CN109765146A - 润湿性能识别方法及铜箔毛面和光面的识别方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种润湿性能识别方法及铜箔毛面和光面的识别方法，润湿性能识别方法的步骤中包括S1：将浸过去离子水的棉棒竖直设置，并使棉棒的棉团端抵于一参照件上，测量棉团的直径L；S2：将重新浸过去离子水的棉棒竖直设置，并使棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上适当时间，而后使棉棒离开被测件的被测面，测量留在被测件的被测面上的水滴的直径l；S3：比较L和l的差值Δh：当Δh为正值并且越大，表明被测面越难润湿；当Δh为负并且其绝对值越大，表明被测面越易润湿。铜箔毛面和光面的识别方法是：识别铜箔的两表面的润湿性能，难润湿的为光面，易润湿的为毛面。本发明的方法简单易操作，能够消除人为误差，识别效果明显，对环境要求较低。
Description
技术领域
本发明涉及一种润湿性能识别方法及铜箔毛面和光面的识别方法。
背景技术
目前，在锂离子电池生产过程中，涂布涂在铜箔的光面还是毛面上对涂布质量有很大影响，还会影响后续冷压、模切、分条等工序。现有的铜箔毛面和光面的识别方法对环境要求较高，识别范围窄，还存在人工操作误差，无法满足生产要求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种润湿性能识别方法，该方法简单易操作，能够消除人为误差，识别效果明显，对环境要求较低。
实现本发明目的的技术方案是：一种润湿性能识别方法，方法的步骤中包括：
S1：将浸过去离子水的棉棒竖直设置，并使棉棒的棉团端抵于一参照件上，而后测量棉团的直径L；
S2：将重新浸过去离子水的棉棒竖直设置，并使棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上适当时间，而后使棉棒离开被测件的被测面，测量留在被测件的被测面上的水滴的直径至少两次，通过至少两次的水滴直径的测量值求取水滴直径的平均值l；
S3：比较L和l的差值Δh：当Δh为正值并且越大，表明被测件的被测面越难润湿；当Δh为负并且其绝对值越大，表明被测件的被测面越易润湿。
进一步为了使棉棒足够湿润，在步骤S1中，棉棒的棉团浸入去离子水中8~12s。
进一步，在步骤S1中，棉棒的棉团浸入去离子水中10s。
进一步，在步骤S1中，参照件为软尺，并在步骤S2中，采用软尺测量直径。
进一步，在步骤S2中，棉棒的棉团重新浸入去离子水中2~4s。
进一步，在步骤S2中，棉棒的棉团重新浸入去离子水中3s。
进一步，在步骤S2中，使棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上9~11s。
进一步，在步骤S2中，使棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上10s。
进一步为了降低测量误差，在步骤S2中，测量留在被测件的被测面上的水滴的直径3次。
本发明还提供了一种铜箔毛面和光面的识别方法，它采用本发明的润湿性能识别方法去识别铜箔的光面和毛面；其中，难润湿的为铜箔的光面；易润湿的为铜箔的毛面。
采用了上述技术方案，将浸过去离子水的棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上适当时间，留下水滴，测量留在被测件的被测面上的水滴的直径至少两次，通过至少两次的水滴直径的测量值求取水滴直径的平均值l，与浸过去离子水的棉棒的棉团端的直径L对比，若L和l的差值为正值并且越大，则被测面越难润湿，若L和l的差值为负并且越大，则被测面越易润湿，然后通过铜箔两面的润湿性能来识别铜箔的光面和毛面。该方法简单易操作，能够消除人为误差，识别效果明显，对环境要求较低。
具体实施方式
为了使本发明的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例，对本发明作进一步详细的说明。
实施例一
一种润湿性能识别方法，方法的步骤中包括：
S1：将浸过去离子水的棉棒竖直设置，并使棉棒的棉团端抵于一参照件上，而后测量棉团的直径L；
S2：将重新浸过去离子水的棉棒竖直设置，并使棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上适当时间，而后使棉棒离开被测件的被测面，测量留在被测件的被测面上的水滴的直径至少两次，通过至少两次的水滴直径的测量值求取水滴直径的平均值l；
S3：比较L和l的差值Δh：当Δh为正值并且越大，表明被测件的被测面越难润湿；当Δh为负并且其绝对值越大，表明被测件的被测面越易润湿。
在步骤S1中，棉棒的棉团浸入去离子水中的时间可以是8~12s，在本实施例中，棉棒的棉团浸入去离子水中10s。
在步骤S1中，参照件可以是软尺，并在步骤S2中，也可以采用软尺测量水滴的直径。
在步骤S2中，棉棒的棉团重新浸入去离子水中的时间可以是2~4s，在本实施例中，棉棒的棉团重新浸入去离子水中3s。
在步骤S2中，棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上的时间可以是9~11s，在本实施例中，棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上10s。
在步骤S2中，测量留在被测件的被测面上的水滴的直径3次，然后取3次测量值的平均值，以降低测量误差。
实施例二
一种铜箔毛面和光面的识别方法，它采用实施例一所述的润湿性能识别方法去识别铜箔的光面和毛面；其中，难润湿的为铜箔的光面；易润湿的为铜箔的毛面。
以上所述的具体实施例，对本发明解决的技术问题、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种润湿性能识别方法，其特征在于方法的步骤中包括：
S1：将浸过去离子水的棉棒竖直设置，并使棉棒的棉团端抵于一参照件上，而后测量棉团的直径L；
S2：将重新浸过去离子水的棉棒竖直设置，并使棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上适当时间，而后使棉棒离开被测件的被测面，测量留在被测件的被测面上的水滴的直径至少两次，通过至少两次的水滴直径的测量值求取水滴直径的平均值l；
S3：比较L和l的差值Δh：当Δh为正值并且越大，表明被测件的被测面越难润湿；当Δh为负并且其绝对值越大，表明被测件的被测面越易润湿。
2.根据权利要求1所述的润湿性能识别方法，其特征在于：在步骤S1中，棉棒的棉团浸入去离子水中8~12s。
3.根据权利要求2所述的润湿性能识别方法，其特征在于：在步骤S1中，棉棒的棉团浸入去离子水中10s。
4.根据权利要求1所述的润湿性能识别方法，其特征在于：在步骤S1中，参照件为软尺，并在步骤S2中，采用软尺测量直径。
5.根据权利要求1所述的润湿性能识别方法，其特征在于：在步骤S2中，棉棒的棉团重新浸入去离子水中2~4s。
6.根据权利要求5所述的润湿性能识别方法，其特征在于：在步骤S2中，棉棒的棉团重新浸入去离子水中3s。
7.根据权利要求1所述的润湿性能识别方法，其特征在于：在步骤S2中，使棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上9~11s。
8.根据权利要求7所述的润湿性能识别方法，其特征在于：在步骤S2中，使棉棒的棉团端抵于被测件的被测面上10s。
9.根据权利要求1所述的润湿性能识别方法，其特征在于：在步骤S2中，测量留在被测件的被测面上的水滴的直径3次。
10.一种铜箔毛面和光面的识别方法，其特征在于：它采用如权利要求1至9中任一项所述的润湿性能识别方法去识别铜箔的光面和毛面；其中，难润湿的为铜箔的光面；易润湿的为铜箔的毛面。
Priority Applications (1)
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| CN201910052419.4A CN109765146A (zh) | 2019-01-21 | 2019-01-21 | 润湿性能识别方法及铜箔毛面和光面的识别方法 |
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
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Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4694685A (en) * | 1984-06-11 | 1987-09-22 | Marbetech Corporation | Apparatus and methods for determining the wettability of various substrates |
| JP2004309263A (ja) * | 2003-04-04 | 2004-11-04 | Seiko Epson Corp | 液体の動的濡れ性の評価方法およびその装置 |
-
2019
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| 许石亮: "电解铜箔亲水性研究", 《有色金属加工》 * |
| 邵念勤 等: "《机械制造基础》", 28 February 2007, 西安地图出版社 * |
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