CN109976085A - 相机模块检查装置 - Google Patents

相机模块检查装置 Download PDF

Info

Publication number
CN109976085A
CN109976085A CN201810260212.1A CN201810260212A CN109976085A CN 109976085 A CN109976085 A CN 109976085A CN 201810260212 A CN201810260212 A CN 201810260212A CN 109976085 A CN109976085 A CN 109976085A
Authority
CN
China
Prior art keywords
camera model
pallet
camera
check device
loaded
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201810260212.1A
Other languages
English (en)
Inventor
郑彻奇
崔珉硕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ismedia Co Ltd
Original Assignee
Ismedia Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ismedia Co Ltd filed Critical Ismedia Co Ltd
Publication of CN109976085A publication Critical patent/CN109976085A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B43/00Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及一种相机模块检查装置,本发明的相机模块检查装置的特征在于,包括:输送部,用于输送装载有多个相机模块的托盘;及电特性测试器,与装载在所述托盘上的相机模块电连接,并对所述相机模块进行电特性测试。

Description

相机模块检查装置
技术领域
本发明涉及一种相机模块检查装置,更为详细地,涉及一种对相机模块测试如开路/短路等电特性的相机模块检查装置。
背景技术
一般来讲,在移动通信终端设备等安装有小型相机,从而拍摄及存储视频及图像,这种小型相机通过在印刷电路板上安装CMOS或CCD图像传感器,并与透镜组装到外壳中后,与用于与外部电连接的柔性印制电路板连接,从而制成相机模块。
此时,对与柔性印制电路板连接之前或连接之后的相机模块进行如开路/短路检查的电检查。
对以往相机模块的电检查的执行过程说明如下。
从装载有多个相机模块的托盘向用于安装各相机模块并执行开路/短路检查的插座输送个别相机模块。接下来,通过在插座上连接的UCI板对相机模块供给电源,从而测试电特性。
如此,以往通过将装载于托盘上的各相机模块输送到插座后进行电特性检查。因此,需要输送各相机模块,故具有消耗很多节拍时间和需要使用昂贵插座的问题。
专利文献:韩国公开专利10-2009-0005816
发明内容
因此,本发明是为获知决如上所述以往问题而提出的,其目的是提供一种相机模块检查装置,该相机模块检查装置能够在不用将装载于托盘上的相机模块输送到插座上,而在托盘上装载的状态下,对相机模块进行电特性测试。
本发明所要解决的技术问题并不局限于在前面所述的问题,对于没有提到的其他问题通过下面的记载在本发明所属领域中具有一般知识的技术人员应能清楚理解。
上述目的可通过本发明的相机模块检查装置来实现,所述相机模块检查装置包括:输送部,用于输送装载有多个相机模块的托盘;及电特性测试器,与装载在所述托盘上的相机模块电连接,并对所述相机模块进行电特性测试。
在此,所述电特性测试器可从所述托盘的上部移动到下部,并与装载于所述托盘且朝向上部的相机模块端子接触而电连接。
在此,所述电特性测试器可包括:弹簧端子,与装载在所述托盘上的相机模块端子电接触;及弹簧座,包括有导向部,所述导向部用于支撑装载在所述托盘上的相机模块边缘部且引导所述相机模块的位置。
在此,在所述导向部的内侧面可形成有倾斜面,使得越向内侧,相对的两侧导向部之间的距离越近。
在此,所述导向部可支撑用于配置所述相机模块的端子的长度方向两侧边缘部。
在此,可形成有多个所述弹簧座,用于对装载在所述托盘上的多个相机模块同时进行电特性测试。
在此,所述电特性测试器可进一步包括:视觉部,形成在所述弹簧座的一侧,用于获取装载在所述托盘上的相机模块的映像,并检测所述相机模块的位置误差。
通过如上所述本发明的相机模块检查装置,能够在不用将装载于托盘上的相机模块输送到插座,而在托盘上装载的状态下,对相机模块进行电特性测试,因此具有能够减少节拍时间的优点。
此外,还具有能够在不用昂贵插座的情况下进行相机模块的电特性测试的优点。
此外,还具有通过形成在弹簧座上的导向部能够将弹簧端子准确地接触在相机模块端子而进行测试的优点。
附图说明
图1为采用根据本发明的一实施例的相机模块检查装置检查相机模块电特性的检查设备的整体俯视图。
图2为放大表示根据本发明的一实施例的托盘及在托盘上装载的相机模块的图。
图3为表示根据本发明的一实施例的电特性测试器的立体图。
图4为表示构成图3的电特性测试器的弹簧座的立体图。
图5为表示图3的电特性测试器弹簧座下降并与装载在托盘上的相机模块电接触,并且测试电特性的形象图。
图6为以在图1中托盘的移动路径为中心表示的立体图。
图7为表示在检查区域固定托盘位置的过程图。
图8为表示通过激光设备检测相机模块高度的形象图。
图9为表示通过弹簧座测试电特性之前,通过视觉部检测在托盘上装载的相机模块的位置误差的形象图。
图10为表示通过弹簧座测试电特性的形象图。
附图标记说明
110:托盘
112:托盘槽
115:输送部
116:托盘上下输送部
117:托盘固定部
118:气缸
119:不良相机模块托盘
120:加载盒
125:卸载盒
140:电特性测试器
142:弹簧座
143:弹簧端子
144:导向部
148:视觉部
162:激光设备
200:相机模块
202:端子
具体实施方式
在具体实施方式及附图中包括实施例的具体内容。
参照下面的结合附图详细描述的实施例能够清楚地理解本发明的优点和特点以及实现这两者的方法。但本发明并不局限于下面公开的实施例,可通过不同的多种形式实现。此外,本实施例只是用于完整地公开本发明,且为了向本领域的技术人员完整地告知发明的范畴而提供的,本发明应由权利要求书的范畴来定义。此外,在通篇说明书中对相似的部分使用了相同的附图标记。
下面,通过本发明的实施例且参照用于说明相机模块检查装置的附图,对本发明进行说明。
图1为采用根据本发明的一实施例的相机模块检查装置检查相机模块电特性的检查设备的整体俯视图,图2为放大表示根据本发明的一实施例的托盘及在托盘上装载的相机模块的图,图3为表示根据本发明的一实施例的电特性测试器的立体图,图4为表示构成图3的电特性测试器的弹簧座的立体图,图5为表示图3的电特性测试器弹簧座下降并与装载在托盘上的相机模块电接触,并且测试电特性的形象图。
首先,本发明的相机模块检查装置涉及一种对相机模块200进行如开路/短路等电特性测试的检查装置。其中,该相机模块200在印刷电路板上安装有图像传感器,且与镜头组装在外壳中。此外,虽然未图示,也可以意味着在所述相机模块200上连接并结合有用于与外部电连接的柔性印制电路板的模块,但在本实施例中以对与柔性印制电路板结合之前的相机模块200进行电特性测试的情况为例进行说明。
本发明的一实施例的相机模块检查装置可构造为包括输送部115及电特性测试器140。
输送部115对装载有多个相机模块200的托盘110向一方向进行输送。输送部115的结构为公知结构,因此省略对其详细的说明。在检查设备的一侧(在图1中的左侧)上设置有加载盒120,在所述加载盒120上层叠有装载相机模块200的多个托盘110,其中从加载盒120向输送部115移出规定的托盘110,被移到输送部115的托盘110从左侧到右侧被输送并被进行电特性测试,结束测试的托盘110再被依次移到位于检查设备的另一侧(在图1中的右侧)的卸载盒125并被层叠。
在本实施例中,可沿输送部115的路径划分为左侧的A检查区域及右侧的B检查区域,且在各检查区域中同时进行电特性检查。此外,A检查区域可再划分为左侧的A-1检查区域及A-2检查区域,B检查区域划分为左侧的B-1检查区域及B-2检查区域。请参考,在图1中,对位于A-1检查区域的托盘使用附图标记110(1)、对位于A-2检查区域的托盘使用附图标记110(2)、对位于B-1检查区域的托盘使用附图标记110(3,对位于B-2检查区域的托盘使用附图标记110(4)。
图2中表示本发明的一实施例的托盘110,其中在托盘110的上表面形成有托盘槽112,以便能够分别安装多个相机模块200,且在各托盘槽112中可安装有相机模块200。此时,将相机模块200安装在托盘槽112中,并使相机模块200中形成有端子的一侧朝向上部。
在相机模块200中,可在一方向上形成有多个端子(在图中,沿左右方向形成有上下两列的端子),其中各端子可为矩形状,可为沿上下方向长形形成的矩形状。
电特性测试器140与装载在托盘110上的相机模块200电连接,并对相机模块200进行如开路/短路的电特性测试。
电特性测试器140可构造为包括弹簧座142,还可进一步包括视觉部148。
如图4所示,在弹簧座142上可形成有弹簧端子143,所述弹簧端子143与形成于装载在托盘110上的相机模块200上端的多个端子202分别接触并电连接。并且以弹簧端子143为中心,在弹簧座142的左右可形成有导向部144,所述导向部144用于支撑装载在托盘110上的相机模块200的边缘部,且引导相机模块200的位置。
在装载有相机模块200的托盘110的上部,电特性测试器140从上部移动到下部并与相机模块200电接触,其中随着电特性测试器140的下降,弹簧座142的弹簧端子143与相机模块200的端子接触。
此时,如前所述,相机模块200的端子为沿上下方向长形形成的矩形状,因此若左右方向的宽度较窄而导致上部弹簧端子143和相机模块200的端子202的位置不能准确对齐,则不能准确地使两个端子143及202进行接触并电连接。
因此,在本发明中,在弹簧端子143的周围形成有导向部144,从而在使弹簧端子143下降并与相机模块200的端子202接触并电连接时,引导相机模块200的位置。如图5所示,用于配置相机模块200的端子202的长度方向(图中左右方向)的两端部上形成有导向部144,从而当电特性测试器140下降时,使导向部144支撑相机模块200的两侧边缘部。因此,通过导向部144能够防止相机模块200的左右移动或旋转,能够将相机模块200固定在规定的位置上,并且由此能够使弹簧端子143和相机模块200的端子202接触并准确地对齐。
此时,在导向部144的内侧面端部上形成有倾斜面,使得越向内侧,两侧导向部144之间的距离越近,当电特性测试器140下降且导向部144下降时,即便导向部144不位于相机模块200上部的准确位置,在导向部144下降时,相机模块200通过与倾斜面接触,被引导至倾斜面的内侧,从而能够防止相机模块200的左右移动或旋转,且将相机模块200始终固定在规定的位置上。
此外,在本发明中,如图3及图5所示,可形成有多个弹簧座142,从而对装载在托盘110上的多个相机模块200同时进行电特性测试。
进一步,如图3所示,在弹簧座142的一侧上可形成有视觉部148。视觉部148可在通过弹簧座142进行电特性测试之前,在上部检测装载在托盘110上的相机模块200的映像,以获知在托盘110的托盘槽112上安装的相机模块200的位置误差,并且反映误差位置并使弹簧座142向相机模块200上部移动后再下降,从而使弹簧座142与相机模块200电连接后进行电特性测试。
下面,参照图6至图10,对检查设备的整个操作流程进行说明,其中该检查设备采用本发明一实施例的相机模块检查装置来检查相机模块的电特性。
图6为以在图1中托盘的移动路径为中心表示的立体图,图7为表示在检查区域固定托盘位置的过程图,图8为表示通过激光设备检测相机模块高度的形象图,图9为表示在通过弹簧座测试电特性之前,通过视觉部检测在托盘上装载的相机模块的位置误差的形象图,图10为表示通过弹簧座测试电特性的形象图。
首先,将装载在加载盒120上的托盘110中的某一个托盘110安装在输送部115上,并随着输送部115从左侧输送到右侧,并且进行电特性检查。
此时,托盘110随着输送部115到达各检查区域时,可通过如图7的操作将托盘110固定在检查区域上。如图7的(a)所示,托盘110通过输送部115到达检查区域时,停止输送部115并中断托盘110的输送,且如图7的(b)所示,通过托盘上下输送部116将托盘110输送到上部。接下来,如图7的(c)所示,通过气缸118向托盘110输送在托盘110的两侧隔开设置的托盘固定部117,以使托盘固定部117固定托盘110的两端并固定托盘110的位置。
当以图7中所说明过程的相反顺序进行操作时,可将各检查区域中结束检查的托盘110再次输送到输送部115。
如前所述,本检查设备沿输送部115的路径划分为左侧的A检查区域及右侧的B检查区域,且在左右配置有两台电特性测试器140,以便能够对位于各检查区域的相机模块200同时进行电特性检查。
此时,在A检查区域的左侧即A-1检查区域、及B检查区域的左侧即B-1检查区域中,如图8所示,可分别向托盘110的上部输送激光设备162并朝向相机模块200照射激光,并且接收所照射激光的反射信号,从而检测相机模块200的安装高度。对于所述激光设备而言,也可在左右配置有两台激光设备,以便能够在A-1检查区域和B-1检查区域同时操作。
在A-1检查区域及B-1检查区域结束激光检查的托盘110分别输送到A-2检查区域及B-2检查区域,且如参照图7所说明,在各检查区域再次固定托盘110位置。
接下来,电特性测试器140移动到A-2及B-2检查区域的位置,并进行如开路/短路检查的电特性检查。
通过电特性测试器140进行电特性测试之前,如图9所示,通过位于电特性测试器140一侧的视觉部148在上部获取安装在托盘110上的相机模块200的映像,并从其获知相机模块200的位置误差。接下来,如图10所示,可根据所述位置误差,将弹簧座142输送到相机模块200的上部后使之下降,从而使弹簧座142的弹簧端子143和相机模块200的端子202接触并电连接,并且由此进行电特性测试。
此时,在弹簧端子143的两侧形成有导向部144,以便当弹簧座142下降时支撑相机模块200的两端部,以防止相机模块200的左右移动或旋转,从而能够将相机块的位置保持恒定。因此,当弹簧座142下降时,能够使形成在相机模块200上的端子202和弹簧端子143彼此接触并准确地对齐。
当进行电特性检查并发现不良相机模块200时,可将不良相机模块200移到位于A-1检查区域和A-2检查区域之间、以及B-1检查区域和B-2检查区域之间的不良相机模块托盘119,由此分类为操作正常的相机模块200和不良相机模块200。
对安装在托盘110上的多个相机模块200可通过上述方法结束电特性检查后,在位于检查设备右侧的卸载盒125上安装结束检查的托盘110。
本发明的权利范围并不限于上述实施例,在所附的权利要求书的范围内可由多种形式的实施例实现。在不脱离权利要求书所要求保护的本发明精神的范围内,本发明所属技术领域的技术人员均能变形的各种范围也属于本发明的权利要求书所记载的范围内。

Claims (7)

1.一种相机模块检查装置,包括:
输送部,用于输送装载有多个相机模块的托盘;及
电特性测试器,与装载在所述托盘上的相机模块电连接,并对所述相机模块进行电特性测试。
2.根据权利要求1所述的相机模块检查装置,
所述电特性测试器从所述托盘的上部移动到下部,并与装载于所述托盘且朝向上部的相机模块端子接触而电连接。
3.根据权利要求2所述的相机模块检查装置,
所述电特性测试器包括:
弹簧端子,与装载在所述托盘上的相机模块端子电接触;及
弹簧座,包括有导向部,所述导向部用于支撑装载在所述托盘上的相机模块边缘部,且引导所述相机模块的位置。
4.根据权利要求3所述的相机模块检查装置,
在所述导向部的内侧面形成有倾斜面,使得越向内侧,相对的两侧导向部之间的距离越近。
5.根据权利要求3所述的相机模块检查装置,
所述导向部支撑用于配置所述相机模块的端子的长度方向两侧边缘部。
6.根据权利要求3所述的相机模块检查装置,
形成有多个所述弹簧座,用于对装载在所述托盘上的多个相机模块同时进行电特性测试。
7.根据权利要求3所述的相机模块检查装置,
所述电特性测试器进一步包括:
视觉部,形成在所述弹簧座的一侧,用于获取装载在所述托盘上的相机模块的映像,并检测所述相机模块的位置误差。
CN201810260212.1A 2017-12-27 2018-03-27 相机模块检查装置 Pending CN109976085A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20170181153 2017-12-27
KR10-2017-0181153 2017-12-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109976085A true CN109976085A (zh) 2019-07-05

Family

ID=67075887

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810260212.1A Pending CN109976085A (zh) 2017-12-27 2018-03-27 相机模块检查装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109976085A (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090005816A (ko) * 2007-07-10 2009-01-14 주식회사 해성이엠티 카메라 모듈 검사 장치
CN102346359A (zh) * 2010-07-28 2012-02-08 索尼公司 电子设备、连接检测方法和连接检测系统
CN106168734A (zh) * 2015-05-22 2016-11-30 塔工程有限公司 用于检查嵌入相机模块中的存储器的设备
CN107153322A (zh) * 2016-03-02 2017-09-12 塔工程有限公司 用于检测相机模块的设备

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090005816A (ko) * 2007-07-10 2009-01-14 주식회사 해성이엠티 카메라 모듈 검사 장치
CN102346359A (zh) * 2010-07-28 2012-02-08 索尼公司 电子设备、连接检测方法和连接检测系统
CN106168734A (zh) * 2015-05-22 2016-11-30 塔工程有限公司 用于检查嵌入相机模块中的存储器的设备
CN107153322A (zh) * 2016-03-02 2017-09-12 塔工程有限公司 用于检测相机模块的设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104422863B (zh) 半导体测试装置
CN102985833B (zh) 电子元器件检测探针
KR102102830B1 (ko) 테스트핸들러, 테스트핸들러용 푸싱장치 및 테스트트레이, 테스터용 인터페이스보드
US20180024188A1 (en) High volume system level testing of devices with pop structures
KR20100102979A (ko) 솔리드 스테이트 드라이브의 검사 장치 및 방법
US10114070B2 (en) Substrate inspection apparatus
KR102256652B1 (ko) 프로브 핀 및 이를 이용한 검사용 소켓
TWI677693B (zh) 電性連接裝置
US20210181288A1 (en) Test apparatus which tests semiconductor chips
US20120119779A1 (en) Signal sensing device and circuit boards
US6628130B2 (en) Wireless test fixture for printed circuit board test systems
US20140125352A1 (en) Apparatus, system, method and computer program for testing an electrical connection
KR102344108B1 (ko) 프로브 카드와 테스터를 연결하기 위한 접속 장치
CN106862093B (zh) 测试分选机用插件
KR102093573B1 (ko) 기판 검사 장치
CN109976085A (zh) 相机模块检查装置
KR101794134B1 (ko) 반도체 검사용 테스트헤드
KR101790292B1 (ko) Cis 프로브카드 및 그 제작 방법
KR101119834B1 (ko) 모델 적응형 카메라모듈 테스트소켓 및 그 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법
US10816594B2 (en) Apparatus for testing a signal speed of a semiconductor package and method of manufacturing a semiconductor package
CN104813172A (zh) 用于测试系统的接口
CN106124938A (zh) 电子模块以及用于对电子模块进行检查的方法和装置
KR101498687B1 (ko) 검사장치
US7459921B2 (en) Method and apparatus for a paddle board probe card
TWI485406B (zh) 半導體元件檢查裝置用連接器及老化測試設備用測試板

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20190705