调节值和第二俯仰调节值;
计算所述第一方位调节值和所述第二方位调节值的方位偏差值,计算所述第一俯仰调节值和所述第二俯仰调节值的俯仰偏差值,根据所述方位偏差值和所述俯仰偏差值对所述成像设备的镜头进行标校。
2.如权利要求1所述的成像设备标校方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述成像设备的监控区域划分为预置数量的子区域,分别在各个子区域中进行标校操作,得到各个子区域对应的方位偏差值和俯仰偏差值。
3.如权利要求1所述的成像设备标校方法,其特征在于,所述方法还包括:
以所述镜头为圆心,划分不同的距离区间,分别在各个距离区间中进行标校操作,得到各个距离区间对应的方位偏差值和俯仰偏差值。
4.如权利要求1所述的成像设备标校方法,其特征在于,所述标校物具体为无人机。
5.一种成像设备标校装置,其特征在于,包括:
第一信息模块,用于控制成像设备的镜头对准位于第一位置的标校物,记录所述镜头的第一方位值和第一俯仰值;
第一调节模块,用于当所述标校物运动至第二位置时,根据目标跟踪算法计算第一方位调节值和第一俯仰调节值;
第二调节模块,用于获取所述标校物位于第二位置时雷达检测到的标校物位置信息,根据所述标校物位置信息、所述成像设备的位置信息、所述第一方位值和所述第一俯仰值计算第二方位调节值和第二俯仰调节值;
偏差标校模块,用于计算所述第一方位调节值和所述第二方位调节值的方位偏差值,计算所述第一俯仰调节值和所述第二俯仰调节值的俯仰偏差值,根据所述方位偏差值和所述俯仰偏差值对所述成像设备的镜头进行标校。
6.如权利要求5所述的成像设备标校装置,其特征在于,所述装置还包括:
分区标校模块,用于将所述成像设备的监控区域划分为预置数量的子区域,分别在各个子区域中进行标校操作,得到各个子区域对应的方位偏差值和俯仰偏差值。
7.如权利要求5所述的成像设备标校装置,其特征在于,所述装置还包括:
分距标校模块,用于以所述镜头为圆心,划分不同的距离区间,分别在各个距离区间中进行标校操作,得到各个距离区间对应的方位偏差值和俯仰偏差值。
8.一种成像设备标校系统,其特征在于,包括:成像设备、雷达、标校物和如权利要求5至7中任一项所述的成像设备标校装置;
所述成像设备标校装置分别与所述成像设备和所述雷达通信连接,所述成像设备标校装置用于根据所述雷达和所述标校物对所述成像设备进行标校。
9.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述方法的步骤。
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