CN110044589A - 一种测试设备 - Google Patents

Abstract

本申请涉及电子设备测试技术领域，并具体公开了提供一种测试设备，该测试设备用于电子设备伸缩机构的驱动力性能测试，测试设备包括：机台；支撑治具模组，设置在机台表面，用于容置电子设备；测力模组，设置在机台表面，且与支撑治具模组间隔设置；其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持测力模组，测力模组用于测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。通过上述方式，本申请能够对电子设备伸缩机构的性能进行评估。

Description

一种测试设备

技术领域

本申请涉及电子设备测试技术领域，特别是涉及一种测试设备。

背景技术

移动互联网时代，电子设备市场商机无限，全球各大知名厂商间的竞争已经趋于白热化，纷纷以强势的姿态抢攻市场。近来，国内智能电子设备的发展势头也颇为强劲，市场份额得到了较大提升，横向宽屏和超大屏已成为目前电子设备发展的一大趋势。

电子设备中摄像头伸缩机构的内部结构设计存在一个先天性缺陷，即运动的摩擦阻力无法避免，因此，若要摄像头伸缩机构的长久稳定性得到保障，则测试伸缩机构驱动马达的驱动力是否满足摩擦阻力的抗性要求，但现有技术中并未对电子设备伸缩机构的驱动力性能进行测试验证。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种测试设备，能够对电子设备伸缩机构的性能进行评估。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种测试设备，测试设备用于电子设备伸缩机构的驱动力性能测试，测试设备包括：机台；支撑治具模组，设置在机台表面，用于容置电子设备；测力模组，设置在机台表面，且与支撑治具模组间隔设置；其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持测力模组，测力模组用于测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请的测试设备包括支撑治具模组以及与支撑治具模组间隔设置的测力模组，由于电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部并可顶持测力模组，因此可以利用测力模组测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。本申请能够对电子设备伸缩机构的驱动力性能进行可靠性验证，在电子设备的生产制程中，能够有效检测出因伸缩机构的驱动马达机构、滑动连杆机构、导轨或驱动芯片等诸多因素引起的伸缩机构驱动力性能异常的问题，从而能够对电子设备伸缩机构的性能进行评估。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是本申请测试设备一实施方式的第一结构示意图；

图2是图1中支撑治具模组的第一局部结构示意图；

图3是图1中支撑治具模组的第二局部结构示意图；

图4是本申请测试设备一实施方式的第二结构示意图；

图5是图1中测力模组的局部结构示意图；

图6是本申请测试设备一实施方式的第三结构示意图；

图7是本申请测试设备一实施方式的第四结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请提供一种测试设备，测试设备用于电子设备伸缩机构的驱动力性能测试。参阅图1-4，测试设备10包括：机台11、支撑治具模组12以及测力模组13。支撑治具模组12设置在机台11表面，支撑治具模组12用于容置电子设备20。测力模组13设置在机台11表面，且与支撑治具模组12间隔设置。其中，电子设备伸缩机构21可伸出于电子设备20壳体的外部，并顶持测力模组13，测力模组13用于测试电子设备伸缩机构21的驱动力性能是否正常。

具体地，支撑治具模组12与测力模组13同侧设置，且测力模组13可以设置在支撑治具模组12上，在电子设备伸缩机构21伸出于电子设备20壳体的外部后，电子设备伸缩机构21可以顶持测力模组13，此时，测力模组13可以测试电子设备伸缩机构21的驱动力性能是否正常。例如，测力模组13可以检测电子设备伸缩机构21的伸出距离是否满足预设伸出距离，或检测电子设备伸缩机构21的驱动力是否满足预设驱动力。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

区别于现有技术的情况，本申请的测试设备10包括支撑治具模组12以及与支撑治具模组12间隔设置的测力模组13，由于电子设备伸缩机构21可伸出于电子设备20壳体的外部并可顶持测力模组13，因此可以利用测力模组13测试电子设备伸缩机构21的驱动力性能是否正常。本申请能够对电子设备伸缩机构21的驱动力性能进行可靠性验证，在电子设备20的生产制程中，能够有效检测出因伸缩机构的驱动马达机构、滑动连杆机构、导轨或驱动芯片等诸多因素引起的伸缩机构驱动力性能异常的问题，从而能够更好的对电子设备伸缩机构21的性能进行评估。

在一实施方式中，支撑治具模组12包括：支撑治具本体122以及多个卡紧件121，多个卡紧件121间隔设置于支撑治具本体122上。其中，多个卡紧件121围成一收容空间126，收容空间126用于容置电子设备20，卡紧件121用于卡紧电子设备20。收容空间126具有一开口，开口朝向测力模组13，电子设备伸缩机构21可沿开口滑出。

具体地，卡紧件121可以设为规则的方块或不规则的块体，卡紧件121可以垂直设置于支撑治具本体122上。其中，卡紧件121可以等间隔分布在支撑治具本体122上，或不规则分布在支撑治具本体122上，其中，在收容空间126内容置有电子设备20时，卡紧件121需要承载该电子设备20，以防电子设备20滑落。如图3所示，卡紧件121可以呈“凹”型设置在支撑治具本体122上，以承载该电子设备20。

进一步地，卡紧件121上设置有弹性凸块1211，弹性凸块1211凸起于卡紧件121的边缘。在电子设备20放置在收容空间126内时，弹性凸块1211抵接电子设备20，进而保证电子设备20与卡紧件121卡紧时具有足够的稳定性。

进一步地，为了便于电子设备伸缩机构21的伸出，收容空间126可以具有一个开口，该开口大小可以与电子设备伸缩机构21的大小匹配。

进一步地，如图3所示，支撑治具模组12与电子设备20的接触面上可以设置有多个凸起棱边，用于增强支撑治具模组12与电子设备20之间的摩擦力。

通过上述方式，卡紧件121可以卡紧并承载该电子设备20，以防电子设备20滑落，同时，在电子设备伸缩机构21沿收容空间126的开口滑出时，可顶持测力模组13，以便该测力模组13检测伸缩机构的驱动力性能。

此外，本申请中术语“多个”的含义是至少两个，例如两个、三个、四个等，除非另有明确具体地限定。

继续参阅图3和图4，在一实施方式中，支撑治具本体122上开设有一通孔123，支撑治具模组12进一步包括：吸附机构125，吸附机构125与外部气路系统(图未示出)连接，吸附机构125穿设于通孔123内，以吸附固定电子设备20。

具体地，吸附机构125的一端可以通过吸气管(图未示出)与外部气路系统(例如真空机械泵)相接，吸附机构125的另一端可以直接穿设于通孔123内，其他实施方式中，吸附机构125的一端也可以通过吸气管(图未示出)与通孔123相连通，以使外部气路系统连通通孔123，为通孔123提供真空吸取力，进而吸附固定电子设备20。

在一实施方式中，电子设备20包括马达组件(图未示出)，马达组件用于驱动电子设备伸缩机构21伸缩，测力模组13用于提供一预设测试阻力，其中，预设测试阻力为马达组件的整体工作阻力的1.1-1.6倍。

具体地，电子设备伸缩机构21的马达组件可以包括导轨以及马达，其中，导轨材料选型确认后，导轨的摩擦系数可以确认，而马达本身的驱动阻力在选型时也可测算，因此可以确定马达组件的整体工作阻力。当电子设备20装配完成后，对马达组件的整体工作阻力进行测试验证时，可以设定预设测试阻力为马达组件的整体工作阻力的1.1-1.6倍。在电子设备伸缩机构21伸出并可顶持测力模组13后，若电子设备伸缩机构21正常工作时，则电子设备伸缩机构21可以克服预设测试阻力，进而推动测力模组13。若电子设备伸缩机构21正常异常时，则电子设备伸缩机构21将无法克服预设测试阻力，进而不能推动测力模组13。

请参阅图4和图5，在一实施方式中，测力模组13包括阻力元件131以及感应元件132。其中，阻力元件131可以为砝码，预设测试阻力可以为砝码的自重。感应元件132间隔设置在阻力元件131上方，感应元件132用于在电子设备伸缩机构21顶持测力模组13以使测力模组13上升时，以感应砝码是否与感应元件132抵接。

进一步地，机台11上可以平行且间隔设置有第一横梁133与第二横梁134，其中，阻力元件131可以安装在第一横梁133上，感应元件132可以安装在第二横梁134上。考虑到不同电子设备伸缩机构21的最大伸出行程不同，第一横梁133与第二横梁134可以活动设置在机台11上，且第一横梁133与第二横梁134之间的间距可以调节。通过调节第一横梁133与第二横梁134之间的间距，以使测试设备10适用于不同电子设备伸缩机构21。

具体地，感应元件132间隔设置在阻力元件131上方，支撑治具模组12的上端面与阻力元件131的下端面之间具有第一间隔距离，阻力元件131的上端面与感应元件132的下端面之间具有第二间隔距离。第一间隔距离与第二间隔距离之和可以小于等于电子设备伸缩机构21的最大伸出行程。

其中，电子设备伸缩机构21顶持测力模组13并克服预设测试阻力，进而推动砝码上升，直至砝码与感应元件132抵接，此时，由于感应元件132感应到砝码与感应元件132抵接，则判断电子设备伸缩机构21的驱动力性能测试正常。

在电子设备伸缩机构21无法顶持测力模组13时，或者电子设备伸缩机构21已顶持测力模组13但无法克服预设测试阻力时，砝码无法上升并与感应元件132抵接。此时，由于感应元件132感应到砝码与感应元件132并未抵接，则判断电子设备伸缩机构21的驱动力性能测试异常。

在一实施方式中，测力模组13包括阻力元件131，阻力元件131为气缸，预设测试阻力为气缸所产生的压力，其中，电子设备伸缩机构21可顶持气缸推杆，以使气缸推杆收缩。

具体地，电子设备伸缩机构21顶持气缸推杆并克服预设测试阻力，进而使气缸推杆收缩，直至气缸推杆收缩到预设位置，此时，测力模组13可以判断电子设备伸缩机构21的驱动力性能测试正常。

在电子设备伸缩机构21无法顶持气缸推杆，或者电子设备伸缩机构21顶持气缸推杆，但无法克服预设测试阻力时，气缸推杆无法收缩，则测力模组13可以判断电子设备伸缩机构21的驱动力性能测试异常。

在一实施方式中，测试设备10进一步包括提示模组14，提示模组14设置在机台11上，提示模组14与测力模组13连接，用于根据电子设备20的驱动力性能检测结果输出对应提示信息。其中，提示模组14包括蜂鸣器、指示灯或显示屏中的至少一种。

具体地，在提示模组14为蜂鸣器时，在电子设备20放入提示模组14后，蜂鸣器可以发出蜂鸣声，在感应元件132感应到砝码与感应元件132抵接或者气缸推杆收缩到预设位置时(即测力模组13可以判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试正常)，蜂鸣器可以停止发出蜂鸣声。

在提示模组14为指示灯时，在感应元件132感应到砝码与感应元件132抵接或者气缸推杆收缩到预设位置时(即测力模组13可以判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试正常)，指示灯可以亮起。

在提示模组14为显示屏时，在感应元件132感应到砝码与感应元件132抵接或者气缸推杆收缩到预设位置时(即测力模组13可以判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试正常)，显示屏可以显示代表“测试正常”的信息。在感应元件132未感应到砝码与感应元件132抵接或者气缸推杆收缩到预设位置时，显示屏可以显示代表“测试异常”的信息。

请参阅图4，在一实施方式中，测试设备10进一步包括驱动模组16。驱动模组16包括滑轨161以及驱动机构162，滑轨161嵌设在机台11中，滑轨161沿电子设备伸缩机构21的伸缩方向延伸，其中，支撑治具模组12安装在滑轨161上。驱动机构162设置在机台11内部，且驱动机构162连接支撑治具模组12，用于带动支撑治具模组12沿滑轨161移动。

具体地，滑轨161的数量可以为1个、2个或多个，滑轨161沿电子设备伸缩机构21的伸缩方向延伸，支撑治具模组12可以活动安装在滑轨161上。驱动机构162连接支撑治具模组12，驱动机构162可以带动支撑治具模组12沿滑轨161移动。在完成一组电子设备伸缩机构21的驱动力性能测试后，驱动机构162可以带动支撑治具模组12沿缩入方向滑动，以便电子设备伸缩机构21不再抵接测力模组13，便于取出电子设备20，并进行下一组电子设备伸缩机构21的驱动力性能测试。

请参阅图6和7，在一实施方式中，测试设备10进一步包括控制模组15，设置在机台11表面，用于控制测试设备10的工作状态。

具体地，控制模组15可以包括吸附开关151、启动开关152以及复位开关153。其中，吸附开关151连接吸附机构125，用于控制吸附机构125的启停；启动开关152连接提示模组14，用于控制提示模组14的启停；复位开关153连接驱动机构162，用于控制驱动机构162的启停。

下面以一实施场景描述本申请测试设备的测试过程。

步骤11：将电子设备20放入机台11的收容空间126内，开启吸附开关151，吸附机构125吸附固定电子设备20。

步骤12：设定预设测试阻力。

其中，预设测试阻力可以根据电子设备伸缩机构21的马达组件的选型计算评估得出，预设测试阻力为马达组件的整体工作阻力的1.1-1.6倍，其中，预设测试阻力可以通过砝码或者气缸实现。

步骤13：开启启动开关152，提示模组14工作，提示模组14的蜂鸣器保持蜂鸣声。

此时，可以将预设测试阻力作用于伸缩机构最高点。

步骤14：打开电子设备20的摄像机功能，启动电子设备伸缩机构21上升。

步骤15：电子设备伸缩机构21上升到最高点，并驱动阻力元件131接触感应元件132，以触发感应元件132。

此时，提示模组14的提示灯亮起，蜂鸣器停止蜂鸣，显示设备显示测试结果为：电子设备伸缩机构21的驱动力性能正常。

如果电子设备伸缩机构21未能升起到最高点，则无法驱动阻力元件131接触感应元件132，则无法触发感应元件132，提示模组14将一直保持蜂鸣器声音，提示灯未亮起，显示设备显示测试结果为：电子设备伸缩机构21的驱动力性能异常。

步骤16：工作人员按下复位开关153，驱动机构162可以带动支撑治具模组12沿滑轨161下滑，以使电子设备20退回原位，此时，将预设测试阻力不再作用于电子设备伸缩机构21的最高点，提示模组14停止工作，蜂鸣器消失，结束测试。

区别于现有技术的情况，本申请的测试设备包括支撑治具模组以及与支撑治具模组间隔设置的测力模组，由于电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部并可顶持测力模组，因此可以利用测力模组测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。本申请能够对电子设备伸缩机构的驱动力性能进行可靠性验证，在电子设备的生产制程中，能够有效检测出因伸缩机构的驱动马达机构、滑动连杆机构、导轨或驱动芯片等诸多因素引起的伸缩机构驱动力性能异常的问题，从而能够更好的对电子设备伸缩机构的性能进行评估。

以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备用于电子设备伸缩机构的驱动力性能测试，所述测试设备包括：

机台；

支撑治具模组，设置在所述机台表面，用于容置电子设备；

测力模组，设置在所述机台表面，且与所述支撑治具模组间隔设置；

其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持所述测力模组，所述测力模组用于测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述支撑治具模组包括：

支撑治具本体；

多个卡紧件，间隔设置于所述支撑治具本体上，其中，多个所述卡紧件围成一收容空间，所述收容空间用于容置电子设备，所述卡紧件用于卡紧电子设备，所述收容空间具有一开口，所述开口朝向所述测力模组，电子设备伸缩机构可沿所述开口滑出。

3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述支撑治具本体上开设有一通孔，所述支撑治具模组进一步包括：

吸附机构，与外部气路系统连接，所述吸附机构穿设于所述通孔内，以吸附固定电子设备。

4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，电子设备包括马达组件，所述马达组件用于驱动电子设备伸缩机构伸缩，所述测力模组用于提供一预设测试阻力，其中，所述预设测试阻力为所述马达组件的整体工作阻力的1.1-1.6倍。

5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述测力模组包括：

阻力元件，所述阻力元件为砝码，所述预设测试阻力为所述砝码的自重；

所述测力模组进一步包括：

感应元件，所述感应元件间隔设置在所述阻力元件上方，用于在电子设备伸缩机构顶持所述测力模组以使所述测力模组上升时，感应所述砝码是否与所述感应元件抵接。

6.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，

所述支撑治具模组的上端面与所述阻力元件的下端面之间具有第一间隔距离，所述阻力元件的上端面与所述感应元件的下端面之间具有第二间隔距离；

所述第一间隔距离与所述第二间隔距离之和小于等于电子设备伸缩机构的最大伸出行程。

7.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述测力模组包括：

阻力元件，所述阻力元件为气缸，所述预设测试阻力为所述气缸所产生的压力，其中，电子设备伸缩机构顶持所述气缸推杆，可使所述气缸推杆收缩。

8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备进一步包括：

提示模组，设置在所述机台上，与所述测力模组连接，用于根据电子设备的驱动力性能检测结果输出对应提示信息；

其中，所述提示模组包括蜂鸣器、指示灯或显示屏中的至少一种。

9.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备进一步包括：

驱动模组，所述驱动模组包括：

滑轨，嵌设在所述机台上，所述滑轨沿电子设备伸缩机构的伸缩方向延伸，其中，所述支撑治具模组安装在所述滑轨上；

驱动机构，设置在所述机台内部，且连接所述支撑治具模组，用于带动所述支撑治具模组沿所述滑轨移动。

10.根据权利要求1-9任一项所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备进一步包括：

控制模组，设置在所述机台表面，用于控制所述测试设备的工作状态。