CN111970171B - 终端设备中射频电路的自动化测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，包括：多个射频测试通路，多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连；多个射频开关，多个射频开关设于多个射频测试通路中，用于控制多个射频测试通路的导通与断开；控制设备，控制设备与多个射频开关和测试设备分别相连，控制设备用于获取待测事项，并根据待测事项对多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制测试设备进行测试。该系统能够实现对待测设备中射频电路的不同测试类型的自动化测试，测试效率高，且所有测试均处于同一测试环境，测试准确度高，有效避免了手动测试存在的测试效率低、测试准确度不高的问题。

Description

终端设备中射频电路的自动化测试系统

技术领域

本发明涉及射频通信技术领域，尤其涉及一种终端设备中射频电路的自动化测试系统。

背景技术

射频信号是指具有一定波长可用于无线电通信的电磁波，广泛应用于多种领域，尤其是终端设备。终端设备在出厂之前，制造商会对其性能进行测试。

目前，对于终端设备的射频性能测试很多还停留在手动测试阶段，比如，LTE(LongTerm Evolution，长期演进)、WCDMA(Wideband Code Division Multiple Access，带码分多址)或者GSM(Global System for Mobile communications，全球移动通信系统)的谐波测试或杂散测试，以及LTE、WiFi和GNSS(Global Navigation Satellite System，全球定位系统)之间的共存测试。针对这些测试，需要测试人员搭建不同的测试环境，并在测试过程中根据测试需求不断更换射频器件，同时需要测试人员手动操作测试仪器并对测试数据进行记录，测试效率很低，同时因不断更换测试环境，对测试结果的准确性具有一定的影响。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，该系统能够实现对待测设备中射频电路的不同测试类型的自动化测试，测试效率高，且所有测试均处于同一测试环境，测试准确度高，有效避免了手动测试存在的测试效率低、测试准确度不高的问题。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，包括：多个射频测试通路，多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连；多个射频开关，多个射频开关设于多个射频测试通路中，用于控制多个射频测试通路的导通与断开；控制设备，控制设备与多个射频开关和测试设备分别相连，控制设备用于获取待测事项，并根据待测事项对多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制测试设备进行测试。

根据本发明实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统，设置有多个射频测试通路、多个射频开关和控制设备，其中多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连，多个射频开关设于多个射频测试通路中，用于控制多个射频测试通路的导通与断开，控制设备与多个射频开关和测试设备分别相连，用于获取待测事项，并根据待测事项对多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制测试设备进行测试。该系统中集成有多个射频测试通路，且多个射频测试通路中设置有多个射频开关，在测试过程中，通过控制设备对多个射频测试开关进行控制以选择相应的射频测试通路，并对测试设备进行控制，以实现对待测设备中射频电路的不同测试类型的自动化测试，测试效率高，且所有测试均处于同一测试环境，测试准确度高，有效避免了手动测试存在的测试效率低、测试准确度不高的问题。

另外，根据本发明上述实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统，还可以具有如下的附加技术特征：

根据本发明的一个实施例，多个射频测试通路包括：谐波测试通路、杂散测试通路、LTE与WiFi共存测试通路、LTE与GPS共存测试通路中的多种。

根据本发明的一个实施例，谐波测试通路包括：第一滤波器，第一滤波器的一端依次通过第一射频开关、第一耦合器与待测设备相连通，第一滤波器的另一端通过第二射频开关与测试设备中的信号测试仪相连通，第一耦合器还通过第三射频开关与测试设备中的原始信号源相连通。

根据本发明的一个实施例，杂散测试通路包括：第二滤波器，第二滤波器的一端依次通过第一射频开关、第一耦合器与待测设备相连通，第二滤波器的另一端通过第二射频开关与信号测试仪相连通，第一耦合器还通过第三射频开关与测试设备中的原始信号源相连通。

根据本发明的一个实施例，第一滤波器和第二滤波器均包括多个。

根据本发明的一个实施例，LTE与WiFi共存测试通路包括：第一合路器，第一合路器的第一输入端通过第三射频开关与原始信号源相连通，第一合路器的第二输入端依次通过第四射频开关、衰减器、第二耦合器与测试设备中的第一干扰源相连通，第一合路器的输出端依次通过第一射频开关、第一耦合器与待测设备相连通。

根据本发明的一个实施例，LTE与GPS共存测试通路包括：第二合路器，第二合路器的第一输入端通过第三射频开关与原始信号源相连通，第二合路器的第二输入端依次通过第四射频开关、衰减器、第二耦合器与第一干扰源相连通；第三合路器，第三合路器的第一输入端与第二合路器的输出端相连通，第三合路器的第二输入端与测试设备中的第二干扰源相连通，第三合路器的输出端依次通过第一射频开关、第一耦合器与所述待测设备相连通。

根据本发明的一个实施例，第一耦合器和第二耦合器还分别连接有信令连接仪器。

根据本发明的一个实施例，衰减器为可控衰减器，其中，控制设备还与可控衰减器相连，用于调整可控衰减器的衰减量。

附图说明

图1为根据本发明一个实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统的结构示意图；

图2为根据本发明一个实施例的谐波测试通路的结构示意图；

图3为根据本发明一个实施例的杂散测试通路的结构示意图；

图4为根据本发明一个实施例的LTE与WiFi共存测试通路的结构示意图；

图5为根据本发明一个实施例的LTE与GPS共存测试通路的结构示意图；

图6为根据本发明一个具体示例的终端设备中射频电路的自动化测试系统的结构示意图；

图7为根据本发明一个具体示例的终端设备中射频电路的自动化测试过程示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参考附图描述本发明实施例提出的终端设备中射频电路的自动化测试系统。

图1为根据本发明一个实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统的结构示意图。参考图1所示，该终端设备中射频电路的自动化测试系统可包括：多个射频测试通路10、多个射频开关20、测试设备30和控制设备(图中未具体示出)。

其中，多个射频测试通路10中的每个射频测试通路(如射频测试通路11、射频测试通路12、…、射频测试通路1M)的两端分别与待测设备和测试设备30相连；多个射频开关20(如射频开关21、…、射频开关2N)设于多个射频测试通路10中，用于控制多个射频测试通路10的导通与断开；控制设备与多个射频开关20和测试设备30分别相连，控制设备用于获取待测事项，并根据待测事项对多个射频开关20进行控制以选择相应的射频测试通路(如射频测试通路11或者射频测试通路12等)导通，以及控制测试设备30进行测试。

具体来说，参考图1所示，多个射频测试通路10中的每个射频测试通路对应一种待测事项，即每个待测事项对应一个射频测试通路，例如谐波测试对应射频测试通路11、杂散测试对应射频测试通路12、共存测试对应射频测试通路1M等，并且每个射频测试通路均可由射频开关进行控制，例如图1中的所有射频测试通路均由射频开关21和射频开关2N进行控制，以通过射频开关选择相应的射频测试通路处于导通状态，进而实现相应待测事项的测试。

在进行测试时，可预先将所有待测事项进行排序并存储至控制设备中，然后由控制设备按照预设顺序对多个射频开关20进行控制，以完成相应的测试。例如，首先进行谐波测试，此时控制设备通过控制射频开关21和射频开关2N进行开关切换，以使测试设备30、射频测试通路11和待测设备处于通路状态，然后控制测试设备30进行测试，以完成谐波测试，并将测试结果进行存储。接着，进行杂散测试，此时控制设备通过控制射频开关21和射频开关2N进行开关切换，以使测试设备30、射频测试通路12和待测设备处于通路状态，然后控制测试设备30进行测试，以完成杂散测试，并将测试结果进行存储。按照上述步骤，可实现对待测设备中射频电路的所有待测事项的自动化测试，整个测试过程中无需针对不同的待测事项重新搭建测试环境或者更换测试用射频器件，而且也无需手动操作测试设备和记录测试数据，测试效率高，且所有测试均处于同一测试环境，测试准确度高，同时由于无需不断更换测试用射频器件，因而有效提高了射频器件的使用寿命。

本实施例中，由于系统中集成有多个射频测试通路，且多个射频测试通路中设置有多个射频开关，在测试过程中，通过控制设备对多个射频测试开关进行控制以选择相应的射频测试通路，并对测试设备进行控制，以实现对待测设备中射频电路的不同测试类型的自动化测试，测试效率高，且所有测试均处于同一测试环境，测试准确度高，有效避免了手动测试存在的测试效率低、测试准确度不高的问题，同时可提高测试用射频器件的使用寿命。

根据本发明的一个实施例，多个射频测试通路10可包括：谐波测试通路、杂散测试通路、LTE与WiFi共存测试通路、LTE与GPS共存测试通路中的多种。

进一步地，根据本发明的一个实施例，参考图2所示，谐波测试通路可包括：第一滤波器，第一滤波器的一端依次通过第一射频开关21、第一耦合器Coupler1与待测设备相连通，第一滤波器的另一端通过第二射频开关22与测试设备30中的信号测试仪31相连通，第一耦合器Coupler1还通过第三射频开关23与测试设备中的原始信号源32相连通。其中，第一滤波器可包括多个。

具体而言，在对终端设备中的射频电路进行测试时，可对LTE、WCDMA或者GSM等Celluar(高速速度网络)进行谐波测试，在测试时，需要抑制主频发射信号并通过谐波杂散信号，以避免主频发射信号对测试结果造成影响，降低测试结果的准确度，因此可在谐波测试通道中设置第一滤波器来滤除主频发射信号。同时，由于LTE、WCDMA或者GSM等往往具有多个主频(多个频段)，而不同主频对应的谐波是不同的，因此需要针对每个主频设置一个第一滤波器，即在谐波测试通道中设置多个第一滤波器，如第一滤波器111、第一滤波器112、…、第一滤波器11k，以满足不同主频下的谐波测试需求。其中，第一滤波器111可对应于低频段信号，第一滤波器112可对应于中/高频段信号，第一滤波器11k可对应于B11或B21这种频段信号。

举例来说，以LTE谐波测试为例。首先进行低频段600MHz的谐波测试，此时控制设备通过控制第一射频开关21、第二射频开关22和第三射频开关23进行开关切换，以使第一滤波器111的两端分别与第一耦合器Coupler1和信号测试仪31相连通，并使第一耦合器Coupler1与原始信号源32相连通。然后，控制原始信号源32发出LTE信号，并控制信号测试仪31进行信号采样，以获得1200MHz和1800MHz的谐波，并对采样结果进行分析和存储，以获得谐波测试结果。接着，进行高频段1800MHz的谐波测试，此时控制设备通过控制第一射频开关21和第二射频开关22进行开关切换，以使第一滤波器112的两端分别与第一耦合器Coupler1和信号测试仪31相连通，然后，控制原始信号源32发出LTE信号，并控制信号测试仪31进行信号采样，以获得3600MHz的谐波，并对采样结果进行分析和存储，以获得谐波测试结果。对于WCDMA和GSM的谐波测试过程与LTE谐波测试过程相类似，这里就不再赘述。

本实施例中，通过在谐波测试通路中设置多个第一滤波器，并通过对相应射频开关进行控制以选择相应的滤波器工作，同时控制信号测试仪进行信号采集，以获得所需的谐波信号并进行分析和存储，实现了谐波的自动化测试，有效解决了采用手动测试时，需要针对不同的频段搭建不同的测试环境，导致测试效率低，射频器件使用寿命低，以及因测试环境改变导致测试不准确的问题。

根据本发明的一个实施例，参考图3所示，杂散测试通路包括：第二滤波器，第二滤波器的一端依次通过第一射频开关21、第一耦合器Coupler1与待测设备相连通，第二滤波器的另一端通过第二射频开关22与信号测试仪31相连通，第一耦合器Coupler1还通过第三射频开关23与测试设备中的原始信号源32相连通。其中，第二滤波器可包括多个。

具体而言，在对终端设备中的射频电路进行测试时，可对GSM进行杂散测试，在测试时，同样需要抑制主频发射信号并通过杂散信号，以及针对不同的频段进行相应的杂散信号测试，因此在杂散测试通路中设置有多个第二滤波器，如第二滤波器121、…、第二滤波器12j，以满足不同频段下的杂散测试需求。其中，第二滤波器可为陷波器，或者数字滤波器等。

举例来说，以GSM杂散测试为例。首先进行频段38的杂散测试，此时控制设备通过控制第一射频开关21、第二射频开关22和第三射频开关23进行开关切换，以使第二滤波器121的两端分别与第一耦合器Coupler1和信号测试仪31相连通，并使第一耦合器Coupler1与原始信号源32相连通。然后，控制原始信号源32发出GSM信号，并控制信号测试仪31进行信号采样，以获得杂散信号，并对采样结果进行分析和存储，以获得杂散测试结果。接着，进行频段40的杂散测试，此时控制设备通过控制第一射频开关21和第二射频开关22进行开关切换，以使第二滤波器12j的两端分别与第一耦合器Coupler1和信号测试仪31相连通，然后，控制原始信号源32发出GSM信号，并控制信号测试仪31进行信号采样，以获得杂散信号，并对采样结果进行分析和存储，以获得杂散测试结果。

本实施例中，通过在杂散测试通路中设置多个第二滤波器，并通过对相应射频开关进行控制以选择相应的滤波器工作，同时控制信号测试仪进行信号采集，以获得所需的杂散信号并进行分析和存储，实现了杂散的自动化测试，有效解决了采用手动测试时，需要针对不同的频段更换不同的滤波器，导致测试效率低，射频器件使用寿命低，以及因测试环境改变导致测试不准确的问题。

根据本发明的一个实施例，参考图4所示，LTE与WiFi共存测试通路可包括：第一合路器Combiner1，第一合路器Combiner1的第一输入端通过第三射频开关23与原始信号源32相连通，第一合路器Combiner1的第二输入端依次通过第四射频开关24、衰减器Attenuator1、第二耦合器Coupler2与测试设备30中的第一干扰源33相连通，第一合路器Combiner1的输出端依次通过第一射频开关21、第一耦合器Coupler1与待测设备相连通。

具体而言，在对终端设备中的射频电路进行测试时，由于LTE部分频段与WiFi的工作频点比较接近，因此还需要确认射频链路LTE与WiFi是否存在共存问题，例如可通过确认两者之间的相互干扰程度来确认是否存在共存问题。在测试时，一般是将干扰信号和原始信号合路送入待测设备，然后根据待测设备接收到的原始信号的情况来确定干扰程度，进而确定是否共存。

在本申请中，可通过图4所示的LTE与WiFi共存测试通路进行LTE与WiFi之间的共存测试，该共存测试可分为两大部分，第一部分是将LTE作为原始信号，将WiFi作为干扰信号，测试LTE射频链路受WiFi的干扰程度；第二部分是将WiFi作为原始信号，将LTE作为干扰信号，测试WiFi射频链路受LTE的干扰程度。下面以WiFi为原始信号、LTE为干扰信号为例进行说明。

参考图4所示，在进行测试时，可由控制设备控制第一射频开关21、第三射频开关23和第四射频开关24进行开关切换，以使第一合路器Combiner1的第一端与原始信号源32形成通路，并使第一合路器Combiner1的第二端与衰减器Attenuator1形成通路，以及使第一合路器Combiner1的输出端与第一耦合器Coupler1形成通路，然后控制原始信号源32发出WiFi原始信号，并控制第一干扰源33发出LTE干扰信号，此时WiFi原始信号和LTE干扰信号经第一合路器Combiner1合路后，送入至待测设备，然后根据待测设备接收到的WiFi原始信号的情况来确定LTE对WiFi射频链路的干扰程度。例如，待测设备在接收到WiFi信号后，可向原始信号源32反馈一个接收结果，根据该结果来确定LTE对WiFi射频链路的干扰程度。

进一步地，在对WiFi原始信号和LTE干扰信号进行合路测试之前，先测试未加入LTE干扰信号之前，待测设备接收到的WiFi原始信号的情况，此时可控制第一干扰源33禁止出LTE干扰信号，以测试无LTE干扰信号情况下待测设备接收到的WiFi原始信号的情况，接着控制第一干扰源33输出LTE干扰信号，测试此时待测设备接收到的WiFi原始信号的情况，进而根据两次测试结果确定LTE对WiFi射频链路的干扰程度，实现LTE与WiFi的共存测试。

进一步地，衰减器Attenuator1为可控衰减器，其中，控制设备还与可控衰减器相连，用于调整可控衰减器的衰减量，以通过改变LTE干扰信号的大小来确定LTE对WiFi射频链路的干扰程度。

对于以LTE为原始信号、WiFi为干扰信号的测试过程，与以WiFi为原始信号、LTE为干扰信号的测试过程相类似，具体这里就不再赘述。

本实施例中，通过在LTE与WiFi共存测试通路中设置第一合路器，并通过对相应射频开关进行控制以使该合路器工作，同时控制原始信号源和第一干扰源工作，以向待测设备发送混合信号，并接收待测设备反馈回来的接收结果，根据该结果自动输出测试结果，从而实现了LTE与WiFi共存的自动化测试，有效解决了采用手动测试时，需要设置或更换合路器以及耦合器，导致测试效率低，射频器件使用寿命低，以及因测试环境改变导致测试不准确的问题。需要说明的是，LTE与WiFi共存测试通路也可以用于阻塞测试。

根据本发明的一个实施例，参考图5所示，LTE与GPS共存测试通路可包括：第二合路器Combiner2和第三合路器Combiner3。其中，第二合路器Combiner2的第一输入端通过第三射频开关23与原始信号源32相连通，第二合路器Combiner2的第二输入端依次通过第四射频开关24、衰减器Attenuator1、第二耦合器Coupler2与第一干扰源33相连通；第三合路器Combiner3的第一输入端与第二合路器Combiner2的输出端相连通，第三合路器Combiner3的第二输入端与测试设备30中的第二干扰源34相连通，第三合路器Combiner3的输出端依次通过第一射频开关21、第一耦合器Coupler1与待测设备相连通。

具体而言，LTE与GPS共存测试的原理与LTE与WiFi共存测试的原理相似，区别在于，LTE与GPS共存测试还需要增加一路单音信号，在进行测试时，可由第二干扰源34输出单音信号并进行合路，以进行LTE与GPS共存测试。

具体地，可通过图5所示的LTE与GPS共存测试通路进行LTE与GPS之间的共存测试，该共存测试主要是将GPS作为原始信号，将LTE作为干扰信号，测试GPS射频链路受LTE的干扰程度。

具体而言，参考图5所示，在进行测试时，可由控制设备控制第一射频开关21、第三射频开关23和第四射频开关24进行开关切换，以使第二合路器Combiner2的第一端与原始信号源32形成通路，并使第二合路器Combiner2的第二端与衰减器Attenuator1形成通路，以及使第三合路器Combiner3的输出端与第一耦合器Coupler1形成通路，然后控制原始信号源32发出GPS原始信号，并控制第一干扰源33发出LTE干扰信号，以及控制第二干扰源34发出单音信号，此时GPS原始信号、LTE干扰信号和单音信号经第二合路器Combiner2和第三合路器Combiner3合路后，送入至待测设备，然后根据待测设备接收到的GPS原始信号的情况来确定LTE对GPS射频链路的干扰程度。例如，待测设备在接收到GPS信号后，可向原始信号源32反馈一个接收结果，根据该结果来确定LTE对GPS射频链路的干扰程度。

进一步地，在对GPS原始信号、LTE干扰信号和单音信号进行合路测试之前，先测试未加入LTE干扰信号和单音信号之前，待测设备接收到的GPS原始信号的情况，并以此为基础确定LTE对GPS射频链路的干扰程度，有效提高了测试准确度。例如，先控制第一干扰源33和第二干扰源34禁止输出LTE干扰信号和单音信号，以测试无LTE干扰信号和单音信号情况下待测设备接收到的GPS原始信号的情况，接着，控制第一干扰源33和第二干扰源34输出LTE干扰信号和单音信号，测试此时待测设备接收到的GPS原始信号的情况，进而根据两次测试结果确定LTE对GPS射频链路的干扰程度，实现LTE与GPS的共存测试。

进一步地，衰减器Attenuator1为可控衰减器，其中，控制设备还与可控衰减器相连，用于调整可控衰减器的衰减量，以通过改变LTE干扰信号的大小来确定LTE对GPS射频链路的干扰程度。

本实施例中，通过在LTE与GPS共存测试通路中设置第二合路器和第三合路器，并通过对相应射频开关进行控制以使这两个合路器工作，同时控制原始信号源、第一干扰源和第二干扰源工作，以向待测设备发送混合信号，并接收待测设备反馈回来的接收结果，根据该结果自动输出测试结果，从而实现了LTE与GPS共存的自动化测试，有效解决了采用手动测试时，需要设置或更换合路器以及耦合器，导致测试效率低，射频器件使用寿命低，以及因测试环境改变导致测试不准确的问题。

根据本发明的一个实施例，第一耦合器Coupler1和第二耦合器Coupler2还分别连接有信令连接仪器。其中，第一耦合器Coupler1主要用于谐波、杂散测试时的信号耦合、以及与原始信号源32进行通信的作用；第二耦合器Coupler2主要用于共存测试时与第一干扰源33进行通信的作用。

图6为根据本发明一个具体示例的终端设备中射频电路的自动化测试系统的结构示意图。参考图6所示，该终端设备中射频电路的自动化测试系统包括谐波测试通路、杂散测试通路、LTE与WiFi共存测试通路和LTE与GPS共存测试通路，并且通过频谱仪实现信号测试仪31的功能，通过干扰信号源(如LTE模块或WiFi模块)实现第一干扰源33的功能，通过单音信号发生器实现第二干扰源34的功能，以及通过综测仪实现原始信号源32的功能，同时可由控制设备按照图7所示测试过程进行测试。

具体来说，控制设备可先判断当前测试用例属于哪一种，即判断测试类型，如果是谐波测试，则打开谐波测试通路，并控制相应仪器进行测试和记录；如果是杂散测试，则打开杂散测试通路，并控制相应仪器进行测试和记录；如果是共存测试，则打开共存测试通路，并不断调整可控衰减器的衰减量来确认测试结果，同时控制相应仪器进行测试和记录。

其中，在进行谐波测试时，例如进行LTE/WCDMA/GSM等的谐波测试，可控制第一射频开关21和第二射频开关22切换至对应的高通滤波器链路上，同时控制第三射频开关23打到第一耦合器Coupler1上，其中对于低频段信号(如GSM850/GSM900)，可控制射频开关切换至高通滤波器1上；对于中/高频段信号(如GSM1800/GSM1900)，可控制射频开关切换至高通滤波器2上；对于B11/B21这种频段信号，可控制射频开关切换至高通滤波器3上。然后，控制综测仪输出信号，并控制频谱仪进行测试，此时综测仪发出信号至待测设备，从待测设备出来的一部分信号依次通过第一耦合器Coupler1、衰减器(固定衰减器，可省略)和第一射频开关21，到达对应的高通滤波器上，由高通滤波器滤除主频发射信号，得到二次谐波、三次谐波等，并通过第二射频开关22到达频谱仪，通过频谱仪进行测试、显示和记录测试数据等。

在进行杂散测试时，例如进行GSM杂散测试，可控制第一射频开关21和第二射频开关22切换至对应的数字滤波器链路上，例如对于38频段，可控制射频开关切换至数字滤波器1上；对于40频段，可控制射频开关切换至数字滤波器2上，同时控制第三射频开关23打到第一耦合器Coupler1上。然后，控制综测仪输出GSM信号，并控制频谱仪进行测试，此时综测仪发出GSM信号至待测设备，从待测设备出来的一部分信号依次通过第一耦合器Coupler1、衰减器和第一射频开关21，到达对应的数字滤波器上，由数字滤波器滤除对应频段的主频，得到GSM杂散信号，再通过第二射频开关22到达频谱仪，通过频谱仪进行测试、显示和记录测试数据等。

在进行LTE与WiFi共存测试时，可先以WiFi为原始信号、LTE为干扰信号进行共存测试，再以LTE为原始信号、WiFi为干扰信号进行共存测试。其中，当以WiFi为原始信号、LTE为干扰信号进行共存测试时，可控制第一射频开关21、第三射频开关23和第四射频开关24切换至对应的合路器上，并控制综测仪输出WiFi原始信号，以及控制干扰信号源如LTE模块输出LTE干扰信号，此时WiFi原始信号通过综测仪发出，经过第三射频开关23后，到达第一合路器Combiner1的第一端口，同时LTE干扰信号从干扰信号源如LTE模块发出，依次经过第二射频开关22、第二耦合器Coupler2、可控衰减器、第四射频开关24后，到达第一合路器Combiner1的第二端口，经第一合路器Combiner1合路后形成混合信号输出，该混合信号依次经过第一射频开关21、衰减器、第一耦合器Coupler1到达待测设备，然后通过不断调整可控衰减器的衰减量来确认干扰信号为多大时不会对原始信号造成影响。对于以LTE为原始信号、WiFi为干扰信号进行共存测试的过程，这里不再赘述。

在进行LTE与GPS共存测试时，以GPS为原始信号、LTE为干扰信号进行共存测试，此时，可控制第一射频开关21、第三射频开关23和第四射频开关24切换至对应的合路器上，并控制综测仪输出GPS原始信号，以及控制干扰信号源如LTE模块输出LTE干扰信号，此时GPS原始信号通过综测仪发出，经过第三射频开关23后，到达第二合路器Combiner2的第一端口，同时LTE干扰信号从干扰信号源如LTE模块发出，依次经过第二射频开关22、第二耦合器Coupler2、可控衰减器、第四射频开关24后，到达第二合路器Combiner2的第二端口，经第二合路器Combiner2合路后形成混合信号输出至第三合路器Combiner3的第一端口，同时单音信号通过单音信号发生器发出到达第三合路器Combiner3的第二端口，经第三合路器Combiner3合路后形成混合信号输出，该混合信号依次经过第一射频开关21、衰减器、第一耦合器Coupler1到达待测设备，然后通过控制单音信号发生器，并不断调整可控衰减器的衰减量来确认干扰信号为多大时会对原始信号不会造成影响。需要说明的是，在该示例中，控制设备可依次通过PLC控制器和继电器与多个射频开关相连，同时通过信号线与可控衰减器、频谱仪、综测仪、干扰信号源以及单音信号发生器相连，以根据控制程序对这些设备进行控制，实现射频自动化测试，大大提高了测试效率、测试准确度以及射频器件的使用寿命。

综上所述，根据本发明实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统，通过对多个射频测试通路集成设置，并通过控制设备对多个射频开关进行控制，以选择相应的射频测试通路导通，同时控制相应的测试设备进行测试和记录测试数据，实现了射频自动化测试，有效提高了测试效率、测试准确度以及射频器件的使用寿命，具有很高的应用价值。

需要说明的是，在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (7)

1.一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，包括：

多个射频测试通路，所述多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连；

多个射频开关，所述多个射频开关设于所述多个射频测试通路中，用于控制所述多个射频测试通路的导通与断开；

控制设备，所述控制设备与所述多个射频开关和所述测试设备分别相连，所述控制设备用于获取待测事项，并根据所述待测事项对所述多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制所述测试设备进行测试；

所述多个射频测试通路包括：谐波测试通路、杂散测试通路、LTE与WiFi共存测试通路、LTE与GPS共存测试通路中的多种；

所述LTE与WiFi共存测试通路包括：第一合路器，所述第一合路器的第一输入端通过第三射频开关与原始信号源相连通，所述第一合路器的第二输入端依次通过第四射频开关、衰减器、第二耦合器与所述测试设备中的第一干扰源相连通，所述第一合路器的输出端依次通过第一射频开关、第一耦合器与所述待测设备相连通。

2.根据权利要求1所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述谐波测试通路包括：第一滤波器，所述第一滤波器的一端依次通过所述第一射频开关、所述第一耦合器与所述待测设备相连通，所述第一滤波器的另一端通过第二射频开关与所述测试设备中的信号测试仪相连通，所述第一耦合器还通过所述第三射频开关与所述测试设备中的原始信号源相连通。

3.根据权利要求2所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述杂散测试通路包括：第二滤波器，所述第二滤波器的一端依次通过所述第一射频开关、所述第一耦合器与所述待测设备相连通，所述第二滤波器的另一端通过所述第二射频开关与所述信号测试仪相连通，所述第一耦合器还通过所述第三射频开关与所述原始信号源相连通。

4.根据权利要求3所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述第一滤波器和所述第二滤波器均包括多个。

5.根据权利要求4所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述LTE与GPS共存测试通路包括：

第二合路器，所述第二合路器的第一输入端通过所述第三射频开关与所述原始信号源相连通，所述第二合路器的第二输入端依次通过所述第四射频开关、所述衰减器、所述第二耦合器与所述第一干扰源相连通；

第三合路器，所述第三合路器的第一输入端与所述第二合路器的输出端相连通，所述第三合路器的第二输入端与所述测试设备中的第二干扰源相连通，所述第三合路器的输出端依次通过所述第一射频开关、所述第一耦合器与所述待测设备相连通。

6.根据权利要求5所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述第一耦合器和所述第二耦合器还分别连接有信令连接仪器。

7.根据权利要求5-6中任一项所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述衰减器为可控衰减器，其中，所述控制设备还与所述可控衰减器相连，用于调整所述可控衰减器的衰减量。

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