CN109765779B - 延时校正方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种延时校正方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数;根据所述各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,计算采样通道延时;根据所述采样通道延时,进行时间延时校正。上述方法可对整机系统中单独组件进行延时获取,再通过所有组件的延时,计算整机采样通道的延时,当更换组件时,校正只需替换相应延时即可,使整机的校正更加的简洁,并且减少了校正所需要的时间。
Description
技术领域
本申请涉及系统校正技术领域,特别是涉及一种延时校正方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
飞行时间测距法(TOF,time of flight),是通过给目标连续发送激光脉冲,然后用传感器接收从物体返回的光,通过探测光脉冲的飞行(往返)时间来得到目标物距离。TOF技术是PET成像领域的重大进步,TOF技术能够提高PET诊断精度、缩短扫描时间,拓展了PET的临床应用,是未来PET发展的主要趋势之一。
采集通道的时间延时校正,是TOF技术应用的一个必要组成部分。一般而言,湮灭事件对应的两个光子到达两侧晶体的时间差,是用来进行湮灭事件发生位置计算的有效信息。但由于在该时间信息的采样过程中,会经过晶体、时间甄别器、时间数字转换器(TDC,time-to-digital conversion)等部件,且不同采集通道对应的时钟相位也是存在一定差异的,因此在未经过校正的系统上采集得到的时间信息,是具有一定偏差的,无法直接用来进行湮灭事件位置的计算,因此对PET系统采集通道进行时间延时校正,是十分有必要的。
目前的传统技术,都是利用放射源对PET整机系统测量延时,再根据整机延时进行校正,这样就会造成可维护性差,当PET整机系统中任一采样通道中的任何部件进行更换,都需要再重新对整机进行校正,并且校正时间长。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够的快速校正的延时校正方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种延时校正方法,所述方法包括:获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数;根据所述各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,计算采样通道延时;根据所述采样通道延时,进行时间延时校正。
在其中一个实施例中,所述获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数之前包括:对各系统组件以及各系统组件链路进行测量标定,得到各系统组件延时以及各系统组件链路延时;利用放射源,根据各系统组件延时以及各系统组件链路延时测量晶体延时;将所述各系统组件延时、晶体延时以及各系统组件链路延时进行存储。
在其中一个实施例中,所述系统组件包括:光电转换器、时间甄别器、时间数字转换器以及时钟分配芯片。
在其中一个实施例中,对光电转换器/时间甄别器/时间数字转换器/系统组件链路进行测量标定包括:利用激光发生器向光电转换器/时间甄别器/时间数字转换器/系统组件链路发射激光束;获取激光发生器发出激光束的时间到检测装置检测到信号的时间之间的时间差;获取激光发生器发出的激光束在测量空间的飞行时间;将所述时间差减去所述飞行时间,得到光电转换器/时间甄别器/时间数字转换器/系统组件链路的延时。
在其中一个实施例中,对时钟分配芯片进行测量标定包括:检测时钟分配芯片中各时钟分配的时钟相位;将各时钟分配的时钟相位进行比较,得到时钟分配芯片的延时。
在其中一个实施例中,所述根据各系统组件延时以及各系统组件链路延时测量晶体延时包括:利用放射源,测量整个采样通道延时;将所述整个采样通道延时减去各系统组件延时以及各系统组件链路延时,得到晶体延时。
在其中一个实施例中,所述方法还包括:当对系统组件进行更换时,将存储的相应系统组件延时替换为更换后系统组件延时。
一种延时校正装置,所述装置包括:获取模块,用于获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数;计算模块,用于根据所述各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,计算采样通道延时;校正模块,用于根据所述采样通道延时,进行时间延时校正。
一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一种所述方法的步骤。
一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种所述的方法的步骤。
上述延时校正方法、装置、计算机设备和存储介质,通过获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,再根据上述信息计算采样通道延时,最终根据采样通道延时,进行时间延时校正。上述方法可对整机系统中单独组件进行延时获取,再通过所有组件的延时,计算整机采样通道的延时,当更换组件时,校正只需替换相应延时即可,使整机的校正更加的简洁,并且减少了校正所需要的时间。
附图说明
图1为一个实施例中一种时间信号通路示意图;
图2为一个实施例中延时校正方法的流程示意图;
图3为一个实施例中计算系统组件、晶体以及系统组件链路的延时方法的流程示意图;
图4为一个实施例中测量标定光电转换器延时的结构示意图;
图5为一个实施例中测量标定时钟分配芯片延时的结构示意图;
图6为一个实施例中延时校正装置的结构框图;
图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
附图标记:获取模块100、计算模块200、校正模块300、晶体1、光电转换器2、时间甄别器3、时间数字转换器4、时钟分配芯片5、时钟源51、时钟分配52、时钟分配器6、激光发生器7、测量装置8、存储装置9、时钟相位比较装置10。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
正电子发射型计算机断层显像(PET),是核医学领域比较先进的临床检查影像技术。是将某种物质,一般是生物生命代谢中必须的物质,如:葡萄糖、蛋白质、核酸、脂肪酸,标记上短寿命的放射性核素(如18F,11C等),注入人体后,放射性核素在衰变过程中释放出正电子,一个正电子在行进十分之几毫米到几毫米后遇到一个电子后发生湮灭,从而产生方向相反的一对能量为511KeV的光子。这对光子,通过高度灵敏的照相机捕捉,并经计算机进行散射和随机信息的校正。经过对不同的正电子进行相同的分析处理,我们可以得到在生物体内聚集情况的三维图像,从而达到诊断的目的。
如图1所示,提供了一种时间信号通路示意图。一个正电子遇到一个电子后发生湮灭,产生方向相反的一对光子。一对光子分别向相反的方向运动,运动一定时间后被相应的晶体1接收,晶体1将接收到的光子的信号转换为电信号,依次通过光电转换器2、时间甄别器3、时间数字转换器4以及时钟分配芯片5将两个光子的到达晶体的信息传输至时钟分配器6,时钟分配器6根据一对光子分别到达相应晶体的时间差,计算湮灭事件发生的位置。其中光子在晶体1中的时间延时受入射角度、入射深度、安装位置等等因素的影响,无法通过标定测量的方式来获得其延时信息。而光电转换器2、时间甄别器3、时间数字转换器4以及时钟分配芯片5以及时钟信号的走线链路,这些部件中为电信号,可以通过标定测量的方式来对相应的延时进行标定。
在一个实施例中,如图2所示,提供了一种延时校正方法,包括以下步骤:
步骤S102,获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数。
具体地,当需要对PET系统进行TOF校正时,首先从PET系统的存储装置中获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数。其中,存储装置可以为RAM、ROM、硬盘、软盘、磁带、磁芯存储器、磁泡存储器以及U盘中的一种。本实施例不对存储装置进行具体限定,只需满足存储装置能够存储各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数等信息即可。系统组件包括:光电转换器、时间甄别器、时间数字转换器以及时钟分配芯片。各系统组件延时也即光电转换器的延时、时间甄别器的延时、时间数字转换器的延时以及时钟分配芯片的延时。更具体的,光电转换器的延时、时间甄别器的延时、时间数字转换器的延时、时钟分配芯片的延时以及各系统组件链路延时通过标定测量的方式进行测量并进行存储。晶体延时通过计算的方式计算得到并进行存储。各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数受系统设计的影响,当系统设计确定后各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数为固定值。
步骤S104,根据各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,计算采样通道延时。
具体地,当从存储装置中获取到各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数后,通过公式计算得到采样通道的延时。
在其中一个实施例中,计算采样通道延时的公式为:
其中,offsetxy为采样通道的延时;offsetPE光电转换器的延时;offsetTP为时间甄别器的延时;offsetTD为时间数字转换器的延时;offsetCL为时钟分配芯片的延时;offsetCA为系统组件链路的延时;offsetCR为晶体的延时;k1为电转换器的延时系数;k2为时间甄别器的延时系数;k3时间数字转换器的延时系数;k4为时第一钟分配芯片的延时系数;k5为时第二钟分配芯片的延时系数;k6为系统组件链路的延时系数;k7为晶体的延时系数。在本实施例中,设置有两个时钟分配芯片,两个时钟分配芯片两级级联,因此公式中存在两个offsetCL,并且两个时钟分配芯片的系数不相同。可以理解的,在其它的实施例中,可以只设置一个时钟分配芯片,也可以设置多个时钟分配芯片,多个时钟分配芯片多级级联。在设置多个时钟分配芯片时,可以使用相同系数的时钟分配芯片,也可以使用不相同系数的时钟分配芯片,本实施例不做具体限定。
步骤S106,根据采样通道延时,进行时间延时校正。
具体地,基于采样通道延时对PET系统进行TOF校正。当对系统组件进行更换时,将存储的相应系统组件延时替换为更换后系统组件延时。也就是在进行部件更换时,只需要通过软件操作将存储装置中存储的更换部件的延时信息替换为新部件的延时信息即可,无需再次对整个PET系统利用放射源进行标定,能够节省标定步骤,简化标定的操作。
上述延时校正方法,通过获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,再根据上述信息计算采样通道延时,最终根据采样通道延时,进行时间延时校正。上述方法可对整机系统中单独组件进行延时获取,再通过所有组件的延时,计算整机采样通道的延时,当更换组件时,校正只需替换相应延时即可,使整机的校正更加的简洁,并且减少了校正所需要的时间。
在一个实施例中,如图3所示,提供了一种计算系统组件、晶体以及系统组件链路的延时方法,包括以下步骤:
步骤S202,对各系统组件以及各系统组件链路进行测量标定,得到各系统组件延时以及各系统组件链路延时。
具体地,系统组件包括:光电转换器、时间甄别器、时间数字转换器以及时钟分配芯片。更具体地,在对光电转换器、时间甄别器、时间数字转换器、系统组件链路进行测量标定时,首先利用激光发生器向光电转换器/时间甄别器/时间数字转换器/系统组件链路发射激光束,再获取激光发生器发出激光束的时间到检测装置检测到信号的时间之间的时间差,获取激光发生器发出的激光束在测量空间的飞行时间,最后将时间差减去飞行时间,得到光电转换器/时间甄别器/时间数字转换器/系统组件链路的延时。其中,飞行时间为激光发生器发出激光束的时间到激光束到达光电转换器/时间甄别器/时间数字转换器/系统组件链路的时间。
请一并参阅图4,图4为测量标定光电转换器延时的结构示意图。以对光电转换器2的延时标定为例进行具体说明,光电转换器2设置在激光发生器7的光路上,光电转换器2电连接有测量装置8,用于检测光电转换器将光信号转换为电信号后的时间。将激光发生器7的波长设定为γ光波长,利用激光发生器7产生激光束,激光束被光电转换器2接收,并转换为电信号,测量装置8检测到转换为电信号后的时间。将检测装置8检测到的时间减去测量空间的飞行时间,得到光电转换器5的延时,再将该光电转换器5的延时存储至存储装置9。其中飞行时间可以通过激光发生器7到光电转换器2的距离除以光速得到。对时间甄别器、时间数字转换器以及系统组件链路的延时标定方法与对光电转换器的延时进行标定的方法相同,只需将光电转换器分别替换为时间甄别器或时间数字转换器或系统组件链路即可。
更具体地,在对时钟分配芯片进行测量标定时,首先检测时钟分配芯片中各时钟分配的时钟相位;再将各时钟分配的时钟相位进行比较,得到时钟分配芯片的延时。请一并参阅图5,图5为测量标定时钟分配芯片5延时的结构示意图。时钟源51连接有多组时钟分配52,最末端的时钟分配52电连接有时钟相位比较装置10,时钟相位比较装置10还与时钟源51电连接,时钟相位比较装置10首先检测各时钟分配52的时钟相位,在将各时钟分配52的时钟相位进行比较,得到时钟分配芯片5的延时。最后将时钟分配芯片5的延时存储至存储装置9。
步骤S204,利用放射源,根据各系统组件延时以及各系统组件链路延时测量晶体延时。
具体地,对病人或标准模体利用放射源,使用标准探测器对整个采样通道的时间延时进行测量。利用测量到的采样通道的时间延时减去各系统组件延时以及各系统组件链路延时得到晶体的延时。也就是利用测量到的采样通道的时间延时减去光电转换器的延时、时间甄别器的延时、时间数字转换器的延时、时钟分配芯片的延时以及系统组件链路延时得到晶体延时,最后将晶体的延时存储至存储装置。其中,对于同一晶体,晶体延时为固定值。
步骤S206,将各系统组件延时、晶体延时以及各系统组件链路延时进行存储。
具体地,将光电转换器延时、时间甄别器延时、时间数字转换器延时、时钟分配芯片延时、系统组件链路延时以及晶体延时进行存储。
上述计算系统组件、晶体以及系统组件链路的延时方法,首先分别对光电转换器延时、时间甄别器延时、时间数字转换器延时、时钟分配芯片延时以及系统组件链路延时进行测量,再利用放射源测量采样通道延时,将采样通道延时减去光电转换器延时、时间甄别器延时、时间数字转换器延时、时钟分配芯片延时以及系统组件链路延时得到晶体延时,最终存储所有延时。预先存储时间延时能够进一步的较少校正的时间,并且单独对个系统组件的延时进行存储,方便当更换系统组件时,对相应系统组件延时的替换。
应该理解的是,虽然图2-3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图2-3中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中,如图6所示,提供了一种延时校正装置,包括:获取模块100、计算模块200和校正模块300,其中:
获取模块100,用于获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数。
计算模块200,用于根据各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,计算采样通道延时。
校正模块300,用于根据采样通道延时,进行时间延时校正。
延时校正装置还包括:测量模块,用于测量各系统组件延时、晶体延时以及各系统组件链路延时。
测量模块包括:系统组件延时测量单元、晶体延时测量单元以及存储单元。
系统组件延时测量单元,用于对各系统组件以及各系统组件之间的链路进行测量标定,得到各系统组件延时以及各系统组件链路延时。
晶体延时测量单元,用于利用放射源,根据各系统组件延时以及各系统组件链路延时测量晶体延时。
存储单元,用于将各系统组件延时、晶体延时以及各系统组件链路延时进行存储。
系统组件延时测量单元包括:激光束生成子单元、时间差获取子单元、飞行时间获取子单元以及第一延时计算子单元。
激光束生成子单元,用于利用激光发生器向光电转换器/时间甄别器/时间数字转换器/系统组件之间的链路发射激光束。
时间差获取子单元,用于获取激光发生器发出激光的时间到检测装置检测到信号的时间之间的时间差。
飞行时间获取子单元,用于获取激光发生器发出的激光在测量空间的飞行时间。
第一延时计算子单元,用于将时间差减去飞行时间,得到光电转换器/时间甄别器/时间数字转换器/系统组件之间的链路的延时。
系统组件延时测量单元还包括:相位检测子单元以及第二延时计算子单元
相位检测子单元,用于检测时钟分配芯片中各时钟分配的时钟相位。
第二延时计算子单元,将各时钟分配的时钟相位进行比较,得到时钟分配芯片的延时。
晶体延时测量单元包括:采样通道延时测量子单元以及第三延时计算子单元。
采样通道延时测量子单元,用于利用放射源,测量整个采样通道延时。
第三延时计算子单元,用于将整个采样通道延时减去各系统组件延时以及各系统组件链路延时,得到晶体延时。
延时校正装置还包括:替换模块,用于当对系统组件进行更换时,将存储的相应系统组件延时替换为更换后系统组件延时。
关于延时校正装置的具体限定可以参见上文中对于延时校正方法的限定,在此不再赘述。上述延时校正装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是终端,其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种延时校正方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图7中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,该处理器执行计算机程序时实现以下步骤:
获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数。根据各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,计算采样通道延时。根据采样通道延时,进行时间延时校正。
在一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
对各系统组件以及各系统组件链路进行测量标定,得到各系统组件延时以及各系统组件链路延时。利用放射源,根据各系统组件延时以及各系统组件链路延时测量晶体延时。将各系统组件延时、晶体延时以及各系统组件链路延时进行存储。
在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数。根据各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数以及各系统组件链路的延时系数,计算采样通道延时。根据采样通道延时,进行时间延时校正。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
对各系统组件以及各系统组件链路进行测量标定,得到各系统组件延时以及各系统组件链路延时。利用放射源,根据各系统组件延时以及各系统组件链路延时测量晶体延时。将各系统组件延时、晶体延时以及各系统组件链路延时进行存储。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (9)
1.一种延时校正方法,其特征在于,所述方法包括:
获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数、各系统组件链路的延时系数以及晶体的延时系数,其中,各系统组件延时包括光电转换器的延时、时间甄别器的延时、时间数字转换器的延时以及时钟分配芯片的延时;
根据所述各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数、各系统组件链路的延时系数以及晶体的延时系数,计算采样通道延时;计算采样通道延时包括:将各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时分别与对应的延时系数相乘,得到多个乘积,根据多个乘积之和的开方得到所述采样通道延时;
根据所述采样通道延时,进行时间延时校正。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数、各系统组件链路的延时系数以及晶体的延时系数之前包括:
对各系统组件以及各系统组件链路进行测量标定,得到各系统组件延时以及各系统组件链路延时;
利用放射源,使用标准探测器对整个采样通道的时间延时进行测量,利用测量到的采样通道的时间延时减去各系统组件延时以及各系统组件链路延时得到晶体延时;
将所述各系统组件延时、晶体延时以及各系统组件链路延时进行存储。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,
所述系统组件包括:光电转换器、时间甄别器、时间数字转换器以及时钟分配芯片。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,对光电转换器或时间甄别器或时间数字转换器或系统组件链路进行测量标定包括:
利用激光发生器向光电转换器或时间甄别器或时间数字转换器或系统组件链路发射激光束;
获取激光发生器发出激光束的时间到检测装置检测到信号的时间之间的时间差;
获取激光发生器发出的激光束在测量空间的飞行时间,其中,飞行时间为激光发生器发出激光束的时间到激光束到达所述光电转换器或时间甄别器或时间数字转换器或系统组件链路的时间;
将所述时间差减去所述飞行时间,得到光电转换器或时间甄别器或时间数字转换器或系统组件链路的延时。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,对时钟分配芯片进行测量标定包括:
检测时钟分配芯片中各时钟分配的时钟相位;
将各时钟分配的时钟相位进行比较,得到时钟分配芯片的延时。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
当对系统组件进行更换时,将存储的相应系统组件延时替换为更换后系统组件延时。
7.一种延时校正装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数、各系统组件链路的延时系数以及晶体的延时系数,其中,各系统组件延时包括光电转换器的延时、时间甄别器的延时、时间数字转换器的延时以及时钟分配芯片的延时;
计算模块,用于根据所述各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时、各系统组件的延时系数、各系统组件链路的延时系数以及晶体的延时系数,计算采样通道延时;计算采样通道延时包括:将各系统组件延时、各系统组件链路延时、晶体延时分别与对应的延时系数相乘,得到多个乘积,根据多个乘积之和的开方得到所述采样通道延时;
校正模块,用于根据所述采样通道延时,进行时间延时校正。
8.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
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