CN110007494A - 双边走线显示面板的测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

一种双边走线显示面板的测试系统及方法，该系统包括相互连接的双边走线显示面板及测试装置，测试装置包括相互连接的测试模块及测试单元，测试单元包括第一信号线、第二信号线、第三信号线、第一测试线、第二测试线、第三测试线、第四测试线，第一测试线和第三测试线位于双边走线显示面板的一侧，测试模块具有第一信号输出端、第二信号输出端、第三信号输出端、第四信号输出端及第五信号输出端，第一信号输出端与第一信号线连接，第二信号输出端与第二信号线连接，第三信号输出端与第三信号线连接，第四信号输出端分别与第一测试线和第三测试线连接，第五信号输出端分别与第二测试线和第四测试线连接。上述系统和方法，能够降低缺陷分析难度。

Description

双边走线显示面板的测试系统及方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种双边走线显示面板的测试系统及方法。

背景技术

近年来，LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)得到了蓬勃发展，LCD TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)的类型也与日俱增，同类型产品的驱动方式、线路设计方案也日趋多样化。其中Dual Gate(双栅)结构，尽可能的减少了Source(数据)线的数量，同时降低了IC(芯片)的成本。因为减少了遮光矩阵的面积，该类型产品结构的透过率更优、开口率更高，并且，单根信号线同时驱动两个像素电极，也可以实现较高的解析度。

Dual Gate显示面板的电路设计一般会根据面板尺寸的不同，会有不同的走线设计，在显示面板的两侧都出Pin的方式的显示面板称为双边走线显示面板。现有针对双边走线显示面板的测试，只能对显示面板的各个像素单元混合点亮测试，无法单独对一种颜色的子像素进行单独点亮测试，增加了缺陷分析难度。

发明内容

基于此，有必要针对现有针对双边走线双栅极显示面板的测试，只能对显示面板的各个像素单元混合点亮测试，无法单独对一种颜色的子像素进行单独点亮测试，增加了缺陷分析难度的问题，提供一种显示面板的测试方法及系统。

一种双边走线显示面板的测试系统，包括相互连接的双边走线显示面板及测试装置；

所述双边走线显示面板包括多个呈矩阵设置的子像素组，每一所述子像素组包括多个子像素单元，每一所述子像素组内的子像素单元呈四行六列的阵列设置；

所述测试装置包括相互连接的测试模块及测试单元，所述测试单元包括第一信号线、第二信号线、第三信号线、第一测试线、第二测试线、第三测试线、第四测试线，其中，所述第一测试线和所述第三测试线位于所述双边走线显示面板的一侧，所述第二测试线和所述第四测试线位于所述双边走线显示面板的另一侧；

所述第一信号线分别与各所述子像素组中的第一列以及第二列的子像素单元连接，所述第二信号线分别与各所述子像素组中的第三列以及第四列的子像素单元连接，所述第三信号线分别与各所述子像素组中的第五列以及第六列的子像素单元连接；所述第一测试线与各所述子像素组中的第一行奇数列以及第二行奇数列的子像素单元连接，所述第二测试线与各所述子像素组中的第一行偶数列以及第二行偶数列的子像素单元连接，所述第三测试线与各所述子像素组中的第三行奇数列以及第四行奇数列的子像素单元连接，所述第四测试线与各所述子像素组中的第三行偶数列以及第四行偶数列的子像素单元连接；

所述测试模块具有第一信号输出端、第二信号输出端、第三信号输出端、第四信号输出端及第五信号输出端，所述第一信号输出端与所述第一信号线连接，所述第二信号输出端与所述第二信号线连接，所述第三信号输出端与所述第三信号线连接，所述第四信号输出端分别与所述第一测试线和所述第三测试线连接，所述第五信号输出端分别与所述第二测试线和所述第四测试线连接。

在其中一个实施例中，所述双边走线显示面板还包括第一焊盘、第二焊盘、第三焊盘和第四焊盘，其中，所述第一焊盘和所述第三焊盘位于所述双边走线显示面板的一侧，所述第二焊盘和所述第四焊盘位于所述双边走线显示面板的另一侧，所述第一测试线与所述第一焊盘连接，所述第二测试线与所述第二焊盘连接，所述第三测试线与所述第三焊盘连接，所述第四测试线与所述第四焊盘连接。

在其中一个实施例中，所述子像素组还包括第一扫描线、第二扫描线、第三扫描线、第四扫描线、第五扫描线、第六扫描线、第七扫描线和第八扫描线；

所述第一测试线通过各所述子像素组中的第一扫描线与各所述子像素组中的第一行奇数列的子像素单元连接，所述第一测试线通过各所述子像素组中的第三扫描线与各所述子像素组中的第二行奇数列的子像素单元连接；

所述第二测试线通过各所述子像素组中的第二扫描线与各所述子像素组中的第一行偶数列的子像素单元连接，所述第二测试线通过各所述子像素组中的第四扫描线与各所述子像素组中的第二行偶数列的子像素单元连接；

所述第三测试线通过各所述子像素组中的第五扫描线与各所述子像素组中的第三行奇数列的子像素单元连接，所述第三测试线通过各所述子像素组中的第七扫描线与各所述子像素组中的第四行奇数列的子像素单元连接；

所述第四测试线通过各所述子像素组中的第六扫描线与各所述子像素组中的第三行偶数列的子像素单元连接，所述第四测试线通过各所述子像素组中的第八扫描线与各所述子像素组中的第四行偶数列的子像素单元连接。

在其中一个实施例中，所述子像素组还包括第一数据线、第二数据线和第三数据线；

所述第一信号线通过各所述子像素组的第一数据线分别与各所述子像素组中的第一列以及第二列的子像素单元连接，所述第二信号线通过各所述子像素组的第二数据线分别与各所述子像素组中的第三列以及第四列的子像素单元连接，所述第三信号线通过各所述子像素组的第三数据线分别与各所述子像素组中的第五列以及第六列的子像素单元连接。

上述双边走线显示面板的测试系统，与传统的双边走线显示面板的测试系统相比，传统的双边走线显示面板的测试系统，测试单元在双边走线显示面板的两侧都设置有走线，传统的测试系统将两侧的走线混合在一起提供信号，只能对双边走线显示面板的各个像素单元混合点亮测试，而上述双边走线显示面板的测试系统，通过分别在双边走线显示面的一侧设置第一测试线和第三测试线，并将第一测试线与各子像素组中的第一行奇数列以及第二行奇数列的子像素单元连接、第三测试线与各子像素组中的第三行奇数列以及第四行奇数列的子像素单元连接，而在双边走线显示面的另一侧设置第二测试线和第四测试线，并将第二测试线与各子像素组中的第一行偶数列以及第二行偶数列的子像素单元连接、第四测试线与各子像素组中的第三行偶数列以及第四行偶数列的子像素单元连接，使得测试模块可通过第四信号输出端给第一测试线和第三测试线单独提供一测试信号，通过第五信号输出端给第二测试线和第四测试线单独提供另一测试信号，从而使得奇数列的子像素单元可以和偶数列的子像素单元分开控制；而由于每两列子像素单元就分别由第一信号线、第二信号线和第三信号线通过第一信号输出端、第二信号输出端和第三信号输出端单独提供一测试信号，即每两列子像素单元分别单独控制，从而使得每一列子像素单元能够分别由一测试线和一扫描线通过两个信号输出端单独控制，使得双边走线显示面板的各个子像素单元能够单独点亮测试，进而使得双边走线显示面板能够单独对一种颜色的子像素单元进行单独点亮测试，降低缺陷分析难度，提高不良品分析的效率。

一种双边走线显示面板的测试方法，应用于如上任一实施例所述的双边走线显示面板的测试系统，用于对所述双边走线显示面板进行测试，所述方法包括：

在第一时序中，向所述第一测试线以及所述第三测试线提供第一测试信号，并向所述第二测试线以及所述第四测试线提供第二测试信号；

在第二时序中，向所述第一测试线以及所述第三测试线提供第二测试信号，并向所述第二测试线以及所述第四测试线提供第一测试信号；

其中，所述第一测试信号和所述第二测试信号中的其中一个为所述子像素单元的晶体管开关的导通信号，另一个为所述子像素单元的晶体管开关的截止信号。

在其中一个实施例中，所述第一测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的导通信号，所述第二测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的截止信号。

在其中一个实施例中，各所述子像素组中的第一列和第四列的子像素单元具有第一颜色，各所述子像素组中的第二列和第五列的子像素单元具有第二颜色，各所述子像素组中的第三列和第六列的子像素单元具有第三颜色。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

在第一时序中，向所述第一信号线提供第三测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

在第二时序中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第三测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

在第一时序中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第三测试信号；

在第二时序中，向所述第一信号线提供第三测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

在第一时序中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第三测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

在第二时序中，向所述第二信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第三测试信号；

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。

上述双边走线显示面板的测试方法，在第一时序中通过控制与第一测试线和第三测试线连接的奇数列的子像素单元或与第二测试线和第四测试线连接的偶数列的子像素单元中的其中一种导通，另一种截止，使得奇数列的子像素单元和偶数列的子像素单元在同一时间晶体管的开关状态不同，即每相邻两列的子像素单元的晶体管的开关状态不同；再通过控制与第一信号线、第二信号线和第三信号线连接的各个子像素单元的各种不同状态，使得双边走线显示面板的各个子像素单元能够单独点亮测试，进而使得双边走线显示面板能够单独对一种颜色的子像素单元进行单独点亮测试，降低缺陷分析难度，提高不良品分析的效率。

附图说明

图1为一实施例的双边走线显示面板的测试系统中双边走线显示面板和测试单元的示意图；

图2为一实施例的双边走线显示面板的测试系统中测试模块的示意图；

图3为一实施例的双边走线显示面板的测试方法的流程图；

图4为一实施例的第一测试线和第三测试线接收的测试信号VGO以及第二测试线和第四测试线接收的测试信号VGE的时序图；

图5为一实施例的第一信号线接收的测试信号V1、第二信号线接收的测试信号V2以及第三信号线接收的测试信号V3的时序图；

图6为另一实施例的第一信号线接收的测试信号V1、第二信号线接收的测试信号V2以及第三信号线接收的测试信号V3的时序图；

图7为又一实施例的第一信号线接收的测试信号V1、第二信号线接收的测试信号V2以及第三信号线接收的测试信号V3的时序图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。并且，本发明中的“上方”和“下方”仅表示相对位置，并不表示绝对位置。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在一实施例中，本申请提供一种双边走线显示面板的测试系统，如图1和图2所示，该双边走线显示面板的测试系统包括相互连接的双边走线显示面板及测试装置；所述双边走线显示面板包括多个呈矩阵设置的子像素组210，每一所述子像素组210包括多个子像素单元，每一所述子像素组210内的子像素单元呈四行六列的阵列设置；所述测试装置包括相互连接的测试模块200及测试单元，所述测试单元包括第一信号线110、第二信号线120、第三信号线130、第一测试线140、第二测试线150、第三测试线160、第四测试线170，其中，所述第一测试线140和所述第三测试线160位于所述双边走线显示面板的一侧，所述第二测试线150和所述第四测试线170位于所述双边走线显示面板的另一侧；所述第一信号线110分别与各所述子像素组210中的第一列以及第二列的子像素单元连接，所述第二信号线120分别与各所述子像素组210中的第三列以及第四列的子像素单元连接，所述第三信号线130分别与各所述子像素组210中的第五列以及第六列的子像素单元连接；所述第一测试线140与各所述子像素组210中的第一行奇数列以及第二行奇数列的子像素单元连接，所述第二测试线150与各所述子像素组210中的第一行偶数列以及第二行偶数列的子像素单元连接，所述第三测试线160与各所述子像素组210中的第三行奇数列以及第四行奇数列的子像素单元连接，所述第四测试线170与各所述子像素组210中的第三行偶数列以及第四行偶数列的子像素单元连接；所述测试模块200具有第一信号输出端21、第二信号输出端22、第三信号输出端23、第四信号输出端24及第五信号输出端25，所述第一信号输出端21与所述第一信号线110连接，所述第二信号输出端22与所述第二信号线120连接，所述第三信号输出端23与所述第三信号线130连接，所述第四信号输出端24分别与所述第一测试线140和所述第三测试线160连接，所述第五信号输出端25分别与所述第二测试线150和所述第四测试线170连接。

在本申请中，各个测试线用于连接测试模块以提供测试信号给子像素单元。本申请中，每一子像素组包括四行六列呈矩阵排列的子像素单元，即双边走线显示面板由多个四行六列呈矩阵排列的子像素单元，每一子像素组的排列方式以及与测试单元及测试模块的连接方式均相同。

上述双边走线显示面板的测试系统，与传统的双边走线显示面板的测试系统相比，传统的双边走线显示面板的测试系统，测试单元在双边走线显示面板在双边走线显示面板的两侧都设置有走线，传统的测试系统将两侧的走线混合在一起提供信号，只能对双边走线显示面板的各个像素单元混合点亮测试，而上述双边走线显示面板的测试系统，通过分别在双边走线显示面板的一侧设置第一测试线140和第三测试线160，并将第一测试线140与各子像素组210中的第一行奇数列以及第二行奇数列的子像素单元连接、第三测试线160与各子像素组210中的第三行奇数列以及第四行奇数列的子像素单元连接，而在双边走线显示面板的另一侧设置第二测试线150和第四测试线170，并将第二测试线150与各子像素组210中的第一行偶数列以及第二行偶数列的子像素单元连接、第四测试线170与各子像素组210中的第三行偶数列以及第四行偶数列的子像素单元连接，使得测试模块20可通过第四信号输出端24给第一测试线140和第三测试线160单独提供一测试信号，通过第五信号输出端25给第二测试线150和第四测试线170单独提供另一测试信号，从而使得奇数列的子像素单元可以和偶数列的子像素单元分开控制；而由于每两列子像素单元就分别由第一信号线110、第二信号线120和第三信号线130通过第一信号输出端21、第二信号输出端22和第三信号输出端23单独提供一测试信号，即每两列子像素单元分别单独控制，从而使得每一列子像素单元能够分别由一测试线和一扫描线通过两个信号输出端单独控制，使得双边走线显示面板的各个子像素单元能够单独点亮测试，进而使得显示面板200能够单独对一种颜色的子像素单元进行单独点亮测试，降低缺陷分析难度，提高不良品分析的效率。

在其中一个实施例中，所述测试模块为测试仪，所述测试单元为电测架，所述测试仪的信号输出端对应与电测架上的测试线和信号线连接并分别给测试线和信号线提供信号。

在一实施例中，测试模块用于提供测试信号给双边走线显示面板，以使双边走线显示面板按预设画面进行显示。在一实施例中，测试单元用于连接测试模块及双边走线显示面板，以使测试模块能够对双边走线显示面板进行测试，双边走线显示面板用于按预设画面进行显示。在一实施例中，每相邻三个子像素单元为一个像素。在一实施例中，各所述子像素组中的第一列和第四列的子像素单元具有第一颜色，各所述子像素组中的第二列和第五列的子像素单元具有第二颜色，各所述子像素组中的第三列和第六列的子像素单元具有第三颜色。在一实施例中，所述第一颜色、第二颜色和第三颜色分别一一对应红色、绿色和蓝色中的一种。在一实施例中，所述第一颜色为红色，所述第二颜色为绿色，所述第三颜色为蓝色。在一实施例中，所述像素包括三个子像素单元，分别为红色子像素单元、绿色子像素单元和蓝色子像素单元。

在一实施例中，该双边走线显示面板用于液晶显示器。在一实施例中，该液晶显示器为TN型液晶显示器，TN型液晶显示器的显示模式是向列相液晶在显示屏内形成一个90°扭曲配向结构，上下电极施加电压后，液晶分子扭曲结构消失，旋光现象也随之消失，即像素电极的开关为开态时，该像素为暗，关态时为亮。

在一实施例中，各子像素单元包括扫描线、数据线、相互连接的晶体管开关及像素电极，扫描线与晶体管开关的控制极连接，数据线与晶体管开关的第一极连接，像素电极与晶体管开关的第二极连接。这样，通过扫描线接收信号控制子像素单元的晶体管开关的截止或导通，通过数据线接收信号在晶体管开关导通的情况下控制子像素单元的像素电极的充电状态，从而控制子像素单元的状态，当给像素电极充电时，子像素单元为暗态，当不给像素电极充电时，子像素单元为亮态。在一实施例中，当晶体管开关导通时，通过控制数据线接收信号控制晶体管开关的第一极来控制是否给像素电极充电。在一实施例中，当扫描线接收的信号电压使得晶体管开关导通时，并在数据线接收的信号电压与双边走线显示面板的液晶分子偏转的参考电压Vcom具有较大差值时，像素电极为充电状态。在一实施例中，参考电压Vcom为5V，扫描线接收的信号电压为0V，使得像素电极为充电状态。

为了便于测试单元与测试模块连接，在其中一个实施例中，如图1所示，所述测试单元还包括第一焊盘340、第二焊盘350、第三焊盘360和第四焊盘370，其中，所述第一焊盘340和所述第三焊盘360位于所述双边走线显示面板的一侧，所述第二焊盘350和所述第四焊盘360位于所述双边走线显示面板的另一侧，所述第一测试线140与所述第一焊盘340连接，所述第二测试线150与所述第二焊盘350连接，所述第三测试线160与所述第三焊盘360连接，所述第四测试线170与所述第四焊盘370连接。通过在测试单元设置第一焊盘340、第二焊盘350、第三焊盘360和第四焊盘370，使得测试模块通过焊盘与测试单元连接，便于测试单元与测试模块连接。

在一实施例中，所述第一焊盘和所述第三焊盘与所述第一测试线和所述第三测试线均位于所述双边走线显示面板的同一侧，所述第二焊盘和所述第四焊盘与所述第二测试线和所述第四测试线均位于所述双边走线显示面板的另一侧。

为了方便测试线与子像素单元连接，在其中一个实施例中，如图1所示，所述子像素组210还包括第一扫描线G1、第二扫描线G2、第三扫描线G3、第四扫描线G4、第五扫描线G5、第六扫描线G6、第七扫描线G7和第八扫描线G8；其中，所述第一测试线140与所述第一扫描线G1以及所述第三扫描线G3连接，所述第二测试线150与所述第二扫描线G2以及所述第四扫描线G4连接，所述第三测试线160与所述第五扫描线G5以及所述第七扫描线G7连接，所述第四测试线140与所述第六扫描线G6以及所述第八扫描线G8连接，所述第一测试线140通过各所述子像素组210中的第一扫描线G1与各所述子像素组210中的第一行奇数列的子像素单元连接，所述第一测试线140通过各所述子像素组210中的第三扫描线G3与各所述子像素组210中的第二行奇数列的子像素单元连接；所述第二测试线150通过各所述子像素组210中的第二扫描线G2与各所述子像素组210中的第一行偶数列的子像素单元连接，所述第二测试线150通过各所述子像素组210中的第四扫描线G4与各所述子像素组210中的第二行偶数列的子像素单元连接；所述第三测试线160通过各所述子像素组210中的第五扫描线G5与各所述子像素组210中的第三行奇数列的子像素单元连接，所述第三测试线160通过各所述子像素组210中的第七扫描线G7与各所述子像素组210中的第四行奇数列的子像素单元连接；所述第四测试线170通过各所述子像素组210中的第六扫描线G6与各所述子像素组210中的第三行偶数列的子像素单元连接，所述第四测试线170通过各所述子像素组210中的第八扫描线G8与各所述子像素组210中的第四行偶数列的子像素单元连接。

即各所述子像素组210中的第一扫描线G1与各所述子像素组210中的第一行奇数列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第三扫描线G3与各所述子像素组210中的第二行奇数列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第五扫描线G5与各所述子像素组210中的第三行奇数列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第七扫描线G7与各所述子像素组210中的第三行奇数列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第二扫描线G2与各所述子像素组210中的第一行偶数列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第四扫描线G4与各所述子像素组210中的第二行偶数列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第六扫描线G6与各所述子像素组210中的第三行偶数列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第八扫描线G8与各所述子像素组210中的第三行偶数列的子像素单元均连接。

本实施例中，各个测试线通过各行的扫描线与相应的子像素单元连接，方便测试线与子像素单元连接。

为了方便数据线与子像素单元连接，在其中一个实施例中，如图1所示，所述子像素组210还包括第一数据线SD1、第二数据线SD2和第三数据线SD3；其中，所述第一信号线110与所述第一数据线SD1连接，所述第二信号线120与所述第二数据线SD2连接，所述第三信号线130与所述第三数据线SD2连接，所述第一信号线110通过各所述子像素组210的第一数据线SD1分别与各所述子像素组210中的第一列以及第二列的子像素单元连接，所述第二信号线120通过各所述子像素组210的第二数据线SD2分别与各所述子像素组210中的第三列以及第四列的子像素单元连接，所述第三信号线130通过各所述子像素组210的第三数据线SD3分别与各所述子像素组210中的第五列以及第六列的子像素单元连接。

即各所述子像素组210中的第一数据线SD1与各所述子像素组210中的第一列以及第二列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第二数据线SD2与各所述子像素组210中的第三列以及第四列的子像素单元均连接，各所述子像素组210中的第三数据线SD3与各所述子像素组210中的第五列以及第六列的子像素单元均连接。

本实施例中，各个信号线通过各列的数据线与相应的子像素单元连接，方便信号线与子像素单元连接。在一实施例中，本申请还提供一种双边走线显示面板的测试方法，该双边走线显示面板的测试方法，应用于如上任一实施例所述的双边走线显示面板的测试系统，用于对所述双边走线显示面板进行测试，如图3所示，所述方法包括：

S110：在第一时序中，向所述第一测试线以及所述第三测试线提供第一测试信号，并向所述第二测试线以及所述第四测试线提供第二测试信号；

S120：在第二时序中，向所述第一测试线以及所述第三测试线提供第二测试信号，并向所述第二测试线以及所述第四测试线提供第一测试信号；

其中，所述第一测试信号和所述第二测试信号中的其中一个为所述子像素单元的晶体管开关的导通信号，另一个为所述子像素单元的晶体管开关的截止信号。

在一实施例中，所述第一测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的导通信号，所述第二测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的截止信号；在另一实施例中，所述第二测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的导通信号，所述第一测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的截止信号。在一实施例中，导通信号为高电平信号，截止信号为低电平信号；在另一实施例中，导通信号为低电平信号，截止信号为高电平信号。在一实施例中，所述高电平信号为17V电压信号，所述低电平信号为-8V电压信号。

上述双边走线显示面板的测试方法，在第一时序中通过控制与第一测试线和第三测试线连接的奇数列的子像素单元或与第二测试线和第四测试线连接的偶数列的子像素单元中的其中一种导通，另一种截止，使得奇数列的子像素单元和偶数列的子像素单元在同一时间晶体管的开关状态不同，即每相邻两列的子像素单元的晶体管的开关状态不同；再通过控制与第一信号线、第二信号线和第三信号线连接的各个子像素单元的各种不同状态，使得双边走线显示面板的各个子像素单元能够单独点亮测试，进而使得双边走线显示面板能够单独对一种颜色的子像素单元进行单独点亮测试，降低缺陷分析难度，提高不良品分析的效率。

在下述实施例中，所述第一测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的导通信号，所述第二测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的截止信号。即在第一时序中t1，向所述第一测试线以及所述第三测试线提供导通信号，并向所述第二测试线以及所述第四测试线提供截止信号；在第二时序t2中，向所述第一测试线以及所述第三测试线发送截止信号，并向所述第二测试线以及所述第四测试线发送导通信号。其中，第一测试线和第三测试线接收的测试信号VGO以及第二测试线和第四测试线接收的测试信号VGE的时序图如图4所示。

在一实施例中，t1＝3200微秒，t2＝3500微秒。在一实施例中，提供给第一测试线、第二测试线、第三测试线和第四测试线的周期信号每个周期的时间为8333微秒。在一实施例中，提供给第一信号线、第二信号线和第三信号线的周期信号每个周期的时间为8000微秒。在一实施例中，t1＝4000微秒，t2＝4000微秒。在一实施例中，提供给第一测试线、第二测试线、第三测试线和第四测试线的周期信号每个周期的时间为8000微秒。在一实施例中，提供给第一信号线、第二信号线和第三信号线的周期信号每个周期的时间为8000微秒。

在一实施例中，各所述子像素组中的第一列和第四列的子像素单元具有第一颜色，各所述子像素组中的第二列和第五列的子像素单元具有第二颜色，各所述子像素组中的第三列和第六列的子像素单元具有第三颜色。

为了单独显示第一颜色，在一实施例中，所述方法还包括：

在第一时序t1中，向所述第一信号线提供第三测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

在第二时序t2中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第三测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号。

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。

需要说明的是，在本申请中，所述子像素单元具有像素电极，所述子像素单元的充电信号即为所述像素电极的充电信号，也即使得所述像素电极能够充电的信号；所述子像素单元的停止充电信号即为所述像素电极的停止充电信号，也即不能够使得所述像素电极充电的信号。

在本申请中，充电信号为与双边走线显示面板的液晶分子偏转的参考电压Vcom具有较大差值的电平信号，停止充电信号为与双边走线显示面板的液晶分子偏转的参考电压Vcom具有微小差值的电平信号；即当第三测试信号与双边走线显示面板的液晶分子偏转的参考电压Vcom具有较大差值时，像素电极为充电状态，当第三测试信号与双边走线显示面板的液晶分子偏转的参考电压Vcom具有较小差值时，像素电极为非充电状态。在一实施例中，所述参考电压Vcom为5V，在一实施例中，所述第三测试信号为5V的电平信号，所述第四测试信号为0V的电平信号；在另一实施例中，所述第三测试信号为5.1V的电平信号，所述第四测试信号为10V的电平信号。

其中，本实施例中，第一信号线接收的测试信号V1、第二信号线接收的测试信号V2以及第三信号线接收的测试信号V3的时序图如图5所示。

本实施例中，在第一时序，向第一测试线和第三测试线提供导通信号，同时向第二信号线和第三信号线提供与显示面板的液晶分子偏转的参考电压不相等的第四测试信号，给第三列和第五列的子像素单元充电，使得第三列和第五列的子像素单元为暗态；在第二时序，向第二测试线和第四测试线提供导通信号，同时向第一信号线和第三信号线提供第四测试信号，给第二列的和第六列的子像素单元充电，使得第二列和第六列的子像素单元为暗态，从而使得在第一时序和第二时序，仅第一列和第四列的子像素单元为亮态，从而实现单独显示第一颜色，使得显示面板能够单独对一种颜色的子像素单元进行单独点亮测试，降低缺陷分析难度，提高不良品分析的效率。

为了单独显示第二颜色，在一实施例中，所述方法还包括：

在第一时序t1中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第三测试信号；

在第二时序t2中，向所述一信号线提供第三测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号。

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。

其中，本实施例中，第一信号线接收的测试信号V1、第二信号线接收的测试信号V2以及第三信号线接收的测试信号V3的时序图如图6所示。

本实施例中，在第一时序，向第一测试线和第三测试线提供导通信号，同时向第一信号线和第二信号线提供与显示面板的液晶分子偏转的参考电压不相等的第四测试信号，给第一列和第三列的子像素单元充电，使得第一列和第三列的子像素单元为暗态；在第二时序，向第二测试线和第四测试线提供导通信号，同时向第二信号线和第三信号线提供第四测试信号，给第四列的和第六列的子像素单元充电，使得第四列和第六列的子像素单元为暗态，从而使得在第一时序和第二时序，仅第二列和第五列的子像素单元为亮态，从而实现单独显示第二颜色，使得显示面板能够单独对一种颜色的子像素单元进行单独点亮测试，降低缺陷分析难度，提高不良品分析的效率。

为了单独显示第三颜色，在一实施例中，所述方法还包括：

在第一时序t1中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第三测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

在第二时序t2中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第三测试信号。

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。

其中，本实施例中，第一信号线接收的测试信号V1、第二信号线接收的测试信号V2以及第三信号线接收的测试信号V3的时序图如图7所示。

本实施例中，在第一时序，向第一测试线和第三测试线提供导通信号，同时向第一信号线和第三信号线提供与显示面板的液晶分子偏转的参考电压不相等的第四测试信号，给第一列和第五列的子像素单元充电，使得第一列和第三列的子像素单元为暗态；在第二时序，向第二测试线和第四测试线提供导通信号，同时向第一信号线和第二信号线提供第四测试信号，给第二列的和第四列的子像素单元充电，使得第二列和第四列的子像素单元为暗态，从而使得在第一时序和第二时序，仅第三列和第六列的子像素单元为亮态，从而实现单独显示第三颜色，使得显示面板能够单独对一种颜色的子像素单元进行单独点亮测试，降低缺陷分析难度，提高不良品分析的效率。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种双边走线显示面板的测试系统，其特征在于，包括相互连接的双边走线显示面板及测试装置；

所述双边走线显示面板包括多个呈矩阵设置的子像素组，每一所述子像素组包括多个子像素单元，每一所述子像素组内的子像素单元呈四行六列的阵列设置；

所述测试装置包括相互连接的测试模块及测试单元，所述测试单元包括第一信号线、第二信号线、第三信号线、第一测试线、第二测试线、第三测试线、第四测试线，其中，所述第一测试线和所述第三测试线位于所述双边走线显示面板的一侧，所述第二测试线和所述第四测试线位于所述双边走线显示面板的另一侧；

所述第一信号线分别与各所述子像素组中的第一列以及第二列的子像素单元连接，所述第二信号线分别与各所述子像素组中的第三列以及第四列的子像素单元连接，所述第三信号线分别与各所述子像素组中的第五列以及第六列的子像素单元连接；所述第一测试线与各所述子像素组中的第一行奇数列以及第二行奇数列的子像素单元连接，所述第二测试线与各所述子像素组中的第一行偶数列以及第二行偶数列的子像素单元连接，所述第三测试线与各所述子像素组中的第三行奇数列以及第四行奇数列的子像素单元连接，所述第四测试线与各所述子像素组中的第三行偶数列以及第四行偶数列的子像素单元连接；

所述测试模块具有第一信号输出端、第二信号输出端、第三信号输出端、第四信号输出端及第五信号输出端，所述第一信号输出端与所述第一信号线连接，所述第二信号输出端与所述第二信号线连接，所述第三信号输出端与所述第三信号线连接，所述第四信号输出端分别与所述第一测试线和所述第三测试线连接，所述第五信号输出端分别与所述第二测试线和所述第四测试线连接。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试单元还包括第一焊盘、第二焊盘、第三焊盘和第四焊盘，其中，所述第一焊盘和所述第三焊盘位于所述双边走线显示面板的一侧，所述第二焊盘和所述第四焊盘位于所述双边走线显示面板的另一侧，所述第一测试线与所述第一焊盘连接，所述第二测试线与所述第二焊盘连接，所述第三测试线与所述第三焊盘连接，所述第四测试线与所述第四焊盘连接。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述子像素组还包括第一扫描线、第二扫描线、第三扫描线、第四扫描线、第五扫描线、第六扫描线、第七扫描线和第八扫描线；

所述第一测试线通过各所述子像素组中的第一扫描线与各所述子像素组中的第一行奇数列的子像素单元连接，所述第一测试线通过各所述子像素组中的第三扫描线与各所述子像素组中的第二行奇数列的子像素单元连接；

所述第二测试线通过各所述子像素组中的第二扫描线与各所述子像素组中的第一行偶数列的子像素单元连接，所述第二测试线通过各所述子像素组中的第四扫描线与各所述子像素组中的第二行偶数列的子像素单元连接；

所述第三测试线通过各所述子像素组中的第五扫描线与各所述子像素组中的第三行奇数列的子像素单元连接，所述第三测试线通过各所述子像素组中的第七扫描线与各所述子像素组中的第四行奇数列的子像素单元连接；

所述第四测试线通过各所述子像素组中的第六扫描线与各所述子像素组中的第三行偶数列的子像素单元连接，所述第四测试线通过各所述子像素组中的第八扫描线与各所述子像素组中的第四行偶数列的子像素单元连接。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述子像素组还包括第一数据线、第二数据线和第三数据线；

所述第一信号线通过各所述子像素组的第一数据线分别与各所述子像素组中的第一列以及第二列的子像素单元连接，所述第二信号线通过各所述子像素组的第二数据线分别与各所述子像素组中的第三列以及第四列的子像素单元连接，所述第三信号线通过各所述子像素组的第三数据线分别与各所述子像素组中的第五列以及第六列的子像素单元连接。

5.一种双边走线显示面板的测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1至4中任一项所述的双边走线显示面板的测试系统，用于对所述双边走线显示面板进行测试，所述方法包括：

在第一时序中，向所述第一测试线以及所述第三测试线提供第一测试信号，并向所述第二测试线以及所述第四测试线提供第二测试信号；

在第二时序中，向所述第一测试线以及所述第三测试线提供第二测试信号，并向所述第二测试线以及所述第四测试线提供第一测试信号；

其中，所述第一测试信号和所述第二测试信号中的其中一个为所述子像素单元的晶体管开关的导通信号，另一个为所述子像素单元的晶体管开关的截止信号。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的导通信号，所述第二测试信号为所述子像素单元的晶体管开关的截止信号。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，各所述子像素组中的第一列和第四列的子像素单元具有第一颜色，各所述子像素组中的第二列和第五列的子像素单元具有第二颜色，各所述子像素组中的第三列和第六列的子像素单元具有第三颜色。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在第一时序中，向所述第一信号线提供第三测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

在第二时序中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第三测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在第一时序中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第三测试信号；

在第二时序中，向所述第一信号线提供第三测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在第一时序中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第三测试信号，并向所述第三信号线提供第四测试信号；

在第二时序中，向所述第一信号线提供第四测试信号，向所述第二信号线提供第四测试信号，并向所述第三信号线提供第三测试信号；

其中，所述第三测试信号为所述子像素单元的充电信号，所述第四测试信号为所述子像素单元的停止充电信号。