CN109991523A - 一种led特征参量自动采集系统 - Google Patents
一种led特征参量自动采集系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109991523A CN109991523A CN201910296819.XA CN201910296819A CN109991523A CN 109991523 A CN109991523 A CN 109991523A CN 201910296819 A CN201910296819 A CN 201910296819A CN 109991523 A CN109991523 A CN 109991523A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- led
- module
- characteristic parameter
- sample
- control module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 65
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 14
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 6
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 abstract description 3
- 230000002045 lasting effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 8
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 6
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001465382 Physalis alkekengi Species 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本发明公开了一种LED特征参量自动采集系统,用于对LED样品进行特征参量采集,包括LED试验机构、控制模块、执行机构、检测模块、存储模块、显示模块、电源模块,所述LED试验机构包括水平放置的测试台架、设置于测试台架上的机械臂,所述电源模块为LED样品供电,所述LED样品放置于测试台架上,所述的机械臂通过旋转操作和伸缩操作带动检测模块对LED样品的特征参量进行检测,所述测试台架在LED样品侧设置有短接机构,所述短接机构适于对LED样品进行短接。本发明结构简单,控制结构和动作机构可靠稳定,能够消除累计误差,测试精准持续,非常利于推广使用。
Description
技术领域
本发明属于光电器件测试技术领域,尤其涉及一种LED特征参量自动采集系统。
背景技术
发光二极管,即发光LED器件是半导体二极管的一种,可以把电能转化成光能。LED具有效率高、光色纯、应用灵活、光线质量高等优异特点,发光二极管在许多光电控制设备中用作光源,在电子设备中用作信号显示器。
然而LED在使用过程中,由于电流及外界环境的影响,其会不可避免的发生老化。LED的老化主要包括芯片的老化以及封装的老化。芯片的老化机理,包括热量积累导致的热机械应力加强、芯片裂纹扩大,工艺不良导致的芯片粘结层完全脱离粘结面等。封装的老化机理主要是高温与潮湿导致封装材料劣化,水汽渗入封装材料内部,导致引线变质、PCB铜线锈蚀,随水汽引入的可动导电离子会驻留在芯片表面,从而造成漏电。老化的LED灯发光效率会大大降低,光色的纯度下降,甚至发生烧毁。
但是LED的老化不易直接观察判断,由于应用数量巨大,也不易通过全部检测来判断。作为现代化节能环保的灯具,一旦发生老化或烧毁,电路将失去指示功能,对维修工作带来巨大的影响。这种现象对于某些重要电路,存在重大的安全隐患。
现有技术中,LED测试技术包括LED电压测量、电流测量、分光检测技术等。其中,LED样品参数的选择和测量关系到检测的可靠性和稳定性,如用传统的方法,老化试验过程太长,而且电参数的采集也受到各种因素的影响。为此,选择一种参数进行有效测量,并为其提供配套的参量自动采集系统,是一种可靠的思路。
鉴于此,本发明提出了一种LED寿命特征参量的自动采集系统,该特征参量为光通量,能够根据设定的周期采集并存储LED的光通量,成功地解决上述问题。
发明内容
发明目的:本发明提出一种LED特征参量自动采集系统,能够根据设定的周期采集并存储LED的光通量,参量稳定,测量控制可靠,以解决现有技术中存在的问题。
发明内容:一种LED特征参量自动采集系统,对LED样品进行特征参量采集,包括LED试验机构、控制模块、执行机构、检测模块、存储模块、显示模块、电源模块,所述LED试验机构包括水平放置的测试台架、设置于测试台架上的机械臂,所述电源模块为LED供电,所述LED样品放置于测试台架上,所述测试台架在LED样品侧设置有短接机构,所述短接机构适于对LED进行短接。LED试验机构可以单独控制,也可结合其他测试系统进行测试,短接机构短接方式直接而可靠,能够实现单个LED自动短接功能,并保证被测LED不间断供电。
具体的,所述测试台架为圆盘形,并开有原点定位孔;所有LED样品为串联连接,并按照同心、等半径、均匀角度安装在测试台架的圆盘的相应位置。相比直线形的测试机构,圆盘形的台架便于对LED进行操作和和复位,行程小,占用资源少,精度高。
进一步,所述执行机构包括旋转执行机构、伸缩执行机构,所述旋转执行机构和伸缩执行机构分别设置于机械臂上,旋转执行机构驱动机械臂进行旋转操作;机械臂的伸缩执行机构上安装有检测模块。
更进一步,所述控制模块控制旋转执行机构按照预设的速度或角度旋转,旋转至LED样品上方时,控制模块控制旋转执行机构停止旋转;驱动伸缩执行机构将检测模块推送至LED样品附近的预设位置,检测相应LED样品的特征参量,并以存储模块记录。
再进一步,所述旋转执行机构包括与测试台架同轴的旋转电机,所述旋转电机驱动机械臂进行旋转操作;所述伸缩执行机构包括伸缩电机或者直线电机,所述伸缩电机驱动丝杆机构,或者直线电机驱动直线滑轨。电机均由控制系统控制,反应灵敏,无论是旋转还是伸缩动作,该较少的行程都能控制到比较好的精度,而直线电机-直线滑轨的机构可以无极驱动,控制更顺畅,精度更高。
或者,所述原点定位孔安装有红外信号发射器,机械臂对应位置安装红外信号接收器;机械臂每次旋转至原点定位孔上方时,红外信号接收器接收到红外信号,并将红外信号传送给控制模块,控制模块驱动旋转执行机构复位一次,以消除累积误差。当旋转执行机构旋转至与原点定位孔重合的位置时,旋转执行机构复位一次,可消除累积误差;相比直线形的测试系统,该方式每次都能消除误差,保证测试每一周内精准,提高测试效率。
作为一种实施方式,所述检测模块包括光通量测试仪,用以测量LED样品的光通量。光通量的参数测试相比电性能的测试,受到的干扰小,稳定性和指向性更明确,控制模块更容易判断失效样品,提高测试的精确度和可靠性。
作为一种实施方式,所述执行机构也包括短接结构,所述控制模块控制短接机构对LED样品进行短接。短接机构结构简单,只需将失效的LED样品两端短接即可,可以为继电器等执行单元。
作为一种实施方式,所述存储模块与控制模块电连接并接收控制模块的信号,用以记录LED样品的检测数据。检测数据并记录,以及时得到测试信息,测试信息包括回路试验电流、测试的时间信息、失效的时间信息、光通量参数信息等。
进一步,所述显示模块与控制模块电连接并接收控制模块的信号,用以显示存储模块记录的检测数据。显示模块加强了人机交互,方便显示失效样品的信息。
和现有技术相比,本发明的有益效果在于:本发明提供的LED特征参量自动采集系统,装置全自动,试验条件简单方便,测试效率高,可靠性高。控制模块控制旋转执行和伸缩执行采用的是伺服电机,效率高、控制精准,控制每次测试以及每一旋转周期复位的机制消除累计误差,提高了测试水平;通过红外的发射和接收来指示旋转周期,以控制复位,精准度和测试可靠性高;显示模块和存储模块强化了人机交互,使试验者及时得到试验的过程和结果数据。本发明结构简单,控制结构和动作机构可靠稳定,能够消除累计误差,测试精准持续,非常利于推广使用。
附图说明
图1是本发明实施例一的整体结构示意图。
图2是本发明实施例二的整体结构示意图。
图中:1-LED试验机构,11-测试台架,110-原点定位孔,111-红外信号发射器,12-机械臂,121-短接机构,122-红外信号接收器,13-电源模块,2-控制模块,3-执行机构,31-旋转执行机构,32-伸缩执行机构,4-检测模块,5-存储模块,6-显示模块,9-LED样品;
90-LED样品组,10-存储与打印模块,101-输入模块,103-电流取样模块,105-监测与隔离模块,107-驱动模块。
具体实施方式
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例作简单的介绍。
实施例一
如图1,一种LED特征参量自动采集系统,对LED样品9进行特征参量采集,包括LED试验机构1、控制模块2、执行机构3、检测模块4、存储模块5、显示模块6、电源模块13,所述LED试验机构1包括水平放置的测试台架11、设置于测试台架11上的机械臂12,所述电源模块13为LED样品9和控制模块2、执行机构3、检测模块4、存储模块5、显示模块6供电,所述LED样品9放置于测试台架11上,所述测试台架11在LED样品9侧设置有短接机构121,所述短接机构121适于对LED进行短接。控制模块2为PLC或者单片机;LED试验机构1可以单独控制,也可结合其他测试系统进行测试,短接机构短接方式直接而可靠,能够实现单个LED自动短接功能,并保证被测LED不间断供电。
具体的,所述测试台架11为圆盘形,并开有原点定位孔110;所有LED样品9为串联连接,并按照同心、等半径、均匀角度安装在测试台架11的圆盘的相应位置;所述执行机构3包括旋转执行机构31、伸缩执行机构32、短接结构121,所述旋转执行机构31和伸缩执行机构32分别设置于机械臂12上,旋转执行机构31驱动机械臂12的旋转操作;机械臂12的伸缩执行机构32上安装有检测模块4;机械臂12本身不做伸缩运动,目的是在可检测位置(靠近LED样品)处进行检测;所述控制模块2控制短接机构121对失效LED样品9进行短接,短接机构121结构简单,只需将失效的LED样品两端短接即可,可以为继电器等执行单元。
所述控制模块2控制旋转执行机构31按照预设的速度或角度旋转,预设值为预先设定于控制模块2中,旋转至LED样品9上方时,控制模块2控制旋转执行机构31停止旋转;控制模块2驱动伸缩执行机构32将检测模块4推送至LED样品9附近的预设位置,该预设位置为便于操作LED样品9的位置如LED上方,检测相应LED样品9的特征参量,并以存储模块5记录。其中所述旋转执行机构31包括与测试台架11同轴的旋转电机,所述旋转电机驱动机械臂12进行旋转操作;所述伸缩执行机构32包括伸缩电机32或者直线电机,所述伸缩电机驱动丝杆机构,或者直线电机驱动直线滑轨,优选伸缩电机驱动丝杆的机构;所述旋转电机、伸缩电机为伺服电机;
所述原点定位孔110安装有红外信号发射器111,机械臂12对应位置安装红外信号接收器122,机械臂12每次旋转至原点定位孔110上方时,红外信号接收器122接收到红外信号,并将红外信号传送给控制模块2,控制模块2发送复位驱动信号,使旋转执行机构31复位,以消除累积误差;类似地,所述伸缩执行机构32每伸缩一次,控制模块2发送一次复位驱动信号,使伸缩执行机构32复位,以消除累积误差,相当于每伸缩1次-测试一个LED样品9-收回并复位-转过一定角度再伸缩1次,如此循环;而转动一周,旋转执行机构31复位一次;
所述检测模块4包括光通量测试仪,用以测量LED样品9的光通量,光通量的参数测试相比电性能的测试,受到的干扰小,稳定性和指向性更明确,控制模块更容易判断失效样品;当检测模块4检测到某个LED样品的光通量小于预设值时,则判定其为失效LED样品,控制模块2随即驱动短接机构121对该失效LED样品进行短接,以确保其他LED样品继续正常测试。
所述存储模块5与控制模块2电连接并接收控制模块2的信号,用以记录LED样品的检测数据,检测数据并记录以及时得到测试信息,测试信息包括测试回路的试验电流、测试的时间信息、失效的时间信息和样品编号信息、光通量参量信息等;所述显示模块6与控制模块2电连接并接收控制模块2的信号,用以显示存储模块5记录的检测数据,显示模块6加强了人机交互,方便显示失效样品的信息。
实施例二
如图2,实施例二在实施例一的基础上,作以下拓展:
所述的LED特征参量自动采集系统集成于LED试验自动控制系统,所述自动控制系统对一组串联的LED样品进行通电试验,并输出试验电流,优选用可编程恒流源输出试验电流;在一组LED样品中出现失效样品时,自动短接失效样品,并记录失效样品的编号及失效时间,直至达到试验截止条件。该方案可自动短接失效样品,恢复试验,方便可靠。
具体地,LED试验自动控制系统除实施例一提及的LED试验机构1、控制模块2、执行机构3、检测模块4、显示模块6、电源模块13之外,还包括:输入模块101、电流取样模块103、监测与隔离模块105、驱动模块107;试验对象的一组串联的LED样品9,组合成LED样品组90;
输入模块101:与控制模块2连接,用以输入试验电流预设值,提供给控制模块2;
电源模块13:与控制模块2连接,为LED样品组90提供试验电流;为其他所有需电的模块供电;
电流取样模块103:得到LED样品9的试验电流,当试验电流变化时,一般是试验电流发生漂移时,反馈给控制模块2,所述漂移为温度漂移或其他环境因素引起的漂移,其中电流取样是在回路中连接一个高精度电阻,通过读取其端电压,根据欧姆定律计算得到LED样品9的试验电流;控制模块2使电源模块13调整试验电流恢复至电流预设值;
监测与隔离模块105:对每个LED样品9的状态进行监测,当监测到有LED样品9失效时,将相应LED样品9失效的状态信息反馈给控制模块2;并对控制模块2与LED样品组90的电信号进行隔离,从而保护控制模块2;
控制模块2:除实施例一提及的控制结构和功能外,还具有:监测、调节电源模块13的试验电流;接收监测与隔离模块105发出的LED样品9的失效状态信息,并发出电信号给驱动模块107,同时读出LED样品失效的时间信息;
驱动模块107:与控制模块2连接,接收控制模块2发出的电信号,并驱动执行模块3动作,具体为驱动旋转执行机构31、伸缩执行机构32,以及驱动短接机构121短接失效的LED样品9;
存储模块5拓展为存储与打印模块10:与控制模块2连接,接收控制模块2发出的电信号,存储与打印失效的LED样品9的测试回路的测试信息,包括试验电流、测试的时间信息、失效的时间信息和样品编号信息、光通量参量信息等;存储与打印模块极其方便记录失效样品的信息,加快了形成试验档案的效率。
失效LED样品的判定:检测模块4检测所述LED样品9的光通量减少50%以上时,判定该LED样品为失效LED样品9,然后控制模块2控制短接机构121对失效的LED样品进行短接。
所述LED试验自动控制系统达到试验截止条件时,所述LED试验自动控制系统停止工作,具体的试验截止条件为:失效的LED样品9的数量占LED样品9总数量的2/3。
以上实施例仅用以说明本发明的优选技术方案,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员而言,在不脱离本发明原理的前提下,所做出的若干改进或等同替换,均视为本发明的保护范围,仍应涵盖在本发明的权利要求范围中。
Claims (10)
1.一种LED特征参量自动采集系统,用于对LED样品进行特征参量采集,其特征在于,包括LED试验机构、控制模块、执行机构、检测模块、存储模块、显示模块、电源模块,所述LED试验机构包括水平放置的测试台架、设置于测试台架上的机械臂,所述电源模块为LED样品供电,所述LED样品放置于测试台架上,所述测试台架在LED样品侧设置有短接机构,所述短接机构适于对LED样品进行短接。
2.根据权利要求1所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述测试台架为圆盘形,并开有原点定位孔;所有LED样品为串联连接,并按照同心、等半径、均匀角度安装在测试台架的圆盘的相应位置。
3.根据权利要求1或2所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述执行机构包括旋转执行机构、伸缩执行机构,所述旋转执行机构和伸缩执行机构分别设置于机械臂上,旋转执行机构驱动机械臂进行旋转操作;机械臂的伸缩执行机构上安装有检测模块。
4.根据权利要求3所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述控制模块控制旋转执行机构按照预设的速度或角度旋转,旋转至LED样品上方时,控制模块控制旋转执行机构停止旋转;驱动伸缩执行机构将检测模块推送至LED样品附近;检测相应LED样品的特征参量,并以存储模块记录。
5.根据权利要求4所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述旋转执行机构包括与测试台架同轴的旋转电机,所述旋转电机驱动机械臂进行旋转操作;所述伸缩执行机构包括伸缩电机或者直线电机,所述伸缩电机驱动丝杆机构,或者直线电机驱动直线滑轨。
6.根据权利要求4所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述原点定位孔安装有红外信号发射器,机械臂对应位置安装红外信号接收器;机械臂每次旋转至原点定位孔上方时,红外信号接收器接收到红外信号,并将红外信号传送给控制模块,控制模块驱动旋转执行机构复位一次。
7.根据权利要求1所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述检测模块包括光通量测试仪,用以测量LED样品的光通量。
8.根据权利要求3所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述执行机构也包括短接结构,所述控制模块控制短接机构对LED样品进行短接。
9.根据权利要求1所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述存储模块与控制模块电连接并接收控制模块的信号,用以记录LED样品的检测数据。
10.根据权利要求9所述的一种LED特征参量自动采集系统,其特征在于,所述显示模块与控制模块电连接并接收控制模块的信号,用以显示存储模块记录的检测数据。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910296819.XA CN109991523A (zh) | 2019-04-14 | 2019-04-14 | 一种led特征参量自动采集系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910296819.XA CN109991523A (zh) | 2019-04-14 | 2019-04-14 | 一种led特征参量自动采集系统 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN109991523A true CN109991523A (zh) | 2019-07-09 |
Family
ID=67133588
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910296819.XA Pending CN109991523A (zh) | 2019-04-14 | 2019-04-14 | 一种led特征参量自动采集系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN109991523A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111741570A (zh) * | 2020-07-24 | 2020-10-02 | 武汉精立电子技术有限公司 | 自适应电压的恒流电路和校准装置及方法 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20050013320A (ko) * | 2003-07-28 | 2005-02-04 | 삼성전자주식회사 | 반도체 웨이퍼 이송용 로봇 및 이를 이용한 웨이퍼 정렬방법 |
CN201311322Y (zh) * | 2008-09-28 | 2009-09-16 | 上海半导体照明工程技术研究中心 | 一种pwm驱动方式下led瞬时光通量的测试系统 |
WO2011048627A1 (ja) * | 2009-10-20 | 2011-04-28 | 上野精機株式会社 | 分類搬送装置、分類搬送方法及びプログラム |
CN202089692U (zh) * | 2011-04-11 | 2011-12-28 | 刘超 | 塔机回转幅度检测仪 |
CN202421435U (zh) * | 2011-12-27 | 2012-09-05 | 东莞市中谱光电设备有限公司 | 一种转盘式led检测装置 |
CN102778292A (zh) * | 2011-05-11 | 2012-11-14 | 夏普株式会社 | 半导体检查装置 |
KR20130023422A (ko) * | 2011-08-29 | 2013-03-08 | (주)에이피텍 | 엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법 |
CN103769652A (zh) * | 2014-01-24 | 2014-05-07 | 湖南三星磊洋玻璃机械有限公司 | 钻头自动复位装置及其控制方法 |
US20170234937A1 (en) * | 2016-02-15 | 2017-08-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Test apparatus for light emitting devices |
CN108512366A (zh) * | 2017-02-24 | 2018-09-07 | 阿自倍尔株式会社 | 旋转控制装置 |
CN210222188U (zh) * | 2019-04-14 | 2020-03-31 | 苏州科技大学 | 一种led特征参量自动采集系统 |
-
2019
- 2019-04-14 CN CN201910296819.XA patent/CN109991523A/zh active Pending
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20050013320A (ko) * | 2003-07-28 | 2005-02-04 | 삼성전자주식회사 | 반도체 웨이퍼 이송용 로봇 및 이를 이용한 웨이퍼 정렬방법 |
CN201311322Y (zh) * | 2008-09-28 | 2009-09-16 | 上海半导体照明工程技术研究中心 | 一种pwm驱动方式下led瞬时光通量的测试系统 |
WO2011048627A1 (ja) * | 2009-10-20 | 2011-04-28 | 上野精機株式会社 | 分類搬送装置、分類搬送方法及びプログラム |
CN202089692U (zh) * | 2011-04-11 | 2011-12-28 | 刘超 | 塔机回转幅度检测仪 |
CN102778292A (zh) * | 2011-05-11 | 2012-11-14 | 夏普株式会社 | 半导体检查装置 |
KR20130023422A (ko) * | 2011-08-29 | 2013-03-08 | (주)에이피텍 | 엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법 |
CN202421435U (zh) * | 2011-12-27 | 2012-09-05 | 东莞市中谱光电设备有限公司 | 一种转盘式led检测装置 |
CN103769652A (zh) * | 2014-01-24 | 2014-05-07 | 湖南三星磊洋玻璃机械有限公司 | 钻头自动复位装置及其控制方法 |
US20170234937A1 (en) * | 2016-02-15 | 2017-08-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Test apparatus for light emitting devices |
CN108512366A (zh) * | 2017-02-24 | 2018-09-07 | 阿自倍尔株式会社 | 旋转控制装置 |
CN210222188U (zh) * | 2019-04-14 | 2020-03-31 | 苏州科技大学 | 一种led特征参量自动采集系统 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111741570A (zh) * | 2020-07-24 | 2020-10-02 | 武汉精立电子技术有限公司 | 自适应电压的恒流电路和校准装置及方法 |
CN111741570B (zh) * | 2020-07-24 | 2020-11-24 | 武汉精立电子技术有限公司 | 自适应电压的恒流电路和校准装置及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20220178984A1 (en) | Device for testing service life in simulated environment | |
CN202305716U (zh) | 一种具有检测灯具及线束错接功能的汽车验线器 | |
CN109991523A (zh) | 一种led特征参量自动采集系统 | |
CN210640852U (zh) | 一种具有组件故障检测和排除功能的光伏发电系统 | |
CN210376578U (zh) | 一种led试验自动控制系统 | |
CN210222188U (zh) | 一种led特征参量自动采集系统 | |
CN201765302U (zh) | 霍尔集成电路性能检测装置 | |
CN103630545A (zh) | 基于近红外光波阵列的注塑叶片在线监测装置及方法 | |
CN210626638U (zh) | 一种低气压产品寿命试验装置 | |
CN201255842Y (zh) | 一种电子温度控制器 | |
CN209550029U (zh) | 一种电子元件通电检测分拣装置 | |
CN109946581A (zh) | 一种led试验自动控制系统 | |
CN102496912B (zh) | 一种三段式igbt温度报警及控制保护电路 | |
CN201813072U (zh) | 预装式变电站的无线传感器网络测控装置 | |
CN201514458U (zh) | 多芯电缆自动检测装置 | |
CN208932951U (zh) | 一种自动化加注系统 | |
CN208140914U (zh) | 一种电能表老化冲击测试装置 | |
CN101286252A (zh) | 自助设备出货控制模块 | |
CN104090222A (zh) | 一种原位多功能光电器件探针测试装置 | |
CN205232153U (zh) | 一种光伏组件故障鉴别电路 | |
CN202676340U (zh) | 一种继电器接点压力检测机构 | |
CN208976284U (zh) | 弹簧针连接器弹力检测机 | |
CN210199261U (zh) | 继电器板检测仪 | |
CN201203903Y (zh) | 自助设备出货控制模块 | |
CN202793736U (zh) | 一种电热式微镜的自动测试系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |