CN110085265B - 盘装置和盘装置的制造方法 - Google Patents

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Abstract

一个实施方式提供能够容易地提高盘介质的数据容量的盘装置。根据一个实施方式，提供了具有头和盘介质的盘装置。头具有第1读出元件和第2读出元件。盘介质被分割为多个区。多个区包含第1区和第2区。第1区包含多个配置有伺服区域和数据区域的轨道，在轨道中，伺服区域内的用于检测头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域具有第1位长。第2区包含配置有伺服区域和数据区域的轨道，在轨道中，伺服区域内的用于检测头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域具有第2位长。第2位长比第1位长短。

Description

盘装置和盘装置的制造方法
关联申请
本申请享有以日本专利申请2018-11981号(申请日为2018年1月26日)以及2018-147140号(申请日为2018年8月3日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
技术领域
本实施方式涉及盘装置和盘装置的制造方法。
背景技术
在具有拥有分别配置有伺服区域和数据区域的多个轨道的盘介质的盘装置中，使用伺服区域的信息来进行头的定位，对数据区域进行数据的写入和/或读出。此时，期望提高盘介质中的数据容量。
发明内容
一个实施方式提供一种能够容易地提高盘介质中的数据容量的盘装置以及盘装置的制造方法。
根据一个实施方式，提供具有头和盘介质的盘装置。头具有第1读出元件和第2读出元件。盘介质被分割为多个区(zone)。多个区包含第1区和第2区。第1区包含多个配置有伺服区域和数据区域的轨道，在所述轨道中，伺服区域内的用于检测头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域具有第1位长(bit length)。第2区包含多个配置有伺服区域和数据区域的轨道，在所述轨道中，伺服区域内的用于检测头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域具有第2位长。第2位长比第1位长短。
附图说明
图1是表示实施方式涉及的盘装置的结构的图。
图2(a)～(e)是表示第1实施方式中的盘介质的结构的图。
图3(a)～(d)是表示第1实施方式中的头的结构的图。
图4(a)～(c)是表示第1实施方式中的头的工作的图。
图5(a)～(f)是表示第1实施方式中的突发图形的检测结果的图。
图6是表示第1实施方式中的在半径方向上的突发图形的反复长度的图。
图7是表示第1实施方式中的控制器的结构的图。
图8是表示第1实施方式中的NULL突发转换部的结构的图。
图9是表示第1实施方式涉及的盘装置的制造方法的流程图。
图10是表示第1实施方式中的偏移量导出处理的流程图。
图11是表示第1实施方式中的偏移量测定处理的流程图。
图12是表示第1实施方式中的偏移量的测定结果的图。
图13(a)～(p)是表示第1实施方式中的头的偏离轨道量的检测结果的图。
图14是表示第2实施方式中的偏移量导出处理的图。
图15是表示第2实施方式中的控制器的结构的图。
图16是表示第2实施方式中的NULL突发转换部的结构的图。
图17(a)和(b)是表示第2实施方式中的偏移量导出处理的图。
图18(a)～(c)是表示第2实施方式中的与头的不同的移动速度对应的偏移量的图。
图19是表示第2实施方式中的与头的移动速度相应的偏移量的变化的图。
图20(a)～(d)是表示第3实施方式中的头的结构的图。
图21(a)～(f)是表示第3实施方式中的盘介质的结构的图。
图22是表示第3实施方式中的控制器的结构的图。
图23是表示第3实施方式中的偏移修正值的数据结构的图。
具体实施方式
以下，参照附图，详细地说明实施方式涉及的盘装置。此外，本发明不受该实施方式所限定。
(第1实施方式)
使用图1对第1实施方式涉及的盘装置100进行说明。图1是表示盘装置100的结构的图。
盘装置100例如是经由头122向盘介质111记录信息、经由头122从盘介质111读出信号的装置(例如盘装置、硬盘装置)。具体地说，盘装置100具备盘介质111、主轴马达(SPM)112、马达驱动器121、头122、致动器臂115、音圈马达(VCM)116、头放大器124、读写通道(RWC)125、硬盘控制器(HDC)131、缓冲存储器129、以及控制部126。
盘介质111是外形φ95mm的磁记录介质，通过SPM112以旋转轴为中心并以预定的旋转速度旋转。SPM112被马达驱动器驱动而旋转。盘装置100可具有多张盘介质111，但为了简化说明和图示，主要对一张盘介质111进行说明。
作为盘介质111的一例，能够例示如下磁记录介质：3.5英寸外形(form factor)的通常的硬盘驱动器(HDD)中的、搭载使用了平均外径尺寸φ95mm的基板的一张或多张磁记录介质，距其旋转中心的距离为45.0mm到46.5mm的位置成为多个数据轨道的最外周半径位置。这是由于，将磁记录介质的外径大致为1.0mm到2.5mm的区域用作磁头的加载/卸载动作用的余裕区域。例如，在使用了平均外径尺寸φ96mm的基板的情况下，距其旋转中心的距离为45.5mm到47.0mm的位置成为多个数据轨道的最外周半径位置。另外，在使用了平均外径尺寸φ97mm的基板的情况下，距其旋转中心的距离为46.0mm到47.5mm的位置成为多个数据轨道的最外周半径位置。
头122位于致动器臂115的顶端，通过被马达驱动器121驱动的VCM116，沿着盘介质111的半径方向(轨道宽度方向)而向目标轨道寻道，并在目标轨道上进行循轨(tracking)动作。当盘介质111的旋转停止等时，头122退到斜坡(未图示)上。头122是TDMR(TwoDimensional Magnetic Recording：二维磁记录)头，具有写入元件W和多个读出元件R1、R2。盘装置100可与多张盘介质111的各记录面(表面和背面)对应地具有多个头122，但为了简化说明和图示，主要对1个头122进行说明。
头放大器124对头122从盘介质111读出的信号进行放大并输出，向RWC125供给。另外，头放大器124对从RWC125供给的用于向盘介质111写入数据的信号进行放大，向头122供给。
HDC131执行经由I/F总线而与主机140之间进行的数据的收发控制、缓冲存储器129的控制、以及对写入数据的数据纠错处理等。缓冲存储器129作为与主机140之间进行收发的数据的高速缓冲存储器来使用。另外，缓冲存储器129用于对从盘介质111读出的数据、向盘介质111写入的数据、或从盘介质111读出的控制用固件进行暂时存储等。
RWC125对从HDC131供给的用于向盘介质111写入的数据进行编码调制，向头放大器124供给。另外，RWC125对从盘介质111读出并经由头放大器124供给的信号进行编码解调，作为数字数据向HDC131输出。
控制部126连接有工作用存储器127(例如SRAM)、非易失性存储器128(例如闪存)以及暂时存储用的缓冲存储器129(例如DRAM)。控制部126例如是CPU或MPU，按照预先存储在非易失性存储器128或盘介质111的固件进行该盘装置100的整体控制。固件是初始固件和通常工作中所使用的控制用固件。启动时最初被执行的初始固件例如存储在非易失性存储器128，通常工作中所使用的控制用固件记录在盘介质111。通过按照初始固件的控制，从盘介质111暂时读出到缓冲存储器129，然后储存到工作用存储器127。
此外，也可以将包含RWC125、控制部126以及HDC131的结构视为控制器130。控制器130例如可作为SoC(片上系统)来安装。
在盘装置100中，根据记录于盘介质111的伺服图形(servo pattern)，在盘介质111同心圆状地规定多个轨道(多个伺服轨道)。控制器130可以将针对多个轨道从内侧向外侧或从外侧向内侧依次分配的轨道编号作为表示盘介质111上的半径位置的信息来进行管理。例如，作为多个轨道的规定的一例，由于有时盘介质111的从最外周到大致1mm到2.5mm区域用作磁头的加载/卸载动作用的余裕区域，所以最外周数据轨道成为从SPM112旋转中心起的半径为46.5mm到45mm，最内周数据轨道被设计为大致半径为20mm到21mm。此外，作为盘介质111，使用外形φ96mm的磁盘介质的情况下的最外周数据轨道有时也被设计为半径从47mm到45.5mm的样子。另外，控制器130可以将以分别包含多个轨道的方式划分成同心圆状的多个区作为表示盘介质111上的半径位置的信息来进行管理。例如，控制器130可以管理针对多个轨道将轨道编号与区编号(将内周区ID、中周区MD、外周区OD互相识别的信息)进行了关联的区划分信息。以下，关于控制器130管理的区为3个区(内周区ID、中周区MD、外周区OD)的情况进行例示性的说明，但区的划分不限定于此，可任意地进行。
此外，以下，头122的移动速度是指，相对于伺服轨道，头122移动的速度的半径方向分量。
在盘介质111的制造工序中，如图2(c)所示，在各轨道中，数据区域DA与伺服区域SA在周向上可交替地反复设置。图2是表示伺服区域SA的结构的图。数据区域DA是记录数据的区域。伺服区域SA是记录伺服图形的区域。控制器130可以使用从伺服区域SA读出的伺服图形的信息来进行头122的定位，对数据区域DA进行数据的写入和/或读出。
伺服图形包含多种图形，例如包含前导码(preamble)、伺服标志(servo mark)、格雷码(gray code)、突发图形(burst pattern)、自检码(post code)。与之相应地，伺服区域SA包含前导码区域Rpr、伺服标志区域Rsam、格雷码区域Rgc、伺服突发区域Rbst、自检码区域Rpc。前导码区域Rpr是记录前导码的区域。前导码是成为对伺服图形取得振幅和相位的同步的基准的图形。伺服标志区域Rsam是记录伺服标志的区域。伺服标志是表示轨道中的周向的基准位置的图形。格雷码区域Rgc是记录格雷码的区域。格雷码包含表示盘介质111中的轨道的半径位置的信息(轨道编号等)。伺服突发区域Rbst是记录突发图形的区域。突发图形是用于检测头122从轨道中心偏离的偏离轨道量的图形。自检码区域Rpc是记录自检码的区域。自检码包含用于对通过突发图形得到的偏离轨道量的误差进行修正的修正量(偏心修正量等)的信息。
作为记录在伺服突发区域Rbst的突发图形，可采用空(Null)型突发图形。空型突发图形包含N相(Null N)和Q相(Null Q)这两个相，与包含A相、B相、C相、D相这4相的情况相比，能够将伺服突发区域Rbst的位长缩短到大致一半。
在N相中，为了实现相当于A相-B相的图形，可以以在N相内在半径方向上使相位以180°(＝1cyl)的间隔极性交替地反转的方式配置磁化图形。在Q相中，为了实现相当于C相-D相的图形，可以以在Q相内在半径方向上使相位以180°(＝1cyl)的间隔极性交替地反转的方式配置磁化图形。在N相和Q相间，可配置在半径方向上使相位互相移动了90°(＝0.5cyl)的磁化图形。由此，即使在采用了空型的突发图形的情况下，也如图2(c)所示那样，伺服突发区域Rbst占据了伺服区域SA内的相当的位长。
另一方面，头122是TDMR(Two Dimensional Magnetic Recording：二维磁记录)头，如图3(a)～图3(d)所示，具有写入元件W和多个读出元件R1、R2。图3(a)～图3(d)是表示头122的结构的图。在图3(a)所示的俯视中盘介质111顺时针旋转的情况下，写入元件W配置在头122的旋转方向上游侧，读出元件R1配置在头122的旋转方向下游侧，读出元件R2配置在写入元件W与读出元件R1之间。控制器130可以利用写入元件W向盘介质111进行数据的写入，利用多个读出元件R1、R2从盘介质111进行数据的读出。
在2个读出元件R1、R2之中，可以将读出元件R1设为主侧的读出元件，将读出元件R2设为从侧的读出元件。在伺服处理中，控制器130有时根据来自主侧的读出元件R1的读出信号φR1对伺服图形的信息进行解调处理，来进行头122的定位。但是，根据该头122，控制器130能够按每个读出元件R1、R2取得伺服图形的信息。期望有活用了2个读出元件R1、R2的读出信号φR1、φR2的新的伺服方式。
为了活用2个读出元件R1、R2的读出信号φR1、φR2，需要考虑半径方向上的读出元件间的偏移量Tr。在盘介质111中，致动器臂115的臂角度按照头122位于图3(a)所示的哪个半径位置(内周区ID、中周区MD、外周区OD之中的哪个区)而改变，因此头122的倾斜角β也改变。伴随于此，相对于盘介质111的读出元件R1与读出元件R2的相对位置关系也改变，因此半径方向上的读出元件间的偏移量Tr也改变。
在头122循轨时位于外周区OD内的轨道TRK_r的情况下，从盘介质111侧观看头122时的写入元件W和多个读出元件R1、R2的位置关系成为如图3(b)所示那样。即，倾斜角β成为向外周侧倾斜的负的角度(β＜0)，相对于读出元件R1，读出元件R2成为负的偏移量Tr(＜0)。
在头122循轨时位于中周区MD内的轨道TRK_h的情况下，从盘介质111侧观看头122时的写入元件W和多个读出元件R1、R2的位置关系成为如图3(c)所示那样。即，倾斜角β成为大致零(β≈0)，相对于读出元件R1，读出元件R2成为大致零的偏移量Tr(≈0)。
在头122循轨时位于内周区ID内的轨道TRK_p的情况下，从盘介质111侧观看头122时的写入元件W和多个读出元件R1、R2的位置关系成为如图3(d)所示那样。即，倾斜角β成为向内周侧倾斜的正的角度(β＞0)，相对于读出元件R1，读出元件R2成为正的偏移量Tr(＞0)。
当着眼于头122循轨时通过伺服突发区域Rbst中的N相区域(Null N区域)时的工作时，如图4(a)～图4(c)以及图5(a)～图5(c)所示那样。图4(a)～图4(c)是表示头122的工作的图。图5(a)～图5(c)是表示突发图形的检测结果的图。
在头122循轨时位于外周区OD内的轨道TRK_r的情况下，如图4(c)所示，偏移量Tr具有负的值，因此在读出元件R2的半径位置比读出元件R1的半径位置向外周侧移动了|Tr|的状态下，栅极信号中的N相的解调窗口WN成为有效(active)。在该状态下，对于在使相对于轨道中心的偏离轨道量从-侧(外周侧)向+侧(内周侧)变化了时的N相的突发图形的检测结果BstN的变化，如图5(a)所示，读出元件R2的读出信号φR2可能成为相对于读出元件R1的读出信号φR1进相了的波形。
在头122循轨时位于中周区MD内的轨道TRK_h的情况下，如图4(b)所示，偏移量Tr为大致零，因此在读出元件R2的半径位置与读出元件R1的半径位置大致一致的状态下，栅极信号中的N相的解调窗口WN成为有效。在该状态下，对于在使相对于轨道中心的偏离轨道量从-侧(外周侧)向+侧(内周侧)变化了时的N相的突发图形的检测结果BstN的变化，如图5(b)所示，2个读出元件R1、R2的读出信号φR1、φR2基本上一致。同样，在读出元件R2的半径位置与读出元件R1的半径位置大致一致的状态下，栅极信号中的Q相的解调窗口WQ成为有效。在该状态下，对于在使相对于轨道中心的偏离轨道量从-侧(外周侧)向+侧(内周侧)变化了时的Q相的突发图形的检测结果BstQ的变化，如图5(e)所示，2个读出元件R1、R2的读出信号φR1、φR2基本上一致。图5(e)所示的Q相的突发图形的检测结果BstQ的波形可能成为相对于图5(b)所示的N相的突发图形的检测结果BstN的波形进相了的波形。
在头122循轨时位于内周区ID内的轨道TRK_p的情况下，如图4(c)所示，偏移量Tr具有正的值，因此在读出元件R2的半径位置比读出元件R1的半径位置向内周侧移动了|Tr|的状态下，栅极信号中的N相的解调窗口WN成为有效。在该状态下，对于在使相对于轨道中心的偏离轨道量从-侧(外周侧)向+侧(内周侧)变化了时的N相的突发图形的检测结果BstN的变化，如图5(c)所示，读出元件R2的读出信号φR2可能成为相对于读出元件R1的读出信号φR1迟相了的波形。
即，在偏移量Tr成为大致零的中周区MD中，对于头122的偏离轨道量的检测，需要进行伺服突发区域Rbst的N相和Q相的双方的检测。而在能够确保偏移量Tr的内周区ID、外周区OD中，可以预想到，通过使用偏移量Tr，通过N相的检测就能够完成头122的偏离轨道量的检测。
因此，在第1实施方式中，在盘装置100中，通过实质上仅利用N相的突发图形构成内周区ID、外周OD内的轨道的伺服突发区域Rbst，来实现盘介质111中的数据容量的提高。具体地说，在制造工序中，在进行了使用N相的突发图形以及Q相的突发图形的处理后，擦除Q相的突发图形的至少一部分(即大部分或全部)。由此，通过以使内周区ID、外周区OD内的轨道的伺服突发区域Rbst的位长比中周区MD内的轨道的伺服突发区域Rbst的位长短的方式构成盘介质111，来实现盘介质111中的数据容量的提高。
例如，如图2(c)所示，中周区MD内的各轨道(例如轨道TRK_h)的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)和Q相的突发图形(Null Q)。
与之相对，如图2(a)所示，外周区OD内的各轨道(例如轨道TRK_r)的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)，但不包含Q相的突发图形(Null Q)。
或者，如图2(b)所示，外周区OD内的各轨道(例如轨道TRK_r)的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)，且包含位长比中周区MD内的各轨道中的Q相的突发图形短的Q相的突发图形(Null Q)。即，外周区OD内的各轨道的伺服突发区域Rbst包含相比于与栅极信号中的Q相的解调窗口WQ的脉冲宽度(参照图4(b))对应的位长大幅缩短的位长的Q相的突发图形(Null Q)。
如图2(d)所示，内周区ID内的各轨道(例如轨道TRK_p)的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)，但不包含Q相的突发图形(Null Q)。
或者，如图2(e)所示，内周区ID内的各轨道(例如轨道TRK_p)的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)，且包含位长比中周区MD内的各轨道中的Q相的突发图形短的Q相的突发图形(Null Q)。即，内周区ID内的各轨道的伺服突发区域Rbst包含相比于与栅极信号中的Q相的解调窗口WQ的脉冲宽度(参照图4(b))对应的位长大幅缩短的位长的Q相的突发图形(Null Q)。
此时，图5(a)～图5(c)所示的读出信号φR2相对于读出信号φR1的滞后或超前量的相位差θr可以使用以下的数学式1，根据半径方向上的读出元件间的偏移量Tr和图6所示的半径方向上的突发图形的反复长度L来求出。图6是表示读出元件间的偏移量Tr与半径方向上的突发图形的反复长度L的关系的图。突发图形的反复长度L大致等于伺服轨道间距Tw的2倍(L＝2×Tw)，例如大致等于轨道TRK_n的轨道宽度的2倍。
Figure BDA0001812966430000101
在此，定义为由读出元件R1得到的N相的检测结果BstN＝N1，由读出元件R1得到的Q相的检测结果BstQ＝Q1，由读出元件R2得到的N相的检测结果BstN＝N2，由读出元件R2得到的Q相的检测结果BstQ＝Q2。如图5(b)、图5(e)所示，N1成为相对于Q1例如进相了90°的波形。N2成为相对于Q2例如进相了90°的波形。
如数学式1所示，在Tr＝L/4(＞0)的情况下，成为θr＝π/2＝90°(进相)，因此能够视为N2＝Q1。即，在能够确保偏移量Tr的绝对值的内周区ID、外周区OD中，如果视为BstN＝N1、BstQ＝N2而进行偏离轨道解调，则即使完全不使用Q相的突发图形，也能够对头122的偏离轨道位置进行解调。
更具体地说，控制器130可如图7所示那样构成。图7是表示控制器130的结构的图。此外，图7所示的控制器130是功能性的结构，也可以例如在HDC131等(参照图1)中以硬件形式(例如作为片上系统)来安装。或者，图7所示的控制器130也可以例如在控制部126等中以软件形式(例如，作为通过控制部126等在工作用存储器127等一次性地或与处理的进行相应地依次展开的功能模块)来安装。或者，图7所示的控制器130也可以在HDC131等中以硬件形式安装一部分功能，在控制部126等中以软件形式安装剩余的功能。
控制器130具有读出通道131、NULL突发转换部132、CTS导出部133、处理选择部134、选择器135、地址修正部136、偏离轨道量算出部137、以及加法器138。
控制器130可以根据突发图形的读出信号来检测头122的偏离轨道量。即，读出元件R1、R2连接于能够对TDMR用的2通道进行独立再现的头放大器124(参照图1)。该头放大器124的输出被输入到TDMR用的读出通道131。TDMR用的读出通道131也具有2个伺服解调电路，能够独立处理2个读出元件R1、R2的读出信号φR1、φR2。Null型的突发图形的读出信号N1、N2、Q1、Q2以其基频分量在栅极信号的解调窗口WN、WQ有效的区间(参照图4(a)～图4(c))取得，使用正弦·余弦波系数进行积分，作为突发值BstN、BstQ保存在寄存器中。
例如，在位置检测处理中，地址修正部136读取相当于Null N、Q的2个突发值BstN、BstQ和根据所读出的格雷码进行了解调的柱面地址(轨道编号)。地址修正部136通过突发值的象限判定，根据需要在地址修正部136对柱面地址进行±1修正，向加法器138供给。偏离轨道量算出部137根据2个突发值BstN、BstQ导出偏离轨道量offtrk，向加法器138供给。加法器138将偏离轨道量offtrk加入到修正后的柱面地址而生成表示头122的当前位置的当前头位置Pos。
该偏离轨道量算出部137使用公知的速度修正、旋转修正、象限划分、γ修正等来算出偏离轨道量offtrk，但理论上将BstN视为cosθ信息，将BstQ视为sinθ信息，求出相当于θ的相位角，基于突发图形的半径方向的反复长度L，如以下的数学式2那样算出。
Figure BDA0001812966430000111
在控制器130中，能得到与2个读出元件R1、R2各自的读出信号φR1、φR2对应的伺服信息。与图7所示的BstN、BstQ、Cyl.Address相当的信息也分别存在R1用和R2用这2个。与此对应地，为了将2个读出元件R1、R2的读出信号φR1、φR2(即，在解调窗口WN、WQ有效的区间所取得的N1、N2、Q1、Q2)建立关联，在偏离轨道算出部137的前一级设置TDMR用的NULL突发转换部132。例如，NULL突发转换部132如图8所示那样构成。图8是表示NULL突发转换部132的结构的图。NULL突发转换部132具有选择器132a、系数乘法运算部132b、相位角换算部132c、sin值·cos值计算部132d、SQ转换部132e、选择器132f、以及系数乘法运算部132g。
图7所示的选择器135能够对作为Cyl.Address(轨道编号)是使用由主侧的读出元件R1读出的格雷码的解调结果C1还是使用由从侧的读出元件R2读出的格雷码的解调结果C2进行切换。
例如，在将头122定位于中周区MD内的轨道的情况下，向读出信道131的栅极信号独立地立于Null N用的解调窗口WN和Null Q用的解调窗口WQ(参照图4(b))，突发输出在读出元件R1侧和读出元件R2侧求出合计4个信息。此外，定义为由读出元件R1得到的N相的检测结果BstN＝N1，由读出元件R1得到的Q相的检测结果BstN＝Q1，由读出元件R2得到的N相的检测结果BstN＝N2，由读出元件R2得到的Q相的检测结果BstN＝Q2。
在中周区MD的伺服信号的解调处理(头122的位置检测处理)中，使用主侧的读出元件R1的读出信号φR1。在由读出元件R1得到的格雷码的解调结果C1所表示的地址(轨道编号)为中周区MD的范围的情况下，处理选择部134将处理选择信号Select设为0(解调模式＝0)并输出。
与处理选择信号Select＝0相应地，图8所示的选择器132a、132f分别切换到“0”侧。图7所示的NULL突发转换部132将N1设为BstN，将Q1设为BstQ，向偏离轨道量算出部137等输出。偏离轨道量算出部137进行上述的数学式2所示的计算，算出头122(或读出元件R1)的偏离轨道量。加法器138将偏离轨道量offtrk加入到与读出信号φR1相应的修正后的柱面地址，生成表示头122(或读出元件R1)的当前位置的当前头位置Pos(或Pos1)。
在外周区OD、内周区ID的伺服信号的解调处理(头122的位置检测处理)中，使用2个读出元件R1，R2的读出信号φR1，φR2和表示读出元件R2相对于R1在半径方向上行走到错开了多少的位置的偏移量Tr。该偏移量Tr由于是CTS(读出元件间半径方向距离)本身，所以将CTS导出部133的输出向NULL突发转换部供给。CTS导出部133根据由格雷码的解调结果C1表示的地址(轨道编号)，通过近似式等，导出在该半径位置的CTS。
观察与主侧的读出元件R1的BstN、BstQ相当的N1、Q1，处于以下的数学式3的关系。
N1＝cosθ，Q1＝sinθ…数式3
另一方面，着眼于N1和N2的关系，在中周区MD中，利用大致同一半径位置的读出元件R1、R2求出突发信号振幅，因此几乎重叠(参照图5(b))，而在外周区OD中，能够确认到N1先于N2的相位超前关系，相反地，在内周区ID中，能够确认到N1相对于N2为相位滞后关系(参照图5(a))。当将该相位差设为θr时，正为超前，负为滞后，用以下的数学式4来表达。
N1＝cosθ，N2＝cos(θ+θr)…数式4
这是因为，基于读取元件间的半径方向距离(偏移量Tr)的、突发图形的解调半径位置不同，使用突发图形的半径方向上的反复长度L，用数学式1来确定相位差θr。Q相的突发图形通过制造工序中的自检码补写处理而被擦除一部分或全部，但如果能够生成相当于该Q1的信号，则能够用偏离轨道量算出部137算出偏离轨道量。展开数学式4，将Q1相当信号设为SQ，则根据N1、N2、cosθr、sinθr导出以下的数学式5。
SQ＝sinθ＝(N1·cosθr-N2)/sinθr…数式5
图8所示的SQ转换部132e进行与数学式5相当的转换处理。在未设定强制R1再现标志、强制R2再现标志的状态下，由读出元件R1得到的格雷码的解调结果C1所表示的地址(轨道编号)不在中周区MD的范围时(位于外周区OD、内周区ID的范围时)，输出处理选择信号Select＝1(解调模式＝1)。由此，图7所示的选择器135切换到“1”侧，图8所示的选择器132a、132f切换到“1”侧。控制器130不使用Q相用的WQ而是使用N相用的NW作为栅极信号的解调窗口。虽然BstN＝N1不变，但采用由SQ转换部132e转换为BstQ＝SQ的值这一点，与解调模式＝0的情况不同。偏离轨道量算出部137算出头122的偏离轨道量，加法器138将偏离轨道量offtrk加入到与读出信号φR1相应的修正后的柱面地址而生成表示头122的当前位置的当前头位置Pos，这一点与解调模式＝0的情况是同样的。
此外，控制器130能够根据处理选择信号Select的值来切换解调模式。控制器130通过使Select＝0而切换到解调模式＝0。例如，除了判断为头122位于中周区MD的情况以外，发出强制R1解调模式(进行强制R1解调设定)的情况下，变为处理选择信号Select＝0。与此相应地，控制器130分别将N1、Q1设为BstN、BstQ。控制器130通过使Select＝1而切换到解调模式＝1。该解调模式是使用N1、N2来检测头122的位置的模式，例如在判断为头122位于外周区OD、内周区ID的情况下被选择。在该解调模式中，N1被设为BstN，活用Tr信息而求出的N1和N2的合成值被设为BstQ。
另外，控制器130通过使处理选择信号Select＝2而切换到解调模式＝2。该解调模式是在制造工序内用于偏移量测定处理的模式，不用作出厂后的头122的位置控制。例如，在算出偏移量Tr时，检测读出元件R2的位置之际(进行了强制R2解调设定的情况下)被选择。在该解调模式中，图7所示的选择器135切换到“2”侧，图8所示的选择器132a、132f切换到“2”侧。图7所示的地址修正部136对由读出元件R2得到的格雷码的解调结果C2所表示的地址(轨道编号)进行修正，向加法器138供给。NULL突发转换部132将N2设为BstN，将Q2设为BstQ，向偏离轨道量算出部137等输出。偏离轨道量算出部137进行上述的数学式2所示的计算，算出磁读出元件R2的偏离轨道量。加法器138将偏离轨道量offtrk加入到与读出信号φR2相应的修正后的柱面地址，生成表示读出元件R2的当前位置的当前头位置Pos2。
例如，控制器130在强制R2位置算出用的标志激活时，变为处理选择信号Select＝2。Cyl.Address也成为R2侧，向BstN输出g2＊N2，向BstQ输出g2＊Q2。这是乘以g2倍，在从侧的读出元件R2进行了位置检测处理。
此外，该增益g2是在出厂前的调整工序中校准而设定的调整增益，在大部分情况下，增益g2＝1，预先记载设置该增益的理由。头放大器124输出的读出信号依赖于读出元件R1、R2的GMR灵敏度等，其振幅不同，但在通道前级部进行称作AGC的使AD读入值时的信号振幅水平一致为恒定的自动增益调整。通过该调整处理，即使通道输入的信号振幅不同，ADC取入后的信号振幅也变得相同，突发值的振幅也保持为恒定。在大部分情况下，可能成为增益g2＝1。但是，实际上R1侧和R2侧的偏离轨道进给时的突发输出分布(profile)的振幅不一致的情况也处处可见。作为其对策，为了在N1、N2使突发输出分布的信号振幅相同，采用增益g2。倘若是信号振幅不一致的头，也能够通过用该头的增益g2进行修正，使修正后的振幅一致，防止向SQ转换的失真发生。
在算出偏移量Tr时，强制R1位置算出用标志被激活，控制器130按照强制R1位置算出用标志进行读出元件R1的位置检测，取得读出元件R1的当前头位置Pos1。然后，强制R2位置算出用标志被激活，控制器130按照强制R2位置算出用标志进行读出元件R2的位置检测，取得读出元件R2的当前头位置Pos2。
即，头的定位在R1侧进行，因此第一次在强制R2位置算出用标志被清零的状态下，首先求出Pos，将其设为Pos1。在伺服处理执行后的后处理内，强制R2位置算出用标志被激活，在R2侧进行第二次的位置检测处理，将该Pos设为Pos2，如以下的数学式6所示那样，能够求出半径方向上的读出元件间的偏移量Tr作为Pos1与Pos2的头位置之差。
Tr＝Pos2-Pos1…数式6
此外，出厂时的突发图形如图2(d)(或图2(e))以及图2(a)(或图2(b))所示那样，在外周区OD内的轨道、内周区ID内的轨道中，伺服突发区域Rbst实质上不具有Q相区域(Null Q)，因此不能进行原本数学式6所示的处理，但由于直到记录自检码为止也存在该Q相区域(Null Q)，所以能够分别确定2个读出元件R1、R2的头位置。
在用SSW生成伺服图形时，不区分是哪个区，将通常的Null突发图形记录在盘介质111。在该伺服图形中，通过在工序内记录自检码，从而初次形成在外周区OD、内周区ID中没有Q相的区域的最终的伺服图形。也就是说，在中周区MD，以自检码紧接在Q相区域(Null Q)之后到来的方式写入自检码，但在外周区OD、内周区ID中，紧接N相区域(Null N)之后写入自检码，因此Q相的突发图形(Null Q)被自检码覆写，实质上擦除。
这样，在工序中的自检码补写处理以前的阶段，能够求出半径位置与偏移量Tr的关系。
更具体地说，在盘装置100的制造工序内，如图9所示求出读出元件间的半径方向上的偏移量Tr。图9是表示盘装置100的制造方法(自检码补写处理)的流程图。
在盘装置100的制造工序中，向盘介质111中的各轨道写入如图2(b)所示那样的伺服图形中的除去自检码的各图形。即，各轨道中，都向伺服突发区域Rbst写入N相的突发图形(Null N)和Q相的突发图形(Null Q)。例如，在SSW(Self Servo Write：自伺服写入)方式中，通过STW(Servo Track Writer：伺服轨道写入器)向盘介质111写入辅助伺服图形之后，多张盘介质111被搭载于壳体(未图示)。然后，控制器130一边使头122从内周侧向外周侧进给，一边使用辅助伺服图形进行定位控制等，从而进行各种校准。然后，控制器130使用辅助伺服图形，一边使头122从内周侧起按预定的伺服轨道间距进给直到预定位置，一边向多张盘介质111同时写入伺服图形。由此，在各盘介质111上同心圆状地规定多个轨道。并且，控制器130使用伺服图形，一边在各轨道的中心进行定位控制，一边进行S1～S4的处理(自检码补写处理)而在伺服图形的末尾补写自检码。S1～S4的处理可以使用盘装置100中的多个头122一次性地进行，也可以分开进行。以下，例示对于各头122依次分开进行S1～S4的处理的情况。
在自检码补写处理中，控制器130进行强制R1解调设定以及自检码无效设定(S1)。按照强制R1解调设定(固定为解调模式＝0的设定)，作为头122的定位，控制器130不使用读出元件R2的读出信号φR2，而根据主侧的读出元件R1的读出信号φR1求出当前头位置Pos，进行以使当前头位置Pos接近于目标位置的方式来定位的伺服处理。按照自检码无效设定，控制器130擦除盘介质111中的各轨道的伺服区域内应该记录自检码的区域的磁化。
控制器130进行求出在半径方向上的读出元件间的偏移量Tr的偏移量导出处理(S10)。当求出偏移量Tr后，控制器130进行通常解调模式设定(根据头122的半径位置能够选择解调模式＝0和解调模式＝1的设定)(S2)，进行在伺服图形的末尾补写自检码的自检码记录处理(S3)。此时，如图2(c)、图4(b)所示，在应该成为中周区MD的半径位置，紧接在Q相的突发图形(Null Q)之后补写自检码。如图2(d)(或图2(e))、图2(a)(或图2(b))、图4(a)、图4(c)所示，在应该成为外周区OD的半径位置、应该成为内周区ID的半径位置，紧接在N相的突发图形(Null N)之后补写自检码。由此，在应该成为外周区OD的半径位置、应该成为内周区ID的半径位置，擦除Q相的突发图形(Null Q)的一部分(大部分)或全部。然后，控制器130进行自检码有效设定(将使用了自检码的修正处理成为有效的设定)(S4)。
接着，使用图10对偏移量导出处理(S10)进行说明。图10是表示偏移量导出处理的流程图。
控制器130对处理对象的头编号Head设定初始值“0”(S11)，对处理对象的区编号Zone＝0设定初始值“0”(S12)，进行测定偏移量Tr的偏移测定处理(S20)。控制器130将通过S20的测定得到的偏移量Tr的信息(参照图12)储存在非易失性存储器128或盘介质111的管理信息储存区域(S13)。控制器130使处理对象的区编号Zone增加(increment)(S14)，将区编号Zone与规定的区数进行比较，判断是否针对全部应该成为区的半径位置进行了处理(S15)。如果区编号Zone为规定的区数以下，则控制器130当作没有针对全部应该成为区的半径位置进行处理(在S15中为否)，使处理返回到S20。如果区编号Zone超过规定的区数，则控制器130当作针对全部应该成为区的半径位置进行了处理(在S15中为是)，导出偏移量Tr的近似式，将与所导出的近似式有关的参数储存在非易失性存储器128或盘介质111的管理信息储存区域(S16)。控制器130读出储存在盘介质111的管理信息储存区域中的管理信息，根据管理信息所包含的头122的倾斜角α的信息，决定对头122的定位不使用偏移量Tr的区NullZone(例如中周区MD)，将与区NullZone有关的参数储存在非易失性存储器128或盘介质111的管理信息储存区域(S17)。控制器130使处理对象的头编号Head增加(S18)，将头编号Head与规定的头数进行比较，判断是否针对全部应该成为头的半径位置进行了处理(S19)。如果头编号Head为规定的头数以下，则控制器130当作没有针对全部的头进行处理(在S19中为否)，使处理返回到S12。如果头编号Head超过规定的头数，则控制器130当作针对全部的头进行了处理(在S19中为是)，结束处理。
接着，使用图11对偏移量测定处理(S20)进行说明。图11是表示偏移量测定处理的流程图。
控制器130对轨道数N设定初始值“0”，对轨道编号Cyl设定初始值“ZoneStart”(S21)。控制器130根据头编号Head和轨道编号Cyl来进行使头122寻道的控制(S22)。
然后，控制器130测定偏移量Tr(S23)。具体地说，强制R1位置算出用标志被激活，控制器130按照强制R1位置算出用标志进行读出元件R1的位置检测，取得读出元件R1的当前头位置Pos1。然后，强制R2位置算出用标志被激活，控制器130按照强制R2位置算出用标志进行读出元件R2的位置检测，取得读出元件R2的当前头位置Pos2。控制器130可以如数学式6所示那样，求出偏移量Tr来作为Pos1与Pos2的头位置之差。
例如，各头相对于各半径位置的偏移量Tr的测定结果如图12所示。图12是表示偏移量的测定结果的图。如图12所示，相对于各半径位置的偏移量Tr的变化在盘装置100中的多个头122之间波动，因此需要针对各头测定每个半径位置的偏移量Tr。
控制器130在偏移量的测定成功时(在S24中为是)，使轨道数N增加(S25)，针对当前的区算出偏移量Tr的平均值，储存在缓冲存储器129(S26)，使轨道编号Cyl增加(S27)。
控制器130在偏移量的测定失败时(在S24中为否)，使轨道数N不变，使轨道编号Cyl增加(S27)。
控制器130判断用于算出偏移量Tr的平均值的轨道数N是否超过阈值Nmax(S28)。在轨道数N为阈值Nmax以下的情况下(在S28中为否)，控制器130使处理返回到S22。当轨道数N超过阈值Nmax时(在S28中为是)，控制器130将储存在缓冲存储器129的平均值决定为代表当前的区的偏移量Tr，储存在非易失性存储器128或盘介质111的管理信息储存区域(S29)。
接着，使用图13对偏离轨道量的检测结果进行说明。图13是表示偏离轨道量的检测结果的图。
图13(a)～图13(d)是假设在外周区OD(半径位置R＝45mm)以Null N的通道突发值N1、N2进行位置检测的情况，对位置检测处理的结果进行模拟计算而得到的图表(graph)。图13(e)～图13(h)是假设在外周区OD(半径位置R＝41mm)以Null N的通道突发值N1、N2进行位置检测的情况，对位置检测处理的结果进行模拟计算而得到的图表。图13(i)～图13(l)是假设在外周区OD(半径位置R＝37mm)以Null N的通道突发值N1、N2进行位置检测的情况，对位置检测处理的结果进行模拟计算而得到的图表。图13(m)～图13(p)是假设在内周区ID(半径位置R＝21mm)以Null N的通道突发值N1、N2进行位置检测的情况，对位置检测处理的结果进行模拟计算而得到的图表。
在图13(a)、图13(e)、图13(i)、图13(m)中，横轴表示偏离轨道量，纵轴表示解调位置。在图13(b)、图13(f)、图13(j)、图13(n)中，横轴表示偏离轨道量，纵轴表示位置解调时的检测误差。图13(c)、图13(g)、图13(k)、图13(o)是纵轴设为BstN、横轴设为BstQ而绘制的利萨如图。在这些各个图表中，实线表示第1实施方式的位置检测处理的结果，用虚线示出了不进行SQ计算而将N1、N2直接视为BstN、BstQ来进行位置检测的结果，以供参考。
在图13(d)、图13(h)、图13(l)、图13(p)中，横轴表示偏离轨道量，纵轴表示N1、N2、SQ的值。在图13(d)、图13(h)、图13(l)、图13(p)中，虚线表示N1，点划线表示N2，实线表示转换后的SQ。
观察图13(b)的虚线的图表可知，在外周区OD(半径位置R＝45mm)，N1、N2处于大致sin、cos的正交系中，因此即使直接进行位置检测处理，也能够相应地进行位置检测，但与本来希望的位置检测相比，具有3％左右的位置检测误差。另一方面，观察图13(b)的实线的图表，能够确认到，通过采用第1实施方式的位置检测处理，几乎没有位置检测误差，能够实现理想的位置检测。
如以上这样，在第1实施方式中，在盘装置100中，以内周区ID、外周区OD内的轨道的伺服突发区域Rbst的位长比中周区MD内的轨道的伺服突发区域Rbst的位长短的方式构成盘介质111。由此，能够扩大盘介质111中的数据区域DA的面积，能够容易地提高盘介质111中的数据容量。
此外，在盘介质111中，各区(外周区OD、中周区MD、内周区ID)可以进一步在半径方向上分割为多个部分区，以越是靠近外周区，则NULL突发的半径方向反复长度L越长的方式形成伺服图形。即，也可以按在半径方向上分割为多个的每个部分区而使SSW时的伺服轨道间距Tw可变。例如，也可以成为外周区OD、中周区MD、内周区ID中的各区内被分割为2个部分区，其伺服轨道间距Tw成为按该部分区而不同的图形。
盘介质111中的倾斜角的绝对值越小，则基于突发图形的偏离轨道量的解调的线性越容易劣化，但突发图形的反复长度L为伺服轨道间距Tw的大致2倍(参照图6)，因此数学式1能够改写为以下数学式7。
Figure BDA0001812966430000201
如果使该伺服轨道间距Tw改变，则能够如数学式7那样，不改变偏离轨道量Tr而使相位差θr改变并接近于90°，能够改善线性。
具体地说，通过使外周区OD内的中周侧的部分区、中周区MD内的外周侧的部分区的伺服轨道间距Tw比外周区OD内的外周侧的部分区的伺服轨道间距大，能够实现线性(直线性)的改善。同样，通过使内周区ID内的中周侧的部分区、中周区MD内的内周侧的部分区的伺服轨道间距Tw比内周区ID内的内周侧的部分区的伺服轨道间距大，能够实现线性(直线性)的改善。
或者，通过使外周区OD内的中周侧的部分区的伺服轨道间距Tw比外周区OD内的外周侧的部分区的伺服轨道间距Tw大，使中周区MD内的外周侧的部分区的伺服轨道间距Tw比外周区OD内的中周侧的部分区的伺服轨道间距Tw大，能够实现线性(直线性)的改善。同样，通过使内周区ID内的中周侧的部分区的伺服轨道间距Tw比内周区ID内的内周侧的部分区的伺服轨道间距Tw大，使中周区MD内的内周侧的部分区的伺服轨道间距Tw比内周区ID内的中周侧的部分区的伺服轨道间距Tw大，能够实现线性(直线性)的改善。
例如，外周区OD内的外周侧的部分区以及内周区ID内的内周侧的部分区可以以500kTPI的伺服轨道间距Tw形成，外周区OD内的中周侧的部分区、中周区MD内的外周侧的部分区、中周区MD内的内周侧的部分区、内周区ID内的中周侧的部分区可以以550kTPI这一高出10％的伺服轨道间距Tw来形成。由此，能够使外周区OD内的中周侧的部分区、中周区MD内的外周侧的部分区、中周区MD内的内周侧的部分区、内周区ID内的中周侧的部分区的相位角θr增大，能够将N2的从属影响抑制为小。或者，也可以将地址的伺服轨道间距设为恒定，将形成Null区域的进给从1/2进给变更为1/3进给，将L减小到2/3倍。
无论哪一种情况，都能够使被SSW的突发图形的半径方向的反复长度L在半径方向上可变，使相位差θr接近90°，能够改善位置检测的线性(直线性)。
(第2实施方式)
接着，说明第2实施方式的盘装置200。以下，主要说明与第1实施方式不同的部分。
在第1实施方式中，例示出了以下情况：在头122进行循轨动作时，针对实质上没有将Q相的突发图形(Null Q)包含于伺服区域的内周区ID、外周区OD内的轨道，根据由读出元件R1，R2得到的N相的检测结果N1，N2，进行与数学式5相当的转换处理，求出Q1相当信号SQ，使用N1和SQ算出偏离轨道量。
另一方面，在使头122进行寻道时，因头122的移动速度(头122相对于伺服轨道移动的速度的半径方向分量)的影响，数学式5不成立。
因此，在第2实施方式中，针对内周区ID、外周区OD内的轨道，将与数学式5相当的转换处理扩展为考虑了头的移动速度的转换处理，通过该扩展而成的转换处理求出Q1相当信号SQ，由此即使在使头寻道时，也使得能够使用N1和SQ算出偏离轨道量。
具体地说，针对实质上没有将Q相的突发图形(Null Q)包含于伺服区域的内周区ID、外周区OD内的轨道，扩展Null N单一突发图形再现方法，以使得能够考虑头122的移动速度进行适当的位置检测。即，在TDMR用的Null突发转换部中，基于当前头速度，求出对在半径位置决定的读出元件间的半径方向距离(跨轨道分离)进行了修正的有效Tr，以与保持头速度的情况下的Null Q输出等价的方式，扩展转换式，生成BstQ相当值。将寻道时的头122的移动速度设为V，将读出元件间的周向距离(沿轨道分离)设为DTS，将读出元件间的半径方向距离(跨轨道分离)设为CTS，使用在以下的数学式8中求出的系数kv，如以下的数学式9那样求出半径方向的偏离轨道量Tr来作为寻道时的有效的半径方向距离CTS。另外，使用在以下的数学式10中求出的受速度依赖影响的伺服突发信号的偏移量的相位角α，在以下的数学式11中求出读出信号φR2相对于读出信号φR1的滞后或超前量的执行相位差θr’，通过以下的数学式12，转换为作为Q1相当信号的SQ信号。此外，作为有效的半径方向距离CTS的偏离轨道量Tr是指，作为读出元件间的行走轨迹在半径方向上偏移的量而算出的值。
Figure BDA0001812966430000231
Tr＝CTS+kv·V…数式9
Figure BDA0001812966430000232
θr′＝θr-2α…数式11
SQ＝(N1·cosθr′-N2·cos2α)/sinθr…数式12
更具体地说，数学式5是以头122的移动速度小到可以忽略的程度、在BstN和BstQ上行走的头122位于相同θ相位这一情况为前提。然而，在如寻道这样的头122高速移动的情况下，在BstN和BstQ上行走的半径位置变得错开下去。使用图14进行说明。
图14示出了头122在将N相的突发图形(Null N)和Q相的突发图形(Null Q)包含于伺服区域的中周区MD内的轨道TRK_(h-1)～TRK_(h+1)上进行寻道动作时的伺服图形上的读出元件R1和读出元件R2的轨迹。在图14中，例示了通过盘介质111的旋转，读出元件R1和读出元件R2从左上移动至右下这一情况。Null N和Null Q以在半径方向错开了Tw/2的相位而形成，成为在半径方向上保持有90deg相位差的图形。
为了求出正在进行寻道移动的头122的当前位置，通道的突发输出，通过将BGATE信号为激活(ON)的区间(窗口WN，WQ)的信号振幅(离散傅里叶转换(DFT)进行加法运算，作为平均振幅而被算出。图14中用双点划线表示的N1成为读出元件R1正下方的Null N上的轨迹，Q1成为读出元件R1正上方的Null Q上的轨迹。可知，在读出元件R1为主侧的读出元件的情况下，作为θ想要求出的位置dPos(关注位置Ptg的偏离轨道量)成为在图14中从用单点划线表示的Null图形的中心位置偏离的偏离轨道的位置，而N1输出成为(与周向B2C跟前的位置对应的)相当于在半径方向上W跟前的值。相反，Q1输出相当于(与走过周向B2C的位置对应的)在半径方向上走过W的值。
也就是说，使用了数学式5的导出的数学式3的关系在寻道时不成立。
在将N相的突发图形(Null N)和Q相的突发图形(Null Q)包含于伺服区域的中周区MD的突发解调处理中，在这样的寻道时进行怎样的处理，使用图14进行说明。
相对于θ，N1是在半径方向上位于W跟前的值，Q1输出是半径方向上走过W的值，因此，在对速度依赖的偏移量W进行相位角换算时，在寻道时对数学式3进行扩展了的标记成为如下的数学式13。
N1＝a·cos(θ-α)，Q1＝a·sin(θ+α)…数式13
在数学式13中，系数a是表示因倾斜行走时读出信号φR1的振幅劣化这一情况的系数。另外，相位角α表示受速度依赖影响的伺服突发信号的偏移量的相位角，由以下的数学式14求出。
Figure BDA0001812966430000241
在数学式14中，W是由与周向距离B2C相当的时间和速度决定的半径方向的距离，因此通过相位角换算系数mv，能够根据速度(头122的移动速度)V直接算出。
已经说明了：半径位置换算通过偏离轨道量算出部137进行处理，在用原理式标记时，如数学式2那样进行处理。但是，在实际的偏离轨道量算出部137中，由于也进行速度修正处理，所以严格来说成为数学式15。在数学式2中，使用了突发周期长L，但是在数学式15中，仅用伺服轨道幅Tw标记，由于L＝2·Tw，所以关于系数是等价的。与数学式2不同之处在于，BstQ/BstN变为AS/AC，AS、AC是通过数学式16将BstN、BstQ进行了速度修正后的值。
Figure BDA0001812966430000242
速度修正是指，由数学式13实现的使速度依赖的偏移量的相位角α取消的运算处理，如以下的数学式16那样，使用数学式14，根据当前速度(头122的移动速度)V求出cosα、sinα，并对其进行乘法运算和加法运算。在完全忽略速度的情况下，成为cosα＝1，sinα＝0，并成为AS＝BstQ，AC＝BstN，与数学式2完全一致。
AC＝cosα·BstN-sinα·BstQ，AS＝cosα·BstQ-sinu·BstN…数式16
在数学式16中设为BstN＝N1、BstQ＝Q1，代入数学式13并展开时，成为以下的数学式17，将AC设为数学式2的BstN，将AS设为BstQ，要处理的数学式15的妥当性得以明确。
AC＝kv·a·cosθ，AS＝kv·a·sinθ，kv＝cos2α-sin2α…数式17
可知，AC，AS处于对于相同的相位角θ的cos，sin的关系，通过数学式16的速度修正处理能够正确地算出相位角θ。
但是，求出的相位角θ是与offtrk相当的值，因此，寻道时与再现的格雷柱面(由格雷码的柱面地址表示的位置)存在偏移。即使在格雷码再现时也倾斜行走，但是再现的地址成为配置有格雷码的最下位(LSB)的位置PLSB。通常，最下位(LSB)位于格雷区域的最终端，而采用扰码(scramble)配置等时，需要注意未必位于最终端。根据该格雷码的最下位(LSB)的位置PLSB、与到Null中心为止的距离G2C相当的时间、以及寻道时速度，能够求出图14所示的从位置PLSB到包含关注位置Ptg的轨道TRK_h的轨道中心为止的半径方向错开量COV。实际上半径方向错开量COV包含柱面单位以下的小数点，但是详细的位置根据offtrk(关注位置Ptg的偏离轨道量)求出，因此，加上对半径方向错开量COV进行取整的量并利用以下的数学式18求出位置POS。
POS＝P(gray)+int(COV)+offtrk…数式18
这样，可知，关于将N相的突发图形(Null N)和Q相的突发图形(Null Q)包含于伺服区域的中周区MD的解调值，即使具有如数学式13那样的速度影响，通过由既存的偏离轨道量算出部137进行的数学式16的速度修正处理，也能正确算出偏离轨道量。另一方面，关于实质上没有将Q相的突发图形(Null Q)包含于伺服区域的内周区ID、外周区OD内的轨道的解调值，通过R1，R2的N相的解调值N1和N2，一定会生成与数学式13的Q1相当的SQ。若当前头的轨道方向速度小到能够忽略，则能够通过数学式5算出SQ，但是在速度达到无法忽略的程度的情况下，需要进行考虑了速度的转换。也就是说，考虑当前头速度，需要对图7的TDMR用NULL突发转换部进行扩展，以使得由偏离轨道量算出部137进行的速度修正处理正确发挥功能。
例如，盘装置200具有图15所示的控制器230来取代控制器130(参照图7)。图15是表示控制器230的结构的图。与第1实施方式的不同之处在于，控制器230具有突发转换部232来取代NULL突发转换部132。此外，在图7中，将CTS导出部133的输出记为再现元件轨迹的半径方向偏移量Tr，但是在头在半径方向上具有速度的情况下，元件间的半径方向距离CTS未必一致。因此，在图15中，变更为将CTS向NULL突发转换部132供给。
CTS导出部133根据由格雷码的解调结果C1表示的地址(轨道编号)，导出当前半径位置上的半径方向距离CTS并向NULL突发转换部232供给。控制器230能够通过使用观察器，基于向VCM116的电流指示值来推定头122的移动速度V，将推定出的头122的移动速度向NULL突发转换部232供给。
NULL突发转换部232与第1实施方式的NULL突发转换部132的不同之处在于，被扩展为参照头122的移动速度V进行转换处理。NULL突发转换部232具有sin值·cos值计算部232d和SQ转换部232e来取代sin值·cos值计算部132d和SQ转换部132e(参照图8)，还具有系数乘法运算部232h、系数乘法运算部232i以及加法运算器232j。
在第1实施方式的NULL突发转换部132中，通过CTS导出部133将当前半径位置上的半径方向距离CTS通过利用最佳化参数的插补计算，由后处理部算出，并将其作为半径方向上的再现元件的行走轨迹的偏移量Tr进行输入，本实施方式的NULL突发转换部232还追加了以下处理：使用头122的半径方向的移动速度V，求出根据速度而变化的半径方向上的再现元件的行走轨迹的偏移量Tr。即，系数乘法运算部232h将头的移动速度V乘以系数kv(参照数学式9)。加法运算器232j将系数乘法运算部232h的乘法运算结果(kv·V)和径向距离CTS相加求出偏移量Tr并向相位角换算部132e供给。由此，进行数学式9所示的处理。
进一步，求出因速度依赖而变化的速度修正用的相位角α。即，系数乘法运算部232i将头的移动速度V与系数mv(参照数学式10)进行乘法运算，将乘法运算结果作为速度依赖的信号的与错开相应的相位角α并向sin值·cos值计算部232d供给。由此，进行数学式10所示的处理。另外，相位角换算部132e将偏移量Tr换算为2个读出元件的信号间的滞后或超前量的相位差θr并向sin值·cos值计算部232d供给。由此，进行数学式1或数学式7所示的处理。
sin值·cos值计算部232d从系数乘法运算部232i接收偏移量的相位角α，从相位角换算部132e接收与偏移量Tr对应的相位差θr。sin值·cos值计算部232d除了使用相位差θr计算sinθr以外，还进行以下的计算。sin值·cos值计算部232d使用速度依赖的偏移量的相位角α和与偏移量Tr对应的相位差θr，通过数学式11求出速度依赖的执行的相位差θr’，使用速度依赖的执行的相位差θr’计算cos(θr’)。sin值·cos值计算部232d使用速度依赖的偏移量的相位角α计算cos(2α)。sin值·cos值计算部232d将所述计算结果(sinθr，cosθr’，cos2α)向SQ转换部232e供给。
SQ转换部232e进行的转换处理的内容与第1实施方式不同之处在于，取代数学式5而使用进一步扩展了的数学式12。
若速度V为0，则通过数学式9成为Tr＝CTS，通过数学式10成为α＝0，通过数学式11成为θr’＝θr，因此，数学式12与数学式5一致。即，数学式12成为被扩展为在速度V＝0的情况下包含数学式5并且在速度V≠0的情况下也能够应对的数学式。
若在数学式12中代入数学式4、数学式11并展开，将系数设为a，则成为以下的数学式19。
N1＝a·cos(θ-α)，SQ＝a·sin(θ+α)…数式19
在此，针对数学式5和数学式12的不同，使用图17进行说明。图17是表示偏离轨道量的检测处理的图。图17(a)是表示在头122进行循轨动作的情况下的SQ转换处理的图，图17(b)是表示在头122进行寻道动作的情况下的SQ转换处理的图。
若在头122的循轨时(半径方向的移动速度V＝0)，则如图17(a)所示，通过数学式5，针对外周区OD的轨道TRK_r，根据N1和N2求出的SQ能够成为与针对中周区MD的轨道TRK_h检测出的Q1相当的信号。
另一方面，若在头122的寻道时(半径方向的移动速度V≠0)，则如图17(b)所示，通过数学式5，针对外周区OD的轨道TRK_r，根据N1和N2求出的SQ’倾向于从与针对中周区MD的轨道TRK_h检测出的Q1相当的信号(与半径位置的错开量2W对应地)在相位上错开。通过将该(与半径位置的错开量2W对应的)偏移量的相位角考虑为α，如图17(b)所示，通过数学式12，针对外周区OD的轨道TRK_r，根据N1和N2求出的SQ能够成为与针对中周区MD的轨道TRK_h检测出的Q1(参照图14)相当的信号。
接着，为什么通过速度依赖变更作为读出元件间的行走轨迹在半径方向上偏移了的量而算出的偏移量Tr，使用图18进行说明。在图18中示出基于速度的有效的半径方向距离CTS即偏离轨道量Tr的变化。
根据头122的构造，2个读出元件R1，R2具有称为R-RGap的距离。R-RGap是包括CTS作为半径方向分量、DTS作为周向分量的向量，2个读出元件R1，R2成为在半径方向上偏移配置CTS、在周向上偏移配置DTS的图像。因此，在头122在半径方向上以速度V移动的情况下，在通过该Null突发的位置上的作为半径方向偏移的偏移量Tr不是再现元件间的半径方向距离CTS，而需要根据再现元件间的周向距离DTS和速度进行修正。
例如，读出元件R1相对于读出元件R2向半径方向内周侧以CTS偏移的情况下，若在图18(b)所示的循轨时(半径方向的移动速度V＝0)，则偏移量Tr与半径方向距离CTS大致相等。另一方面，若如图18(a)所示头122向内周侧以速度V移动，则偏移量Tr相对于半径方向距离CTS依赖于速度V而变大。或者，若如图18(c)所示在头122向外周侧以速度V移动，则偏移量Tr相对于CTS依赖于速度V而变小。
即，作为有效的半径方向距离CTS的偏移量Tr，能够通过对在其半径位置上的半径方向距离CTS施加数学式9的修正而求出。
数学式9中的系数kv利用数学式8求出。在数学式8中，r是当前头的半径位置，Fspm是盘介质111的旋转频率。
利用该数学式8可以清楚，kv是依赖于半径位置的系数，周向距离DTS也根据半径位置按斜交角β、RR-Gap·cosβ变化。
在图19中示出本实施方式的基于寻道时的移动速度的偏移量Tr的变化。针对内周区ID、中周区MD、外周区OD这3点的半径位置，用实线、单点划线、双点划线表示，但是对于在其半径位置上的偏移量Tr，能够确认基于速度的变化梯度系数不同这一情况。
虽然也能够愚直地运算出该梯度，但是由于会成为相当复杂的运算式，所以实际上采用以下方式：在出厂时按每个头，求出按区的半径位置上的该梯度系数，通过后处理部，通过其插补计算更新系数kv。即，控制器230能够根据当前半径位置逐次更新NULL突发转换部232的系数乘法运算部232h的系数kv和系数乘法运算部232i的系数mv。由此，在寻道时也能够算出正确的头位置。
此外，作为补充说明，控制器230对于图15所示的NULL突发转换部232的选择器132a，132f，通过观察器的预测位置判定其地址是否超过某个阈值来进行切换。
此时，在将N相的突发图形(Null N)和Q相的突发图形(Null Q)包含于伺服区域的中周区MD的半径位置，选择Select＝1没有问题，但是实质上没有将Q相的突发图形(NullQ)包含于伺服区域的内周区ID、外周区OD的半径位置，若选择Select＝0则有可能无法正确解调位置。因此，能够进行考虑了头122的半径方向的移动速度和选择器132a，132f的切换处理所需的时间的裕量移动设定，以使得选择器切换半径地址来到中周区MD的通常伺服区域内。即，在中周区MD内，以与裕量对应的半径方向幅设定与内周区ID相邻的相邻区域MID，并且以与裕量对应的半径方向幅设定与外周区OD相邻的相邻区域MOD。
例如，若头122在中周区MD内向内周侧寻道移动，则在到达相邻区域MID的半径位置切换为Select＝1→0。即，在到达内周区ID之前能够根据通常的处理切换为由数学式12进行的转换处理，使用N1和SQ算出偏离轨道量。如之前所述，数学式12的SQ成为与数学式13的Q1相当的值，因此，偏离轨道量算出部的offtrk不会变得不连续，能够执行平滑的寻道处理。
或者，例如，若头122在中周区MD内向外周侧寻道移动，则在到达相邻区域MOD的半径位置切换为Select＝1→0。即，在到达外周区OD之前能够根据通常的处理切换为由数学式12进行的转换处理，使用N1和SQ算出偏离轨道量。
如以上，在第2实施方式中，针对内周区ID、外周区OD内的轨道，将与数学式5相当的转换处理扩展为考虑了头的移动速度的转换处理，通过该扩展后的转换处理求出与Q1相当的信号SQ，由此即使在使头122寻道时，也能够使用N1和SQ算出偏离轨道量，能够准确地解调头122的位置。
(第3实施方式)
接着，说明第3实施方式的盘装置100。以下，以与第1实施方式和第2实施方式不同的部分为中心进行说明。
在第3实施方式中，如图20(a)～图20(d)所示，头122’除了具有2个读出元件R1、R2之外，还具有第3个读出元件R3。图20是表示第3实施方式中的头122’的结构的图。3个读出元件R1、R2、R3构成为，剩余的1个读出元件的中心配置在相对于连结2个读出元件的中心的直线而错开的位置。在头122’中，3个读出元件R1、R2、R3配置成以连结读出元件R1、R2的中心的线段、连结读出元件R2、R3的中心的线段、以及连结读出元件R1、R3的中心的线段绘制三角形那样的位置关系。
另外，在3个读出元件R1、R2、R3之中，可以将读出元件R1作为主侧的读出元件，将读出元件R2以及读出元件R3中的任一个作为从侧的读出元件。即，既可以将读出元件R1作为主侧的读出元件，将读出元件R2作为从侧的读出元件，也可以将读出元件R1作为主侧的读出元件，将读出元件R3作为从侧的读出元件。在将读出元件R1作为主侧的读出元件，将读出元件R2作为从侧的读出元件的情况下，可以按2个读出元件R1、R2的每一个，活用读出信号φR1、φR2来取得伺服图形的信息。在将读出元件R1作为主侧的读出元件，将读出元件R3作为从侧的读出元件的情况下，可以按2个读出元件R1、R3的每一个，活用读出信号φR1、φR3来取得伺服图形的信息。
例如，在头122位于中周区MD内的轨道TRK_h的情况下，如图3(c)所示，读出元件R2相对于读出元件R1为大致零的偏移量Tr(≈0)，而如图20(c)所示，读出元件R3相对于读出元件R1为正的偏移量Tr’(＞0)。由此，如果在位于中周区MD内的轨道TRK_h的情况下活用读出信号φR3来代替读出信号φR2，则通过使用偏移量Tr’，以N相的检测就能够完成头122’的偏离轨道量的检测。例如，可以将数学式1中的Tr设为Tr’而求出θr，将与读出信号φR1相应的N1、与读出信号φR2相应的N2、和所求出的θr代入到数学式5中来求出sinθ，将cosθ(＝N1)和所求出的sinθ代入到数学式2中，求出头122’的偏离轨道量offtrk。
在该情况下，在图11的S23中，控制器130除了偏移量Tr以外，还能够测定偏移量Tr’。在偏移量Tr’的测定中，强制R1位置算出用标志被激活，控制器130按照强制R1位置算出用标志进行读出元件R1的位置检测，取得读出元件R1的当前头位置Pos1。然后，强制R3位置算出用标志被激活，控制器130按照强制R3位置算出用标志进行读出元件R3的位置检测，取得读出元件R3的当前头位置Pos2。控制器130可以如数学式6所示那样，求出偏移量Tr’来作为Pos1与Pos2的头位置之差。
另外，在图9的S3中，如图21所示那样进行自检码记录处理。即，除了应该成为外周区OD的半径位置、应该成为内周区ID的半径位置以外，在应该成为中周区MD的半径位置，也紧接在N相的突发图形(Null N)之后补写自检码。由此，在应该成为外周区OD的半径位置、应该成为中周区MD的半径位置、以及应该成为内周区ID的半径位置中分别擦除Q相的突发图形(Null Q)的一部分(大部分)或全部。
由此，通过实质上仅由N相的突发图形构成盘介质111中的各区ID、MD、OD内的轨道的伺服突发区域Rbst，能够实现盘介质111中的数据容量的进一步提高。
例如，如图21(a)、图21(c)、图21(e)所示，各区OD、MD、ID内的各轨道(例如轨道TRK_r，TRK_h，TRK_p)的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)，但不包含Q相的突发图形(Null Q)。盘介质111中的实质上全部轨道各自的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)但不包含Q相的突发图形(Null Q)。
或者，如图21(b)、图21(d)、图21(f)所示，各区OD、MD、ID内的各轨道(例如轨道TRK_r，TRK_h，TRK_p)的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)，且包含位长比N相的突发图形大幅缩短的Q相的突发图形(Null Q)。盘介质111中的实质上全部轨道各自的伺服突发区域Rbst包含N相的突发图形(Null N)，且包含位长比N相的突发图形大幅缩短的Q相的突发图形(Null Q)。即，各区OD、MD、ID内的各轨道的伺服突发区域Rbst包含相比于与栅极信号中的Q相的解调窗口WQ的脉冲宽度(参照图4(b))对应的位长大幅缩短的位长的Q相的突发图形(Null Q)。盘介质111中的实质上全部轨道各自的伺服突发区域Rbst包含相比于与栅极信号中的Q相的解调窗口WQ的脉冲宽度(参照图4(b))对应的位长大幅缩短的位长的Q相的突发图形(Null Q)。
另外，在制造工序中，在头122’位于中周区MD的情况等2个读出元件R1、R3的读出信号φR1、φR3被读出的情况下，通过采用在图7所示的读出通道131在解调窗口WN、WQ有效的区间所取得的读出信号φR3分别作为N2、Q2，控制器130能够求出偏移量Tr’。另外，在出厂后，在头122’位于中周区MD的情况等2个读出元件R1、R3的读出信号φR1、φR3被读出的情况下，通过采用在图7所示的读出通道131在解调窗口WN有效的区间所取得的读出信号φR3分别作为N2、Q2，控制器130能够使用偏移量Tr’来求出头122’的偏离轨道量。
另外，在变更了头122’的3个读出元件R1，R2，R3中的主侧的读出元件的情况下，若变更由主侧的读出元件读出的格雷码，则当前头位置有可能不连续变化。
因此，在切换在格雷码解调中使用的再现元件(主侧的读出元件)的情况下，预先求出在主侧的读出元件间的切换位置上的周向距离CTS来作为偏移修正信息，对被解调的头位置加上与该周向距离CTS相应的偏移修正量来进行加法运算修正。
例如，盘装置300具有图22所示的控制器330来取代控制器230(参照图15)。图22是表示控制器330的结构的图。控制器330还具有CTS偏移修正值340和加法运算器339。
CTS偏移修正值340是在切换主侧再现元件时，保持用于修正由该切换前后的主侧再现元件间CTS导致的检测位置的不连续错开的修正量的存储部，在寻道时从3个再现元件切换为2个再现元件的时间点，对该偏移修正量ΔTr进行更新设定。
在图23中示出，在各半径区域中，从3个读出元件中选择哪2个读出元件并采用。在本实施例中，将数据区域分割为5个区，以使得位置检测噪声成为最小，对于伺服图形，选择使得读出元件间的半径方向距离CTS作为伺服图形的相位差成为90度附近的图形。示出了：半径位置栏341b相当于32数据区的半径位置，在从数据区0到数据区3的半径位置中，生成N1、C1信号的主侧读出元件341c使用R2的元件，生成N2信号的从侧读出元件341d使用R3的元件。该ID区域中的偏移修正量341e始终为CTS12Z4，CTS偏移修正值340保持有该修正量。此外，CTS12Z4是数据区3与数据区4的边界半径位置上的、读出元件R1与读出元件R2的半径方向的元件间距离。另外，在OD区域的偏移修正量341e为CTS12Z30，是数据区29与数据区30的边界半径位置上的、读出元件R1与读出元件R2的半径方向的元件间距离。在从ID区域切换为MD区域时，与读出元件的切换对应，并且对CTS偏移修正值340加载(load)偏移修正量341e，偏移修正量ΔTr成为0。相反地，在从MD区域切换为ID区域时，偏移修正量ΔTr成为CTS12Z4。
通过主侧读出元件的切换，导致C1、N1的读出元件的行走半径位置急剧变化了CTS，但是，与主侧读出元件的切换同步地，通过适当对CTS偏移修正值340进行更新设定，能够修正检测位置的不连续性。
加法运算器138将当前头位置Pos向加法运算器339供给。CTS偏移修正值340将偏移修正量ΔTr向加法运算器339供给。加法运算器339将当前头位置Pos与偏移修正量ΔTr进行加法运算，并生成修正后的当前头位置Pos’。
如以上所述，在第3实施方式中，实质上仅由N相的突发图形构成盘介质111的各区ID，MD，OD内的轨道的伺服突发区域Rbst。由此，能够进一步提高盘介质111的数据容量。
说明了本发明的几个实施方式，但是这些实施方式指示作为例子提示，并不意在限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种方式实施，在不脱离发明的主旨的范围内，能够进行各种省略、置换、变更。这些实施方式及其变形，包含在发明的范围和要旨内，并且包含在权利要求所记载的发明和与之均等的范围内。

Claims (16)

1.一种盘装置，具备：
头，具有第1读出元件和第2读出元件；和
盘介质，被分割为多个区，
所述多个区包含：
第1区，包含多个配置有伺服区域和数据区域的轨道，在所述轨道中，所述伺服区域内的用于检测所述头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域具有第1位长；和
第2区，包含多个配置有伺服区域和数据区域的轨道，在所述轨道中，所述伺服区域内的用于检测所述头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域具有比所述第1位长短的第2位长。
2.根据权利要求1所述的盘装置，
所述第1区中的所述伺服突发区域包含第1突发图形和第2突发图形，
所述第2区中的所述伺服突发区域包含所述第1突发图形但不包含所述第2突发图形，或者包含所述第1突发图形且包含位长比所述第1区中的所述第2突发图形短的所述第2突发图形。
3.根据权利要求2所述的盘装置，
还具备位置检测单元，该位置检测单元在第1处理和第2处理之间进行切换，
所述第1处理是根据所述第1突发图形和所述第2突发图形的检测结果求出所述头的偏离轨道量来检测当前头位置的处理，
所述第2处理是根据所述第1突发图形的由所述第1读出元件得到的检测结果、所述第1突发图形的由所述第2读出元件得到的检测结果以及在半径方向上的所述第1读出元件和所述第2读出元件的偏移量求出所述头的偏离轨道量来检测当前头位置的处理。
4.根据权利要求3所述的盘装置，
所述偏移量是基于读出元件间的物理上的配置关系和所述头的移动速度而算出为读出元件间的行走轨迹在半径方向上偏移的量的偏移量。
5.根据权利要求3所述的盘装置，
所述位置检测单元在所述头位于所述第1区的情况下进行所述第1处理，在所述头位于所述第2区的情况下进行所述第2处理。
6.根据权利要求3所述的盘装置，
所述位置检测单元在所述头从所述第1区向所述第2区移动的情况下，在所述第1区内进行从所述第1处理向所述第2处理的切换。
7.根据权利要求3所述的盘装置，
所述位置检测单元在所述头从所述第2区向所述第1区移动的情况下，在所述第1区内进行从所述第2处理向所述第1处理的切换。
8.根据权利要求1或2所述的盘装置，
所述第1区中的伺服轨道间距比所述第2区中的伺服轨道间距窄。
9.根据权利要求1或2所述的盘装置，
所述头位于所述第1区的情况下的所述第1读出元件的中心与所述第2读出元件的中心的半径方向的偏移量的绝对值，大于所述头位于所述第2区的情况下的所述第1读出元件的中心与所述第2读出元件的中心的半径方向的偏移量的绝对值。
10.一种盘装置的制造方法，所述盘装置具有头和盘介质，所述头具有第1读出元件和第2读出元件，该制造方法包括：
记录包含第1突发图形和第2突发图形的伺服图形，在所述盘介质的多个半径位置分别形成包含记录所述第1突发图形和所述第2突发图形的伺服突发区域的伺服区域；
针对所述多个半径位置，分别取所述第1读出元件的位置与所述第2读出元件的位置的差量来求出所述第1读出元件与所述第2读出元件间的偏移量，所述第1读出元件的位置与所述第1突发图形以及所述第2突发图形的由所述第1读出元件得到的检测结果相应，所述第2读出元件的位置与所述第1突发图形以及所述第2突发图形的由所述第2读出元件得到的检测结果相应；以及
基于所述多个半径位置中的各位置的所述第1读出元件和所述第2读出元件间的偏移量，在所述多个半径位置被分割而得到的多个区之中，不从第1区中的所述伺服突发区域擦除所述第2突发图形，而从第2区中的所述伺服突发区域擦除所述第2突发图形。
11.一种盘装置，具备：
头，具有第1读出元件、第2读出元件以及第3读出元件，所述第3读出元件配置在相对于连结所述第1读出元件的中心和所述第2读出元件的中心的直线错开的位置；和
盘介质，具有多个轨道，
所述多个轨道中的各轨道配置有伺服区域和数据区域，
所述伺服区域包含用于检测所述头从轨道中心偏离的偏离轨道量的伺服突发区域，
所述伺服突发区域包含第1突发图形但不包含具有与所述第1突发图形不同的相位的第2突发图形，或者包含所述第1突发图形且包含位长比所述第1突发图形短的所述第2突发图形。
12.根据权利要求11所述的盘装置，
还具备位置检测单元，该位置检测单元根据半径位置从所述第1读出元件至所述第3读出元件中选择2个读出元件，将所述2个读出元件的一方作为主读出元件，从所述伺服区域再现地址信息以及所述第1突发图形而取得第1突发检测结果，将所述2个读出元件的另一方作为副读出元件，再现所述第1突发图形而取得第2突发检测结果，根据所述第1突发检测结果、所述第2突发检测结果以及主副读出元件间的半径方向上的偏移量，求出所述头的偏离轨道量来检测当前头位置。
13.根据权利要求12所述的盘装置，
所述主副读出元件间的半径方向上的偏移量是基于所述主读出元件与所述副读出元件的物理上的配置关系和所述头的移动速度而算出为所述主读出元件与所述副读出元件的行走轨迹在半径方向上偏移的量的偏移量。
14.根据权利要求12所述的盘装置，
所述位置检测单元与通过所述2个读出元件的选择而变更所述主读出元件这一情况相应地，用变更前的所述主读出元件与变更后的所述主读出元件的半径方向距离所对应的修正值来修正所述求出的偏离轨道量，检测当前头位置。
15.根据权利要求11至14中任一项所述的盘装置，
所述多个轨道中的第1轨道中的伺服轨道间距比第2轨道中的伺服轨道间距窄。
16.一种盘装置的制造方法，所述盘装置具有头和盘介质，所述头具有第1读出元件、第2读出元件以及第3读出元件，所述第3读出元件配置在相对于连结所述第1读出元件的中心和所述第2读出元件的中心的直线错开的位置，该制造方法包括：
记录包含第1突发图形和第2突发图形的伺服图形，在所述盘介质的多个半径位置分别形成包含记录所述第1突发图形和所述第2突发图形的伺服突发区域的伺服区域；
针对所述多个半径位置，分别取所述第1读出元件的位置与所述第2读出元件的位置的差量来求出所述第1读出元件与所述第2读出元件间的偏移量，所述第1读出元件的位置与所述第1突发图形以及所述第2突发图形的由所述第1读出元件得到的检测结果相应，所述第2读出元件的位置与所述第1突发图形以及所述第2突发图形的由所述第2读出元件得到的检测结果相应；
针对所述多个半径位置，分别取所述第1读出元件的位置与所述第3读出元件的位置的差量来求出所述第1读出元件与所述第3读出元件间的偏移量，所述第1读出元件的位置与所述第1突发图形以及所述第2突发图形的由所述第1读出元件得到的检测结果相应，所述第3读出元件的位置与所述第1突发图形以及所述第2突发图形的由所述第3读出元件得到的检测结果相应；以及
基于所述多个半径位置中的各位置的所述第1读出元件与所述第2读出元件间的偏移量和所述第1读出元件与所述第3读出元件间的偏移量，从所述多个半径位置中的各位置的所述伺服突发区域擦除所述第2突发图形。
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