CN110233614A - 一种防esd干扰的上电复位电路 - Google Patents

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    • H03K3/3565Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger

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Abstract

上电复位电路是集成电路的重要模块,用于在集成电路上电时提供复位信号,设置各寄存器和电路的初始工作状态,但传统的上电复位电路容易受到ESD事件的干扰,产生错误的复位信号;本发明提供一种防ESD干扰的上电复位电路,可以滤除由于ESD事件导致的窄复位脉冲,提高上电复位电路的可靠性。

Description

一种防ESD干扰的上电复位电路
技术领域
本发明属于集成电路设计领域。
背景技术
图1是一种典型的上电复位电路,利用RC延时产生复位使VC滞后于VDD电压,利用BUF X2的翻转阈值VT检测VC电压的变化,当VC电压低于翻转阈值VT,RST_POR输出低电平复位信号,当VC电压上升到翻转阈值VT则RST_POR输出高电平,上电复位结束;图2是典型上电复位电路在ESD事件时各结点的波形,正常工作时VDD电源电压值为VCC,当ESD事件发生时,VDD电压上升为VCC+VESD;BUF的翻转阈值VT一般为电源电压的一半,正常时VT=VCC/2,当ESD事件发生时,BUF的翻转阈值VT跟随VDD电压变化,上升到(VCC+VESD)/2;ESD事件发生的时间远小于上电复位电路的RC时间常数,因此可以认为VC电压在ESD时间发生过程中没有变化,VC=VCC;因此在ESD事件过程中如果BUF的翻转阈值VT大于VC电压,则上电复位电路将输出低电平复位信号,即满足VC<VT,VCC<(VCC+VESD)/2,VCC<VESD,时上电复位电路将输出低电平复位信号,这将导致芯片在ESD事件时误复位,降低芯片的稳定性。
发明内容
典型上电复位电路在ESD事件发生时容易导致误复位;本发明采用滤波电路可以滤除由于ESD事件导致的误复位信号,提高芯片的可靠性。
本发明基于以上思想,设计了一种电路,可以滤除由于ESD事件导致的误复位信号,主要的技术点有两个方面:
1.滤波电路功能不受ESD事件影响;
2.可以滤除由于ESD事件导致的误复位信号。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1 一种典型上电复位电路;
图2 典型上电复位电路ESD事件波形;
图3 本发明的一种防ESD干扰的上电复位电路;
图4 本发明的一种防ESD干扰的上电复位电路的ESD事件波形。
具体实施方式
以下结合附图,详细说明发明公开的一种防ESD干扰的上电复位电路的结构和工作过程。
如图3,一种电路结构其特征是可以滤除由于ESD事件导致的窄复位脉冲,提高上电复位电路的可靠性;具体电路:RC延时电路:电阻R0一端接电源VDD,另一端接RC延时电路的输出结点VC;电容C0的一端接RC延时电路的输出结点VC,另一端接地;滤波电路:BUF X1的输入接RC延时电路的输出结点VC,输出结点V1接电阻R1的一端;电阻R1的一端接BUF X1的输出结点V1,另一端接施密特电路SMIT的输入结点V2;电容C1的一端接电源VDD,另一端接施密特电路SMIT的输入结点V2;电容C2的一端接施密特电路SMIT的输入结点V2,另一端接地;施密特电路SMIT的输入连接到结点V2,输出结点V3连接到BUF X2的输入;BUF X2的输入端接施密特电路SMIT的输出结点V3,输出端结点为RST_POR。
图4为本发明上电复位电路在ESD事件时各结点的波形,对比图1和图3,图3中V1信号等效于图1的RST_POR信号,因此在满足VCC<VESD时,V1信号会变为低电平;施密特电路SMIT的高阈值VTH=3VDD/4,低阈值VTL=VDD/4;电容C1=C2,由于R1、C1、C2构成的RC电路时间常数远大于ESD时间时间,为简化分析,认为在ESD事件期间结点V2电压不受电阻R1即BUFX1输出结点V1影响,结点电压仅受初始值和电容分压的影响,初始电压为VCC,因此V2=VCC+VESD/2;ESD时间期间施密特电路SMIT的低阈值VTL=(VCC+VESD)/4;V2始终大于VTL,因此在ESD事件发生过程中施密特电路输出结点V3和结点RST_POR并不会翻转,不会产生误触发;ESD事件的持续时间约为100ns,为有效滤除BUF X1输出结点V1结点的脉冲信号,R1、C1、C2时间常数可以设计为1us。
综上所述,本发明在一种典型上电复位电路上串联了一个滤波电路,将ESD事件导致的脉冲信号滤除,使上电复位电路的输出不受ESD事件的影响,提高了可靠性。

Claims (1)

1.一种电路结构,包括:
一种电路结构其特征是可以滤除由于ESD事件导致的窄复位脉冲,提高上电复位电路的可靠性;具体电路:RC延时电路:电阻R0一端接电源VDD,另一端接RC延时电路的输出结点VC;电容C0的一端接RC延时电路的输出结点VC,另一端接地;滤波电路:BUF X1的输入接RC延时电路的输出结点VC,输出结点V1接电阻R1的一端;电阻R1的一端接BUF X1的输出结点V1,另一端接施密特电路SMIT的输入结点V2;电容C1的一端接电源VDD,另一端接施密特电路SMIT的输入结点V2;电容C2的一端接施密特电路SMIT的输入结点V2,另一端接地;施密特电路SMIT的输入连接到结点V2,输出结点V3连接到BUF X2的输入;BUF X2的输入端接施密特电路SMIT的输出结点V3,输出端结点为RST_POR。
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US6288584B1 (en) * 2000-10-05 2001-09-11 Pericom Semiconductor Corp. Zero standby-current power-on reset circuit with Schmidt trigger sensing
WO2015109649A1 (zh) * 2014-01-26 2015-07-30 京微雅格(北京)科技有限公司 零电流的上电复位电路
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