CN110290380A - 全自动镜头杂光测试机 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了全自动镜头杂光测试机，其中包括设备上框部件、设备下框部件、上下料搬运部件、检测部件和光源部件，所述的设备上框部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的上下料搬运部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的检测部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的光源部件通过螺丝与设备上框部件锁紧连接。本发明的全自动镜头杂光测试机，采用伺服电机驱动，视觉定位，图像检测的方式，形成一套完整的杂光检测软硬件系统，有效的提升效率，减小测试时间，并且能准确的检出镜头杂光，区分良品与不良品。
Description
技术领域
本发明涉及摄像头检测技术领域，特别涉及全自动镜头杂光测试机。
背景技术
目前国内手机摄像头、车载安防摄像头使用过程中普遍存在杂光现象，杂光现象直接影响摄像头成像品质，特别是高像素摄像头拍摄时表现明显。摄像头杂光主要来源于镜头，由于自然环境中各个角度的光线在镜头的镜片中进行折射、反射等光路活动，导致了杂光的产生。
国内厂商在镜头生产过程及摄像头组装生产的过程中都无法对杂光现象进行有效判断，更加无法进行批量检测，目前国内绝大多数镜头厂对杂光现象都只能靠人眼进行复现和检查，主要是借助一个点光源照射镜头，在该过程中不断变换光源照射角度以使杂光复现，但人工检测的方式效率非常低，整个过程可能需要60秒或更长，而且无法准确有效的检测出所有杂光，这导致非常容易出现误检、漏检等情况的出现；同时，长期对着强光源，人眼容易疲劳甚至受伤害，在这种情况下，亟需一种能准确检测镜头多种杂光的自动化设备来提高产能、提升品质和替代人工，全自动镜头杂光测试机正是基于上述背景而研发。
发明内容
本发明的主要目的是提供全自动镜头杂光测试机，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提出的全自动镜头杂光测试机，包括设备上框部件、设备下框部件、上下料搬运部件、检测部件和光源部件，所述的设备上框部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的上下料搬运部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的检测部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的光源部件通过螺丝与设备上框部件锁紧连接。
优选地，所述的设备上框部件包括上框架、显示器和操作按键所述的上框架通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的显示器通过螺丝与上框架锁紧连接，所述的操作按键通过螺丝与上框架锁紧连接。
优选地，所述的设备下框部件包括下框架、底板一和底板二，所述的下框架通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的底板一通过螺丝与底板二锁紧连接。
优选地，所述的上下料搬运部件包括上料盘、下料盘、搬运Y轴滑台、搬运Y轴电机、搬运Y轴直线导轨、搬运X轴滑台、搬运X轴电机、搬运Z轴滑台和搬运Z轴电机，所述的上料盘通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的下料盘通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的搬运Y轴滑台通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的搬运Y轴电机通过螺丝与搬运Y轴滑台锁紧连接，所述的搬运Y轴直线导轨通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的搬运X轴滑台通过螺丝与搬运Y轴滑台及搬运Y轴直线导轨锁紧连接，所述的搬运X轴电机通过螺丝与搬运X轴滑台锁紧连接，所述的搬运Z轴滑台通过螺丝与搬运X轴滑台锁紧连接，所述的搬运Z轴电机通过螺丝与搬运Z轴滑台锁紧连接。
优选地，所述的所述的上下料搬运部件还包括工业相机，所述的工业相机通过螺丝与底板一锁紧连接。
优选地，所述检测部件包括检测盘、检测Y轴滑台、检测Y轴电机、检测X轴滑台、检测X轴电机、检测Z轴滑台、检测Z轴电机和图像传感器，所述的检测盘通过螺丝与检测X轴滑台锁紧连接，所述的检测Y轴滑台通过螺丝与底板锁紧连接，所述的检测Y轴电机通过螺丝与检测Y轴滑台锁紧连接，所述的检测X轴滑台通过螺丝与检测Y轴滑台连接，所述的检测X轴电机通过螺丝与检测X轴滑台锁紧连接，所述的检测Z轴滑台通过螺丝与底板锁紧连接，所述的检测Z轴电机通过螺丝与检测Z轴滑台锁紧连接，所述的图像传感器通过螺丝与底板连接。
优选地，所述光源部件包括点光源固定支架、旋转支架、R轴旋转电机和旋转点光源、所述的点光源固定支架通过螺丝与上框架锁紧连接，所述的旋转支架通过螺丝、轴承与固定支架锁紧连接，所述的R轴旋转电机通过螺丝与固定支架锁紧连接，所述的旋转点光源通过螺丝与旋转支架锁紧连接。
优选地，所述光源部件还包括矩阵点光源、光源X轴电机、光源X轴直线导轨和矩阵点光源支架，所述的矩阵点光源通过螺丝与光源X轴直线导轨锁紧连接，所述的光源X轴电机通过螺丝与矩阵点光源支架锁紧连接，所述的光源X轴直线导轨通过螺丝与矩阵点光源支架锁紧连接，所述的矩阵点光源支架通过螺丝与底板二锁紧连接。
本发明的全自动镜头杂光测试机，采用XYZ三轴运动控制，光源部分增加R轴旋转控制，以伺服电机作为驱动动力，结合滚珠丝杆滑台+直线导轨+工业相机进行高精度定位，将被检测镜头由上料盘搬运至检测盘，然后将检测盘移动至指定检测位置，由矩阵点光源模拟镜头视场内各角度光源对镜头进行照射，或由可旋转点光源通过R轴旋转模拟镜头视场外各角度光源对镜头进行照射，通过图像传感器传输图像至计算机及专业测试软件进行杂光测试与分析并发送测试结果至运动控制板卡或PLC，指定测试完成后下一步动作，将已检测的镜头自动进行良品与不良品区分放置到下料盘，达到全自动检测目的。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的全自动镜头杂光测试机的结构示意图
图2为本发明实施例提供的设备上框部件的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的设备下框部件的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的上下料搬运部件的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的检测部件的结构示意图；
图6为本发明实施例提供的光源部件的结构示意图。
附图标号说明：
| 标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
| 1 | 设备上框部件 | 2 | 设备下框部件 |
| 3 | 上下料搬运部件 | 4 | 检测部件 |
| 5 | 光源部件 | 1.1 | 上框架 |
| 1.2 | 显示器 | 1.3 | 操作按键 |
| 2.1 | 下框架 | 2.2 | 底板一 |
| 2.3 | 底板二 | 3.1 | 上料盘 |
| 3.2 | 下料盘 | 3.3 | 搬运Y轴滑台 |
| 3.4 | 搬运Y轴电机 | 3.5 | 搬运Y轴直线导轨 |
| 3.6 | 搬运X轴滑台 | 3.7 | 搬运X轴电机 |
| 3.8 | 搬运Z轴滑台 | 3.9 | 搬运Z轴电机 |
| 3.10 | 工业相机 | 4.1 | 检测盘 |
| 4.2 | 检测Y轴滑台 | 4.3 | 检测Y轴电机 |
| 4.4 | 检测X轴滑台 | 4.5 | 检测X轴电机 |
| 4.6 | 检测Z轴滑台 | 4.7 | 检测Z轴电机 |
| 4.8 | 图像传感器 | 5.1 | 点光源固定支架 |
| 5.2 | 旋转支架 | 5.3 | R轴旋转电机 |
| 5.4 | 旋转点光源 | 5.5 | 矩阵点光源 |
| 5.6 | 光源X轴电机 | 5.7 | 光源X轴直线导轨 |
| 5.8 | 矩阵点光源支架 |
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
在本发明实施例中，参照图1，该全自动镜头杂光测试机，全自动镜头杂光测试机，包括设备上框部件1、设备下框部件2、上下料搬运部件3、检测部件4和光源部件5，所述的设备上框部件1通过螺丝与设备下框部件2锁紧连接，所述的上下料搬运部件3通过螺丝与设备下框部件2锁紧连接，所述的检测部件4通过螺丝与设备下框部件2锁紧连接，所述的光源部件5通过螺丝与设备上框部件1锁紧连接。
进一步地，参照图2，所述的设备上框部件1包括上框架1.1、显示器1.2和操作按键1.3，所述的上框架1.1通过螺丝与底板一2.2锁紧连接，所述的显示器1.2通过螺丝与上框架1.1锁紧连接，所述的操作按键1.3通过螺丝与上框架1.1锁紧连接。
进一步地，参照图3，所述的设备下框部件2包括下框架2.1、底板一2.2和底板二2.3，所述的下框架2.1通过螺丝与底板一2.2锁紧连接，所述的底板一2.2一通过螺丝与底板二2.3锁紧连接。
进一步地，参照图4，所述的上下料搬运部件3包括上料盘3.1、下料盘3.2、搬运Y轴滑台3.3、搬运Y轴电机3.4、搬运Y轴直线导轨3.5、搬运X轴滑台3.6、搬运X轴电机3.7、搬运Z轴滑台3.8和搬运Z轴电机3.9，所述的上料盘3.1通过螺丝与底板一2.2锁紧连接，所述的下料盘3.2通过螺丝与底板一2.2锁紧连接，所述的搬运Y轴滑台3.3通过螺丝与底板一2.2锁紧连接，所述的搬运Y轴电机3.4通过螺丝与搬运Y轴滑台3.3锁紧连接，所述的搬运Y轴直线导轨3.5通过螺丝与底板一2.2锁紧连接，所述的搬运X轴滑台3.6通过螺丝与搬运Y轴滑台3.3及搬运Y轴直线导轨3.5锁紧连接，所述的搬运X轴电机3.7通过螺丝与搬运X轴滑台锁紧连接，所述的搬运Z轴滑台3.8通过螺丝与搬运X轴滑台3.7锁紧连接，所述的搬运Z轴电机3.9通过螺丝与搬运Z轴滑台锁紧连接。
进一步地，所述的所述的上下料搬运部件还包括工业相机3.10，所述的工业相机3.10通过螺丝与底板一2.2锁紧连接。
在本实施例中，搬运Z轴通过螺丝固定在搬运X轴上，由电机提供动力推动滑台在Z轴方向直线升降运动。搬运X轴通过螺丝固定在搬运Y轴上，由电机提供动力带动Z轴可以在X轴上水平直线运动。搬运Y轴通过螺丝固定在底板上，由电机提供动力带动X轴与Z轴可以在Y轴上水平直线运动，从而实现三轴联动将镜头从上料盘搬运至检测盘，完成检测后再将镜头模组从检测盘搬运至下料盘。
进一步地，参照图5，所述检测部件包括检测盘4.1、检测Y轴滑台4.2、检测Y轴电机4.3、检测X轴滑台4.4、检测X轴电机4.5、检测Z轴滑台4.6、检测Z轴电机4.7和图像传感器4.8，所述的检测盘4.1通过螺丝与检测X轴滑台4.4锁紧连接，所述的检测Y轴滑台4.2通过螺丝与底板2.3锁紧连接，所述的检测Y轴电机4.3通过螺丝与检测Y轴滑台4.2锁紧连接，所述的检测X轴滑台4.4通过螺丝与检测Y轴滑台4.2连接，所述的检测X轴电机4.5通过螺丝与检测X轴滑台4.4锁紧连接，所述的检测Z轴滑台4.6通过螺丝与底板2.3锁紧连接，所述的检测Z轴电机4.7通过螺丝与检测Z轴滑台4.6锁紧连接，所述的图像传感器4.8通过螺丝与底板2.3连接。
在本实施例中，2个检测盘4.1分别通过螺丝固定在2条检测X轴滑台4.2，2条检测X轴滑台4.2通过螺丝分别固定在2条检测Y轴上，由电机提供动力带动检测盘4.1可以在X轴上水平直线运动。检测Y轴滑台4.2通过螺丝固定在底板上，由电机提供动力带动X轴和检测盘4.1可以在Y轴上水平直线运动，从而实现两轴联动带动检测盘到指定检测位。由图像传感器4.8将图像传输到电脑进行测试，通过检测Z轴带动检测芯片进行升降运动实现调整焦距，检测完成后带动检测盘4.1到上下料位置进行上下料。2条检测X轴与Y轴，可以在检测盘到达检测位置进行检测时，检测盘回到上下料位置进行上下料，实现上下料与检测同时进行，提高工作效率。
进一步地，参照图6，所述光源部件包括点光源固定支架5.1、旋转支架5.2、R轴旋转电机5.3和旋转点光源5.4、所述的点光源固定支架5.1通过螺丝与上框架1.1锁紧连接，所述的旋转支架5.2通过螺丝、轴承与固定支架5.1锁紧连接，所述的R轴旋转电机5.3通过螺丝与固定支架5.1锁紧连接，所述的旋转点光源5.4通过螺丝与旋转支架5.2锁紧连接。
进一步地，所述光源部件还包括矩阵点光源5.5、光源X轴电机5.6、光源X轴直线导轨5.7和矩阵点光源支架5.8，所述的矩阵点光源5.5通过螺丝与光源X轴直线导轨5.7锁紧连接，所述的光源X轴电机5.6通过螺丝与矩阵点光源支架5.8锁紧连接，所述的光源X轴直线导轨5.7通过螺丝与矩阵点光源支架5.8锁紧连接，所述的矩阵点光源支架5.8通过螺丝与底板二2.3锁紧连接。
在本实施例中，光源部件5由旋转点光源与矩阵式点光源两部分组成，矩阵式点光源5.5通过螺丝固定在光源X轴滑台上，由电机提供动力带动矩阵式点光源5.5在X轴上水平直线移动，进行两种不同光源之间的切换，模拟自然环境中不同情形的光线照射情况。旋转点光源通过螺丝固定在旋转支架上，由电机提供动力带动支架旋转达到不同角度的光线照射模拟。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.全自动镜头杂光测试机，其特征在于，包括设备上框部件、设备下框部件、上下料搬运部件、检测部件和光源部件，所述的设备上框部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的上下料搬运部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的检测部件通过螺丝与设备下框部件锁紧连接，所述的光源部件通过螺丝与设备上框部件锁紧连接。
2.如权利要求1所述的全自动镜头杂光测试机，其特征在于，所述的设备上框部件包括上框架、显示器和操作按键，所述的上框架通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的显示器通过螺丝与上框架锁紧连接，所述的操作按键通过螺丝与上框架锁紧连接。
3.如权利要求1所述的全自动镜头杂光测试机，其特征在于，所述的设备下框部件包括下框架、底板一和底板二，所述的下框架通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的底板一通过螺丝与底板二锁紧连接。
4.如权利要求1所述的全自动镜头杂光测试机，其特征在于，所述的上下料搬运部件包括上料盘、下料盘、搬运Y轴滑台、搬运Y轴电机、搬运Y轴直线导轨、搬运X轴滑台、搬运X轴电机、搬运Z轴滑台和搬运Z轴电机，所述的上料盘通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的下料盘通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的搬运Y轴滑台通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的搬运Y轴电机通过螺丝与搬运Y轴滑台锁紧连接，所述的搬运Y轴直线导轨通过螺丝与底板一锁紧连接，所述的搬运X轴滑台通过螺丝与搬运Y轴滑台及搬运Y轴直线导轨锁紧连接，所述的搬运X轴电机通过螺丝与搬运X轴滑台锁紧连接，所述的搬运Z轴滑台通过螺丝与搬运X轴滑台锁紧连接，所述的搬运Z轴电机通过螺丝与搬运Z轴滑台锁紧连接。
5.如权利要求4所述的全自动镜头杂光测试机，其特征在于，所述的所述的上下料搬运部件还包括工业相机，所述的工业相机通过螺丝与底板一锁紧连接。
6.如权利要求1所述的全自动镜头杂光测试机，其特征在于，所述检测部件包括检测盘、检测Y轴滑台、检测Y轴电机、检测X轴滑台、检测X轴电机、检测Z轴滑台、检测Z轴电机和图像传感器，所述的检测盘通过螺丝与检测X轴滑台锁紧连接，所述的检测Y轴滑台通过螺丝与底板锁紧连接，所述的检测Y轴电机通过螺丝与检测Y轴滑台锁紧连接，所述的检测X轴滑台通过螺丝与检测Y轴滑台连接，所述的检测X轴电机通过螺丝与检测X轴滑台锁紧连接，所述的检测Z轴滑台通过螺丝与底板锁紧连接，所述的检测Z轴电机通过螺丝与检测Z轴滑台锁紧连接，所述的图像传感器通过螺丝与底板连接。
7.如权利要求1所述的全自动镜头杂光测试机，其特征在于，所述光源部件包括点光源固定支架、旋转支架、R轴旋转电机和旋转点光源、所述的点光源固定支架通过螺丝与上框架锁紧连接，所述的旋转支架通过螺丝、轴承与固定支架锁紧连接，所述的R轴旋转电机通过螺丝与固定支架锁紧连接，所述的旋转点光源通过螺丝与旋转支架锁紧连接。
8.如权利要求7所述的全自动镜头杂光测试机，其特征在于，所述光源部件还包括矩阵点光源、光源X轴电机、光源X轴直线导轨和矩阵点光源支架，所述的矩阵点光源通过螺丝与光源X轴直线导轨锁紧连接，所述的光源X轴电机通过螺丝与矩阵点光源支架锁紧连接，所述的光源X轴直线导轨通过螺丝与矩阵点光源支架锁紧连接，所述的矩阵点光源支架通过螺丝与底板二锁紧连接。
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