CN110095259A - 一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法，属于光纤测试领域。所述光纤宏弯损耗测试工装，包括多个测试组件，所述多个测试组件的每个包括传动机构、光纤绕柱，所述多个测试组件中的多个光纤绕柱具有不同的直径，所述传动机构用于带动所述光纤绕柱移动。本发明实现了对光纤持续进行不同弯曲半径的宏弯损耗测试，并且结构简单，操作方便，效率高，可广泛应用于光纤测试领域。

Description

一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法

技术领域

本发明涉及光纤测试领域，特别涉及一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法。

背景技术

光纤的弯曲会导致光纤的衰减增加，影响光纤的传输性能。G.657光纤是一种弯曲损耗不敏感光纤，由于其优异的抗弯曲性能，被大量的应用在FTTH中。随着近年来FTTH的加速发展，市场对G.657光纤的需求量也不断的增加，因此，对于光纤厂商来说，提升G.657光纤产量，迅速精确的测试其宏弯损耗，就尤为重要。

根据ITU-T相关标准，G.657光纤需保证在15mm、10mm、7.5mm等不同弯曲半径的情况下的附加衰减，因此，光纤出厂之前，需进行不同弯曲半径下的附加衰减的测试，即宏弯损耗的测试。

由于测试光纤宏弯损耗时，光纤的两端需分别与光功率计的收、发端耦合固定，目前公开的专利文献中各种关于光纤宏弯损耗测试工装的信息，均无法实现连续测试不同弯曲半径的宏弯损耗。如专利CN20424118U(一种光纤的宏弯损耗测试工装)，可以在光纤单端固定的情况下进行绕纤，当测试完一种弯曲半径的宏弯损耗后，光纤双端固定，则无法继续在此种情况下将光纤取下并缠绕至另一弯曲半径的圆柱上；又如专利申请CN106956960A(用于光纤宏弯损耗测试的绕纤装置)，其中用于缠绕光纤的光纤圈筒只存在一种圈径，在测试光纤宏弯损耗过程中，需频繁的更换光纤圈筒，以测试不同弯曲半径的宏弯损耗。

发明内容

为了解决现有技术的问题，本发明实施例提供了一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法。所述技术方案如下：

一方面，提供了一种光纤宏弯损耗测试工装，包括多个测试组件，所述多个测试组件的每个包括传动机构、光纤绕柱，所述多个测试组件中的多个光纤绕柱具有不同的直径，所述传动机构用于带动所述光纤绕柱移动。

优选地，所述多个测试组件的每个还包括限位装置，所述限位装置用于限定所述光纤绕柱的位置。

优选地，所述传动机构包括主动轮、与所述主动轮连接的转动手柄、从动轮、传送带以及设于所述传送带环形包围腔内、与所述传送带平行排列的挡板，所述传送带与所述挡板之间安置所述光纤绕柱的绕柱底座，所述绕柱底座的外表面与所述传送带啮合，所述绕柱底座位于所述光纤绕柱的底部；所述限位装置为限位块，所述限位块位于远离所述光纤绕柱的一端。

优选地，所述多个测试组件的多个传送带平行排列。

优选地，所述光纤绕柱上设有多段螺纹。

优选地，所述光纤绕柱顶部设有夹紧装置，用于固定所述光纤绕柱上缠绕的光纤，所述夹紧装置包括夹紧块。

优选地，所述测试工装还包括箱体，所述箱体具有一底座，在所述箱体表面开设有多个U型槽，用于安置所述多个光纤绕柱。

另一方面，提供了上述方案中光纤宏弯损耗测试工装的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：

将多个待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺，将光纤的对折尾部分别安置在每个测试组件的光纤绕柱上；

启动每个测试组件的传动机构，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用每个测试组件的限位装置限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作每个测试组件的传动机构，将每个光纤从光纤绕柱上取下。

优选地，所述测试方法包括以下步骤：

将待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺，将光纤的对折尾部安置在多个测试组件中的一个的光纤绕柱上；

启动该测试组件的传动机构，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用该测试组件的限位装置限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作传动机构，将光纤对折尾部从光纤绕柱上取下；

将光纤对折尾部安置在另一测试组件的光纤绕柱上，重复上述测试操作。

优选地，所述测试方法包括以下步骤：

将待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺在箱体U型槽附近，将光纤的对折尾部安置在多个测试组件中的一个的光纤绕柱上，并利用夹紧块将光纤固定在光纤绕柱的螺纹中；

利用转动手柄转动该测试组件中传动机构的主动轮，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用该测试组件的限位块限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作传动机构，将光纤对折尾部从光纤绕柱上取下；

将光纤对折尾部安置在另一测试组件的光纤绕柱上，重复上述测试操作。

本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装，在整个测试过程中，不需要将光纤从光功率计耦合端拆下，也不需要更换工装的光纤绕柱，实现了光纤不同半径宏弯损耗的连续测试，并且排线平整，无叠压。并且在设置了限位装置的情况下，不需要人工数圈，提高缠绕光纤的速率，也可以避免人工数圈错误而造成测试数据不准确问题。因此，与现有测试工装相比，本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装不仅实现了对光纤持续进行光纤不同弯曲半径的宏弯损耗测试，并且结构简单，操作方便，整体测试效率得到了提高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种光纤宏弯损耗测试工装结构示意图；

图2是图1沿A-A线剖切得到的剖面结构示意图。

附图标记说明：

11-第一主动轮，12-第一从动轮，13-第一传送带，15-第一挡板，17-第一绕柱底座；

21-第二主动轮，22-第二从动轮，23-第二传送带，24-第二光纤绕柱，25-第二挡板，26-第二转动手柄；

31-第三主动轮，32-第三从动轮，33-第三传送带，34-第三光纤绕柱，35-第三挡板，36-第三转动手柄，37-第三绕柱底座，38-第三限位块，39-第三夹紧块,40-第三U型槽；

4-箱体，41-底座。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明关于“左右”等方向上的描述均是基于附图所示的方位或位置的关系定义的，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所述的装置必须以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。

本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装，包括多个测试组件，多个测试组件的每个均包括传动机构、光纤绕柱，多个测试组件中的多个光纤绕柱具有不同的直径，传动机构用于带动光纤绕柱移动。由于该光纤宏弯损耗测试工装设置了多个测试组件，并且每个测试组件中的光纤绕柱具有不同的直径，相应可以对光纤进行不同弯曲半径的宏弯损耗测试，另外加上传动机构的作用，在利用该测试工装对光纤进行测试时，光纤的两端与光功率计连接，光纤的其余部分缠绕在光纤绕柱上，当一种弯曲半径的测试完毕后，可以在传动机构的带动下将光纤的缠绕部分卸下，然后再通过传动机构置于另一弯曲半径的光纤绕柱进行测试，实现了对光纤持续进行不同弯曲半径的宏弯损耗测试，并且结构简单，操作方便，效率高，可广泛应用于光纤测试领域。

下面将结合具体实施例及其附图，对本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装作进一步说明。

图1是本发明实施例提供的一种光纤宏弯损耗测试工装结构示意图。图2是图1沿A-A线剖切得到的剖面结构示意图。

如图1所示，本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装包括三个测试组件，三个测试组件的每个测试组件均包括传动机构和光纤绕柱，三个测试组件中的三个光纤绕柱具有不同的直径，传动机构用于带动光纤绕柱移动。

具体地，如图1所示，第一测试组件包括第一传动机构和第一光纤绕柱(图中未显示)，第一传动机构包括第一主动轮11、与第一主动轮11连接的第一转动手柄(图中未显示)，第一从动轮12、第一传送带13以及设于第一传送带13环形包围腔内、与第一传送带13平行排列的第一挡板15，在第一传送带13与第一挡板15之间安置第一光纤绕柱的第一绕柱底座17，第一绕柱底座17的外表面与第一传送带13啮合，第一绕柱底座17位于第一光纤绕柱的底部，在第一传动机构的带动下，通过第一转动手柄转动第一主动轮11，使第一绕柱底座17发生转动，从而带动第一光纤绕柱在左右方向上进行移动。第一光纤绕柱上还设有多段螺纹，以便保证光纤在缠绕时排线无叠压，在邻近螺纹的顶部位置还设有第一夹紧装置(图中未显示)，用于固定第一光纤绕柱上缠绕的光纤，第一夹紧装置可以采用夹紧快或其他能够实现该夹紧功能的结构。另外，第一测试组件还包括第一限位装置(图中未显示)，位于远离第一光纤绕柱的一端，用于限定第一光纤绕柱的位置，通过试验并计算出安装第一限位装置的安装位置，保证当光纤绕柱到达第一限位装置位置后，光纤已绕目标圈数，第一限位装置可以采用限位块或其他能够实现该限位功能的结构。

如图1所示，第二测试组件包括第二传动机构和第二光纤绕柱24，第二传动机构包括第二主动轮21、与第二主动轮21连接的第二转动手柄26、第二从动轮22、第二传送带23以及设于第二传送带23环形包围腔内、与第二传送带23平行排列的第二挡板25，在第二传送带23与第二挡板25之间安置第二光纤绕柱24的第二绕柱底座(图中未显示)，第二绕柱底座的外表面与第二传送带23啮合，第二绕柱底座位于第二光纤绕柱24的底部，在第二传动机构的带动下，通过第二转动手柄26转动第二主动轮21，使第二绕柱底座发生转动，从而带动第二光纤绕柱24在左右方向上进行移动。第二光纤绕柱上还设有多段螺纹，以便保证光纤在缠绕时排线无叠压，在邻近螺纹的顶部位置还设有第二夹紧装置(图中未示出)，第二夹紧装置可以采用夹紧块或其他能够实现该夹紧功能的结构。用于固定第二光纤绕柱24上缠绕的光纤。另外，第二测试组件还包括第二限位装置(图中未示出)，位于远离第二光纤绕柱24的一端，用于限定第二光纤绕柱的位置，通过试验并计算出安装第二限位装置的安装位置，保证当光纤绕柱到达第二限位装置位置后，光纤已绕目标圈数，第二限位装置可以采用限位块或其他能够实现该限位功能的结构。

如图1及图2所示，第三测试组件包括第三传动机构和第三光纤绕柱34，第三传动机构包括第三主动轮31、与第三主动轮31连接的第三转动手柄36、第三从动轮32、第三传送带33以及设于第三传送带33环形包围腔内、与第三传送带33平行排列的第三挡板35，在第三传送带33与第三挡板35之间安置第三光纤绕柱34的第三绕柱底座37，第三绕柱底座37的外表面与第三传送带33啮合，第三绕柱底座37位于第三光纤绕柱34的底部，在第三传动机构的带动下，通过第三转动手柄36转动第三主动轮31，使第三绕柱底座37转动，从而带动第三光纤绕柱34在左右方向上进行移动。第三光纤绕柱37上还设有多段螺纹，以便保证光纤在缠绕时排线无叠压，在邻近螺纹的顶部位置还设有第三夹紧块39，用于固定第三光纤绕柱34上缠绕的光纤，第三夹紧块39也可以采用除夹紧块之外的其他能够实现该夹紧功能的结构。另外，第三测试组件还包括第三限位块38，位于远离第三光纤绕柱34的一端，用于限定第三光纤绕柱34的位置，通过试验并计算出安装第三限位块38的安装位置，保证当光纤绕柱到达第三限位块38位置后，光纤已绕目标圈数，第三限位块38也可以采用除限位块之外的其他能够实现该限位功能的结构。

另外，本发明实施例提供的测试工装还包括箱体4，箱体4具有一底座41，在箱体4表面开设有三个U型槽，每个U型槽分别用于安装三个测试组件中的各个光纤绕柱，U型槽是作为光纤绕柱的移动轨道使得光纤绕柱在该U型槽内发生左右移动。如图1所示，第三U型槽40用于安装第三光纤绕柱34，具体地通过将第三绕柱底座37安置于第三U型槽40内，相应的，与第三绕柱底座37连接的第三光纤绕柱34可以在第三绕柱底座37的带动下，在第三U型槽40内左右滑动。另外，三个测试组件的三个传送带在箱体4内呈平行排列。这样的结构便于测算三个限位装置的位置距离数据，以及便于测试操作。

需要说明的是，在不脱离本发明实施例主题精神和发明构思的情况下，测试工装内的三个测试组件中每个的各组成部分可以设置为相同或相似的结构，也可以设置成不同的结构。

本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装的工作原理以及操作实施过程如下：

取一段适当长度的待测光纤，将待测光纤两端连接光功率计后，余下光纤部分平铺至第一测试组件的第一U型槽附近，将光纤对折尾部利用第一夹紧装置固定在第一光纤绕柱上部螺纹中，同时保证光纤末端对折部分弯曲半径不小于30mm，避免影响测试准确性；后利用第一转动手柄转动第一主动轮11，带动第一绕柱底座17转动，从而带动第一光纤绕柱发生位移，将剩余光纤绕至第一光纤绕柱的螺纹中，保证排线平整；当第一光纤绕柱到达第一限位装置后，光纤已绕目标圈数，然后测试光纤在此弯曲半径情况下的宏弯损耗。测试完成后，反向旋转第一转动手柄，释放第一光纤绕柱上的光纤，之后在第二测试组件或第三测试组件重复操作进行其他弯曲半径的宏弯损耗测试。

由以上描述以及实践可知，由于利用本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装，在整个测试过程中，不需要将光纤从光功率计耦合端拆下，也不需要更换工装的光纤绕柱，实现了光纤不同半径宏弯损耗的连续测试，并且排线平整，无叠压。并且在设置了限位装置的情况下，不需要人工数圈，提高缠绕光纤的速率，也可以避免人工数圈错误而造成测试数据不准确问题。因此，与现有测试工装相比，本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装不仅实现了对光纤持续进行光纤不同弯曲半径的宏弯损耗测试，并且结构简单，操作方便，整体测试效率得到了提高。

另外，本发明实施例还提供了一种利用上述方案中光纤宏弯损耗测试工装的测试方法，该测试方法包括以下步骤：

将多个待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺，将光纤的对折尾部分别安置在每个测试组件的光纤绕柱上；

启动每个测试组件的传动机构，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用每个测试组件的限位装置限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作每个测试组件的传动机构，将每个光纤从光纤绕柱上取下。

在某一优选实施方式中，上述测试方法包括以下步骤：

将待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺，将光纤的对折尾部安置在多个测试组件中的一个的光纤绕柱上；

启动该测试组件的传动机构，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用该测试组件的限位装置限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作传动机构，将光纤对折尾部从光纤绕柱上取下；

将光纤对折尾部安置在另一测试组件的光纤绕柱上，重复上述测试操作。

在某一优选实施方式中，上述测试方法包括以下步骤：

将待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺在箱体U型槽附近，将光纤的对折尾部安置在多个测试组件中的一个的光纤绕柱上，并利用夹紧块将光纤固定在光纤绕柱的螺纹中；

利用转动手柄转动该测试组件中传动机构的主动轮，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用该测试组件的限位块限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作传动机构，将光纤对折尾部从光纤绕柱上取下；

将光纤对折尾部安置在另一测试组件的光纤绕柱上，重复上述测试操作。

上述所有可选技术方案，可以采用任意结合形成本发明的可选实施例，在此不再一一赘述。

综上所述，本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法，实现了光纤不同半径宏弯损耗的连续测试，并且排线平整，无叠压。并且在设置了限位装置的情况下，不需要人工数圈，提高缠绕光纤的速率，也可以避免人工数圈错误而造成测试数据不准确问题。因此，与现有测试工装相比，本发明实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装不仅实现了对光纤持续进行光纤不同弯曲半径的宏弯损耗测试，并且结构简单，操作方便，整体测试效率得到了提高。

需要说明的是：上述实施例提供的光纤宏弯损耗测试工装的测试方法光纤宏弯损耗测试工装实施例属于同一构思，其具体实现过程详见设备实施例，这里不再赘述。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光纤宏弯损耗测试工装，其特征在于，包括多个测试组件，所述多个测试组件的每个包括传动机构、光纤绕柱，所述多个测试组件中的多个光纤绕柱具有不同的直径，所述传动机构用于带动所述光纤绕柱移动。

2.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述多个测试组件的每个还包括限位装置，所述限位装置用于限定所述光纤绕柱的位置。

3.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述传动机构包括主动轮、与所述主动轮连接的转动手柄、从动轮、传送带以及设于所述传送带环形包围腔内、与所述传送带平行排列的挡板，所述传送带与所述挡板之间安置所述光纤绕柱的绕柱底座，所述绕柱底座的外表面与所述传送带啮合，所述绕柱底座位于所述光纤绕柱的底部；所述限位装置为限位块，所述限位块位于远离所述光纤绕柱的一端。

4.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述多个测试组件的多个传送带平行排列。

5.根据权利要求1至4任一项所述的测试工装，其特征在于，所述光纤绕柱上设有多段螺纹。

6.根据权利要求5所述的测试工装，其特征在于，所述光纤绕柱顶部设有夹紧装置，用于固定所述光纤绕柱上缠绕的光纤，所述夹紧装置包括夹紧块。

7.根据权利要求1、2、3、4或6任一项所述的测试工装，其特征在于，所述测试工装还包括箱体，所述箱体具有一底座，在所述箱体表面开设有多个U型槽，用于安置所述多个光纤绕柱。

8.一种如权利要求1所述的光纤宏弯损耗测试工装的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：

将多个待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺，将光纤的对折尾部分别安置在每个测试组件的光纤绕柱上；

启动每个测试组件的传动机构，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用每个测试组件的限位装置限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作每个测试组件的传动机构，将每个光纤从光纤绕柱上取下。

9.一种根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：

将待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺，将光纤的对折尾部安置在多个测试组件中的一个的光纤绕柱上；

启动该测试组件的传动机构，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用该测试组件的限位装置限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作传动机构，将光纤对折尾部从光纤绕柱上取下；

将光纤对折尾部安置在另一测试组件的光纤绕柱上，重复上述测试操作。

10.一种根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：

将待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺在箱体U型槽附近，将光纤的对折尾部安置在多个测试组件中的一个的光纤绕柱上，并利用夹紧块将光纤固定在光纤绕柱的螺纹中；

利用转动手柄转动该测试组件中传动机构的主动轮，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用该测试组件的限位块限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作传动机构，将光纤对折尾部从光纤绕柱上取下；

将光纤对折尾部安置在另一测试组件的光纤绕柱上，重复上述测试操作。