CN110022237A - 测试设备、设备的测试方法及装置、存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种测试设备、设备的测试方法及装置、存储介质。所述测试设备包括：第一连接端口；第二连接端口；开关阵列包括多个受控开关；滤波器阵列，通过开关阵列与第一连接端口相连；隔离器阵列，通过开关阵列分别与第一连接端口及第二连接端口连接；开关阵列，用于通过受控开关的开关状态，调节滤波器阵列连接到测试路径中的滤波器；位于测试路径中的滤波器，用于抑制被测频段的信号，以测量被测频段以外的杂散频段的杂散信号信息；开关阵列，还用于通过受控开关的开关状态，调节隔离器阵列连接到测试路径中的隔离器。

Description

测试设备、设备的测试方法及装置、存储介质

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试设备、设备的测试方法及装置、存储介质。

背景技术

多业务分布系统(Multiservice Distributed Access System Solution，MDAS)设备及数字直放站(Digital Repeat，DR)设备可支持多种制式、多频段、多载波，一步解决语音及数据业务需求的设备。目前，由于MDAS设备支持的制式较多，不同厂家MDAS设备在硬件参数及配置上有很大的差异，比如功率大小不同，制式不同，支持的频段不同等等，同时MDAS设备有上下行射频路径的设计，因此，当前MDAS设备的射频(Radio Frequency，RF)性能测试都采用人工手动组装测试链路，进行人工测试办法。人工进行MDAS设备的RF性能的测试，显然会导致效率低、人工误差大及测试自动化低等问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例期望提供一种测试设备、设备的测试方法及装置、存储介质，至少部分解决上述问题。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

第一方面，本发明实施例提供一种测试设备，包括：

用于与被测设备的第一连接端口；

用于与测试辅助设备连接的第二连接端口；

开关阵列，包括多个受控开关；

滤波器阵列，通过所述开关阵列与所述第一连接端口相连；

隔离器阵列，通过所述开关阵列分别与所述第一连接端口及所述第二连接端口连接；

其中，所述开关阵列，用于通过所述受控开关的开关状态，调节所述滤波器阵列连接到测试路径中的滤波器；位于所述测试路径中的滤波器，用于过滤特定频段的信号；

所述开关阵列，还用于通过所述受控开关的开关状态，调节所述隔离器阵列连接到所述测试路径中的隔离器；位于所述测试路径中的隔离器，用于将所述被测设备的输出信号调节为预定信号后传输到连接在所述第二连接端口的所述测试辅助设备。

可选地，所述测试设备还包括：

负载网络，包括一个或多个负载，用于连接形成所述测试路径以外的非测试路径。

可选地，所述被测设备包括：待测的第一设备端口和所述第一设备端口以外的第二设备端口；所述第一设备端口所连接的路径为所述测试路径；

所述负载网络包括：

吸收负载，用于与所述第二设备端口连接，以吸收所述非测试路径上的信号。

可选地，所述负载网络还包括：

防空载负载，通过连接到非测试路径，用于吸收所述被测设备提供的非测试信号。

可选地，所述负载网络包括：一个或多个衰减器。

可选地，所述测试设备还包括：

匹配网络，与所述第一连接端口及所述开关阵列连接，用于阻抗匹配和反射保护。

可选地，所述匹配网络包括：

第一匹配网络，通过所述开关阵列与第一部分的所述第一连接端口连接；

第二匹配网络，通过所述开关阵列中第二部分的所述第一连接端口连接；

所述开关阵列，还包括：

受控开关组，用于在第一状态时，通过自身的开关状态连接所述第一匹配网络与所述滤波器阵列，并连接所述第二匹配网络与所述隔离器阵列；在第二状态时，通过自身的开关状态连接所述第二匹配网络与所述滤波器阵列，并连接所述第一匹配网络与所述隔离器阵列

可选地，所述测试设备还包括：

第一耦合器；

第二耦合器；其中，所述第一耦合器和所述第二耦合器均包括：第一连接点、第二连接点及第三连接点；

可调衰减器件，连接在所述第一耦合器的第三连接点和所述第二耦合器的第三连接点之间，用于衰减传导到反射路径上的信号，以测量所述被测设备的收发隔离抑制比；

所述第一耦合器的第一连接点，通过所述开关阵列与所述第一连接端口连接，所述第一耦合器的第二连接点，通过开关阵列与所述滤波阵列连接；

所述第二耦合器的第一连接点，通过所述开关阵列与所述第一连接端口连接，所述第二耦合器的第二连接点，通过开关阵列与所述隔离器阵列连接。

可选地，所述测试设备还包括：

控制器，与所述开关阵列连接，用于根据所述被测设备的测试需求参数，向所述开关阵列发送控制信号，其中，所述控制信号，用于控制所述受控开关的开关状态。

第二方面，本发明实施例提供一种设备的测试方法，包括：

根据被测设备的测试需求参数及被测设备的设备参数，生成控制信号；

根据所述控制信号调节所述测试设备的开关阵列中受控开关的开关状态，以控制接入到测试路径上的滤波器和隔离器；

利用所述测试路径对所述被测设备进行测试。

可选地，所述方法还包括：

根据所述测试需求参数及所述设备参数，确定所述测试设备内反射路径的可调衰减器件的衰减参数；

根据所述衰减参数调节所述可调衰减器件的衰减值，以测试所述测试设备的收发隔离抑制比。

第三方面，本发明实施例提供一种测试装置，包括：

生成单元，用于根据被测设备的测试需求参数及被测设备的设备参数，生成控制信号；

开关单元，用于根据所述控制信号调节所述测试设备的开关阵列中受控开关的开关状态，以控制接入到测试路径上的滤波器和隔离器；

测试单元，用于利用所述测试路径对所述被测设备进行测试。

第四方面，本发明实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序；所述计算机程序被执行后，能够实现前述任一项所述的测试方法。

本发明实施例提供的测试设备、设备的测试方法及装置、存储介质。该测试设备中包括隔离器阵列、滤波器阵列、开关阵列；通过开关阵列中受控开关的开关状态的切换，可以控制连接到测试路径上的滤波器和/或隔离器，从而无需测试人员手动连接零散的电子元器件来获得测试路径。且该测试设备中包括的是滤波器阵列和隔离器阵列，可以通过连接的滤波器和/或隔离器的选择，使得该测试设备可以用于不同被测设备的自动测量。故相对于测试人员的手动连接，具有测试效率高、无测试的人工误差及测试方便的特点。且该测试设备同时用于不同被测设备的测试，具有使用范围广的特点。

附图说明

图1为本发明实施例提供第一种测试设备的结构示意图；

图2为本发明实施例提供第二种测试设备的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种测试方法的流程示意图；

图4为本发明实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图5至图18为本发明实施例提供的测试设备测试不同功能的测试示意图。

具体实施方式

以下结合说明书附图及具体实施例对本发明的技术方案做进一步的详细阐述。

如图1所示，本实施例提供一种测试设备，包括：

用于与被测设备的第一连接端口111；

用于与测试辅助设备连接的第二连接端口112；

开关阵列115，包括多个受控开关；

滤波器阵列114，通过所述开关阵列115与所述第一连接端口111相连；

隔离器阵列113，通过所述开关阵列115分别与所述第一连接端口111及所述第二连接端口112连接；

其中，所述开关阵列115，用于通过所述受控开关的开关状态，调节所述滤波器阵列114连接到测试路径中的滤波器；位于所述测试路径中的滤波器，用于过滤特定频段的信号；

所述开关阵列115，还用于通过所述受控开关的开关状态，调节所述隔离器阵列113连接到所述测试路径中的隔离器；位于所述测试路径中的隔离器，用于将所述被测设备的输出信号调节为预定信号后传输到连接在所述第二连接端口112的所述测试辅助设备。

在本实施例中，所述测试设备为一个集成设备，集成有开关阵列115、匹配网络116、隔离器组成的隔离器阵列113，以及由滤波器组成的滤波器阵列114。所述测试设备上还设置有多个可连接的端口，例如，用于与被测设备连接的第一连接端口111，以及与测试辅助设备连接的第二连接端口112。

在本实施例中，所述测试辅助设备可包括以下至少之一：

信号源设备，可以用于提供测试所述被测设备的测试信号；

测试仪表，可以用于测试测试路径上需要检测的信号，例如，测量需要检测信号的信号频率和/或信号强度等。

典型的所述信号源设备可包括以下至少之一：

信号发生器，用于产生被测频段的测试信号；

噪声发生器，用于产生噪声。

典型的所述测试仪表可包括以下至少之一：

频谱分析仪，用于进行频谱信号的采集和分析；

矢量分析仪器，用于矢量分析，例如，分析信号矢量的误差等；

噪声分析仪，用于分析噪声，例如，分析噪声的频率及噪声的信号强度等。

所述被测设备可为自身能够发送信号也能够接收信号的设备。所述测试辅助设备可为能够提供测试信号的信号发生器，例如，可以测试所述被测设备的信号接收能力等相关性能参数。

所述被测设备可为前述的MDAS设备或者DR设备。

如图2所示，在本实施例中所述匹配网络116可包括：电阻、电容或电感等各种电抗器件及开关器件，可以用于产生对应的阻抗，实现测试路径上的阻抗匹配。同时，由于测试设备中连接有很多的开关设备，开关设备在开关的过程中，若此时被测设备处于信号的发射状态，则开关处于开关

在一些实施例中，若所述匹配网络116的个数与所述第一连接端口111的数目一致。例如，所述第一连接端口111为N个，则所述匹配网络116的个数为N个，一个所述第一连接端口111可以与一个所述匹配网络116连接。如此，可以根据测试需求及被测设备的对应端口的阻抗等，单独调节一个连接端口所在路径的阻抗。

在另一些实施例中，所述匹配网络116可以为一个大的匹配网络116，该匹配网络116中除了所述电抗器件还包括开关器件，通过开关器件的开关，可以使得匹配网络116中的不同电抗器件连接到不同的连接端口，实现阻抗的匹配。

开关阵列115包括多个受控开关，所述受控开关可为三极管和/或晶体管等，可以通过控制信号的传导，控制开关的开关状态。根据所述受控开关可切换的路径可包括：单刀单掷开关及单刀多掷开关等，典型的单刀多掷开关包括：单刀双掷开关及单刀四掷开关等。单刀单掷开关通常用于导通或断开一条路径；而单刀多掷开关用于导通多条路径中的一条并断开其他路径。

所述开关阵列115的至少部分受控开关可以分步在不同的路径中。

滤波阵列包括多个滤波器，这些滤波器的滤波参数可能具有不同，所述滤波器可包括：对不同频率信号具有滤波作用的滤波器，例如，高通滤波器，用于过滤掉信号频率高于第一预定频率的信号，并允许信号频率低于所述第一预定频率的信号通过。又例如，低通滤波滤波器，用于过滤掉低于第二预定频率的信号，并允许信号频率高于所述第二预定频率的信号通过。再例如，带通滤波器，用于过过滤掉信号频率为预定范围内的信号，允许信号频率为预定范围外的信号通过。

在本实施例中所述滤波器中的滤波器可分为多类，以下提供两类可选的滤波器：

第一类滤波器，用于抑制被测频段的信号，将被测设备传输的包括被测频段及被测频段以外的信号，经过被测频段信号的过滤之后，将剩余的杂散信号输入到测试仪表中，这一类滤波器过滤的被测频段的信号。

第二类滤波器，用于抑制杂散频段的信号，将被测设备传输的包括被测频段及被测频段以外的信号，过滤杂散信号之后，将所述被测信号传输到所述测测试仪表，以方便确定被测设备对被测频段的处理能力。

在本实施例中，所述滤波器阵列114包括多个滤波器。在一些实施例中，一个所述滤波器与一个受控开关连接，利用该受控开关可以控制该滤波器是否接入到测试路径上。在另一些实施例中，所述滤波器阵列114中的滤波器可为自身能够满足单一测试需求的滤波器，则此时多个滤波器可以共用一个单刀多掷开关，所述单刀多掷开关可以导通满足当前测试需求的滤波器即可，即将满足当前测试需求的滤波器添加到测试路径上即可，这样显然可以减少测试设备中开关的个数，简化测试设备，降低测试设备的成本，并简化测试设备的控制。

在本实施例中所述滤波器阵列114中的滤波器，主要用于测试所述被测设备的抗杂散能力。被测设备会发射测试频段的信号，此时测试频段的侧信号的信号强度是很大的，杂散信号的信号强度可能是远小于所述测试信号的强度的，若此时需要测试该被测设备会引入哪些频段的杂散信号，这些杂散信号的信号强弱等，需要向抑制所述被测频段的测试信号，则此时将通过有测试信号及杂散信号的信号输入到对应的滤波器，滤波器过滤掉测试信号，将被测信号以外的杂散信号传输到测试仪表中，方便杂散信号的测试。

隔离器阵列113包括一个或多个隔离器，所述隔离器主要是通过信号的转换起到隔离作用，以保护所述测试辅助设备。通常情况下，被测设备所发射信号的信号强度比较大，若直接输入到测试仪表中，可能超出测试仪表的量程，从而使得测试仪表被毁坏。在本实施例中，一方面需要测试被测设备发射的信号，另一方面又需要保护测试仪表，在本实施中引入了隔离器阵列113，通过隔离器阵列113中的隔离器将大功率或大强度的信号转换为预定功率或预定强度的小信号，再传输到测试仪表等连接在第二连接端口112的测试辅助设备中。

同样的在一些实施例中，一个所述隔离器就可以对应于一个所述受控开关，从而可以实现单独控制每一个隔离器的导通或关断状态。在另一些实施例中，所述隔离器都是具有特定参数或属性的隔离器，可以满足单一需求的隔离作用，则此时，多个隔离器可以共用一个单刀多掷开关，在特定场景下该单刀多掷开关可以选择满足当前隔离需求的隔离器接入测试路径即可。如此，减少测试设备中所使用的开关数目等，简化控制等。

在一些实施例中，所述测试设备上还设置有直接连接所述匹配网络116及所述第二连接端口112的直连路径(即未经过滤波器阵列114的路径)，该输出路径可以用于直接测试所述被测设备的输出信号的信号强弱。与此同时，所述测试设备上还设置有直接连接第二连接端口112与所述匹配网络116的直连路径(即未经过隔离器阵列113的路径)，可以用于供信号源设备向所述被测设备输入信号。

在一些实施例中，所述测试设备还包括：

负载网络，包括一个或多个负载，用于连接形成所述测试路径以外的非测试路径。

所述负载网络中携带有一个或多个负载，所述负载一般需要是耗能电能的。

在本实施例中，被测设备的型号不同，而该测试设备可以应用于不同的被测设备进行使用，在一些情况下，自然测试设备中的有些路径是不需要使用的非测试路径，但是在测试设备工作时，会使得这些路径也带电，为了避免空载的情况导致的测试设备的异常，在本实施例中，这些带电的非测试路径均与负载网络连接，通过负载消耗或吸收这些电能。

例如，所述被测设备包括：待测的第一设备端口和所述第一设备端口以外的第二设备端口；所述第一设备端口所连接的路径为所述测试路径；

所述负载网络包括：

吸收负载，用于与所述第二设备端口连接，以吸收所述非测试路径上的信号。

在进行被测设备的测试时，被测设备的端口包括第一设备端口和第二设备端口，第一设备端口可能是当前正在测试的端口，第二设备端口可能是当前无需测试的端口，但是被测设备处于工作状态，使得第二设备端口依然有信号输出，此时为了方便第二设备端口的信号输出，避免第二设备端口未能正常输出信号导致被测设备的异常等问题，在本实施例中，所述负载网络设置有吸收负载，用于消耗被测设备的第二设备端口输出的信号。

可选地，所述负载网络还包括：

防空载负载，通过连接到所述非测试路径，用于吸收所述被测设备提供的非测试信号。

在一些实施例中，测试设备中在进行某一项测试时，有些路径本身会接收到信号，但是这些信号并不需要传输到测量仪表进行测量，但是为了确保测试设备的正常运行，这些信号需要释放掉。在本实施例中所述负载网络还设置了防空载负载，通过防空载负载消耗掉这一部分信号。

通常情况下，在本实施例中所述测试路径都是连接有测试辅助设备的，需要对信号进行测试或需要提供测试被测设备的测试信号。

可选地，所述负载网络包括：一个或多个衰减器。

在本实施例中，首先负载网络统一使用衰减器，而非电阻和/或电抗等多类型的负载，从而具有负载类型统一，避免了测试设备的制作或维护过程中，需要区分负载类型导致的制作繁琐及维护繁琐的问题。

此外，为了方便测试设备的制作以及后续测试设备的维护，负载网络中包括的衰减器可为统一规格的衰减器，例如，均为3dB或5dB的衰减器。这样，测试设备的制作过程中避免引入的不同规格的衰减器导致使用了错误的衰减器导致的制作了异常设备的问题，同时也避免了测试设备维修过程中需要确定当前异常的衰减器的规格，在选择对应规格进行替换导致的维护难度大的问题。故若采用同一规格的衰减器，可以简化制作和设备维护。

可选地，所述测试设备还包括：匹配网络116，与所述第一连接端口111及所述开关阵列115连接，用于阻抗匹配和反射保护；

可选地，所述匹配网络116包括：

第一匹配网络116，通过所述开关阵列115与第一部分的所述第一连接端口111连接，

第二匹配网络116，通过所述开关阵列115中第二部分的所述第一连接端口111连接。

在本实施例中，第一连接端口111和第二连接端口112分为了第一部分和第二部分，这两部分连接端口对应了不同端口。第一部分和第二部分的所述第一连接端口111均可具有信号发送功能和信号接收功能。但是在某一些特定场景下，若所述第一部分的第一连接端口111为发射信号的发射端口，则所述第二部分的所述第二连接端口112为接收信号的接收端口；若所述第二部分的第一连接端口111为发射信号的发射端口，则所述第一部分的所述第二连接端口112为接收信号的接收端口。

所述开关阵列115，还包括：

受控开关组，用于在第一状态时，通过自身的开关状态连接所述第一匹配网络116与所述滤波器阵列114，并连接所述第二匹配网络116与所述隔离器阵列113；在第二状态时，通过自身的开关状态连接所述第二匹配网络116与所述滤波器阵列114，并连接所述第一匹配网络116与所述隔离器阵列113。

所述受控开关组可包括多个受控开关，在本实施例中可包括：4个预定功率以上的单刀双掷开关，具体的连接关系可以参见图5中开关1、开关2、开关2-1及开关2-2。

在本发明实施例中，通常情况下，所述第一类匹配与第一部分的第一连接端口111连接，第二匹配网络116与第二部分的第二连接端口112连接。

所述开关阵列115包括一个受控开关组，该受控开关组，可以用于在第一状态下时，连接第一匹配网络116与滤波器阵列114，并连接第二匹配网络116和隔离器阵列113。所述受控开关组，还可用于在第二状态下，连接第一匹配网络116和隔离器阵列113，并连接第二匹配网络116和滤波器阵列114。

实质上所述开关阵列115使得受控开关组的开关控制，实现了对被测设备中上行链路和下行链路的切换。

例如，当信号源设备发射信号，通过隔离器阵列113并经过所述第二匹配网络116进入到所述被测设备，所述被测设备利用其内部的下行链路进行处理之后，通过与第一匹配网络116连接的第一连接端口111灌入到所述测试设备中，信号经过测试设备中的第一连接端口111输入到滤波器之后传输到测试仪表上，实际上测试的被测设备的下行链路。若信号源设备发射信号，经过隔离器阵列113经过所述第一匹配网络116输入到所述被测设备，所述被测设备利用其内部的上行链路进行处理之后，将信号灌入到测试设备的第二匹配网络116，所述第二匹配网络116将所述信号传输到滤波器阵列114，并通过滤波器阵列114的信号处理之后传输给所述测试仪表，实质上完成的是对被测设备的上行链路的测试。

故在本实施例中，通过所述受控开关组的切换实现了对被测设备的设备内部的上行链路和下行链路测试的切换。

可选地，所述测试设备还包括：

第一耦合器；

第二耦合器；其中，所述第一耦合器和所述第二耦合器均包括：第一连接点、第二连接点及第三连接点；

可调衰减器件，连接在所述第一耦合器的第三连接点和所述第二耦合器的第三连接点之间，用于衰减传导到发射路径上的信号；

所述第一耦合器的第一连接点，通过所述开关阵列115与所述第一连接端口111连接，所述第一耦合器的第二连接点，通过开关阵列115与所述滤波阵列连接；

所述第二耦合器的第一连接点，通过所述开关阵列115与所述第一连接端口111连接，所述第二耦合器的第二连接点，通过开关阵列115与所述隔离器阵列113连接。

在本实施例中所述第一耦合器和第二耦合器均为包括三个连接点的元气件，耦合器的三个连接点，第一连接点分别与第二连接点和第三连接点连接。第一连接点和第二连接点形成直通路径，第一连接点和第三连接点之间形成旁通路径。在本实施例中，第一耦合器和第二耦合器的旁通路径上连接有可调衰减器件，构成反射路径，以进行被测设备的收发隔离抑制比的测量。

例如，当第一耦合器的直通路径上是经过被测设备处理后的发射信号，通发射信号一部分通过第一隔离器的直通路径传输到频谱分析仪等频谱分析，另还有一个部分发射信号将作为发射信号，通过第一隔离器的第三连接点进入到所述反射路径上，通过反射路径传导回所述被测设备，反射信号会对被测设备自身的发射信号进行干扰，此时频谱分析仪上在发射信号的干扰下发生变化，此时通过调节所述可调衰减器件的衰减值，可以知道所述被测设备的收发隔离抑制比，通常，频谱分析仪能够清晰解调出被测设备的发射临界情况下，可调衰减器件的衰减值越大，则表示所述被测设备的隔离抑制能力越强，否则相反。

可选地，所述测试设备还包括：

控制器，与所述开关阵列115连接，用于根据所述被测设备的测试需求参数，向所述开关阵列115发送控制信号，其中，所述控制信号，用于控制所述受控开关的开关状态。

在本实施例中所述控制器可为各种类型的控制器，例如，微控制器、可编程阵列、专用集成电路等控制芯片，分别与所述开关阵列115相连，可以生成控制开关阵列115中的各个受控开关的控制信号，通受控开关中的开关状态的切换，完成测试配置，例如，连接测试路径，断开非测试路径和/或向非带电的非测试路径加负载等处理，从而实现测试的智能化。

如图3所示，本实施例提供一种设备的测试方法，包括：

步骤S110：根据被测设备的测试需求参数及被测设备的设备参数，生成控制信号；

步骤S120：根据所述控制信号调节所述测试设备的开关阵列中受控开关的开关状态，以控制接入到测试路径上的滤波器和隔离器；

步骤S130：利用所述测试路径对所述被测设备进行测试。

本实施例提供的设备的测试方法，可为应用于前述的测试设备中的信息处理方法。所述被测设备可为前述的MDAS设备或DR设备，或者，所述MDAS设备和DR设备的集成设备。

在步骤S110之前需要获取测试需求参数及设备参数。所述获取所述测试需求参数及所述被测设备的设备参数的实现方式有多种。针对所述设备参数的获得，所述步骤S110可至少包括如下两种方式：

方式一：所述测试设备从所述被测设备读取所述设备的设备序列号等，获得所述被测设备的设备参数，例如，被测设备的设备类型及生产厂商等。

方式二：所述测试设备从人机交互接口接收用户输入的所述被测设备的设备参数。

针对所述测试需求参数的获取，所述步骤S110可至少包括如下两种方式：

方式一：

所述测试设备根据获取的设备参数，查询测试对应关系，根据所述对应关系中记载的该被测设备的所需测试的性能，确定需要执行的测试，并基于当前需要执行的测试确定出所述测试需求参数。

方式二：所述测试设备从人机交互接口检测用户操作，基于用户操作确定所述测试需求参数。

所述测试设备的控制器，可以根据所述测试需求及设备参数，生成对应的控制信号，将所述控制信号传输到测试设备的开关阵列115的对应受控开关上，控制对应受控开关的开关状态，从而导通或关闭对应的路径，并进行被测设备的测试。

在步骤S110中可以根据所述测试需求参数及设备参数，选择出需要进行开关状态的受控开关，然后查询该受控开关切换到对应状态的控制参数，生成对应的控制信号，例如，通过查询对应受控开关的导通电压或导通电流，通过向对应受控开关提供所述导通电压或导通电路，控制对应的受控开关的开关状态。

在步骤S120可包括：选择接入到测试路径中的滤波器和/或隔离器。

在步骤S130中可包括：控制信号源设备发射信号，通过直连路径或经过隔离器的输入到被测设备，并接收测设备的输出信号，并将输出信号通过直连路径和/或滤波器所在的路径传输到测试仪表上，供测试仪表获得测试信息，从而完成所述测试设备的测试。

可选地，所述方法还包括：根据所述测试需求参数及所述设备参数，确定所述测试设备内反射路径的可调衰减器件的衰减参数；根据所述衰减参数调节所述可调衰减器件的衰减值，以测试所述测试设备的收发隔离抑制比。

在一些实施例中，所述方法可包括：生成逐步调整所述衰减值的调节信号，根据所述调节信号按照预定步长或者按照预定方向调整所述衰减值，从而测试出当前被测设备的收发隔离抑制比。

在一些实施例中，所述方法还可包括：

若当前的被测设备端口为第一设备端口，向所述开关阵列115发送连接所述吸收负载及所述第一设备端口以外的第二设备端口的控制信号。

在另一些实施例中，所述方法还可包括：

若当前的测试设备中有些带电信号流入到非测试路径，则向开关阵列115将接防空载负载及所述非测试路径上，以吸收非测试信号。

如图4所示，本发明实施例还提供一种测试装置，包括：

生成单元110，用于根据被测设备的测试需求参数及被测设备的设备参数，生成控制信号；

开关单元120，用于根据所述控制信号调节所述测试设备的开关阵列115中受控开关的开关状态，以控制接入到测试路径上的滤波器和隔离器；

测试单元130，用于利用所述测试路径对所述被测设备进行测试。

所述生成单元110、开关单元120及测试单元130均对应于测试装置中的程序模块。所述测试装置可应用于测试设备中的控制器。所述生成单元110、传输单元、开关电源及测试单元130均可对应于控制器的控制电路或处理电路，可以通过计算机程序的执行实现上述各个单元的功能。

在一些实施例中，所述装置还包括：

确定单元，用于根据所述测试需求参数及所述设备参数，确定所述测试设备内反射路径的可调衰减器件的衰减参数；

调节单元，用于根据所述衰减参数调节所述可调衰减器件的衰减值，以测试所述测试设备的收发隔离抑制比。

在一些实施例中，所述方法还可包括：

所述生成单元110，还用于若当前的被测设备端口为第一设备端口，生成连接所述吸收负载及所述第一设备端口以外的第二设备端口的控制信号；

在另一些实施例中，所述生成单元110，还用于若当前的测试设备中有些带电信号流入到非测试路径，生成连接防空载负载及所述非测试路径上的控制信号；所述传输单元，还用于若当前的测试设备中有些带电信号流入到非测试路径，则向开关阵列115将接防空载负载及所述非测试路径上，以吸收非测试信号。

本发明实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序；所述计算机程序被执行后，能够实现前述一个或多个技术方案提供的测试方法，例如，如图所示的测试方法。

所述计算机存储介质可包括：移动存储设备、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质；可选地，所述计算机存储介质可为非瞬间存储介质。

以下结合上述测试设备提供几种具体的测试场景。

示例1：

如图5所示，本示例提供一种测试设备，包括：

第一连接端口，分别是连接端口1到连接端口6；若连接端口1至连接端口4为发射端口，则连接端口5至连接端口6为接收端口。若连接端口5和连接端口6为发射端口，则连接端口1至连接端口4为接收端口。

第二连接端口，包括，连接信号源设备的端口及连接测试仪表的端口。在图中，所述第二连接端口包括：两个信号源设备的连接端口，VSG1和VSG2；一组连接矢量分析仪的端口VNA-1及VNA-2；连接频谱分析仪的端口SA、连接噪声发生器的端口NS，连接噪声分析仪的端口NSA。在图5中还设置有拓展端口AUX1和AUX2。

滤波器阵列，包括：滤波器1、滤波器2、滤波器4、高通5(高通滤波器)、陷波器6、陷波器7、陷波器8、陷波器9。陷波器为滤波器的一种，为通过谐振电路减少信号的干扰的滤波器。

在图5中，还显示有与滤波器阵列中阵列并联的直连路径及衰减路径，直连链路上未连接滤波器，也未连接其他元件；衰减路径上连接有定向耦合器1及大功率衰减器，该大功率衰减器的衰减值可达30dB。

隔离器矩阵，包括：两个隔离器组，每一个隔离器组中包括若干个并联的隔离器。每一个隔离器组上都并联有一个直连路径，可以使得第二连接端口可以绕过直连路径连接到匹配网络及第一连接端口等。

定向耦合器3可对应于前述第一耦合器；

定向耦合器4可对应于前述第二耦合器；

固定衰减器1、固定衰减器2及可调衰减器1，可对应于前述可调衰减器件，构成了反射路径。

负载网络，对应于图5中的多个匹配网络。

匹配网络，在图5中，一个匹配网络连接一个所述第一连接端口。

开关阵列115，包括：开关0至开关10以及开关2-1至开关2-20。

图5中还显示有定向耦合器2。

在图6中标注有吸收负载以及放空载负载。在图6中还标出了匹配网络，是用于阻抗匹配和反向保护的。

在图7中标注出滤波阵列和隔离器阵列。

示例2：

以下分场景利用示例1提供的测试设备进行MDAS设备或DR设备的测试。

第一场景：

测试全球移动通信系统(Global System for Mobile Communication，GSM)、时分同步码分多址(Time Division-Synchronous Code Division Multiple Access，TD-SCDMA)或分时长期演进(Time Division Long Term Evolution，TD-LTE)的通用下行链路，需要测量的指标如下表：

如图8所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于被测设备(Device Under Test，DUT)时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

隔离器阵列其中一个隔离器导通，使得信号从VSG1输入可，经过被测设备处理后，从SA输出。

第二场景：

测试GSM、TD-SCDMA或TD-LTE设备的电压驻波比链路。

如图9所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

隔离器阵列导通一个隔离器，使得信号从VNA-1输入。

第三场景：

测试GSM、TD-SCDMA或TD-LTE的杂散发射测试链路。

如图10所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

根据测试频段，在滤波器1至滤波器4及高通5之间选择一个导通到SA。

第四场景：

测试GSM、TD-SCDMA或TD-LTE的噪声系数。

如图11所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

根据不同的被测频段，在开关2-7及开关2-8所连接的隔离器组中选择一个隔离器导通，使得信号从噪声发生器(NS)传输到被测设备。

第五场景：

测试GSM、TD-SCDMA或TD-LTE的带内波动或传输时延。

如图12所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

根据不同的被测频段，在开关2-7及开关2-8所连接的隔离器组中选择一个隔离器导通，使得信号从VNS-1输入，并从VNA-2输出。

第六场景：

测试GSM、TD-SCDMA或TD-LTE的阻塞，或者，执行SM、TD-SCDMA或TD-LTE制式下的互调测试。

如图13所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

根据不同的被测频段，在开关2-7及开关2-8所连接的隔离器组中选择一个隔离器导通，使得信号从VSG2及VSG1输入，并从SA输出。

以下是第六场景的测试指标：

第七场景：

执行TD-LTE设备的多输入多输出(Multi Input Multi Output，MIMO)测试。

如图14所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

根据不同的被测频段，在开关2-7及开关2-8所连接的隔离器组中选择一个隔离器导通，使得信号从VSG2及VSG1输入，并从SA输出。

第七场景：

测量GSM设备的收发隔离抑制比。

如图15所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

根据不同的被测频段，在开关2-7及开关2-8所连接的隔离器组中选择一个隔离器导通，使得信号从VSG1输入，并从SA输出。

第九场景：

测试TD-SCDMA或TD-LTE的上行链路。

如图16所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

根据不同的被测频段，在开关2-7及开关2-8所连接的隔离器组中选择一个隔离器导通，使得信号从VSG1及VSG2输入，并从SA输出。

第十场景：

测试TD-SCDMA或TD-LTE的下行链路。

如图17所示，在本场景测试时，路径1为信号输入路径，路径2为信号输出路径，路径3为匹配路径。路径4为可选路径。

若测试设备的第一连接端口的数量多于DUT时，闲置的第一连接端口连接到负载网络上。

在测试时，可选路径处于非测试状态时，需要连接到负载网络上。

可调衰减器所在的反射路径的衰减值可调节到126dB。

根据不同的被测频段，在开关2-7及开关2-8所连接的隔离器组中选择一个隔离器导通，使得信号从VSG1及VSG2输入，并从SA输出。

如图18所示，开关1、开关2、开关2-1及开关2-2的状态是不一样的。这里的开关1、开关2、开关2-1及开关2-2可组成前述的受控开关组，实现被测设备的上行链路或下行链路测试的切换。

以下是被测设备在测试时的工作指标；

工作频率范围：DC-13GHz；

切换速度：20ms；

通道隔离度：>80dB@13G；

VSWR：<1.4@8GHz，<2.0@13GHz；

最大承受功率：60W；

支持的制式：GSM900、DCS1800、TD-SCDMA、TD-LTE

支持的频段：

GSM900：上行889-909Mhz，下行934-954Mhz；

GSM1800：上行1710-1735Mhz，下行1805-1830Mhz；

TD-SCDMA：2010-2025Mhz；

TD-LTE：1)1885-1915Mhz；

2)2320-2370Mhz；

3)2575-2630Mhz。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些端口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理模块中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (13)

1.一种测试设备，其特征在于，包括：

用于与被测设备的第一连接端口；

用于与测试辅助设备连接的第二连接端口；

开关阵列，包括多个受控开关；

滤波器阵列，通过所述开关阵列与所述第一连接端口相连；

隔离器阵列，通过所述开关阵列分别与所述第一连接端口及所述第二连接端口连接；

其中，所述开关阵列，用于通过所述受控开关的开关状态，调节所述滤波器阵列连接到测试路径中的滤波器；位于所述测试路径中的滤波器，用于过滤特定频段的信号；

所述开关阵列，还用于通过所述受控开关的开关状态，调节所述隔离器阵列连接到所述测试路径中的隔离器；位于所述测试路径中的隔离器，用于将所述被测设备的输出信号调节为预定信号后传输到连接在所述第二连接端口的所述测试辅助设备。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：

负载网络，包括一个或多个负载，用于连接形成所述测试路径以外的非测试路径。

3.根据权利要求2所述的被测设备，其特征在于，所述被测设备包括：待测的第一设备端口和所述第一设备端口以外的第二设备端口；所述第一设备端口所连接的路径为所述测试路径；

所述负载网络包括：

吸收负载，用于与所述第二设备端口连接，以吸收所述非测试路径上的信号。

4.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述负载网络还包括：

防空载负载，通过连接到非测试路径，用于吸收所述被测设备提供的非测试信号。

5.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述负载网络包括：一个或多个衰减器。

6.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：

匹配网络，与所述第一连接端口及所述开关阵列连接，用于阻抗匹配和反射保护。

7.根据权利要求6所述的测试设备，其特征在于，

所述匹配网络包括：

第一匹配网络，通过所述开关阵列与第一部分的所述第一连接端口连接；

第二匹配网络，通过所述开关阵列中第二部分的所述第一连接端口连接；

所述开关阵列，还包括：

受控开关组，用于在第一状态时，通过自身的开关状态连接所述第一匹配网络与所述滤波器阵列，并连接所述第二匹配网络与所述隔离器阵列；在第二状态时，通过自身的开关状态连接所述第二匹配网络与所述滤波器阵列，并连接所述第一匹配网络与所述隔离器阵列。

8.根据权利要求1至7任一项所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括：

第一耦合器；

第二耦合器；其中，所述第一耦合器和所述第二耦合器均包括：第一连接点、第二连接点及第三连接点；

可调衰减器件，连接在所述第一耦合器的第三连接点和所述第二耦合器的第三连接点之间，用于衰减传导到反射路径上的信号，以测量所述被测设备的收发隔离抑制比；

所述第一耦合器的第一连接点，通过所述开关阵列与所述第一连接端口连接，所述第一耦合器的第二连接点，通过开关阵列与所述滤波阵列连接；

所述第二耦合器的第一连接点，通过所述开关阵列与所述第一连接端口连接，所述第二耦合器的第二连接点，通过开关阵列与所述隔离器阵列连接。

9.根据权利要求1至7任一项所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括：

控制器，与所述开关阵列连接，用于根据所述被测设备的测试需求参数，向所述开关阵列发送控制信号，其中，所述控制信号，用于控制所述受控开关的开关状态。

10.一种设备的测试方法，其特征在于，包括：

根据被测设备的测试需求参数及被测设备的设备参数，生成控制信号；

根据所述控制信号调节所述测试设备的开关阵列中受控开关的开关状态，以控制接入到测试路径上的滤波器和隔离器；

利用所述测试路径对所述被测设备进行测试。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，

所述方法还包括：

根据所述测试需求参数及所述设备参数，确定所述测试设备内反射路径的可调衰减器件的衰减参数；

根据所述衰减参数调节所述可调衰减器件的衰减值，以测试所述测试设备的收发隔离抑制比。

12.一种测试装置，其特征在于，包括：

生成单元，用于根据被测设备的测试需求参数及被测设备的设备参数，生成控制信号；

开关单元，用于根据所述控制信号调节所述测试设备的开关阵列中受控开关的开关状态，以控制接入到测试路径上的滤波器和隔离器；

测试单元，用于利用所述测试路径对所述被测设备进行测试。

13.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序；所述计算机程序被执行后，能够实现权利要求10至11任一项提供的方法。