CN110208633A - 变压器参数测试系统、测试方法及计算机存储介质 - Google Patents
变压器参数测试系统、测试方法及计算机存储介质 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及变压器参数测试系统、测试方法及计算机存储介质,其中,测试系统包括测试电源、万能表、负载电路和电磁控制开关电路;电磁控制开关电路包括第二开关Y02、第三开关Y03、第四开关Y04、第五开关Y05、第六开关Y06、第七开关Y07、第八开关Y08、第十开关Y10和第十一开关Y11;被测变压器包括输入线圈、第一输出线圈和第二输出线圈;输入线圈的第一端与第二开关Y02的另一端相连,第二端与第三开关Y03的另一端相连;第一输出线圈的第一端与第五开关Y05的另一端相连,第二端与第六开关Y06的另一端相连;第二输出线圈的第一端与第七开关Y07的另一端相连,第二端与第八开关Y08的另一端相连。与现有技术相比,在保证测试精度的条件下,提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及电子设备参数测试领域,特别是涉及变压器设备参数测试的测试系统、测试方法及计算机存储介质。
背景技术
对于变压器的性能参数检测项目,包括IPO(空载输入电流或输入激磁电流)测试项目、相位/匝数测试项目和负载输出电压测试项目,用于检测是否满足相应需求,从而得出变压器的性能是否合格。
现有的测试方法,一类对上述三个测试项目所采用的测试电路系统分开,测试时,测试那个项目则连接相应的测试电路系统,然后人工读取测试结果数据并进行记录;另一类,虽然会对至少两个测试项目集成在一个测试电路系统中,但是一方面电路结构复杂,难以控制,另一方面测试过程需要人工干预的程度高,测试过程缓慢,测试过程不方便自动切换测试,测试效率低。
发明内容
本发明提供了一种变压器参数测试系统,具有便于提高测试效率的特点。
本发明还提供了一种变压器参数测试方法,具有测试效率更高的特点。
本发明还提供了一种计算机存储介质,具有辅助实现上述变压器参数测试方法,提高测试效率的特点。
根据本发明提供的一种变压器参数测试系统,包括测试电源、万能表、负载电路和电磁控制开关电路;所述电磁控制开关电路包括第二开关Y02、第三开关Y03、第四开关Y04、第五开关Y05、第六开关Y06、第七开关Y07、第八开关Y08、第十开关Y10和第十一开关Y11;
所述万能表的公共端Com分别与第二开关Y02的一端、第五开关Y05的一端和第七开关Y07的一端相连,电流端A与第十一开关Y11的一端相连,电压端V分别与第三开关Y03的一端、第六开关Y06的一端和第八开关Y08的一端相连;
所述第二开关Y02的另一端与第十一开关Y11的另一端之间连接有第十开关Y10;所述测试电源的一端与所述第十一开关Y11的另一端相连,所述测试电源的另一端与所述第三开关Y03的另一端相连;
被测变压器包括输入线圈、第一输出线圈和第二输出线圈;所述输入线圈的第一端与第二开关Y02的另一端相连,第二端与第三开关Y03的另一端相连;所述第一输出线圈的第一端与第五开关Y05的另一端相连,第二端与第六开关Y06的另一端相连;所述第二输出线圈的第一端与第七开关Y07的另一端相连,第二端与第八开关Y08的另一端相连;所述输入线圈的第二端与第一输出线圈的第一端及第一输出线圈的第二端与第二输出线圈的第二端通过第四开关Y04相连;
所述负载电路包括第一负载电路和第二负载电路,所述第一负载电路为第一输出线圈的负载电路,第二负载电路为第二输出线圈的负载电路。
基于上述测试系统,在简单的电路结构基础上,通过简单的控制,就能够实现被测变压器的IPO测试、相位/匝数测试和输出电压测试,从而很大程度上提高了测试效率。
所述第一负载电路和第二负载电路分别串联有第九开关Y09。
所述输入线圈的第一端和第二端分别串联有第一开关Y01。
所述测试电源包括电源输出级别控制电路,所述测试电源的一端为电压输出公共端,所述测试电源的另一端通过电源输出级别控制电路相连,能够控制输出至少两级电压,根据需要提供的测试电压,控制电压输出级别。
所述电磁控制开关电路的所有开关均为继电器开关。
所述第一负载电路和第二负载电路分别包括两路以上并联负载。
所述第一负载电路串联有第一二极管D1。
所述第二负载电路串联有第二二极管D2。
根据本发明提供的一种变压器参数测试方法,基于上述变压器测试系统实现,包括IPO测试项目、相位/匝数测试项目和输出电压测试项目,其中,
IPO测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通IPO测试项目的相关开关,打开切断非IPO测试项目的相关开关,获得IPO测试结果数值;
相位/匝数测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通相位/匝数测试项目的相关开关,打开切断非相位/匝数测试项目的相关开关,获得测试结果数值;
输出电压测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通输出电压测试项目的相关开关,打开切断非输出电压测试项目的相关开关,获得测试结果数值。
所述测试方法还包括,先进行相位/匝数测试项目测试、再进行IPO测试项目的测试,再进行输出电压测试项目的测试。
所述方法还包括,判断每项测试结果数值是否在对应的标准阈值内,如果否,则进行第一提示。
所述方法还包括,对被测变压器的所有测试项目的测试完成以后,判断是否有测试结果数值不在对应标准阈值范围内,如果是,则进行第二提示。
根据本发明提供的一种计算机可读存储介质,存储有能够被处理器加载并执行上述任一种方法的计算机程序。
综上所述,本发明对比于现有技术的有益效果为:在保证测试精度的条件下,通过简单的测试电路结构,进行综合测试,提高自动测试流程,提高了测试效率。
附图说明
图1是本发明其中一实施例的测试系统电路结构示意图;
图2是本发明其中一实施例的控制系统原理示意图;
图3是本发明其中一实施例的自动测试继电器动作状态图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本说明书(包括摘要和附图)中公开的任一特征,除非特别叙述,均可被其他等效或者具有类似目的的替代特征加以替换。即,除非特别叙述,每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
一种变压器参数测试系统,如图1所示,包括测试电源、万能表、负载电路和电磁控制开关电路;所述电磁控制开关电路包括第二开关Y02、第三开关Y03、第四开关Y04、第五开关Y05、第六开关Y06、第七开关Y07、第八开关Y08、第十开关Y10和第十一开关Y11;
所述万能表的公共端Com分别与第二开关Y02的一端、第五开关Y05的一端和第七开关Y07的一端相连,电流端A与第十一开关Y11的一端相连,电压端V分别与第三开关Y03的一端、第六开关Y06的一端和第八开关Y08的一端相连;
所述第二开关Y02的另一端与第十一开关Y11的另一端之间连接有第十开关Y10;所述测试电源的一端与所述第十一开关Y11的另一端相连,所述测试电源的另一端与所述第三开关Y03的另一端相连;
被测变压器包括输入线圈(如图1所示的线圈1-2)、第一输出线圈(如图1所示的线圈3-4)和第二输出线圈(如图1所所示的线圈5-6);所述输入线圈的第一端与第二开关Y02的另一端相连,第二端与第三开关Y03的另一端相连;所述第一输出线圈的第一端与第五开关Y05的另一端相连,第二端与第六开关Y06的另一端相连;所述第二输出线圈的第一端与第七开关Y07的另一端相连,第二端与第八开关Y08的另一端相连;所述输入线圈的第二端与第一输出线圈的第一端及第一输出线圈的第二端与第二输出线圈的第二端通过第四开关Y04相连;
所述负载电路包括第一负载电路和第二负载电路,所述第一负载电路为第一输出线圈的负载电路,第二负载电路为第二输出线圈的负载电路。
作为本发明的一种实施方案,如图1所示,在没有设置第一开关Y01的情况下,对被测变压器的IPO进行检测时,只需要接通测试电源,闭合第二开关Y02和第十一开关Y11,并保持其他开关断开即可实现被测变压器的IPO值检测。对被测变压器的相位/匝数进行检测时,存在三个数据检测,其中,第一相位/匝数检测时,只需要接通测试电源,闭合第二开关Y02、第三开关Y03和第十开关Y10,并保持其他开关断开即可实现被测变压器的第一相位/匝数检测;第二相位/匝数检测时,只需要接通测试电源,闭合第二开关Y02、第四开关Y04、第六开关Y06和第十开关Y10,并保持其他开关断开即可实现被测变压器的第二相位/匝数检测;第三相位/匝数检测时,只需要接通测试电源,闭合第二开关Y02、第四开关Y04、第八开关Y08和第十开关Y10,并保持其他开关断开即可实现被测变压器的第三相位/匝数检测。对被测变压器的输出电压进行测试时,在没有设置负载通路开关(如图1所示的第九开关Y09和第十二开关Y12)的情况下,对第一输出线圈的输出电压进行测试时,只需要接通测试电源,闭合第五开关Y05、第六开关Y06和第十开关Y10,并保持其他开关断开即可实现被测变压器的第一输出线圈的输出电压测试;对第二输出线圈的输出电压进行测试时,只需要接通测试电源,闭合第七开关Y07、第八开关Y08和第十开关Y10,并保持其他开关断开即可实现被测变压器的第二输出线圈的输出电压测试。
本发明变压器参数测试系统电路结构简单,在简单的电路结构基础上,通过简单的控制,就能够实现被测变压器的IPO测试、相位/匝数测试和输出电压测试,从而很大程度上提高了测试效率。
作为本发明的一种实施方式,所述电磁控制开关电路的所有开关均为继电器开关,其中输入线圈第二端和第一输出线圈第一端之间设置的继电器开关与第一输出线圈第二端和第二输出线圈第一端之间设置的继电器开关为同一继电器开关,同时控制关闭导通或断开切断,简化了电路控制结构,提高了测试效率。
作为本发明的一种实施方式,如图1所示,所述第一负载电路包括第一电阻R1,串联有导通切断开关,所述第二负载电路包括第二电阻R2,串联有导通切断开关;在此电路的基础上,若进行带有辅助的输出线圈的输出电压测试,则需要保持导通切断开关闭合。
作为本发明的一种实施方式,如图1所示,所述第一负载电路串联有第一二极管D1,所述第一二极管D1串联的位置不限,方向不限。
作为本发明的一种实施方式,如图1所示,所述第二负载电路串联有第二二极管D2,所述第二二极管D2串联的位置不限,方向不限。
作为本发明的一种实施方式,还包括第三负载电路,与所述第一负载电路并联,所述三负载电路上串联有整流(如图1所示的整流桥及第三电阻R3)。所述第三负载电路串联有导通开关。
作为本发明的一种实施方式,还包括第四负载电路,与所述第二负载电路并联,所述第四负载电路上串联有第四电阻R4。进一步地,所述第四负载电路串联有的导通开关和第三二极管D3,所述第三二极管D3串联的位置不限,方向不限。
作为本发明的一种实施方式,如图1所示的第十二开关Y12,所述第三负载电路串联的导通开关和第四负载电路串联的导通开关采用同时控制的导通开关,可以为同一个继电器,同时控制关闭导通或断开切断,简化了电路控制结构,提高了测试效率。
作为本发明的一种实施方式,如图1所示,第一负载电路的导通开关和第二负载电路的导通开关为同时控制的导通切断开关,例如,可以为同一个继电器,如图1所述为第九开关Y09,同时控制关闭导通或断开切断,简化了电路控制结构,提高了测试效率。
作为本发明的一种实施方式,所述输入线圈的第一端和第二端分别串联有第一开关Y01,方便在各项测试控制时,在其他条件都转换控制完成后,在闭合第一开关Y01,提高测试的稳定性和整个电路的安全性。在本具体实施例中,输入线圈的第一端的接入导通开关和第二端的接入导通开关采用同一继电器,同时控制关闭导通或断开切断,简化了电路控制结构,提高了测试效率。
作为本发明的一种实施方式,所述测试电源包括电源输出级别控制电路,所述测试电源的一端为电压输出公共端,所述测试电源的另一端通过电源输出级别控制电路相连,能够控制输出至少两级电压,根据需要提供的测试电压,控制电压输出级别。如图1所示的实施例中,测试电源接入220V交流电,通过电源自耦变压器,能够输出10个级别的交流输出电压,分别为120V的、208V的、220V的、240V的、380V的、415V的、440V的、480V的、600V的和650V的(具体输出级别可以根据需求进行设置),分别一一对应第一选择开关K01、第二选择开关K02、第三选择开关K03、第四选择开关K04、第五选择开关K05、第六选择开关K06、第七选择开关K07、第八选择开关K08、第九选择开关K09和第十选择开关K10,能够通过对选择开关的自动控制来控制需要输入的电压级别。
一种变压器参数测试方法,基于上述变压器测试系统实现,包括IPO测试项目、相位/匝数测试项目和输出电压测试项目,其中,
IPO测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通IPO测试项目的相关开关,打开切断非IPO测试项目的相关开关,获得IPO测试结果数值;
相位/匝数测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通相位/匝数测试项目的相关开关,打开切断非相位/匝数测试项目的相关开关,获得测试结果数值;
输出电压测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通输出电压测试项目的相关开关,打开切断非输出电压测试项目的相关开关,获得测试结果数值。
上述三个测试项目测试顺序并不限定,可以按照要求进行设置。通过上述自动测试过程,在保证测试精度的情况下,减少人工干预的误判,实现自动快速测试及判断,很大程度上提高了测试效率。
作为本发明的一种实施方式,如图2所示,根据设置好的测试项目及测试顺序,控制相应的开关,实现这个流程的自动测试。作为本发明的一种实施方式,显示器作为交互显示界面,可以用来显示测试结果数值,也可以用来显示测试参数设置,也可以用来显示测试过程。
所述测试方法还包括,先进行相位/匝数测试项目测试、再进行IPO测试项目的测试,再进行输出电压测试项目的测试。作为本发明的一种实施方式,如图3所示为其中一个被测产品要求的参数要求及相应测试项目下的开关状态。根据设置的程序执行测试流程,首先测试输入电压为120V条件下,输入线圈(如图1所示的线圈1-2)的相位/匝数测试,此时保持开关K01、Y01、Y02、Y03和Y10导通,其他开关断开,完成本项测试后,依次完成测试输入电压为120V条件下的第一输出线圈(如图1所示的线圈3-4)和第二输出线圈(如图1所所示的线圈5-6)的相位/匝数测试;再依次完成IPO的测试和输出电压测试,其中,对于IPO测试,最终完成该被测产品的测试,并给出测试结果。其中,规格要求为测试结果要求,根据误差有阈值范围要求,“V”表示闭合导通。
图3仅为一种产品的测试要求,也可以根据要求切换输入电压、切换负载等。同时,适用于有三个以上输出线圈的被测变压器测试。
作为本发明的一种实施方式,所述方法还包括,判断每项测试结果数值是否在对应的标准阈值内,如果否,则进行第一提示。例如图3所示中,判断输出电压测试项目中Vout(3-4)的实际测试值是否在标准值误差范围内,例如,图3所示的标准值为22V,如果误差范围为上下浮动0.5V,实际测试结果如果未21V,则说明测试结果数值不再对应的标准阈值内,则进行提示。进行提示的方法可以采用本领域技术人员所能够想到的各种常规提示方法,作为本发明的一种实施方案,将需要提示的测试结果进行突出显示,例如以某种颜色进行显示,以示区分。
作为本发明的一种实施方式,所述方法还包括,对被测变压器的所有测试项目的测试完成以后,判断是否有测试结果数值不在对应标准阈值范围内,如果是,则进行第二提示。被测变压器的所有测试项目全部完成后,如果存在某一项测试结果数值不在对应的标准阈值范围内,则说明被测产品存在问题,因此进行提示,根据提示,作为本发明的一种实施方式,进行蜂鸣器报警提示。根据报警提示定位存在产品问题的被测问题,并提取经过第一提示的测试结构,从而很容易找到该产品所存在的问题点,有助于进行问题分析。
本具体实施方式的实施例均为本发明的较佳实施例,并非依此限制本发明的保护范围,故:凡依本发明的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种变压器参数测试系统,其特征在于,包括测试电源、万能表、负载电路和电磁控制开关电路;所述电磁控制开关电路包括第二开关Y02、第三开关Y03、第四开关Y04、第五开关Y05、第六开关Y06、第七开关Y07、第八开关Y08、第十开关Y10和第十一开关Y11;
所述万能表的公共端Com分别与第二开关Y02的一端、第五开关Y05的一端和第七开关Y07的一端相连,电流端A与第十一开关Y11的一端相连,电压端V分别与第三开关Y03的一端、第六开关Y06的一端和第八开关Y08的一端相连;
所述第二开关Y02的另一端与第十一开关Y11的另一端之间连接有第十开关Y10;所述测试电源的一端与所述第十一开关Y11的另一端相连,所述测试电源的另一端与所述第三开关Y03的另一端相连;
被测变压器包括输入线圈、第一输出线圈和第二输出线圈;所述输入线圈的第一端与第二开关Y02的另一端相连,第二端与第三开关Y03的另一端相连;所述第一输出线圈的第一端与第五开关Y05的另一端相连,第二端与第六开关Y06的另一端相连;所述第二输出线圈的第一端与第七开关Y07的另一端相连,第二端与第八开关Y08的另一端相连;所述输入线圈的第二端与第一输出线圈的第一端及第一输出线圈的第二端与第二输出线圈的第二端通过第四开关Y04相连;
所述负载电路包括第一负载电路和第二负载电路,所述第一负载电路为第一输出线圈的负载电路,第二负载电路为第二输出线圈的负载电路。
2.根据权利要求1所述的变压器参数测试系统,其特征在于,所述第一负载电路和第二负载电路分别串联有第九开关Y09。
3.根据权利要求1所述的变压器参数测试系统,其特征在于,所述输入线圈的第一端和第二端分别串联有第一开关Y01。
4.根据权利要求1所述的变压器参数测试系统,其特征在于,所述测试电源包括电源输出级别控制电路,所述测试电源的一端为电压输出公共端,所述测试电源的另一端通过电源输出级别控制电路相连,能够控制输出至少两级电压,根据需要提供的测试电压,控制电压输出级别。
5.根据权利要求1到4之一所述的变压器参数测试系统,其特征在于,所述电磁控制开关电路的所有开关均为继电器开关。
6.一种变压器参数测试方法,基于权利要求1到5之一所述的变压器测试系统实现,包括IPO测试项目、相位/匝数测试项目和输出电压测试项目,其中,
IPO测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通IPO测试项目的相关开关,打开切断非IPO测试项目的相关开关,获得IPO测试结果数值;
相位/匝数测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通相位/匝数测试项目的相关开关,打开切断非相位/匝数测试项目的相关开关,获得测试结果数值;
输出电压测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动关闭导通输出电压测试项目的相关开关,打开切断非输出电压测试项目的相关开关,获得测试结果数值。
7.根据权利要求6所述的变压器参数测试方法,所述测试方法还包括,先进行相位/匝数测试项目测试、再进行IPO测试项目的测试,再进行输出电压测试项目的测试。
8.根据权利要求6所述的变压器参数测试方法,所述方法还包括,判断每项测试结果数值是否在对应的标准阈值内,如果否,则进行第一提示。
9.根据权利要求6所述的变压器参数测试方法,所述方法还包括,对被测变压器的所有测试项目的测试完成以后,判断是否有测试结果数值不在对应标准阈值范围内,如果是,则进行第二提示。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器加载并执行权利要求6到9中任一种方法的计算机程序。
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