JP4787076B2 - 湿度制御方法及び環境試験装置 - Google Patents
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Description
(相対湿度)=((T2での飽和水蒸気圧)/(T1での飽和水蒸気圧))×100 ・・・(1)
(相対湿度)=((気体中の水蒸気圧)/(同温度・同圧力のもとでの飽和水蒸気))×100 ・・・(2)
(相対湿度)=((T3での飽和水蒸気圧)/(T1での飽和水蒸気圧))×100 ・・・(3)
2 圧力容器(試験槽)
4 加湿水
6 テストエリア
8 試料
16 加熱ヒータ
17 器内温度センサ
18 加湿水ヒータ
19 加湿水温度センサ
20 ウィック温度センサ
21 ウィック
31 制御装置
Claims (6)
- 加湿水を貯溜するとともに内部に試料を設置可能な試験槽における湿度制御方法において、
この試験槽の内部には添加ガスを導入可能に構成するとともに、当該試験槽の内部には加湿水温度センサとウィック温度センサとが備えられており、
前記添加ガスが前記試験槽の内部に導入され、かつ100℃以上の温度で前記試験槽の内部の温度及び湿度が安定しているときの、前記加湿水温度センサの検出温度と前記ウィック温度センサの検出温度の関係から、補正量を算出する、補正量取得工程と、
前記ウィック温度センサの検出値を前記補正量に基づいて補正し、この補正後の値に基づいて前記試験槽の湿度を制御する制御工程と、
を含むことを特徴とする、湿度制御方法。 - 請求項1に記載の湿度制御方法であって、
前記試験槽においては、100℃以上の設定温度にまで上昇させる温度上昇工程と、温度を前記設定温度に保つとともに湿度を設定湿度に保つ恒温恒湿工程と、温度を設定温度から下降させる温度下降工程と、を少なくとも行うように構成しており、
前記恒温恒湿工程においては前記加湿水温度センサの検出温度に基づく湿度制御が行われる一方、前記温度上昇工程及び前記温度下降工程においては前記ウィック温度センサの検出温度に基づく湿度制御が行われ、
前記温度上昇工程及び前記温度下降工程での湿度制御において、前記制御工程が行われることを特徴とする、湿度制御方法。 - 請求項2に記載の湿度制御方法であって、
前記温度上昇工程、前記恒温恒湿工程、及び前記温度下降工程の少なくとも何れかにおいて、前記加湿水温度センサ及び前記ウィック温度センサの検出温度を監視し、
この監視によって制御乱れが検出された場合にはそれを報知することを特徴とする湿度制御方法。 - 加湿水を貯溜するとともに内部に試料を設置可能とし、且つ添加ガスを導入可能な試験槽と、
前記加湿水の温度を検出する加湿水温度センサと、
前記加湿水に浸漬されるウィックを備えたウィック温度センサと、
前記添加ガスが前記試験槽の内部に導入され、かつ100℃以上の温度で前記試験槽の内部の温度及び湿度が安定しているときの、前記加湿水温度センサの検出温度と前記ウィック温度センサの検出温度の関係から、補正量を算出する、補正量算出手段と、
前記ウィック温度センサの検出値を前記補正量に基づいて補正する温度補正手段と、
この補正後の値に基づいて前記試験槽の湿度を制御する制御手段と、
を含むことを特徴とする、環境試験装置。 - 請求項4に記載の環境試験装置であって、
前記試験槽においては、100℃以上の設定温度にまで上昇させる温度上昇工程と、温度を前記設定温度に保つとともに湿度を設定湿度に保つ恒温恒湿工程と、温度を設定温度から下降させる温度下降工程と、を少なくとも行うように構成しており、
前記恒温恒湿工程においては前記加湿水温度センサの検出温度に基づく湿度制御が行われる一方、前記温度上昇工程及び前記温度下降工程においては前記ウィック温度センサの検出温度に基づく湿度制御が行われ、
前記温度上昇工程及び前記温度下降工程での湿度制御において、前記制御手段による制御が行われることを特徴とする、環境試験装置。 - 請求項5に記載の環境試験装置であって、
前記温度上昇工程、前記恒温恒湿工程、及び前記温度下降工程の少なくとも何れかにおいて、前記加湿水温度センサ及び前記ウィック温度センサの検出温度を監視し、
この監視によって制御乱れが検出された場合にはそれを報知するための報知信号を発生することを特徴とする環境試験装置。
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