CN110058141A - 芯片测试系统及其测试方法 - Google Patents

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CN110058141A CN201810051961.3A CN201810051961A CN110058141A CN 110058141 A CN110058141 A CN 110058141A CN 201810051961 A CN201810051961 A CN 201810051961A CN 110058141 A CN110058141 A CN 110058141A
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王梓亦
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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Abstract

本发明揭示一种芯片测试系统及其测试方法，该芯片测试系统包括：产品型号数据库，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；芯片版本号数据库，其预存各个芯片所对应的版本号的标准值；输入单元，其获取产品的型号；检测单元，其根据获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；处理单元，其将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；显示单元，其单元显示对比结果；关闭单元，其关闭所述芯片测试系统。利用本发明的芯片测试系统及其测试方法，通过自动测试芯片型号，有效避免操作人员出现错选漏选的问题，从而使测试结果更可靠、准确。

Description

芯片测试系统及其测试方法
【技术领域】
本发明涉及一种检测系统及其测试方法，特别是涉及一种芯片测试系统及其测试方法。
【背景技术】
目前，工厂端在组装电路板时，根据不同产品使用不同芯片，并且为防止误装，操作人员事先会对芯片进行筛选。然而，长时间的肉眼辨别难免会出现疲劳，出现错选漏选的现象，不能保证产品品质。
有鉴于此，实有必要开发一种芯片测试系统及其测试方法，以解决上述操作人员出现错选漏选芯片的问题。
【发明内容】
本发明的目的是提供一种芯片测试系统及其测试方法，避免操作人员出现错选漏选芯片的问题。
为了达到上述目的，本发明提供的芯片测试系统，用于检测产品里芯片的版本号，其包括：
产品型号数据库，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；
芯片版本号数据库，其预存各个芯片所对应的版本号的标准值；
输入单元，其获取产品的型号；
检测单元，其与所述输入单元及产品型号数据库相连接，该检测单元根据获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；
处理单元，其与上述检测单元及芯片版本号数据库相连接，该处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；
显示单元，其与所述处理单元连接，该显示单元显示对比结果；
关闭单元，其与所述显示单元连接，该关闭单元关闭所述芯片测试系统。
可选的，所述输入单元通过读取产品的Bios信息获取产品型号。
可选的，所述关闭单元在显示单元显示5秒后关闭所述芯片测试系统。
可选的，所述对比结果包括产品型号和芯片型号的信息。
可选的，所述芯片测试系统还连接至一现场控制系统(SFCS；shop floor controlsystem)，所述处理单元将生成的对比结果传送给所述现场控制系统进行保存。
本发明还提供一种芯片测试方法，包括以下步骤：
(1)在产品型号数据库中预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；
(2)在芯片版本号数据库中预存各个芯片所对应的版本号的标准值；
(3)芯片测试系统通过输入单元获取产品的型号；
(4)检测单元根据输入单元获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；
(5)处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；
(6)对比结果一致，则显示单元显示测试通过；
(7)对比结果不一致，则显示单元显示测试不通过；
(8)关闭单元在显示单元显示一段时间后关闭所述芯片测试系统。
可选的，所述步骤(6)及步骤(7)后还分别包括步骤(9)对所述对比结果生成以产品流水号生成的测试记录。
可选的，所述步骤(9)后还包括步骤(10)处理单元将对比结果的数据上传至现场控制系统(SFCS；shop floor control system)进行保存。
相较于现有技术，利用本发明的芯片测试系统及其测试方法，由于是通过芯片测试系统自动测试芯片型号，有效避免操作人员出现错选漏选的问题，从而使测试结果更可靠、准确。此外，可以对测试的结果进行保存及记录，以方便后续不良分析。
【附图说明】
图1绘示为本发明的芯片测试系统的示意图。
图2绘示为本发明的芯片测试方法的第流程图。
【具体实施方式】
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的一较佳实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1，图1绘示为本发明的芯片测试系统的示意图。于本实施例中，本发明提供的芯片测试系统100，用于检测产品里芯片的版本号，其包括：
产品型号数据库10，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；
芯片版本号数据库20，其预存各个芯片所对应的版本型号的标准值；
输入单元30，其获取产品的型号；
检测单元40，其与所述输入单元30及产品型号数据库10相连接，该检测单元40根据获取的型号在产品型号数据库10查找出对应的芯片型号；
处理单元50，其与上述检测单元40及芯片版本号数据库20相连接，该处理单元50将所述检测单元40查找出的芯片型号与芯片版本号数据库20中的标准范围进行判断及对比，生成一对比结果；
显示单元60，其与所述处理单元50连接，该显示单元60显示对比结果；
关闭单元70，其与所述显示单元60连接，该关闭单元70关闭所述芯片测试系统100。
可选的，所述输入单元30通过读取产品的Bios信息获取产品型号。
可选的，所述关闭单元70在显示单元60显示5秒后关闭所述芯片测试系统100。
可选的，所述对比结果包括产品型号和芯片型号的信息。
可选的，所述芯片测试系统100还连接至一现场控制系统(SFCS；shop floorcontrol system)，所述处理单元50将生成的对比结果传送给所述现场控制系统进行保存。
请再参阅图2，图2绘示为本发明的芯片测试方法的第流程图。于本实施例中，该芯片测试方法应用于上述芯片测试系统100中，该芯片测试方法包括以下步骤：
S101：在产品型号数据库10中预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；
S102：在芯片版本号数据库20中预存各个芯片所对应的版本号的标准值；
S103：芯片测试系统100通过输入单元30获取产品型号；
S104：检测单元40根据输入单元30获取的型号在产品型号数据库10查找出对应的芯片型号；
S105：处理单元50将所述检测单元40查找出的芯片型号与芯片版本号数据库20中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；
S106：对比结果一致，则显示单元60显示测试通过；
S107：对比结果不一致，则显示单元60显示测试不通过；
S108：关闭单元70在显示单元60显示一段时间后关闭所述芯片测试系统100。
可选的，所述步骤S106及步骤S107后还分别包括步骤S109对所述对比结果生成以产品流水号生成的测试记录。
可选的，所述步骤S109后还包括步S110处理单元50将对比结果的数据上传至现场控制系统(SFCS；shop floor control system)进行保存。
相较于现有技术，利用本发明的芯片测试系统及其测试方法，由于是通过芯片测试系统100自动测试芯片型号，有效避免操作人员出现错选漏选的问题，从而使测试结果更可靠、准确。此外，可以对测试的结果进行保存及记录，以方便后续不良分析。
需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，都落入本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种芯片测试系统，用于检测产品里芯片的版本号，其特征在于，包括：
产品型号数据库，其预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；
芯片版本号数据库，其预存各个芯片所对应的版本号的标准值；
输入单元，其获取产品的型号；
检测单元，其与所述输入单元及产品型号数据库相连接，该检测单元根据获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；
处理单元，其与上述检测单元及芯片版本号数据库相连接，该处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；
显示单元，其与所述处理单元连接，该显示单元显示对比结果；
关闭单元，其与所述显示单元连接，该关闭单元关闭所述芯片测试系统。
2.如权利要求1中所述的芯片测试系统，其特征在于，所述输入单元通过读取产品的Bios信息获取产品型号。
3.如权利要求1中所述的芯片测试系统，其特征在于，所述关闭单元在显示单元显示5秒后关闭所述芯片测试系统。
4.如权利要求1中所述的芯片测试系统，其特征在于，所述对比结果包括产品型号和芯片型号的信息。
5.如权利要求1中所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统还连接至一现场控制系统，所述处理单元将生成的对比结果传送给所述现场控制系统进行保存。
6.一种芯片测试方法，应用于上述芯片测试系统中，其特征在于，包括以下步骤：
(1)在产品型号数据库中预存各个产品所对应的芯片型号的标准值；
(2)在芯片版本号数据库中预存各个芯片所对应的版本号的标准值；
(3)芯片测试系统通过输入单元获取产品的型号；
(4)检测单元根据输入单元获取的型号在产品型号数据库查找出对应的芯片型号；
(5)处理单元将所述检测单元查找出的芯片型号与芯片版本号数据库中版本号的标准值进行判断及对比，生成一对比结果；
(6)对比结果一致，则显示单元显示测试通过；
(7)对比结果不一致，则显示单元显示测试不通过；
(8)关闭单元在显示单元显示一段时间后关闭所述芯片测试系统。
7.如权利要求1中所述的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤(6)及步骤(7)后还分别包括步骤(9)对所述对比结果生成以产品流水号生成的测试记录。
8.如权利要求1中所述的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤(9)后还包括步骤(10)处理单元将对比结果的数据上传至现场控制系统进行保存。
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