CN110362434B - 对象测试方法及设备 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种对象测试方法及设备,该方法包括:在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分;根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试;在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载所述系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试,能够确保待测试对象电路板功能的完整性与可靠性,提高出厂产品的良品率。
Description
技术领域
本发明实施例涉及测试技术领域,尤其涉及一种对象测试方法及设备。
背景技术
目前,工厂产线生产的产品,例如汽车电子产品对品控要求非常高,产线经常会发生生产出来的产品,由于硬件电路板、元器件发生故障或者性能不符合设计需求等原因,不能够正常使用,而产线的工人,没有能力定位发生问题的原因。
现有的产线产品测试方法,批量的将完整的目标产品级操作系统(安卓,Linux等)通过USB/SD卡或专用的烧录设备等方式直接烧录到产品的电路板中,再运行操作系统中对应的测试脚本对产品进行功能级测试,测试产品的功能是否正常。
但是,现有的产线产品测试方法,只能进行功能级的测试,不能准确定位产品硬件方面的故障及其原因,很难确保出厂产品的硬件良品率,而工厂最为关心的是自己生产的电路板硬件有没有出现问题。
发明内容
本发明实施例提供一种对象测试方法及设备,以克服现有的产线产品测试方法只能进行功能级的测试,不能准确定位硬件方面的故障及其原因,很难确保出厂产品的硬件良品率的问题。
第一方面,本发明实施例提供一种对象测试方法,包括:
在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分;
根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试;
在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载所述系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试。
在一种可能的设计中,所述根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试,包括:
接收第一设备发送的测试指令;
确定所述测试指令的类型;
根据所述测试指令的类型,对所述待测试对象进行测试。
在一种可能的设计中,所述根据所述测试指令的类型,对所述待测试对象进行测试,包括:
确定所述测试指令对应的测试项;
根据所述测试指令的类型和所述测试项,获取所述测试指令对应的测试程序;
根据所述测试程序,对所述待测试对象中的所述测试项进行测试。
在一种可能的设计中,所述硬件测试包括对所述待测试对象进行的功能测试、性能测试、安全测试、压力测试中的至少一种。
在一种可能的设计中,所述硬件测试为压力测试,根据所述测试程序,对所述待测试对象中的所述测试项进行测试,包括:
确定所述测试项对应的测试次数和/或测试时长;
根据所述测试次数和/或所述测试时长,通过所述测试程序对所述测试项进行测试。
在一种可能的设计中,在对所述待测试对象的硬件测试失败时,所述方法还包括:
确定所述待测试对象中测试失败的部件;
生成所述测试失败的部件的测试信息。
第二方面,本发明实施例提供一种对象测试设备,包括:
子系统加载模块,用于在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分;
测试模块,用于根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试;
系统加载模块,用于在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载所述系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试。
在一种可能的设计中,所述测试模块具体用于:
接收第一设备发送的测试指令;
确定所述测试指令的类型;
根据所述测试指令的类型,对所述待测试对象进行测试。
在一种可能的设计中,所述测试模块还具体用于:
确定所述测试指令对应的测试项;
根据所述测试指令的类型和所述测试项,获取所述测试指令对应的测试程序;
根据所述测试程序,对所述待测试对象中的所述测试项进行测试。
在一种可能的设计中,所述测试模块还具体用于:
确定所述测试项对应的测试次数和/或测试时长;
根据所述测试次数和/或所述测试时长,通过所述测试程序对所述测试项进行测试。
在一种可能的设计中,所述测试模块还用于:
确定所述待测试对象中测试失败的部件;
生成所述测试失败的部件的测试信息。
第三方面,本发明实施例提供一种对象测试设备,包括:至少一个处理器和存储器;
所述存储器存储计算机执行指令;
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令,使得所述至少一个处理器执行如第一方面任一项所述的一种对象测试方法。
第四方面,本发明实施例提供一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行所述计算机执行指令时,实现如第一方面任一项所述的对象测试方法。
本实施例提供的对象测试方法及设备,在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分;根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试;在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载所述系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试,能够确保待测试对象电路板功能的完整性与可靠性,提高出厂产品的硬件良品率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的对象测试系统的示意图;
图2为本发明实施例提供的第一设备与待测试对象的通信连接示意图;
图3为本发明实施例提供的对象测试方法的流程示意图一;
图4为本发明实施例提供的对象测试方法的流程示意图二;
图5为本发明实施例提供的BT回环测试的测试系统图;
图6为本发明实施例提供的BT回环测试的流程示意图;
图7为本发明实施例提供的对象测试方法的流程示意图三;
图8为本发明实施例提供的对象测试设备的结构示意图;
图9为本发明实施例提供的对象测试设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的对象测试系统的示意图,本实施例提供的对象测试系统应用于产线的测试环境,可以执行对象测试方法。具体的,在本实施例中,待测试对象为汽车信息娱乐中控车机。可选的,待测试对象也可以为其它电子产品,如手机、平板电脑、电视机等。
如图1所示,包括:第一设备11、待测试对象12和测试仪器13,其中,第一设备11、待测试对象12和测试仪器13之间互相连接,可以互相进行通信。
具体地,在本实施例中,第一设备11为上位机,上位机发送测试指令给测试仪器13和待测试对象12,触发测试仪器13执行测试程序,并且待测试对象12解析上位机发送的测试指令的类型,待测试对象12解析上位机的测试指令的类型后,测试仪器13通过执行测试程序,对待测试对象进行测试。
其中,测试仪器13可以为音频信号发生器、FM/AM信号发生器、音频信号分析仪、视频信号发生器、视频信号分析仪、GPS信号发生器、WIFI信号发生器、示波器、万用表等测试仪器,本实施例此处不做限制,只要测试仪器13可以对待测试对象进项相应的测试即可。
可选的,待测试对象12可以为产品的电路板,也可以为产品的整机形态,待测试对象12的具体形态由具体的测试项决定。
下面结合图2,对第一设备与待测试对象之间如何进行通信进行说明。图2为本发明实施例提供的第一设备与待测试对象的通信连接示意图,如图2所示:
第一设备11为上位机,上位机与待测设备12的微控制单元(Micro ControllerUnit,MCU)芯片121之间通过控制器局域网络(Controller Area Network,CAN)总线通信连接,上位机与待测设备12的微处理器(Micro Processor Unit,MPU)芯片122之间通过通用异步收发传输器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter,UART)总线通信连接,MCU芯片121与MPU芯片122之间通过-串行外设接口(Serial Peripheral Interface,SPI)总线通信连接。
具体的,在本实施例中,MPU芯片的型号为NXP的imx6qp,MCU芯片为的型号瑞萨的RH850。
其中,上位机与MPU芯片之间的通信过程为:双方约定测试指令,上位机发送测试指令给MPU芯片,MPU芯片解析测试指令,执行相关的测试,测试结束后,MPU将测试结果反馈给上位机。
其中,上位机与MCU芯片之间的通信过程为:双方约定测试命令,上位机发送测试指令给MCU芯片,MCU芯片解析测试指令,执行相关的测试,测试结束后,MCU芯片将测试结果反馈给上位机。
其中,上MCU芯片与MPU芯片之间的通信过程为:MCU芯片通过SPI总线发送正在执行的测试的测试阶段信息及相关测试参数给MPU芯片。例如,正在执行的测试阶段信息为压力测试,相关测试参数为测试项、测试次数和测试时长等。
下面结合具体的实施例,对图1实施例提供的对象测试系统如何进行对象测试进行详细说明。
图3为本发明实施例提供的对象测试方法的流程示意图一,如图3所示,该方法包括:
S301、在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分。
具体的,在本实施例中,子系统为基于Linux的操作系统,测试代码由C语言实现。可选的,子系统也可以为其它的操作系统,如安卓操作系统。
可选的,可以通过U盘或者SD卡将子系统以烧录的方式加载在车机的电路板上。本实施例提供的子系统为Busy Box制作的只运行测试代码的linux小系统,不含其他的应用程序,大小为40M,能在车机的电路板上电数秒内被执行。
本实施例提供的linux小系统,加载后存储在车机电路板上的非易失性闪存(NORFLASH)中的MLO分区和嵌入式多媒体卡(EMMC)中的T-Uboot分区、T-Kernel分区以及T-Rootfs分区。
S302、根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试。
具体的,在本实施例中,硬件测试包括第一阶段测试和第二阶段测试,其中,第一阶段测试包括:芯片识别号(Device ID)获取测试、功能类测试、性能类测试、标定类测试、安全功能测试,第二阶段测试为压力测试。
具体地,Device ID获取测试的过程为:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为获取Device ID的指令,然后通过上位机发送的指令获取对应芯片ID寄存器存储的ID号。通过获取Device ID能够判断芯片是否能够工作,是否贴错批次,是否加载了正确固件等。
芯片识别号包括:MPU芯片的硬件版本号、音频DSP芯片的硬件版本号、Nor-Flash芯片的硬件版本号、EMMC芯片的硬件版本号、Gyro芯片的硬件版本号、加速度传感器的硬件版本号、视频输入、输出芯片的硬件版本号、WIFI芯片的硬件版本号、蓝牙芯片的硬件版本号、GPS芯片的硬件版本号、USB芯片的硬件版本号等。
功能类测试包括:音频测试,屏幕测试、USB过流保护测试、通用输入/输出(General Purpose Input Output,GPIO)管脚测试、I2C设备节点测试等。
具体的,音频测试用于测试音频是否能够正常输出。具体过程为:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为音频测试的指令,然后运行对应的测试程序让音频DSP芯片内部产生正弦波信号,在车机输出端检测输出波形是否与理论波形匹配;同时上位机发指令给信号发生器,信号发生器向麦克风的输入端输入正弦波信号,在DSP芯片内部回环到输出,检测输出信号的波形是否与麦克风的输入波形一致,将测试结果反馈给上位机。
具体的,屏幕测试用于测试车机的屏幕是否能够正常显示。具体过程为:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为屏幕测试的指令,然后运行对应的测试程序让视频输入芯片产生特定的RGB彩条图片,并将其在屏幕输出。同时上位机发指令给视频测试仪器,测试仪器分析输出的彩条是否与视频输入芯片产生的彩条一致,将测试结果反馈给上位机。
具体的,USB过流保护测试用于测试USB是否能够正常进行过流保护。具体过程为:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为USB过流保护测试的指令,然后运行对应的测试程序进行USB过流保护测试,检测USB过流保护是否开启,将测试结果反馈给上位机。
具体的,GPIO管脚测试用于测试GPIO管脚能否正常工作。具体过程为:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为GPIO管脚测试的指令,然后运行对应的测试程序对车机电路板上的某些GPIO进行拉高或拉低,同时上位机发指令给测试仪器,测试仪器测量电路板上对应的测量点的高低电平状态是否正确,将测试结果反馈给上位机。
具体的,I2C设备节点测试用于测试I2C设备能否正常工作。具体过程为:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为I2C设备节点测试的指令,然后运行对应的测试程序,对某些I2C设备的特定寄存器进行读写,检测该I2C设备对应的功能引脚是否发生相应的变化,将测试结果反馈给上位机。
性能类测试包括:FM/AM的灵敏度及信号质量测试、WIFI的误码率测试、GPS的灵敏度测试、传感器的灵敏度与精准度测试、蓝牙(Blue Tooth,BT)信号质量测试等。
FM/AM的灵敏度及信号质量测试的具体过程为:上位机发指令给MPU芯片和信号发生器,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为FM/AM的灵敏度及信号质量测试的指令,MPU执行对应的测试代码,信号发生器根据上位机发送的指令,向FM/AM的输入电路输入不同功率等级的信号,音频信号检测仪器检测音频DSP的输出信号的质量是否满足需求,并将测试结果反馈给上位机。
WIFI的误码率测试的具体过程为:上位机发指令给MPU芯片和WIFI测试仪,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为WIFI的误码率测试的指令,WIFI测试仪根据上位机发送的指令,向WIFI天线发送固定包数的信号,WIFI芯片将接收到的信号进行解析,计算出误码率等指标,返回给MPU芯片,MPU芯片判断计算出的误码率是否小于预设的误码率值,并将测试结果反馈给上位机。
GPS的灵敏度测试的具体过程为:上位机发指令给MPU芯片和GPS信号发生器,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为GPS的灵敏度测试的指令,GPS信号发生器根据上位机发送的指令,向车机发送GPS信号,MPU芯片检测收到第一颗可用卫星所消耗的时间等指标,判断该指标是否满足预设的值,并将测试结果反馈给上位机。
BT信号质量测试的具体过程为:上位机发指令给MPU芯片、音频信号发生器和音频测试仪,MPU芯片通过对上位机发送的指令进行解析,确定指令为BT信号质量测试的指令,然后通过音频信号发生器向麦克风的输入端输入正弦波信号,经过音频DSP后送往BT芯片,在BT芯片内部回环,由BT芯片送回音频DSP,音频测试仪检测音频DSP喇叭输出端的信号与麦克风输入的正弦波信号之间的差值是否小于预设差值,并将测试结果反馈给上位机。
标定类测试是将车机电路板的硬件版本号和蓝牙/WIFI的媒体访问控制(MediaAccess Control Address,MAC)地址与版权许可证号写入到Nor-Flash的标定分区,然后从Nor-Flash中读取,确定是否将车机电路板的硬件版本号和BT/WIFI的MAC地址与版权许可证号正确写入到Nor-Flash中,并将测试结果反馈给上位机。
安全功能测试是将MPU芯片的安全启动功能进行功能使能,即对MPU芯片进行安全启动加密,再读取MPU芯片的安全启动熔丝的状态,确定是否完成安全启动加密。对应的只有经过安全启动加密的系统镜像,才能在车机上运行。
压力测试是选取第一阶段测试的部分测试项,进行1到360次的压力测试,确保车机硬件的稳定性。
S303、在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载所述系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试。
具体的,在本实施例中,系统为阿里巴巴自主研发的的alios操作系统,该操作系统为包含应用程序的完整的操作系统。该系统也可以为其它的操作系统,如安卓操作系统或者Linux操作系统。
可选的,可以通过U盘或者SD卡将alios操作系统以烧录的方式加载在车机的电路板上,加载时长为大约40分钟。
加载完alios操作系统后,通过操作alios操作系统,对车机进行系统级的功能验证。例如,可以通过调用APP对车机进行相应的测试。
本实施例提供的对象测试方法,在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分;根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试;在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载所述系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试,能够确保待测试对象电路板功能的完整性与可靠性,提高出厂产品的良品率。
下面结合具体的实施例,对如何进行第一阶段测试做进一步说明。图4为本发明实施例提供的对象测试方法的流程示意图二,如图4所示,该方法包括:
S401、接收第一设备发送的测试指令;
S402、确定所述测试指令的类型;
S403、确定所述测试指令对应的测试项。
具体的,先启动Uart命令监听线程,实时监听上位机发送的测试指令,并且在监听到上位机发送的测试指令时,告知上位机可以进行测试,并且确定测试指令的类型。若测试指令的类型为压力测试,则退出Uart命令监听线程,执行压力测试线程。
若测试指令的类型不是压力测试,则再判断测试指令的类型是否为alios操作系统烧录的测试指令。若是,则退出Uart命令监听线程,激活alios操作系统烧录线程。
若否,MPU接收上位机发送的测试指令,在确定所述测试指令的类型是否为性能测试,对应的测试项为是否为BT测试。若确定测试指令为BT以外其他测试,则进行相应测试,并将测试结果返回给上位机。
S404、根据所述测试指令的类型和所述测试项,执行所述测试指令对应的测试程序;
若确定测试指令的类型为功能测试,对应的测试项为BT测试,则获取BT测试指令对应的测试程序,激活BT固件下载线程,开始BT测试,返回测试结果给上位机。
S405、对所述待测试对象的硬件测试失败时,确定所述待测试对象中测试失败的部件;
S406、生成所述测试失败的部件的测试信息。
具体的,在进行BT测试失败时,确定车机中测试失败的部件为BT芯片,生成BT芯片测试失败的测试信息,并将失败信息返回给上位机。由失败信息可以准确快速的定位故障并解决。
下面以BT的回环测试为例,对第一阶段测试进行说明。图5为本发明实施例提供的BT回环测试的测试系统图,如图5所示,BT回环测试的测试系统包括:信号发生器131、电源132、音频分析仪器133、上位机11以及车机12和车机的BT芯片123,其中,车机12分别与信号发生器131、电源132、上位机11连接。
信号发生器131产生1KHz的正弦波信号输入到车机的麦克风的输入端,车机12的音频输出口接4欧姆的电阻,用于模拟喇叭阻抗,电阻的两端连到音频分析仪器133。
基于BT回环测试的测试系统,可以实现BT回环测试,下面结合图6进行说明。图6为本发明实施例提供的BT回环测试的流程示意图,结合图5和图6,BT回环测试包括:
S601、上位机通过UART口向MPU芯片发送BT回环测试指令;
S602、MPU芯片解析上位机发送的指令,确定该指令为BT回环测试指令;
S603、MPU芯片控制将BT芯片内部设置为回环模式;
S604、开启第一线程,录取麦克风的数据,同时将数据发送给BT芯片的输入端;
S605、开启第二线程,录取BT芯片输出端的数据,同时将数据发送给DSP芯片的输入端,然后控制DSP芯片将输入端的数据送到输出端。
S606、音频分析仪对比麦克风输入端信号与喇叭输出端信号,判断喇叭输出端信号是否满足要求。
可选的,在BT的回环测试完成数秒后,MPU结束第一线程和第二次线程,结束BT回环测试,等待其它测试指令。
本实施例提供的对象测试方法,接收第一设备发送的测试指令;确定所述测试指令的类型;确定所述测试指令对应的测试项;对所述待测试对象的硬件测试失败时,确定所述待测试对象中测试失败的部件;生成所述测试失败的部件的测试信息,由测试信息可以准确快速的定位故障并解决,提高提高出厂产品的良品率。
下面结合具体的实施例,对如何执行第二阶段的压力测试做进一步说明。图7为本发明实施例提供的对象测试方法的流程示意图三,如图7所示,该方法包括:
S701、确定所述测试项对应的测试次数和/或测试时长;
具体的,开启SPI命令监听线程,实时监听上位机发送的测试指令。监听到上位机发送的测试指令后,确定测试指令的类型是否为压力测试。若否,则退出SPI命令监听线程。
若是,MCU激活压力测试线程,解析上位机发送的压力测试指令,确定测试项以及测试项对应的测试次数和/或测试时长,并将测试项以及测试项对应的测试次数和/或测试时长发送给MPU。
S702、根据所述测试次数和/或所述测试时长,通过所述测试程序对所述测试项进行测试。
具体的,MPU接收到MCU发送的测试项以及测试项对应的测试次数和/或测试时长,通过所述测试程序开始测试项对应的压力测试。开始测试后,判断测试是否发生错误。若否,则返回测试成功的测试结果给上位机。
若是,在每一轮测试完成后,将问题测试项的序号与错误原因返回给上位机,继续进行下一轮的测试,直到完成预设测试次数的测试。
本实施例提供的对象测试方法,确定所述测试项对应的测试次数和/或测试时长;根据所述测试次数和/或所述测试时长,通过所述测试程序对所述测试项进行压力测试,能够确保待测试对象电路板功能的稳定性、可靠性,提高出厂产品的良品率。
图8为本发明实施例提供的对象测试设备的结构示意图,如图8所示,该本发明实施例提供的对象测试设备80包括:子系统加载模块801、测试模块802以及系统加载模块803。
子系统加载模块801,用于在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分;
测试模块802,用于根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试;
系统加载模块803,用于在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载所述系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试。
可选地,测试模块802具体用于:
接收第一设备发送的测试指令;
确定所述测试指令的类型;
根据所述测试指令的类型,对所述待测试对象进行测试。
可选地,测试模块802还具体用于:
确定所述测试指令对应的测试项;
所述测试指令的类型和所述测试项,获取所述测试指令对应的测试程序;
根据所述测试程序,对所述待测试对象中的所述测试项进行测试。
可选地,测试模块802还具体用于:
确定所述测试项对应的测试次数和/或测试时长;
根据所述测试次数和/或所述测试时长,通过所述测试程序对所述测试项进行测试。
可选地,测试模块802还用于:
确定所述待测试对象中测试失败的部件;
生成所述测试失败的部件的测试信息。
本实施例提供的装置,可以用于执行图3至图7所示方法实施例的技术方案,其实现原理和技术效果类似,此处不再赘述。
图9为本发明实施例提供的对象测试设备的硬件结构示意图。如图9所述,本实施例提供的驾驶辅助设备90包括:
处理器901、存储器902;其中
存储器902,用于存储计算机执行指令。
处理器901,用于执行存储器存储的计算机执行指令。
处理器901通过执行存储器存储的计算机执行指令,实现了上述实施例中对象测试设备所执行的各个步骤。具体可以参见上述方法实施例中的相关描述。
可选地,存储器902既可以是独立的,也可以跟处理器901集成在一起,本实施例不做具体限定。
当存储器902独立设置时,该驾驶辅助设备还包括总线903,用于连接所述存储器902、处理器901。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行所述计算机执行指令时,实现如上所述的对象测试方法。
在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个模块可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个单元中。上述模块成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能模块的形式实现的集成的模块,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能模块存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器(英文:processor)执行本申请各个实施例所述方法的部分步骤。
应理解,上述处理器可以是中央处理单元(英文:Central Processing Unit,简称:CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(英文:Digital Signal Processor,简称:DSP)、专用集成电路(英文:Application Specific Integrated Circuit,简称:ASIC)等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成,或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
存储器可能包含高速RAM存储器,也可能还包括非易失性存储NVM,例如至少一个磁盘存储器,还可以为U盘、移动硬盘、只读存储器、磁盘或光盘等。
总线可以是工业标准体系结构(Industry Standard Architecture,ISA)总线、外部设备互连(Peripheral Component,PCI)总线或扩展工业标准体系结构(ExtendedIndustry Standard Architecture,EISA)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,本申请附图中的总线并不限定仅有一根总线或一种类型的总线。
上述存储介质可以是由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。
一种示例性的存储介质耦合至处理器,从而使处理器能够从该存储介质读取信息,且可向该存储介质写入信息。当然,存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits,简称:ASIC)中。当然,处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于电子设备或主控设备中。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时,执行包括上述各方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
Claims (5)
1.一种对象测试方法,其特征在于,包括:
在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分;
根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试;所述硬件测试包括对所述待测试对象进行的功能测试、性能测试、安全测试、压力测试中的至少一种;其中,功能类测试包括音频测试、屏幕测试、USB过流保护测试、GPIO管脚测试、I2C设备节点测试;
在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试;
所述根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试,包括:
接收第一设备发送的测试指令;
确定所述测试指令的类型;
根据所述测试指令的类型,对所述待测试对象进行测试;
所述根据所述测试指令的类型,对所述待测试对象进行测试,包括:
确定所述测试指令对应的测试项;
根据所述测试指令的类型和所述测试项,获取所述测试指令对应的测试程序;
根据所述测试程序,对所述待测试对象中的所述测试项进行测试;
音频测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为音频测试的指令,运行对应的测试程序让音频DSP芯片内部产生正弦波信号,在车机输出端检测输出波形是否与理论波形匹配;上位机发指令给信号发生器,信号发生器向麦克风的输入端输入正弦波信号,在DSP芯片内部回环到输出,检测输出信号的波形是否与麦克风的输入波形一致,将测试结果反馈给上位机;
屏幕测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为屏幕测试的指令,运行对应的测试程序让视频输入芯片产生特定的RGB彩条图片,并将其在屏幕输出;上位机发指令给视频测试仪器,测试仪器分析输出的彩条是否与视频输入芯片产生的彩条一致,将测试结果反馈给上位机;
USB过流保护测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为USB过流保护测试的指令,运行对应的测试程序进行USB过流保护测试,检测USB过流保护是否开启,将测试结果反馈给上位机;
GPIO管脚测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为GPIO管脚测试的指令,运行对应的测试程序对车机电路板上的某些GPIO进行拉高或拉低,上位机发指令给测试仪器,测试仪器测量电路板上对应的测量点的高低电平状态是否正确,将测试结果反馈给上位机;
I2C设备节点测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为I2C设备节点测试的指令,运行对应的测试程序,对某些I2C设备的特定寄存器进行读写,检测所述I2C设备对应的功能引脚是否发生相应的变化,将测试结果反馈给上位机;
如果所述硬件测试为压力测试,包括:
确定所述测试项对应的测试次数和/或测试时长;
MPU接收到MCU发送的测试项以及测试项对应的测试次数和/或测试时长,通过所述测试程序开始测试项对应的压力测试;
判断测试是否发生错误;若否,则返回测试成功的测试结果给上位机;
若是,在每一轮测试完成后,将问题测试项的序号与错误原因返回给上位机,继续进行下一轮的测试,直到完成预设测试次数的测试。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在对所述待测试对象的硬件测试失败时,所述方法还包括:
确定所述待测试对象中测试失败的部件;
生成所述测试失败的部件的测试信息。
3.一种对象测试设备,其特征在于,包括:
子系统加载模块,用于在待测试对象中加载子系统,所述子系统用于对所述待测试对象进行硬件测试,所述子系统为所述待测试对象的系统的一部分;
测试模块,根据所述子系统对所述待测试对象进行硬件测试;所述硬件测试包括对所述待测试对象进行的功能测试、性能测试、安全测试、压力测试中的至少一种;其中,功能类测试包括音频测试、屏幕测试、USB过流保护测试、GPIO管脚测试、I2C设备节点测试;
系统加载模块,在对所述待测试对象的硬件测试通过时,在所述待测试对象中加载系统,并通过所述系统对所述待测试对象进行测试;
所述测试模块具体用于:
接收第一设备发送的测试指令;
确定所述测试指令的类型;
根据所述测试指令的类型,对所述待测试对象进行测试;
所述测试模块还具体用于:
确定所述测试指令对应的测试项;
所述测试指令的类型和所述测试项,获取所述测试指令对应的测试程序;
根据所述测试程序,对所述待测试对象中的所述测试项进行测试;
其中,音频测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为音频测试的指令,运行对应的测试程序让音频DSP芯片内部产生正弦波信号,在车机输出端检测输出波形是否与理论波形匹配;上位机发指令给信号发生器,信号发生器向麦克风的输入端输入正弦波信号,在DSP芯片内部回环到输出,检测输出信号的波形是否与麦克风的输入波形一致,将测试结果反馈给上位机;
屏幕测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为屏幕测试的指令,运行对应的测试程序让视频输入芯片产生特定的RGB彩条图片,并将其在屏幕输出;上位机发指令给视频测试仪器,测试仪器分析输出的彩条是否与视频输入芯片产生的彩条一致,将测试结果反馈给上位机;
USB过流保护测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为USB过流保护测试的指令,运行对应的测试程序进行USB过流保护测试,检测USB过流保护是否开启,将测试结果反馈给上位机;
GPIO管脚测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为GPIO管脚测试的指令,运行对应的测试程序对车机电路板上的某些GPIO进行拉高或拉低,上位机发指令给测试仪器,测试仪器测量电路板上对应的测量点的高低电平状态是否正确,将测试结果反馈给上位机;
I2C设备节点测试包括:上位机发指令给MPU芯片,MPU芯片对上位机发送的指令进行解析,确定指令为I2C设备节点测试的指令,运行对应的测试程序,对某些I2C设备的特定寄存器进行读写,检测所述I2C设备对应的功能引脚是否发生相应的变化,将测试结果反馈给上位机;
所述测试模块还具体用于:确定所述测试项对应的测试次数和/或测试时长;
MPU接收到MCU发送的测试项以及测试项对应的测试次数和/或测试时长,通过所述测试程序开始测试项对应的压力测试;
判断测试是否发生错误;若否,则返回测试成功的测试结果给上位机;
若是,在每一轮测试完成后,将问题测试项的序号与错误原因返回给上位机,继续进行下一轮的测试,直到完成预设测试次数的测试。
4.一种对象测试设备,其特征在于,包括:至少一个处理器和存储器;
所述存储器存储计算机执行指令;
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令,使得所述至少一个处理器执行如权利要求1至2任一项所述的一种对象测试方法。
5.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当处理器执行所述计算机执行指令时,实现如权利要求1至2任一项所述的对象测试方法。
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CN112582015A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-03-30 | 普冉半导体(上海)股份有限公司 | 一种用于NOR Flash可靠性测试的方法及系统 |
CN112908357A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-06-04 | 广州橙行智动汽车科技有限公司 | 仪表声音测试方法、装置、测试设备以及存储介质 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107608848A (zh) * | 2016-07-12 | 2018-01-19 | 博彦科技股份有限公司 | 测试方法和系统 |
WO2018014684A1 (zh) * | 2016-07-18 | 2018-01-25 | 深圳市中兴微电子技术有限公司 | 一种测试方法和装置、设备、存储介质 |
CN109100636A (zh) * | 2018-07-11 | 2018-12-28 | 青岛北洋天青数联智能股份有限公司 | 电路板测试方法、装置、系统及测试上位机 |
Family Cites Families (7)
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---|---|---|---|---|
JP4564689B2 (ja) * | 2001-08-02 | 2010-10-20 | Necエンジニアリング株式会社 | ハードウェア機能検証方法及びハードウェア機能検証装置 |
CN101699410B (zh) * | 2009-11-11 | 2012-07-18 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种单板硬件故障的检测方法和装置 |
CN102346235A (zh) * | 2011-07-11 | 2012-02-08 | 北京北大众志微系统科技有限责任公司 | 一种面向硬件设备功能的自动测试系统及方法 |
US9715442B2 (en) * | 2015-03-26 | 2017-07-25 | Ford Global Technologies, Llc | Method and apparatus for in-vehicle hardware and software testing |
CN106294036A (zh) * | 2015-05-21 | 2017-01-04 | 阿里巴巴集团控股有限公司 | 一种硬件故障验证方法、装置及客户端 |
CN104850475B (zh) * | 2015-05-29 | 2018-11-13 | 浙江宇视科技有限公司 | 一种设备的测试方法及装置 |
CN108319526B (zh) * | 2017-12-18 | 2021-09-21 | 北京时代民芯科技有限公司 | 基于片上嵌入式微系统及其内部fpga资源内建自测试方法 |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107608848A (zh) * | 2016-07-12 | 2018-01-19 | 博彦科技股份有限公司 | 测试方法和系统 |
WO2018014684A1 (zh) * | 2016-07-18 | 2018-01-25 | 深圳市中兴微电子技术有限公司 | 一种测试方法和装置、设备、存储介质 |
CN109100636A (zh) * | 2018-07-11 | 2018-12-28 | 青岛北洋天青数联智能股份有限公司 | 电路板测试方法、装置、系统及测试上位机 |
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