CN110024020B - 显示装置、校准装置及其校准方法 - Google Patents
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Abstract
提供了一种显示装置、校准装置及其校准方法。所述显示装置包括:显示器,包括显示模块;存储设备,被配置为存储所述显示模块中的每一个中包括的发光像素中的每一个的校正系数;以及处理器,被配置为将所述发光像素中的每一个的校正系数分别应用于所述发光像素中的每一个的像素值,以校正所述发光像素中的每一个的像素值。基于用于像素之间的均匀性的第一目标值来确定发光像素中的每一个的校正系数,并且基于所述显示模块的一个或多个代表性像素值来确定所述第一目标值。
Description
技术领域
根据示例实施例的装置和方法涉及显示装置、校准装置及其校准方法,更具体地,涉及包括自发光元件的显示装置、校准装置及其校准方法。
背景技术
发光二极管(LED)是一种将电流转换为光的半导体发光二极管。最近,LED已被越来越多地用作显示光源、汽车光源和照明光源。此外,通过使用荧光材料或通过将各种颜色的发光二极管进行组合,可以实现具有优异效率的发射白光的发光二极管。
可以采用发光元件封装件的形式来对这种发光二极管进行批量生产。通过根据每个发光元件封装件的特性(例如发光强度)对发光元件封装件进行分类,将批量生产的发光元件封装件用作光源。
另一方面,各个元件的精确测量值被用于计算每个LED元件的校正系数。因此,已经使用了通过测量每个LED元件的间隔来消除相邻元件的干涉的测量方法。然而,因为利用每个单独的LED测量的间隔来多次执行拍摄,所以存在测量所用的时间很长的问题。
另外,即使通过利用间隔消除LED元件之间的干涉来执行校正,用户也会识别出发生干涉的图像,从而引起色阶差。在多个LED模块(或柜)之间出现这种色阶差。
发明内容
技术问题
示例实施例提供了通过建模来简化校准方法的校准装置、其校准方法、以及显示装置,其能够最小化显示模块之间的色差。
技术方案
示例实施例可以至少解决上述问题和/或缺点以及以上未描述的其他缺点。此外,示例实施例不需要克服上述缺点,并且可以不克服上述问题中的任一个。
据示例实施例的一方面,提供了一种显示装置,包括:显示器,包括显示模块;存储设备,被配置为存储显示模块中的每一个中包括的发光像素中的每一个的校正系数;处理器,被配置为将发光像素中的每一个的校正系数分别应用于发光像素中的每一个的像素值,以校正发光像素中的每一个的像素值。发光像素中的每一个的校正系数是基于用于像素之间的均匀性的第一目标值来确定的,并且第一目标值是基于显示模块的一个或多个代表性像素值来确定的。
像素值可以表示亮度和颜色中的一者或两者。
可以通过如下操作来确定发光像素中的每一个的校正系数:基于像素之间的干涉程度来确定发光像素中的每一个的实际像素值,其中像素是基于显示器的拍摄图像来建模的。
可以通过如下操作来进一步确定发光像素中的每一个的校正系数:确定校正系数使得该校正系数被应用到的发光像素中的每一个的所确定的实际像素值具有针对像素之间的均匀性设置的第二目标值,并且通过第一目标值来补偿所确定的校正系数。
所建模的像素之间的干涉程度可以是基于所建模的像素中的目标像素与相邻像素之间的距离以及目标像素和相邻像素中的峰值像素值来确定的。
所建模的像素之间的干涉程度可以是基于以下中的一项或两项来确定的:所建模的像素中的目标像素与相邻像素之间的光分布偏差、以及目标像素和相邻像素被设置的角度。
显示模块中的每一个可以是包括发光二极管(LED)像素的LED模块、或与LED模块连接的LED柜。
根据另一示例实施例的一方面,提供了一种包括显示模块的显示器的校准方法,该方法包括:基于显示器的拍摄图像来确定显示模块中的每一个的代表性像素值;基于显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值来确定第一目标值;以及基于显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值和所确定的第一目标值来补偿显示模块中的每一个中包括的发光像素中的每一个的校正系数。校正系数是基于用于像素之间的均匀性的第二目标值来确定的。
该方法还可以包括:确定基于拍摄图像建模的像素中的目标像素与相邻像素中的峰值像素值、以及目标像素与相邻像素之间的距离;基于所确定的距离和所确定的峰值像素值来确定所建模的像素之间的干涉程度;基于所确定的干涉程度来确定目标像素的实际像素值;以及基于所确定的实际像素值和第二目标值来确定校正系数。
确定干涉程度可以包括:基于目标像素与相邻像素之间的光分布偏差来确定所建模的像素之间的干涉程度。
确定干涉程度可以包括:基于目标像素和相邻像素被设置的角度来确定所建模的像素之间的干涉程度。
确定实际像素值可以包括:基于所确定的干涉程度和根据拍摄图像测量的目标像素的像素值来确定不与相邻像素干涉的目标像素的实际像素值,并且确定校正系数可以包括:确定校正系数使得校正系数被应用到的所确定的实际像素值具有第二目标值。
显示模块中的每一个可以是包括发光二极管(LED)像素的LED模块、或与LED模块连接的LED柜。
根据另一示例实施例的一方面,提供了一种校准装置,包括:相机,被配置为对包括显示模块在内的显示器进行拍摄以生成拍摄图像;存储设备,被配置为存储拍摄图像;以及处理器,被配置为:基于拍摄图像来确定显示模块中的每一个的代表性像素值;基于显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值来确定第一目标值;以及基于显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值和所确定的第一目标值来补偿显示模块中的每一个中包括的发光像素中的每一个的校正系数。校正系数是基于用于像素之间的均匀性的第二目标值来确定的。
处理器还可以被配置为:确定基于拍摄图像建模的像素中的目标像素和相邻像素中的峰值像素值、以及目标像素与相邻像素之间的距离;基于所确定的距离和所确定的峰值像素值来确定所建模的像素之间的干涉程度;基于所确定的干涉程度来确定目标像素的实际像素值;以及基于所确定的实际像素值和第二目标值来确定校正系数。
处理器还可以被配置为:基于目标像素与相邻像素之间的光分布偏差来确定所建模的像素之间的干涉程度。
处理器还可以被配置为:基于目标像素和相邻像素被设置的角度来确定所建模的像素之间的干涉程度。
处理器还可以被配置为:基于所确定的干涉程度和根据拍摄图像测量的目标像素的像素值来确定不与相邻像素干涉的目标像素的实际像素值,以及确定校正系数使得校正系数被应用到的所确定的实际像素值具有第二目标值。
每个显示模块可以是包括LED像素的LED模块、或与LED模块连接的LED柜。
根据另一示例实施例的一方面,提供了一种校准装置,包括:相机,被配置为对包括显示模块在内的显示器进行拍摄以生成拍摄图像;以及处理器,被配置为:基于拍摄图像来确定显示模块中的每一个的代表性像素值;基于显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值来确定第一目标值;以及利用显示模块的所确定的代表性像素值和所确定的第一目标值来补偿显示模块中的显示模块的校正系数,其中该校正系数将被应用于该显示模块中包括的每个像素。
处理器还可以被配置为:确定拍摄图像中包括的像素中的目标像素和相邻像素中的峰值像素值、以及目标像素与相邻像素之间的距离;基于所确定的距离和所确定的峰值像素值来确定像素之间的干涉程度;基于所确定的干涉程度和根据拍摄图像测量的目标像素的像素值来确定目标像素的实际像素值;以及确定校正系数使得该校正系数被应用到的所确定的实际像素值具有第二目标值。
所确定的第一目标值可以是显示模块中的每一个的平均像素值中的最小像素值或最大像素值。
有利效果
根据上述示例实施例,可以提供一种用于减少利用现有间隔测量进行拍摄的次数的高速测量方法。根据本公开的示例实施例,可以减少显示模块之间的色阶。
附图说明
通过参考附图,示例实施例的以上和其他方面将变得更加明显。应理解,这些附图仅描绘了本公开的示例实施例,因此不应被认为是对本公开的范围的限制,通过使用附图,利用附加的具体描述和细节来对本文中的原理进行描述和解释,在附图中:
图1是示出了根据示例实施例的显示装置的配置的示意图;
图2是示出了根据示例实施例的显示装置的框图;
图3是示出了根据示例实施例的校正系数的示意图;
图4a是示出了根据示例实施例的计算发光像素的校正系数的方法的流程图;
图4b是示出了根据示例实施例的校准装置的框图;
图5、图6a至图6d、图7、图8a至图8b、图9a至图9d和图10是示出了根据示例实施例的计算校正系数的方法的示意图;
图11是示出了根据示例实施例的消除模块之间的色阶的方法的示意图;以及
图12是示出了根据示例实施例的显示装置的详细操作的框图。
具体实施方式
以下将参考附图详细描述示例实施例。作为参考,在描述已知的功能或配置时,当确定其详细描述可能使示例实施例的主旨不清楚时,将省略其详细描述。另外,示例实施例可以以各种形式来改变,因此技术范围不限于以下示例实施例。而是,提供这些示例实施例以使本公开详尽和完整。
除非另有明确说明,否则术语“包括”将被理解为暗示包括某一组件,但不排除任何其他组件。此外,示意性地绘制了附图中的各种元件和区域。因此,本技术构思不受附图中绘制的相对尺寸或间隔的限制。
图1是示出了根据示例实施例的显示装置的配置的示意图。
根据图1中的图示,根据本公开的示例实施例的显示装置100可以以彼此物理连接的多个显示模块110-1、110-2、110-3、110-4、...、110-n的形式来实现。在这种情况下,多个显示模块中的每一个可以包括以矩阵形式布置的多个像素,例如,自发光像素。显示装置模块可以被实现为LED模块或LED柜,其中在LED模块中,多个像素中的每一个被实现为LED像素,并且在LED柜中,多个LED模块彼此连接,但是示例不限于此。例如,显示模块可以被实现为液晶显示器(LCD)、有机LED(OLED)、有源矩阵OLED(AMOLED)、等离子显示面板(PDP)等。然而,在下文,为了便于说明,将进行描述使得每个显示模块被实现为LED模块或LED柜。
当通过使用单元显示模块来配置显示器110时,可以实现显示器110的各种尺寸和/或形状。然而,LED区域(例如,LED模块或LED柜)之间存在色阶。
在下文,将描述用于解决色阶的本公开的示例实施例。
图2是示出了根据示例实施例的显示装置的框图。
参考图2,显示装置100包括显示器110、存储设备120和处理器130。
显示装置110包括多个显示模块。显示器110可以以对多个显示模块进行连接和组装的形式来配置。在这种情况下,多个显示模块中的每一个可以包括以矩阵形式布置的多个像素,例如,自发光像素。根据示例实施例,显示器110可以被实现为多个LED模块(包括至少一个LED元件的LED模块)和/或多个LED柜。另外,LED模块可以包括多个LED像素。例如,LED像素可以被实现为RGB LED,并且RGB LED还可以包括红色LED、绿色LED和蓝色LED。
存储设备120存储用于显示装置100的操作的各种数据。
存储设备120可以被实现为非易失性存储器、易失性存储器、硬盘驱动器(HDD)或固态驱动器(SSD)、存储器卡(例如,微型SD卡、USB存储器等)、可连接到外部输入端口的外部存储器(例如,USB存储器等)等。
存储设备130可以存储合并组的信息、针对每个像素的最大亮度的信息、针对每个像素的颜色的信息等。在这种情况下,合并组可以是具有相同特性(亮度、颜色、颜色坐标等)的一组LED像素。
存储设备120可以存储与多个显示模块中的任何一个或任何组合中包括的至少一个发光像素相对应的校正系数。
在示例实施例中,存储设备120可以存储与多个显示模块中包括的每个发光像素相对应的校正系数。这里,校正系数可以是用于使每个发光像素的像素值具有均匀性的校正系数。在这种情况下,像素值可以包括亮度(或强度)和颜色(或色感或色温)中的一者或两者。
例如,在将发光像素实现为诸如LED像素之类的自发光像素的情况下,为了使最大亮度与多个LED像素之间的均匀性特性的目标亮度相匹配,在整个校准期间使用校正系数来调整亮度。
图3是示出了根据示例实施例的校正系数的示意图。如图3所示,校正系数可以具有3×3矩阵的形式,以实现目标R/G/B亮度,并且可以通过向每个像素应用不同的校正系数使得最大亮度变为目标亮度来实现均匀性。另外,可以基于与每个R/G/B设备相对应的3×3矩阵形式的参数来实现目标亮度,并且还可以校准色温以具有颜色(或色感或色温)或均匀性。
校正系数可以是通过基于像素(基于显示器110的捕获图像对这些像素进行建模)之间的干涉程度计算每个像素的像素值而生成的校正系数,并且校正系数被生成为使得每个像素的像素值实现第一目标值。这里,第一目标值可以是用于消除色阶的目标值。
校正系数可以是通过如下操作来生成的系数:计算每个像素的像素值的第一校正系数以具有针对均匀性设置的第二目标值,并且然后补偿第一校正系数以具有用于消除色阶的第一目标值。
在这种情况下,第一校正系数可以是通过如下操作来获取的校正系数:根据基于拍摄图像获取的像素的峰值像素值和像素之间的距离对像素之间的干涉程度进行建模。
第一校正系数可以是通过如下操作来获取的校正系数:根据基于拍摄图像获取的像素的光分布偏差和像素的设置角度中的任意一项或两项来对像素之间的干涉程度进行建模。
然而,为了便于说明,将假设校正系数对亮度进行校正。然而,相同的方法可以应用于校正系数对颜色进行校正的情况。
再次参照图2,第一校正系数可以是通过如下操作来获取的校正系数:基于像素(基于显示器110的拍摄图像对这些像素进行建模)之间的亮度干涉程度来计算基于建模的校正系数;并且补偿基于建模的校正系数,使得每个像素实现目标亮度值。这里,影响亮度干涉程度的干涉因子可以包括以下中的任意一个或任意组合:像素之间的距离、像素的峰值亮度、像素的亮度分布偏差、以及像素的设置角度。
因此,基于建模的校正系数可以是通过以下操作获取的校正系数:根据像素之间的距离、像素的峰值亮度、像素的亮度分布偏差、以及像素的设置角度中的任意一个或任意组合对像素之间的亮度干涉程度进行建模。
可以基于具有最低亮度的LED像素来确定目标亮度,但是示例不限于此。例如,可以将具有最低亮度的LED像素的约90%的亮度值确定为目标亮度值。
另外,可以基于多个显示模块110-1、110-2、...、110-n中的每一个的代表性亮度来确定目标亮度。这里,代表性亮度可以是各个显示模块的平均亮度,但是示例不限于此。例如,代表性亮度也可以是各个显示模块的最大亮度。
另外,存储设备120还可以存储多个显示模块中的每一个中包括的像素的数量、像素的尺寸以及像素之间的间隔的信息。例如,存储设备120可以存储指示LED模块包括M×N个像素的信息、指示像素具有2.1mm的尺寸的信息以及指示像素的中心之间的距离是2.5mm的信息。
处理器130控制显示装置100的整体操作。处理器130可以包括中央处理单元(CPU)、控制器、应用处理器(AP)、通信处理器(CP)、ARM处理器等中的一项或多项。
另外,处理器130可以包括用于执行与图像相对应的图形处理的图形处理器。处理器130可以被实现为包括核和GPU的片上系统(SoC)。处理器130可以包括单核、双核、三核、四核和多核。
据本公开的示例实施例,处理器130可以通过将从存储设备120获取的校正系数应用到每个对应的发光像素来校正像素值,即亮度和颜色中的任意一者或两者。
图4a是示出了根据示例实施例的计算发光像素的校正系数的方法的流程图。图4b是示出了根据示例实施例的校准装置的框图。
例如,可以将图4a的校正系数计算方法应用于校准装置。例如,如图4b所示,校准装置200包括相机210、存储设备220和处理器230。然而,根据本公开的另一示例实施例,相机210和存储设备220中的任意一者或两者可以被实现为与校准装置200分离。例如,校准装置200可以从相机装置接收拍摄图像并执行校准操作。然而,在下文,为了便于说明,将进行描述使得校准装置200包括相机210、存储设备220和处理器230。
参考图4a,在操作S410中,相机210对包括多个显示模块的显示面板进行拍摄。在这种情况下,可以在显示面板中包括的所有LED发光的状态下执行一次拍摄。然而,示例不限于此,并且还可以在如下状态下执行预定阈值次数的拍摄:从预定阈值数量的LED发射光,其中该预定阈值数量可能在可以减少拍摄的次数的范围内。
这里,相机210可以被实现为CMOS图像传感器、CCD图像传感器等。
另外,可以将拍摄图像存储在存储设备220中。
另外,存储设备120还可以存储多个显示模块中的每一个中包括的像素的数量、像素的尺寸以及像素之间的间隔的信息。例如,存储设备120可以存储指示LED模块包括M×N个像素的信息、指示像素具有2.1mm的尺寸的信息和指示像素的中心之间的距离是2.5mm的信息。
在操作S420中,处理器230基于拍摄图像来计算多个显示模块中的每一个的代表性值,并基于所计算的代表性值来设置第一目标值。例如,处理器230可以计算多个显示模块中的每一个的平均像素值,并且基于所计算的平均像素值中的最小值来设置第一目标值。然而,除了平均像素值之外,代表性值还可以是最大像素值、最小像素值等。另外,第一目标值也可以是代表性值中的不包括最小值的任意值。
在操作S430中,处理器230基于多个显示模块中的每一个的代表性值和第一目标值来补偿多个显示模块中的每一个中包括的多个发光像素的校正系数。这里,校正系数可以被计算使得每个像素具有用于像素之间的均匀性的预定的第二目标值的校正系数。
处理器230可以基于拍摄图像来计算目标像素和至少一个相邻像素的峰值像素值,并且计算目标像素与至少一个相邻像素之间的距离,并且基于峰值像素值和像素之间的距离来对像素之间的干涉程度进行建模。
另外,处理器230可以基于被建模的干涉程度来计算目标像素的像素值,并且基于所计算的像素值来计算校正系数。
在这种情况下,处理器230可以基于目标像素和至少一个相邻像素的光分布偏差来对像素之间的干涉程度进行建模。
在这种情况下,处理器230可以基于目标像素和至少一个相邻像素的设置角度来对像素之间的干涉程度进行建模。
另外,处理器230可以基于不与至少一个相邻像素干涉的目标像素的所测量的像素值和被建模的干涉程度来计算该目标像素的像素值,并且基于该像素值来计算校正系数以具有第二目标值。
根据本公开的示例实施例的校正系数可以是用于校正像素值中的至少一个(即,亮度值和颜色值中的任意一者或两者)的系数。然而,在下文中,为了便于解释,假设对亮度值进行校正。
可以通过如下方法来计算根据本公开的示例实施例的LED设备的校正系数。
图5、图6a至图6d、图7、图8a至图8b、图9a至图9d和图10是示出了根据示例实施例的计算校正系数的方法的示意图。
参照图5,当在显示面板中包括的所有LED发光的状态下执行拍摄时,通过拍摄图像测量的每个像素的亮度值与实际亮度值不同。换句话说,当通过现有间隔方法计算的像素的实际亮度值是Pi(P1到P25)时,由于相邻像素的亮度的干涉,因此通过在所有LED发光时拍摄的拍摄图像获取的像素的亮度值可以是Mi(M1到M25)。这里,假设第j个像素对第i个像素的干涉程度是ai,j,则Mi可以被表示为如下等式1。
【数学式1】
因此,根据本公开的示例实施例,可以通过如下所示的等式2来计算每个像素的实际亮度值。
【数学式2】
在这种情况下,影响干涉程度的干涉因子可以包括以下中的任意一项或任意组合:像素之间的距离、像素的峰值亮度、像素的亮度分布偏差、以及像素被设置的角度。
因此,基于在操作S410处拍摄的拍摄图像来计算目标发光像素和至少一个相邻像素的峰值亮度值以及目标像素与至少一个相邻像素之间的距离。此后,基于峰值亮度值之间的距离和像素之间的距离来对像素之间的干涉程度进行建模。
在这种情况下,可以基于目标像素和至少一个相邻像素之间的亮度分布偏差来对像素之间的干涉程度进行建模。
另外,可以基于目标像素和至少一个相邻像素被设置的程度来对像素之间的亮度干涉程度进行建模。
此后,基于根据拍摄图像得到的目标像素的亮度测量值和被建模的亮度干涉程度来计算目标像素的校正系数。
可以基于目标像素的亮度测量值和被建模的亮度干涉程度来计算不与至少一个相邻像素干涉的目标像素的原始亮度。此后,可以基于原始亮度来计算用于实现目标亮度的校正系数。
可以补偿如上计算的校正系数,使得减少上述操作S420和S430中的各个显示模块之间的色阶。
根据本公开的示例实施例的亮度干涉程度的建模方法如下。
首先,处理器230可以基于从对显示器110的拍摄中获得的测量数据以及从存储设备220获取的关于模块内的像素的数量、像素尺寸、像素之间的间隔的信息来导出像素之间的距离。这里,测量数据可以是在如下状态下通过对显示器110进行拍摄来获得的数据:每个像素区域正在显示具有最大灰度值(例如,255灰度值)的样本图像(例如,全白图像)(在图像相对于RGB的每个颜色信号具有256个灰度级的情况下)。图6a示出了示例测量数据610。
如图6b所示,从如图6a所示的测量数据610导出每个像素区域的峰值强度,并且如图6c所示,可以通过基于峰值强度降低亮度等级来扩展估计的像素区域。在这种情况下,可以通过将估计的像素区域扩展到所扩展的估计的像素区域与存储设备120中存储的像素尺寸相符而不彼此重叠的程度来确定最终的估计的像素区域,从而可以导出像素之间的间隔。
然而,示例不限于此,并且可以以其他方法来导出像素之间的间隔。例如,如图6d所示,可以在波束成形测量之前调整测量设备的焦点,从而准确地测量显示像素的物理尺寸,而不是发光形式。因此,导出与一个像素相对应的CCD图像的尺寸MxN。接下来,定义尺寸与对应于一个像素的CCD尺寸MxN相同的窗口。此后,通过扫描线向上/向下/向左/向右移动所定义的窗口,以找到窗口中的平均强度在用户定义的预定区域中最高的位置,并且窗口的中心被认为是像素的中心。相邻像素的中心之间的距离被认为是像素之间的间隔。
此后,处理器230可以基于像素之间的所导出的间隔来对每个像素之间的亮度干涉程度进行建模。备选地,处理器230可以基于被建模的亮度干涉程度来根据所导出的像素之间的间隔计算亮度干涉程度。
例如,处理器230可以针对亮度分布执行波束成形建模,以基于最大灰度(例如,255灰度的全白)来估计每个像素的亮度分布。例如,如图7所示,可以针对每个像素通过波束成形建模来导出与每个像素区域相对应的高斯函数形式的亮度分布。
此后,处理器230可以基于与每个像素相对应的高斯函数来对每个像素之间的亮度干涉程度进行建模。例如,如图8a(实验数据)和图8b(示意性数据)所示,处理器230可以对每个像素之间的亮度干涉程度进行建模。
例如,如图9a所示,可以根据像素之间的距离来对亮度干涉程度进行建模。根据图9a,当像素之间的距离是d1时,在像素P1和P2中分别出现+100nit和+50nit的亮度干涉,并且当像素之间的距离是d2(d1<d2)时,可以理解的是,在像素P1和P2中分别出现+180nit和+40nit的亮度干涉。然而,数值是示例,并且示例不限于此。
如图9b所示,可以以与上述方法类似的方式根据相邻像素的峰值亮度值来对亮度干涉程度进行建模。根据图9b,可以理解的是,当相邻像素的峰值亮度为4000时,在像素P1和P2中分别出现+100nit和+50nit的亮度干涉,并且当相邻像素的峰值亮度为4500时,在像素P1和P2中分别出现+150nit和+50nit的亮度干涉。然而,数值是示例,并且示例不限于此。
如图9c所示,可以以与上述方法类似的方式根据相邻像素的亮度分布偏差来对亮度干涉程度进行建模。根据图9c,可以理解的是,当相邻像素的亮度分布偏差是σ2时,在像素P1和P2中分别出现+100nit和+50nit的亮度干涉,并且当相邻像素的亮度分布偏差是σ2’时,在像素P1和P2中分别出现+50nit和+30nit的亮度干涉。然而,数值是示例,并且示例不限于此。
如图9d所示,可以以与上述方法类似的方式根据设置像素的角度来对亮度干涉程度进行建模。根据图9d,可以理解的是,亮度干涉程度根据像素的倾斜角度而不同。
此后,可以基于取决于每个干涉因子的亮度干涉程度来计算每个像素的实际亮度值,该干涉因子例如是像素之间的距离、相邻像素的峰值亮度值、相邻像素的亮度分布偏差、以及像素被设置的角度。换句话说,可以基于所测量的亮度值和亮度干涉程度来计算每个像素的实际亮度值,其中所测量的亮度值基于拍摄图像,并且亮度干涉程度取决于每个干涉因子。
图10示出了通过考虑相邻像素的峰值亮度值、相邻像素的亮度分布偏差和像素被设置的角度中的全部来对亮度干涉程度进行建模的曲线图。
例如,当第j个像素和第i个像素之间的距离是di,j,第j个像素的亮度是Pj,第j个像素的亮度偏差是σj,并且第j个像素的角度为是θj时,影响第j个像素的干涉程度αi,j可以在等式3中被表示如下。
【数学式3】
αij=f(di,j,Pj,σj,θj)
因此,可以从图5中示出的示例实施例导出如下等式4。
【数学式4】
…
因此,可以利用如下所示的等式5来计算每个像素的亮度值。
【数学式5】
因此,可以利用如下所示的等式5来计算每个像素的亮度值。当以该方法来计算每个像素的实际亮度值时,可以计算用于每个像素的实际亮度值的校正系数,以具有第二目标值。
当计算反映上述亮度干涉程度的每个像素的校正系数时,可以针对校正系数执行补偿,以减小每个显示模块之间的色阶。出现色阶的原因在于用于校正LED元件的校准是点光源校准,而用户将颜色识别为反映点光源的干涉的表面光源。
因此,为了反映点光源的干涉,将每个LED的一组点光源处理为以预定尺寸为单位的一个表面光源(例如,具有预定尺寸的模块、柜、LED区域等),以用于校正色阶。
图11是示出了根据示例实施例的消除模块之间的色阶的方法的示意图。
例如,如图11所示,可以基于拍摄图像来计算多个显示模块111至116中的每一个的代表性值S1至S6,并且可以基于所计算的代表性值来确定第一目标值。例如,假设具有最低目标值的代表性亮度值被设置为S3。
在这种情况下,可以基于多个显示模块111至116中的每一个的代表性值S1至S6以及第一目标值S3来补偿多个显示模块111至116中的每一个中包括的多个发光像素的校正系数。例如,可以通过将多个显示模块111至116中的每一个中包括的多个发光像素的校正系数乘以补偿系数ci=Si/T(即,ci=Si/S3)来补偿校正系数。这里,如上所述,校正系数可以是被计算使得每个像素具有用于像素之间的均匀性的预定第二目标值的校正系数。
补偿系数S1/S3可以乘以第一显示模块111中包括的多个发光像素中的每一个的校正系数,并且补偿系数S2/S3可以乘以第二显示模块112中包括的多个发光像素中的每一个的校正系数。此后,可以将第三显示模块113至第六显示模块116中包括的多个发光像素的校正系数乘以补偿系数S3/S3=1、S4/S3、S5/S3和S6/S3。
为了便于说明,以上已经基于亮度进行了描述。然而,已经提及的是,根据本公开的校准方法也可以应用于颜色以及亮度的校准。
图12是示出了根据示例实施例的显示装置的详细操作的框图。
参考图12,显示装置100包括显示器110、存储设备120、处理器130和显示驱动器140。以下将不再具体说明图12中的与图2的元件重叠的元件。
处理器130可以包括:CPU;ROM(或非易失性存储器),存储用于控制显示装置100的控制程序;以及RAM(或易失性存储器),存储从显示装置100外部输入的数据或被用作与在显示装置100中执行的各种操作相对应的存储区域。CPU被配置为访问存储设备120,并使用存储在存储设备120中的操作系统(OS)执行启动。另外,使用存储在存储设备120中的各种程序、内容和数据来执行各种操作。
显示驱动器140根据处理器130的控制来驱动显示器110。例如,显示驱动器140根据处理器130的控制来施加驱动电压或对驱动电流进行驱动以驱动显示器110中包括的每个自发光元件(例如,LED像素),从而驱动每个LED像素。
当修改校正系数时,为了根据修改后的校正系数驱动目标像素区域,处理器可以调整输入到与目标像素区域相对应的至少一个LED像素的脉冲(R_Pulse、G_Pulse、B_Pulse)的占空比。为此目的,处理器130可以根据修改后的校正系数来调整脉冲(R_Pulse、G_Pulse、B_Pulse)的占空比,并将脉冲输出给显示驱动器140以用于驱动LED像素。显示驱动器140可以向显示器110提供驱动电流,以与从处理器130输入的用于驱动显示器110的每个控制信号相对应。换句话说,显示器110调整提供给每个LED元件的驱动电流的供应时间或强度以与每个输入驱动信号相对应,并输出驱动电流。
在这种情况下,显示驱动器140可以包括与多个显示模块中的每一个相对应的多个驱动模块,或者可以以用于驱动多个显示模块中的全部的一个驱动模块的形式来实现。例如,与多个显示模块中的每一个相对应的多个驱动模块可以分别被形成为多个半导体集成芯片(IC)。
根据情况,多个显示模块中的每一个可以被实现为包括用于控制每个显示模块的操作的子处理器、以及用于根据子处理器的控制来驱动每个显示模块的驱动模块。在这种情况下,每个子处理器和驱动模块可以被实现为硬件、软件、固件或集成芯片(IC)。根据示例实施例,每个子处理器可以被实现为单独的半导体IC。
根据上述示例实施例,可以提供一种用于减少利用现有间隔测量进行拍摄的次数的高速测量方法。根据本公开的示例实施例,可以减少显示模块之间的色阶。
上述根据本公开的示例实施例的方法可以仅通过针对现有单元显示模块和/或包括单元显示模块的显示装置的软件/硬件升级来实现。
此外,可以提供其中记录有用于顺序地执行根据示例实施例的校准方法的程序的非暂时性计算机可读介质。
非暂时性计算机可读介质是指半永久性地存储数据而非很短时间地存储数据的介质(诸如寄存器、高速缓存、内存等),并可以由装置读取。具体地,上述各种应用或程序可以被存储在非暂时性计算机可读介质(例如,致密盘(CD)、数字多功能盘(DVD)、硬盘、蓝光盘、通用串行总线(USB)、存储卡、只读存储器(ROM)等)中,并且可以被提供。
例如,这些组件、元件、模块或单元中的任意一个或任意组合可以使用直接电路结构,例如存储器、处理器、逻辑电路、查找表等,其可以通过一个或多个微处理器或其他控制装置的控制来执行各个功能。
上述示例实施例是示例,并且不应被解释为限制性的。本教导能够被容易地应用于其他类型的装置。此外,示例实施例的描述旨在是示意性的,而不限制权利要求的范围,并且许多备选、修改和变化对于本领域技术人员而言将是明显的。
Claims (14)
1.一种显示装置,包括:
显示器,包括显示模块,所述显示模块中的每一个包括发光像素;
存储设备,被配置为存储所述显示模块中的每一个中包括的所述发光像素中的每一个的校正系数;以及
处理器,被配置为将所述发光像素中的每一个的校正系数分别应用于所述发光像素中的每一个的像素值,以校正所述发光像素中的每一个的像素值,
其中,所述发光像素中的每一个的校正系数是基于用于减小所述显示模块中的每一个之间的色阶的第一目标值和所述显示模块的一个或多个代表性像素值对第一校正系数进行补偿来确定的,
其中,所述第一目标值是基于所述显示模块的一个或多个代表性像素值来确定的,
其中,所述第一校正系数还通过以下操作来确定:通过对所述发光像素之间的干涉程度进行建模,其中所述发光像素之间的干涉程度是基于所述显示器的捕获图像来建模的,并且
其中,所述发光像素之间的干涉程度是基于以下至少一项来建模的:所述发光像素之间的距离、所述发光像素的峰值像素值、所述发光像素的光分布偏差和所述发光像素的设置角度。
2.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述像素值表示亮度和颜色中的一者或两者。
3.根据权利要求1所述的显示装置,
其中,所述第一校正系数被确定使得所述第一校正系数被应用到的所述发光像素中的每一个的实际像素值具有针对所述发光像素之间的均匀性设置的第二目标值;以及
其中,所述发光像素中的每一个的实际像素值是基于所述发光像素之间的干涉程度来确定的。
4.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述发光像素之间的干涉程度是基于所述发光像素中的目标像素与相邻像素之间的距离以及所述相邻像素的峰值像素值来建模的。
5.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述发光像素之间的干涉程度还基于以下中的一项或两项来建模:所述发光像素中的目标像素与相邻像素之间的光分布偏差、以及所述目标像素与所述相邻像素被设置的设置角度。
6.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述显示模块中的每一个是包括发光二极管LED像素的LED模块、或与LED模块连接的LED柜。
7.一种包括显示模块的显示器的校准方法,所述方法包括:
由校准装置的处理器基于所述显示器的捕获图像,对所述显示模块中的每一个中包括的发光像素之间的干涉程度进行建模;
由所述处理器基于所建模的干涉程度确定所述发光像素中的每一个的第一校正系数;
由所述处理器基于所述显示器的捕获图像来确定所述显示模块中的每一个的代表性像素值;
由所述处理器基于所述显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值来确定用于减小所述显示模块中的每一个之间的色阶的第一目标值;
由所述处理器基于所述显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值和所确定的第一目标值来补偿所述第一校正系数,以获得校正系数;
其中,所述第一校正系数是基于用于像素之间的均匀性的第二目标值来确定的;以及
其中,所述发光像素之间的干涉程度是基于以下至少一项来建模的:所述发光像素之间的距离、所述发光像素的峰值像素值、所述发光像素的光分布偏差和所述发光像素的设置角度。
8.根据权利要求7所述的校准方法,
其中,对所述干涉程度进行建模包括:
确定所述发光像素中的目标像素和相邻像素之间的距离、以及所述相邻像素的峰值像素值;以及
基于所确定的距离和所确定的峰值像素值来对所述发光像素之间的干涉程度进行建模;以及
其中,确定所述第一校正系数包括:
基于所建模的干涉程度来确定所述目标像素的实际像素值;以及
基于所确定的实际像素值和所述第二目标值来确定所述第一校正系数。
9.根据权利要求8所述的校准方法,其中,对所述干涉程度进行建模包括:基于所述目标像素与所述相邻像素之间的光分布偏差来对所述发光像素之间的干涉程度进行建模。
10.根据权利要求8所述的校准方法,其中,对所述干涉程度进行建模包括:基于所述目标像素和所述相邻像素被设置的设置角度来对所述发光像素之间的干涉程度进行建模。
11.根据权利要求8所述的校准方法,其中,确定所述实际像素值包括:基于所确定的干涉程度和根据所述捕获图像测量的所述目标像素的像素值来确定不与所述相邻像素干涉的所述目标像素的实际像素值,并且
其中,确定所述第一校正系数包括:确定所述第一校正系数使得所述第一校正系数被应用到的所确定的实际像素值具有所述第二目标值。
12.根据权利要求7所述的校准方法,其中,所述显示模块中的每一个是包括发光二极管LED像素的LED模块、或与LED模块连接的LED柜。
13.一种校准装置,包括:
相机,被配置为对包括显示模块在内的显示器的图像进行捕获以生成捕获图像;
存储设备,被配置为存储所述捕获图像;以及
处理器,被配置为:
基于所述显示器的所述捕获图像,对所述显示模块中的每一个中包括的发光像素之间的干涉程度进行建模;
基于所建模的干涉程度确定所述发光像素中的每一个的第一校正系数;
基于所述捕获图像来确定所述显示模块中的每一个的代表性像素值;
基于所述显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值来确定用于减小所述显示模块中的每一个之间的色阶的第一目标值;以及
基于所述显示模块中的每一个的所确定的代表性像素值和所确定的第一目标值来补偿所述第一校正系数,
其中,所述第一校正系数是基于用于所述发光像素之间的均匀性的第二目标值来确定的;并且
其中,所述发光像素之间的干涉程度是基于以下至少一项来建模的:所述发光像素之间的距离、所述发光像素的峰值像素值、所述发光像素的光分布偏差和所述发光像素的设置角度。
14.根据权利要求13所述的校准装置,其中,所述处理器还被配置为:
确定所述发光像素中的目标像素和相邻像素之间的距离、以及所述相邻像素的峰值像素值;
基于所确定的距离和所确定的峰值像素值来对所述发光像素之间的干涉程度进行建模;
基于所建模的干涉程度来确定所述目标像素的实际像素值;以及
基于所确定的实际像素值和所述第二目标值来确定所述第一校正系数。
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