CN110161341A - 电子产品的元器件加速老化检验方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种电子产品的元器件加速老化检验方法，包括以下几个步骤：准备待测元器件、加水全浸没、置放于高温环境、风干晾干、第一次检测和第二次检测，在第一次检测中：目测风干晾干后的待测元器件表面是否出现损伤；有损伤待测元器件，则被认为检验不合格，该种待测元器件检验终止；无损伤待测元器件，则继续进行后续检验步骤；在第二次检测中，将第一次检测合格的待测元器件，进行焊接组装形成电表；对电表进行电表参数性能检验，判断是否符合标准；其将待测元器件依次加水全浸没、置放高温环境和风干晾干，筛选出无损伤待测元器件后焊接组装进行电表参数性能检验，检验成本较低，提高检测便利性，提高检测效率，有效杜绝电子产品的缺陷。

Description

电子产品的元器件加速老化检验方法
技术领域
本发明涉及一种电子产品技术领域，尤其是指一种电子产品的元器件加速老化检验方法。
背景技术
现有的电子产品（例如电表）的来料检测一般采用专门的检测仪器进行检测，检验成本高，检验效率低，进而导致电子产品缺陷。
因此，本发明专利申请中，申请人精心研究了一种电子产品的元器件加速老化检验方法来解决上述问题。
发明内容
本发明针对上述现有技术所存在不足，主要目的在于提供一种电子产品的元器件加速老化检验方法，其将待测元器件依次加水全浸没、置放于高温环境和风干晾干，筛选出无损伤的待测元器件，最后进行焊接组装进行电表参数性能检验，检验成本较低，提高检测便利性，提高检测效率，有效杜绝电子产品的缺陷。
为实现上述之目的，本发明采取如下技术方案：
一种电子产品的元器件加速老化检验方法，包括有以下几个步骤：
（1）、准备待测元器件：准备电表需要安装的电子元器件；
（2）、加水全浸没:将待测元器件放入一容器内加水全浸没；
（3）、置放于高温环境：将容器及放入容器内的待测元器件一同放入高温箱内；
（4）、风干晾干：将容器及放入容器内的待测元器件从高温箱内取出，并将待测元器件从容器中取出后进行风干晾干；
（5）、第一次检测：目测风干晾干后的待测元器件表面是否出现损伤；有损伤的待测元器件，则被认为检验不合格，该种待测元器件检验终止；无损伤的待测元器件，则继续进行后续检验步骤；
（6）、第二次检测：将步骤（5）中经第一次检测合格的待测元器件，进行焊接组装，形成电表；对电表进行电表参数性能检验，判断其是否符合标准；若符合标准，则认为待测元器件合格，若不符合标准，则认为待测元器件不合格。
作为一种优选方案，在步骤（3）中，高温箱的温度范围值为65-130℃。
作为一种优选方案，在步骤（3）中，将容器及放入容器内的电子元器件一同放入高温箱的时间范围值为70-96小时。
作为一种优选方案，在步骤（1）中，待测元器件还包括有金属零部件。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言：其主要是将待测元器件依次加水全浸没、置放于高温环境和风干晾干，筛选出无损伤的待测元器件，最后进行焊接组装进行电表参数性能检验，检验成本较低，提高检测便利性，提高检测效率，有效杜绝电子产品的缺陷；
以及，可以对电表的金属零部件进行是否生锈检测，大大提高电表整体性能。
为更清楚地阐述本发明的结构特征和功效，下面具体实施例来对其进行详细说明。
具体实施方式
下面具体实施方式对本发明作进一步描述。
一种电子产品的元器件加速老化检验方法，本发明中电子产品以电表为例进行说明，包括有以下几个步骤：
（1）、准备待测元器件：准备电表需要安装的电子元器件和金属零部件。
（2）、加上全浸没：将待测元器件均放入一容器内加水全浸没；通过水，使得待测元器件处于密闭空间内。
（3）、置放于高温环境：将容器及放入容器内的待测元器件一同放入高温箱内；在本实施例中，在步骤（3）中，高温箱的温度范围值为65-130℃，优选地，控制高温箱的温度为60℃；将容器及放入容器内的待测元器件放入高温箱的时间范围值为70-96小时，优选地，放入高温箱的时间为72小时。
（4）、风干晾干：将容器及放入容器内的待测元器件从高温箱内取出，并将的待测元器件从容器中取出后进行风干晾干。
（5）、第一次检测：目测风干晾干后的待测元器件表面是否出现损伤；例如，对电子元器件可以目测其管脚是否氧化，对金属零部件目测是否生锈。有损伤的待测元器件，则被认为检验不合格，该种待测元器件检验终止；无损伤的待测元器件，则继续进行后续检验步骤；
（6）、第二次检测：将步骤（5）中经第一次检测合格的待测元器件，进行焊接组装，形成电表；对电表进行电表参数性能检验，判断其是否符合标准；若符合标准，则认为待测元器件合格，若不符合标准，则认为待测元器件不合格。
本发明设计要点在于：其主要是将待测元器件依次加水全浸没、置放于高温环境和风干晾干，筛选出无损伤的待测元器件，最后进行焊接组装进行电表参数性能检验，检验成本较低，提高检测便利性，提高检测效率，有效杜绝电子产品的缺陷；
以及，可以对电表的金属零部件进行是否生锈检测，大大提高电表整体性能。
以上所述，仅是本发明较佳实施例而已，并非对本发明的技术范围作任何限制，故凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (4)

1.一种电子产品的元器件加速老化检验方法，其特征在于：包括有以下几个步骤：
（1）、准备待测元器件：准备电表需要安装的电子元器件；
（2）、加水全浸没:将待测元器件放入一容器内加水全浸没；
（3）、置放于高温环境：将容器及放入容器内的待测元器件一同放入高温箱内；
（4）、风干晾干：将容器及放入容器内的待测元器件从高温箱内取出，并将待测元器件从容器中取出后进行风干晾干；
（5）、第一次检测：目测风干晾干后的待测元器件表面是否出现损伤；有损伤的待测元器件，则被认为检验不合格，该种待测元器件检验终止；无损伤的待测元器件，则继续进行后续检验步骤；
（6）、第二次检测：将步骤（5）中经第一次检测合格的待测元器件，进行焊接组装，形成电表；对电表进行电表参数性能检验，判断其是否符合标准；若符合标准，则认为待测元器件合格，若不符合标准，则认为待测元器件不合格。
2.根据权利要求1所述的电子产品的元器件加速老化检验方法，其特征在于：在步骤（3）中，高温箱的温度范围值为65-130℃。
3.根据权利要求1所述的电子产品的元器件加速老化检验方法，其特征在于：在步骤（3）中，将容器及放入容器内的电子元器件一同放入高温箱的时间范围值为70-96小时。
4.根据权利要求1所述的电子产品的元器件加速老化检验方法，其特征在于：在步骤（1）中，待测元器件还包括有金属零部件。
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